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manufacturing exposure timeとは 意味・読み方・使い方
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「manufacturing exposure time」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 69件
To provide an exposure time adjusting system in a semiconductor device manufacturing apparatus for adjusting the exposure time according to a state of preceding and following processes.例文帳に追加
前後工程の状態によって露光時間を調節できる半導体装置製造装備の露光時間調節システムを提供する。 - 特許庁
To provide a method of exposure and aligner for exposure by which exposure can be performed efficiently in a short time, and at the same time, the cost of exposure can be reduced, a mask, and a method of manufacturing device.例文帳に追加
短時間のうちに効率良く露光処理を行うことができるとともに、コストを低減することができる露光方法及び露光装置、マスク、並びにデバイス製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an exposure device in which a projection optic system can be brought, before exposure is performed, into a thermal state close to a time when exposure is performed, and to provide an exposure method and a device manufacturing method.例文帳に追加
露光前に投影光学系を露光時に近い熱的状態にすることができる露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁
EXPOSURE TIME DETERMINING METHOD, MASK CREATING METHOD, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
露光時間の決定方法、マスクの作製方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
To manage overlay accuracy in an exposure process for manufacturing a semiconductor while considering changes with time.例文帳に追加
半導体製造の露光工程における重ね合わせ精度を、経時的な変動を考慮して管理する。 - 特許庁
The semiconductor manufacturing system generates exposure end time data, based on the exposing condition data read from a storage device 73 by means of the exposure end time data generating means 71 of an exposure system 70.例文帳に追加
露光装置70の露光終了時間データ生成手段71により、記憶装置73から読み出した露光条件データに基づいて、露光終了時間データを生成する。 - 特許庁
To provide an exposure apparatus and its manufacturing method, capable of maintaining superior exposure performance by considering the changes in exposure aberrations with passage of time due to solarization, and capable of preventing degradation in the throughput.例文帳に追加
ソラリゼーションによる経時的な露光収差の変化を考慮し、優れた露光性能を維持すると共に、スループットの低下を防止することができる露光装置及び方法を提供する。 - 特許庁
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「manufacturing exposure time」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 69件
To provide a method of X-ray contracted projection/exposure, an X-ray contracted projection/exposure device and a method of manufacturing a semiconductor device using the same where there is no loss of luminous energy, an exposure time is shortened and the throughput is enhanced.例文帳に追加
光量の損失がなく、露光時間が短縮され、スループットを高めることができるX線縮小投影露光方法、X線縮小投影露光装置及びこれを用いた半導体デバイス製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a master disk exposure apparatus and master disk exposure method for manufacturing an optical information recording medium with high recording density at a low cost by shortening an exposure time per a sheet of master disk for information recording medium.例文帳に追加
情報記録媒体用原盤の1枚当たりの露光時間を短縮し、高記録密度の光情報記録媒体をより低コストで製造するための原盤露光装置及び原盤露光方法を提供する。 - 特許庁
To cut down manufacturing time of the manufacturing process as a whole without causing disorder in pitch of coaxial cables at exposure of an inner insulation coating layer.例文帳に追加
内側絶縁被覆層が露出時に同軸ケーブルのピッチが狂わず、製造工程全体の製造時間を短縮する。 - 特許庁
Pattern exposure is made onto a wafer with a ground pattern on the surface and a wafer without any ground pattern on the surface while increasing the exposure energy by a certain amount each time for each shot, thus manufacturing a wafer for inspection that is an exposure running wafer (S13).例文帳に追加
表面に下地パタンを有するウェハ上および表面に下地パタンを有しないウェハ上のそれぞれに、1ショット毎に露光量を一定量ずつ増加させながらパタンの露光を行うことによって、exposure runningウェハである検査用ウェハを作製する(S13)。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device which decreases the number of exposure mask to remarkably shorten the man-hours and period of time of a process for exposure, in the manufacturing method of the semiconductor device, in which an identification information is given on a chip.例文帳に追加
チップ上に識別情報を付与した半導体装置の製造方法において、露光マスクの数を減らし、露光にかかる工程の工数と時間を大幅に短縮した半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a multilayer film reflecting mirror for forming a film in a short time, and thinning the thickness of an interface layer, and an exposure device.例文帳に追加
短い時間で膜形成が行われ、かつ、界面層の厚さが薄い多層膜反射鏡の製造方法及び露光装置を提供する。 - 特許庁
To provide an enameled wire capable of restraining expansion at the time of winding a coil and preventing exposure of a conductor, and a method of manufacturing the same.例文帳に追加
コイル巻時の伸びを抑えることができると共に、導体の露出を防止することができるエナメル線及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To obtain a photomask for manufacturing a printed wiring board less liable to a dimensional change even when subjected to repetitive exposure over a long time.例文帳に追加
長時間繰り返し露光を行っても寸法変化の少ないプリント配線板作製用のフォトマスクを得る。 - 特許庁
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