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ar ionsとは 意味・読み方・使い方
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「ar ions」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 16件
Prior to depositing the electrode film, ion implantation may be performed in order to render the surface amorphous by Ar ions, Ge ions or Xe ions.例文帳に追加
また、電極膜を成膜する前に、ArイオンやGeイオンやXeイオンによって表面を非晶質化するためのイオン注入をおこなってもよい。 - 特許庁
The metal spattered with Ar+ ions or the like has high energy, so that the metal layer strongly adheres onto the inside of the notched part.例文帳に追加
Ar+イオン等により飛散されたメタルは高いエネルギーを有する為、メタル層がノッチ内部へ強固に付着する。 - 特許庁
By adjusting the dose amount of the Ar ions, tensile stress of the lattice strain layer 4 is set to 11-27 MPa.例文帳に追加
また、Arイオンのドーズ量を調整し、格子歪み層4の引張り応力が11MPa以上かつ27MPa以下となるようにする。 - 特許庁
Ar^+ ions are injected from an opening of a mask 50 to introduce a fine grating defect etc., in a desired area in the surface of the SOI layer 12.例文帳に追加
マスク50の開口部からAr^+イオンを注入してSOI層12面内の所望領域に微細な格子欠陥等を導入する。 - 特許庁
To provide a magnetron sputtering apparatus which inhibits a substrate from receiving a damage due to γ electrons, recoil Ar ions and the like, while improving the efficiency of use of a target.例文帳に追加
ターゲットの使用効率を高めながら、γ電子、反跳Arイオンなどによる基板へのダメージを抑えたマグネトロンスパッタリング装置の提供。 - 特許庁
Furthermore, an inert gas, for example, Ar ions are implanted into the aluminum layer 14 that is formed through sputtering, thus making it amorphous.例文帳に追加
その後、スパッタ形成したアルミニウム層14に対し不活性ガス例えばArのイオン注入を施すことによってアルミニウム層14を非結晶化させる。 - 特許庁
The cause of the noise drives from water ions due to an ion-molecule reaction between Ar ions and water molecules trapped in an ion trap space, the water ions produced during mass sweep are released from the ion trap and detected regardless of mass of sweep and generate noise on a mass spectrum.例文帳に追加
ノイズの原因はイオントラップ空間内にトラップされたArイオンと水分子とのイオン分子反応による水イオンに由来し質量掃引中に生成した水イオンが掃引の質量に無関係にイオントラップから放出され検出され、マススペクトル上にノイズとなる。 - 特許庁
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「ar ions」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 16件
After forming a thick silicon oxide film 3 uniformly inside the trench 11, an ion-implanted damage region 31 is selectively introduced into the silicon oxide film on the side wall of the trench using shadowing by inclined ion implantation of ions such as Ar ions.例文帳に追加
トレンチ11内に均一に厚いシリコン酸化膜3を形成させた後、Arなどのイオンを斜めイオン注入によるシャドーイングを利用してトレンチ側壁のシリコン酸化膜に選択的に注入ダメージ領域31を導入する。 - 特許庁
By implanting hydrogen ions through the buried insulating film 2, a peeling ion implantation layer 21 is formed, and further, by implanting Ar ions, etc. on the buried insulating film 2 side than the ion implantation layer 21, an amorphous layer 22 is formed.例文帳に追加
そして、埋込絶縁膜2を通じて水素イオンを注入することで剥離用のイオン注入層21を形成すると共に、イオン注入層21よりも埋込絶縁膜2側にArイオンなどを注入することでアモルファス層22を形成する。 - 特許庁
In this semiconductor device of SOI structure using an SOI substrate 100, a lattice strain layer 4 is formed by injecting Ar ions into a silicon substrate acting as an active layer 3.例文帳に追加
SOI基板100を用いたSOI構造の半導体装置において、活性層3となるシリコン基板に対してArイオンを注入することにより格子歪み層4を形成する。 - 特許庁
Consequently, the colliding position of Ar ions in the cathode is shifted from an actual electron emission surface of the cathode 5, and thus the actual electron emission surface of the cathode 5 is unaffected by ion bombardment.例文帳に追加
これにより、陰極でのArイオンの衝突位置が陰極5の実動電子放射面からずれることとなるので、陰極5の実動電子放射面がイオンボンバードの影響を受けることがない。 - 特許庁
Since SiO_2 is employed as the material of a guide ring 9, O_2 atoms out of the SiO_2 subjected to sputter etching with Ar ions contributes to etching at the end portion of a body 6 to be etched thereby raising etching rate at the end portion.例文帳に追加
ガイドリング9の材質をSiO_2にすることにより、ArイオンによりスパッタエッチングされたSiO_2のうちのO_2原子が被エッチング体6の端部のエッチングに寄与し、端部のエッチング速度を上げることができる。 - 特許庁
In an Ar ion implantation step, ion implantation conditions (1.0×10^14 ions/cm^2 or less, at 10 keV) are provided not for making noncrystalline but for reforming near the surface of a source/drain region 9 and the surface of a polycrystalline silicon control gate 7.例文帳に追加
Arイオン注入工程において、ソース/ドレイン領域9の表面および多結晶シリコン制御ゲート7の表面付近を非晶質化しないが改質するようなイオン注入条件(1.0×10^14イオン数/cm^2以下、10keV)とした。 - 特許庁
When forming the emitter region 2e and the collector region 2c, the acceleration voltage is set at 20 kV and the ion current is set at 10 μA by a secondary ion microanalyzer (IMA) and the two points on the Si substrate 1 are irradiated with Ar^+ and He^+, which are rare gas element ions, for about two hours.例文帳に追加
エミッタ領域2e及びコレクタ領域2cの形成に当たっては、二次イオン質量分析器(IMA)により加速電圧を20kV、イオン電流を10μAとして、希ガス元素のイオンであるAr^+及びHe^+を2時間程度、Si基板1の2箇所にイオン照射する。 - 特許庁
To prevent a problem that, while thermal electrons within the range irradiated with ion beam are attracted by Ar+ ions to hit a screen (shutter), thermal electrons produced at the part of uncovered filament terminal portion reach a substrate with creeping phenomenon like reflection to lower the electri cal potential of the substrate.例文帳に追加
イオンビームの照射範囲内の熱電子はAr+イオンに引き寄せられ、遮蔽板(シャッタ)に当たることになるが、むき出しとなっているフィラメント端子部分で発生した熱電子は、反射等の回り込みなどの現象により基板まで到達し、基板の持つ電位が低下する。 - 特許庁
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