here in after referred to asとは 意味・読み方・使い方

After he died at 43 (his ages are here reckoned in the Western system in which one is added upon one's birthday) he is sometimes referred to as 'Shogiku Takayoshi KIDO,' 'Shogiku KIDO' or 'Lord Shogiku KIDO.'発音を聞く 例文帳に追加

43歳（年齢はいずれも満年齢）で逝ってからは「松菊木戸孝允」「木戸松菊」あるいは「松菊木戸公」とも呼ばれる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

(1) The Merchandise Marks Act, 1889 (Act IV of 1889) and the Trademarks Act, 1940 (Act V of 1940) here-in-after referred to as repealed Acts are hereby repealed.発音を聞く 例文帳に追加

(1)1889年商品標章法(1889年法律第4号)及び1940年商標法(1940年法律第5号)は、以後廃止された法律といい、ここに廃止される。 - 特許庁

Article17 bis was provided with respect to the amendment of a description, the scope of claims or drawings (here in after referred to as "description, etc."), referring to the provision of Article11 of the Act Concerning the International Application of the Patent Cooperation Treaty and Related Matters (here in after referred to as "International Application Act"), which is operated along the PCT Guidelines, aim in gat prohibiting the addition of new matter similarly in the United States or Europe.発音を聞く 例文帳に追加

第17条の2第3項は、明細書、特許請求の範囲又は図面(以下「明細書等」という。)の補正について、欧米と同様に新規事項の追加を不可とする趣旨でPCTガイドラインに沿って運用が行われている特許協力条約に基づく国際出願等に関する法律(以下「国際出願法」という。)第11条の規定ぶりを参考に規定されたものである。 - 特許庁

On and after S3, the image data are added with a data representing profile/landscape position of the CCD108 discriminated in S2 (here in after, referred to as profile/landscape data).例文帳に追加

Ｓ３以降では、画像データに対して、Ｓ２で判別したＣＣＤ１０８の縦横位置を示すデータ（以下、縦横位置データと称す）を付加する処理を行う。 - 特許庁

(1) Any act done or action taken under the Trademark Ordinance, 2008 (Ordinance No. 2 of 2008) and the Trademark Ordinance, 2009 (Ordinance No. 5 of 2009), here-in-after referred to as the two Ordinances shall be deemed to have done or taken under this Act.発音を聞く 例文帳に追加

(1)2008年商標条例(2008年産業省令第2号)及び2009年商標条例(2009年産業省令第5号)(以下「二条例」という。)に基づきなされた行為又は行われた処分は、本法に基づきなされ又は行われたものとみなす。 - 特許庁

The apparatus includes a lens or lens system, referred to here as the "FT lens", situated in such a way that light from an object beam enters the FT lens after passing through an object, and light leaving the FT lens impinges on a recording medium situated at a Fourier transform plane of the object with respect to the FT lens.例文帳に追加

この装置は、レンズまたはレンズシステム（ここでは「ＦＴレンズ」と呼ぶ）を含み、物体波からの光が物体を通過した後でＦＴレンズに入り、ＦＴレンズを出た光が、ＦＴレンズに対して物体のフーリエ変換面に位置する記録媒体にぶつかるように、ＦＴレンズが配置されている。 - 特許庁

If all of the inventions that were examined in terms of the requirements for patentability, such as novelty and inventive step, in the claims before the amendment and all of the inventions in the claims after the amendment have the same or corresponding special technical feature all inventions after the amendment will be the subject of the examination on requirements other than the requirements under Article 17bis (4). (Here in after "subject of the examination on the requirements other than the requirements under Article 17bis (4)" is merely referred to as "subject of the examination" in this Article.)発音を聞く 例文帳に追加

補正前の特許請求の範囲の新規性･進歩性等の特許要件についての審査が行われたすべての発明と、補正後の特許請求の範囲のすべての発明が同一の又は対応する特別な技術的特徴を有している場合には、当該補正後のすべての発明について、第17 条の2 第4 項以外の要件についての審査対象(以下、本節において、「第17 条の2 第4 項以外の要件についての審査対象」を単に「審査対象」という。）とする。 - 特許庁