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primary control surfaceとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 主操縦面
「primary control surface」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
The optical control element 2 has a primary main surface faced with the light incident end surface 31, and a secondary main surface on the side opposite to the primary main surface.例文帳に追加
光制御素子2は光入射端面31と対向する第1主面とその反対側の第2の主面とを有する。 - 特許庁
A semiconductor light-emitting device comprises: a light-emitting portion having a first primary surface and a second primary surface that is the opposite surface of the first primary surface; a wavelength conversion portion that is provided at the first primary surface side and contains phosphors; and a chromaticity control portion that is provided between the light-emitting portion and the wavelength conversion portion and controls the thickness dimension of the wavelength conversion portion.例文帳に追加
実施形態によれば、第1主面と、前記第1主面の反対面である第2主面と、を有する発光部と、前記第1主面側に設けられ蛍光体を含有する波長変換部と、前記発光部と、前記波長変換部と、の間に設けられ、前記波長変換部の形状寸法を制御する色度制御部と、を備えたことを特徴とする半導体発光装置が提供される。 - 特許庁
A power semiconductor chip (a first semiconductor chip) 41 is mounted on a primary surface of the first heat sink 31, and a control IC chip (a second semiconductor chip) 42 is mounted on a primary surface of the second heat sink 32.例文帳に追加
このうち、第1の放熱板31の一方の主面にはパワー半導体チップ(第1の半導体チップ)41が搭載され、第2の放熱板32の主面には制御用ICチップ(第2の半導体チップ)42が搭載される。 - 特許庁
Furthermore, surface electric field intensity is set independently on an irradiation region of the primary beam for charge control and an irradiation region of the primary beam for inspection.例文帳に追加
また、帯電制御用の一次ビームの照射領域と検査用の一次ビームの照射領域に対して、独立に表面電界強度を設定する。 - 特許庁
The purpose is attained by setting the pressure reducing area for receiving primary side pressure to one surface for controlling a main valve, receiving control room preset pressure to the other surface, and receiving primary side pressure of a piston valve for sliding in a control room and the pressure receiving area for receiving control room pressure, to the area in inverse proportion to pressure received by the respective surfaces.例文帳に追加
主弁を制御するため一方の面に一次側圧力を又他方の面に制御室設定圧力を受け制御室内を摺動するピストン弁の一次側圧力を受ける受圧面積と制御室圧力を受ける受圧面積をそれぞれの面が受ける圧力と反比例させた面積とすることによって課題を解決する。 - 特許庁
In a plural number of different positions on a photoreceptor 1 that are also non-image-forming areas, surface potential is measured by a potential sensor 10 and a laser control value of a laser 2 or a primary current value of a primary electrifying device 3 are adjusted.例文帳に追加
感光体1上の複数の異なる位置であって、かつ、非画像形成領域について、電位センサ10によって表面電位を測定し、測定結果に基づいて、レーザ2によるレーザ制御値や一次帯電器3の一次電流値などを調整する。 - 特許庁
In the image forming apparatus using an intermediate transfer system, it is provided with a surface potential measurement means 60 for measuring surface potential of a predetermined toner image to be primarily transferred to the intermediate transfer object and a control means 50 for adjusting primary transfer current to be applied to a primary transfer means based on surface potential information of a toner image, measured by the surface potential measurement means.例文帳に追加
中間転写方式を利用する画像形成装置において、中間転写体に一次転写される所定のトナー像の表面電位を測定する表面電位測定手段60と、この表面電位測定手段で測定されるトナー像の表面電位情報に基づいて一次転写手段に印加する一次転写電流を調整する制御手段50とを設けた。 - 特許庁
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「primary control surface」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
To solve a problem that in order to realize an electron optical system in which a surface electric field control electrode is installed and a primary electron beam diameter is reduced, the surface electric field control electrode needs to be adjacent to a wafer, and for that reason, it becomes impossible to carry out height detection for focusing.例文帳に追加
表面電界制御電極を設け,かつ一次電子ビーム径を縮小させた電子光学系を実現するには,表面電界制御電極をウェハに近接させる必要があり,このため,焦点あわせ用の高さ検出が行えなくなる。 - 特許庁
Further, at the time when primary inspection is performed before the formation of the electroconductive GL layer as the outermost surface layer, the generation of pinholes can be inspected by a discharge test, thus the quality of its quality control can be improved as well.例文帳に追加
さらに、最表層の導電性GL層を形成する前に一次検査を行えば、ピンホールの発生を放電試験により検査することが可能なため、品質管理の質を向上させることも可能である。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a flexible magnetic recording medium which is excellent in handling, contamination resistance, a surface property and productivity, in the manufacturing method of the flexible magnetic recording medium in which primary-coated layer of which the purpose is smoothing and control of surface coarseness is formed .例文帳に追加
平滑化および表面粗さ制御を目的とした下塗り層を形成したフレキシブル磁気記録媒体の製造方法において、ハンドリング性、耐汚染性、表面性、生産性に優れるフレキシブル磁気記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a command transmitter to control a motor-driven window blind with directable vanes, the transmitter having control buttons and a movable control element moving bi-directionally along an imaginary operation axis, and improving the drawbacks of the conventional known transmitter having these control buttons and the movable control element on its primary surface.例文帳に追加
方向付け可能な羽根板を備える電動ブラインド制御用コマンド送信機であって、制御ボタンと、操作の仮想軸線に沿って二方向に動くことができる可動制御要素とを有し、これら制御ボタン及びこの可動制御要素がコマンド送信機の第一面上に配置されているコマンド送信機の欠点を解消して、従来技術の公知の装置に改良を加えるコマンド送信機を提供する。 - 特許庁
The negative charge non-magnetic single-component developer contains binding resin and a coloring agent, and also at least inorganic particulates having an average primary grain size of ≤25 nm stick on the surface of the negative charge non-magnetic toner particles not containing the electrification control agent.例文帳に追加
本発明の負帯電性非磁性一成分現像剤は、結着樹脂と着色剤とを含有すると共に、帯電制御剤を含有しない負帯電性非磁性トナー粒子の表面に、少なくとも、平均一次粒子径が25nm以下の無機微粒子が付着してなることを特徴とする。 - 特許庁
In addition, correct temperature sensing and, as a result, precise temperature control have become possible by forming the structure of the electronic cooling equipment integrating the temperature sensor, which monitors the photodetector temperature and is attached directly to the substrate, particularly the inner surface of the primary plate of the electronic cooling equipment.例文帳に追加
また、光検出器の温度をモニタリングする温度センサーを電子冷却装置の基板、特に第1プレートの内面に直接付着して温度センサーが一体に備えられる電子冷却装置を構成することによって正確な温度のセンシング及びそれを通した精密な温度の制御が可能となる。 - 特許庁
A main control system 34 preliminarily prepares and stores in a storage 43 a voltage map showing a defocus level of a multi-beam B1 on a sample surface, according to a charged-up level caused when the sample 10 is irradiated with the primary electron beams B1.例文帳に追加
主制御系34は、試料10上に一次電子ビームB1を照射した際に生ずるチャージアップ量に応じ、試料面におけるマルチビームB1の焦点ずれ量を示す電圧マップを予め作成し記憶装置43に記憶する。 - 特許庁
A main control system 34 previously forms the voltage map indicating the quantity of the focal point displacement of the secondary electron beam B2 in a detecting surface of an electron beam detecting unit 30 in response to the quantity of the charge up generated when a sample 4 is irradiated with the primary electron beam B1, and stores this voltage map in a memory device 43.例文帳に追加
主制御系34は、試料4上に一次電子ビームB1を照射した際に生ずるチャージアップ量に応じ、電子ビーム検出器30の検出面における二次電子ビームB2の焦点ずれ量を示す電圧マップを予め作成し記憶装置43に記憶する。 - 特許庁
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