line-focus beamとは 意味・読み方・使い方

A head part 30 irradiates the object to be measured 2 with a line focus beam to generate transverse waves polarized in the direction of rolling or transverse waves polarized, in the width direction inside and introduces a second laser beam to a prescribed location in the object to be measured 2, to acquire a second laser beam reflected there.例文帳に追加

ヘッド部３０は、ラインフォーカスビームを測定対象物２に照射してその内部に圧延方向偏波横波又は幅方向偏波横波を発生させると共に、測定対象物２の所定位置に第二レーザビームを導き、そこで反射した第二レーザビームを取得する。 - 特許庁

In butt-welding the materials of different thicknesses by laser, the focus position 19 of a laser beam 16 is oscillated vertically in the thickness direction of the material when emitting the laser beam 16 by moving along a weld line 14.例文帳に追加

板厚の異なる材料を突き合わせ溶接する差厚材のレーザ溶接方法において、レーザビーム１６を溶接線１４に沿って移動させて照射するとき、レーザビーム１６のフォーカス位置１９を材料の板厚方向に上下に振動させる。 - 特許庁

The lower end portion of the second reflector 12 is positioned near the focus Fo of the projection lens 8 and has a light and darkness boundary forming portion 12b for forming a cut line of a low-beam light distribution pattern.例文帳に追加

第２リフレクタ１２の下端部は、投影レンズ８の焦点Ｆｏ近傍に位置するとともに、すれ違い配光パターンのカットラインを形成する明暗境界形成部１２ｂを備えている。 - 特許庁

A head part 30 radiates a line focus beam to the subject 2 to generate lateral waves polarized in a rolling direction or lateral waves polarized in a width direction inside, and introduces a second laser beam to a second prescribed position in the subject 2 to which each lateral wave reaches to obtain the second laser beam reflected.例文帳に追加

ヘッド部３０は、ラインフォーカスビームを測定対象物２に照射することによりその内部に圧延方向偏波横波又は幅方向偏波横波を発生させると共に、各横波が到達する測定対象物２の所定位置に第二レーザビームを導き、そこで反射した第二レーザビームを取得する。 - 特許庁

A peak detecting circuit 19 creates a line profile of a sampling value respective to each position scanned by the electron beam and determines whether an analysis position is positioned from its peak position above or under a focus point of an electrospectrometer.例文帳に追加

ピーク検出回路１９は、各電子線走査位置に対するサンプリング値のラインプロファイルを作成し、そのピーク位置から分析位置が電子分光器のフォーカス点より上に位置するか下に位置するかを求める。 - 特許庁

The examination carriage can be fixed on at least one measuring point 15, wherein each of these measuring points 15 is arranged such that the axis of rotation 5 is on a measuring line 9 which emanates from the focus 2 and includes a tilt angle α to the central axis 6 of the fan beam 3 or the conical beam.例文帳に追加

本発明に従い、検査台車は少なくとも１つの測定点１５に固定可能であり、焦点２から広がり且つ扇状ビーム３又は円錐ビームの中心軸６に対して傾斜角αを含む測定線９上に回転軸５があるように、これら各測定点１５が配置される。 - 特許庁

The calculation results of features such as electron beam images, line profiles, and sizes for various exposures and focal value are previously stored as libraries, and the calculation result and the electron beam image of a product wafer is compared with each other, so that a variation in exposure and focus can be easily detected, and a comparison result can be easily verified on an image screen.例文帳に追加

事前に様々な露光量、フォーカス値における電子線像、ラインプロファイル、寸法等の特徴量の算出結果をライブラリとして保存し、これと製品ウェーハの電子線像との比較することにより、露光量・フォーカス値のずれ検出、および画面上での結果確認が容易になるようにする。 - 特許庁

To provide an in-line type electron gun in which an electric field overlapping type main lens method is adopted, and with which superior focus characteristics can be obtained by making small an electron beam spot over the entire surface of a phosphor screen without mechanically forming it in a large size.例文帳に追加

機械的に大きく形成することなく、蛍光体スクリーンの全面で電子ビームスポットを小さくして良好なフォーカス特性を得ることのできる、電界重畳型主レンズ方式を採用したインライン型電子銃を提供する。 - 特許庁