first time simulationとは 意味・読み方・使い方

Each time signal value transition is generated, simulation results 12 and 22 where signal name information, generation time information and first signal value information and second signal value information are made to correspond to one another are acquired by simulation using circuit descriptions 10 and 20 (S1, S2).例文帳に追加

回路記述１０、２０を用いたシミュレーションにより、信号値遷移の発生毎に、信号名情報、発生時刻情報、第１信号値情報および第２信号値情報が対応づけられたシミュレーション結果１２、２２が取得される（Ｓ１、Ｓ２）。 - 特許庁

To provide a simulation device capable of making simulation time shorter than the time required for conventional cycle-based simulations when a system including a first and a second circuit block operating on the basis of periodic clock input is simulated.例文帳に追加

周期的なクロック入力に基づいてそれぞれ動作する第１回路ブロックと第２回路ブロックとを含むシステムをシミュレーションする場合に、従来のサイクルベースシミュレーションよりシミュレーション実行時間を短縮することができるシミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

In a actual process, the work is subjected to the modification and correction to the position of the clamp change after the first time calculated by the process simulation and efficiently clamp changed, thereby resulting to reduction in the process time.例文帳に追加

実際の加工では工程シミュレーションで算出された第１回目以降の掴み換え位置に変更補正され効率よく掴み換えされるので、工程時間の短縮となる。 - 特許庁

A time storing a content of an in-logic-circuit storage element of the test pattern 21 executed with the simulation at first, and a time reading out a content of an in-logic-circuit storage element of the test pattern 21 executed with the simulation at second or thereafter are determined to output storage/reading-out time information 23 therefor (S2).例文帳に追加

１番目にシミュレーションが実行されるテストパターン２１の論理回路内記憶素子の内容を保存する時間、及び、２番目以降にシミュレーションが実行されるテストパターン２１の論理回路内記憶素子の内容を読み出す時間を決定して、それらの保存／読み出し時間情報２３を出力する（Ｓ２）。 - 特許庁

In a control device 17, a process simulation in the case where the center of the work W is clamped with the main clamp 29 in deciding the original point of the work W, is made previously to calculate the position of clamp change after the first time in this process simulation.例文帳に追加

制御装置１７ではワークＷの原点位置決め時にワークＷの中心をメインクランプ２９でクランプした場合の工程シミュレーションを事前に行ない、この工程シミュレーションにおける第１回目以降の掴み換え位置を算出する。 - 特許庁

In EGA optimization simulation, the alignment processing parameters are optimized while taking account of the linewidth variation of a pattern formed, using results of EGA simulation performed using measurement results of first time wafer alignment(EGA measurement), and results of EGA simulation performed using measurement results of second time wafer alignment(EGA measurement) (steps S38, S39, S42, S43).例文帳に追加

ＥＧＡ最適化シミュレーションにおいて、第１回目のウエハアライメント（ＥＧＡ計測）の計測結果を用いてのＥＧＡシミュレーションの結果と、第２回目のウエハアライメント（ＥＧＡ計測）の計測結果を用いてのＥＧＡシミュレーションの結果と、を用いて、形成されたパターンの線幅変動も考慮して、アライメント処理パラメータが最適化される（ステップＳ３８、Ｓ３９、Ｓ４２，Ｓ４３）。 - 特許庁

Concerning a first and second articulated robots 50a, 50b, a combination of mutual attitudes is realized by simulation operation for every operation period of time at a designated interval to confirm the existence of interference.例文帳に追加

第１および第２の多関節ロボット５０ａ、５０ｂについて所定間隔の動作時間毎に、相互の姿勢の組合せをシミュレーション動作によって実現して干渉の有無を確認する。 - 特許庁

This simulation device performs electromagnetic field circuit cooperative analysis to a first substrate and a second substrate electrically connected through a circuit element having a finite delay time.例文帳に追加

本発明に係るシミュレーション装置は、有限の遅延時間をもつ回路素子を介して電気的に結合された、第１の基板と第２の基板とに対し、電磁界回路連携解析を行なう。 - 特許庁