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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 英和専門語辞典 > board under testの意味・解説 

board under testとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 被測定ボード


クロスランゲージ 37分野専門語辞書での「board under test」の意味

board under test


「board under test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 21



例文

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁

To provide a test printed wiring board enabling to acquire many data relating to a test body under a test with less test pieces and to easily seize a frequency of durable bending test times and variations therein.例文帳に追加

少ない試験片数で被試験体に関する多くのデータが得られ、耐屈折回数とそのバラツキを容易に把握できる試験用プリント配線基板を提供する。 - 特許庁

The tester comprises: a measurement section for applying a current to an apparatus under test through a mounting test board for mounting the apparatus under test, and measuring a voltage at a predetermined region in the apparatus under test; and a determination section for obtaining a measurement result from the measurement section, and for determining the acceptance of the apparatus under test by comparing the measurement result with a standard value.例文帳に追加

被測定装置が装着された装着テストボードを介して前記被測定装置に電流を印加し、前記被測定装置の所定部位の電圧を測定する測定部と、前記測定部による測定結果を取得し、規格値と比較することにより、前記被測定装置の合否を判定する判定部と、を具備する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system which stabilizes a contact condition of contact points between the device under test and a performance board.例文帳に追加

被試験デバイスとパフォーマンスボードとの接点の接触状態を安定させる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

The distribution circuit 10 connects the SDI terminal of the control CPU 1 and an SDI terminal of the board under test 2, connects the SDO terminal of the control CPU 1 and an SDO terminal of the jig 3, and connects an SDO terminal of the board under test 2 and an SDI terminal of the jig 3.例文帳に追加

分配回路10は、制御CPU1及び被検査基板2のSDI端子を接続し、制御CPU1のSDO端子と治具3のSDO端子とを接続し、被検査基板2のSDO端子と治具3のSDI端子とを接続している。 - 特許庁

A burn-in board BIB includes a burn-in board main body BIBM having on a front surface a plurality of sockets SKT on which a device under test is mounted, and an insertion edge EG provided on the burn-in board main body.例文帳に追加

バーンインボードBIBは、被試験デバイスが装着される複数のソケットSKTを表面に有するバーンインボード本体部BIBMと、バーンインボード本体部に設けられた挿入エッジEGと、を有する。 - 特許庁

例文

A control CPU 1 inputs a test signal to the board under test 2 through a distribution circuit 10 from a JTAG-standard-ready SDI terminal and inputs a signal from a jig 3 from its SDO terminal.例文帳に追加

制御CPU1は、試験信号を、JTAG規格に対応したSDI端子から分配回路10を介して被検査基板2に入力し、治具3からの信号をSDO端子から入力する。 - 特許庁

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「board under test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 21



例文

A single loop is formed allowing the test signal generated by the control CPU 1 to be input to the SDO terminal of the control CPU 1 through the board under test 2 and the jig 3.例文帳に追加

制御CPU1で発生した試験信号が被検査基板2、治具3を経由して制御CPU1のSDO端子に入力されて一巡する単一ループが形成される。 - 特許庁

For example, a test is performed by: mounting a device under test (DUT) on a test board TBD including loopback-wiring lines LNp1, LNn1, LNp2, and LNn2; and returning signals from differential transmission terminals TXp and TXn of the DUT to differential reception terminals RXp and RXn via the loopback-wiring lines.例文帳に追加

例えば、ループバック配線LNp1,LNn1,LNp2,LNn2を持つテスト用基板TBD上に被テストデバイスDUTを搭載し、DUTの差動送信端子TXp,TXnからの信号をループバック配線を介して差動受信端子RXp,RXnに戻すことでテストを行う。 - 特許庁

In the IC tester 1, a test control part 71 executes an IC test based on a test program 61 to a device under test on a tester board part 5, the test result is stored in a data acquisition file 62 as the sorting data, and the sorting data which is stored in the file 62 is extracted via a data acquisition part 73.例文帳に追加

ICテスタ1において、テスト制御部71はテスタボード部5上の被測定デバイスにテストプログラム61に基づくICテストを実行し、テスト結果を分類データとしてデータ収集ファイル62に格納し、データ収集ファイル62に格納された分類データをデータ収集部73を介して抽出する。 - 特許庁

Further regulations shall be stipulated under or by virtue of a general order in council for the Kingdom with respect to: a. permission to participate in and take the examination and the proficiency test and the amount owed by the person who wishes to take all or part of an examination or proficiency test; and b. the knowledge that is tested by means of the examination and the proficiency test, the elaboration of the examination requirements by the board of examiners and the manner in which the examination or the proficiency test is administered.例文帳に追加

次の事項に関して,王国評議会一般命令に基づき又はそれにより,細則を定める。 (a) 試験及び熟練度テストを受けることについての許可及び試験又は熟練度テストの全部又は一部を受けようとする者が納付すべき金額 (b) 試験及び熟練度テストによって検査される知識,試験官委員会による試験要件の策定,及び試験又は熟練度テストの施行方法 - 特許庁

To provide an acrylic resin for an adhesive or for an adhesive film which has resistance to heat, electrolytic corrosion and moisture necessary in mounting semiconductor chips having significant difference in coefficient of thermal expansion from a printed wiring board such as a glass epoxy board or flexible board, and in particular is slight in deterioration when put to moisture resistance test under severe conditions including PCT (pressure cooker test) treatment.例文帳に追加

ガラスエポキシ基板やフレキシブル基板等のプリント配線板に熱膨張係数の差が大きい半導体チップを実装する場合に必要な耐熱性、耐電食性、耐湿性を有し、特に、PCT処理等厳しい条件下での耐湿性試験を行った場合の劣化が小さい接着剤及び接着フィルム用アクリル樹脂を得ることを提供する。 - 特許庁

The supervisory board may grant a dispensation from the obligation to take the examination or the proficiency test or the obligation to handle patent applications for a period of at least three years under the responsibility of a patent agent.例文帳に追加

管理委員会は,試験若しくは熟練度テストを受ける義務,又は特許代理人としての責任の下に最低3年間特許出願を取り扱う義務を免除することができる。 - 特許庁

To provide a curable sheet for use in the production of a multilayer wiring board, having a high density precise circuit, high heat resistance, high water resistance and long term stability under a high temperature test of 130°C or higher.例文帳に追加

精密で高密度な回路を有し、耐熱性、耐水性が高く、且つ130℃以上の高温放置試験下での長期安定性を有する多層配線板の製造に使用できる硬化性シートを提供する。 - 特許庁

例文

To prevent a wiring board surface of a thin panel having a transistor mounted on a substrate or a semiconductor wafer surface from being contaminated in a current loading test conducted for a long time while heating is continued under reduced pressure.例文帳に追加

長時間の間、減圧下で加熱しながら行う通電負荷試験において、基板上にトランジスタを搭載した薄型パネルの配線基板表面、又は半導体ウェハ表面が汚染されることを防止する。 - 特許庁

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「board under test」の意味に関連した用語
1
被測定ボード 英和専門語辞典

2
Mullen test Wiktionary英語版

3

4
Soyuz 20 百科事典



7
Shoaib Malik 百科事典


9
trial balloon Wiktionary英語版

10
chairmaness Wiktionary英語版

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