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意味・対訳 回折界

JST科学技術用語日英対訳辞書での「diffracted field」の意味

diffracted field


「diffracted field」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 16



例文

The pattern and the letter are displayed in a visual field of a finder by diffracted light going toward the pentaprism 6.例文帳に追加

ペンタプリズム6へ向かう回折光によりファインダ視野内にパターンや文字を表示する。 - 特許庁

An image formed by one diffracted beam is known as a dark-field image.発音を聞く 例文帳に追加

1つの回折ビーム(回折波)によって結像される像は、暗視野像として知られている。 - 科学技術論文動詞集

A spatial filter 90 having a slit 91 passes a specific diffracted light corresponding to the applied electric field.例文帳に追加

スリット91を有する空間フィルタ90は、印加された電界に対応する所定の回折光を通過させる。 - 特許庁

The field control film 32 removes the light traveling toward the light receiving lens 34 after being reflected or diffracted inside a housing 10.例文帳に追加

筐体10内で反射または回折した後受光レンズ34に向かう光は、視野コントロールフィルム32によって除去される。 - 特許庁

In the dark-field method, the objective aperture is displaced so that the image is formed not by the incident electron beam but by an appropriate diffracted beam.発音を聞く 例文帳に追加

暗視野法では、対物絞りが移動され、像が入射電子ビームではなく適切な回折ビームで形成されるようにされる。 - 科学技術論文動詞集

Since the diffracted beam is automatically inclined to the objective axis, the main limitation on the dark-field image arises from the spherical aberration of the objective lens.発音を聞く 例文帳に追加

回折ビームは対物レンズの軸に対し自動的に傾けられるので、暗視野像の限界は対物レンズの球面収差から生じる。 - 科学技術論文動詞集

例文

Diffracted X-ray data are successively integrated on the stimulable phosphor 2 when the X-ray irradiation field is present at the individual positions in the measuring region B.例文帳に追加

X線照射野Aが測定領域B内の個々の位置にあるときの回折X線データが輝尽性蛍光体2に順次に積算される。 - 特許庁

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「diffracted field」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 16



例文

To measure an energy loss spectrum of a diffracted electron generated in RHEED, at a high S/N ratio, by a relatively simple blocking field type energy analyzer.例文帳に追加

比較的簡単な阻止電場型エネルギー分析器により、RHEEDで発生する回折電子のエネルギー損失スペクトルを高いS/Nで計測可能とする。 - 特許庁

A sample S is irradiated with X-rays in a narrow X-ray irradiation field A by a collimator 1 and X-rays diffracted by the sample S are detected by a storage phosphor 2.例文帳に追加

コリメータ1によって狭いX線照射野Aで試料SにX線を照射し、試料Sで回折するX線を蓄積性蛍光体2で検出する。 - 特許庁

A beam of narrow bandwidth light is diffracted by directing the beam of narrow bandwidth light between the surface and the tip of the machining tool such that a portion of the diffracted beam is optically coupled into the machining tool via near-field optically coupling.例文帳に追加

狭い帯域幅の光のビームを表面と機械加工ツールの先端との間に放射することで、狭い帯域幅の光のビームを回折させ、その際には、回折されたビームの一部が、近接場光学的結合を介して、機械加工ツールの中に光学的に結合されるようにする。 - 特許庁

To uniformize the sensitivity of an image sensor in a detection visual field, even under an optical condition wherein the reflected light or diffracted light from an inspection object changes corresponding to the pattern density of the inspection object.例文帳に追加

検査対象からの反射光もしくは回折光が検査対象のパターン密度に応じて変化する光学条件においても検出視野内でのイメージセンサの感度を均一にする。 - 特許庁

The base plate includes a waveguiding film and a diffraction grating means and couples an incident light field into the waveguiding film beneath the well, to generate a diffracted light field, thereby enabling detection of the change in the effective refractive index of the waveguiding film.例文帳に追加

基材プレートは、薄膜導波路及び回折格子手段を含んでいて、入射光の領域をウエルの下方の薄膜導波路中に入り結合して回折光の領域を発生させ、よって、薄膜導波路の有効屈折率の変化の検出を可能とする。 - 特許庁

This reflective exposure method comprises for the reflective mask the steps of selecting a specified pattern, e.g., a pattern having a minimum dimension, computing the electromagnetic field near the mask with respect to the pattern, and obtaining the propagation direction having a maximum intensity in the distribution of diffracted light acquired from the computed electromagnetic field near the mask.例文帳に追加

反射型露光方法は、反射型マスクにおいて、特定のパターン、例えば、最も寸法の小さいパターンを選択するステップと、該パターンについてマスク近傍の電磁界を計算するステップと、計算されたマスク近傍の電磁界から求まる回折光の分布から最も強度が強い伝播方向を求めるステップを含む。 - 特許庁

When a voltage is applied to the electrodes 28a and 28b, sample components 58 are drawn to the electrodes by dielectrophoresis along a line 54 of electric force acting between the electrodes 28a and 28b, they enter the electric field intensification area 52, a refractive index changes, and the sample component is detected by change of intensity of zero-order diffracted light 50b.例文帳に追加

電極28a,28bに電圧を印加すると、電極28aと28bの間に働く電気力線54に沿って誘電泳動により試料成分58が電極に引き寄せられて電場増強領域52に入ってきて屈折率が変化し、0次回折光50bの強度が変化することによって試料成分が検出される。 - 特許庁

例文

The spectroscope includes an electro-optic crystal having an electro-optic effect; a beam deflector having an electrode pair for applying an electric field in the electro-optic crystal; spectroscopic means for spectrally diffracting emission light from the beam deflector; wavelength selection means for selecting light of an optional wavelength from the emission light spectrally diffracted by the spectroscopic means.例文帳に追加

本発明に係る分光器は、電気光学効果を有する電気光学結晶、および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と、前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と、該分光手段で分光された出射光の中から、任意の波長の光を選択する波長選択手段とを備える。 - 特許庁

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