profile meterとは 意味・読み方・使い方

A system 100 for generating an energy usage profile of an electrical device 108 includes: a meter 104 configured to measure electric energy usage; a memory area 110 for storing an energy usage profile corresponding to one or more electrical devices associated with the electric meter; and at least one processor 112.例文帳に追加

電気デバイス１０８のエネルギー使用量プロファイルを生成するためのシステム１００は、電気エネルギー使用量を測定するように構成されたメータ１０４と、電気メータに関連する１つまたは複数の電気デバイスに対応するエネルギー使用量プロファイルを格納するためのメモリ領域１１０と、少なくとも１つのプロセッサ１１２とを含む。 - 特許庁

The substrate profile measuring device 1 includes a vertically arranged vertical surface plate 4, a substrate holding mechanism 5 for holding the substrate P to be measured parallel to it, and a displacement meter scanning column 6, and simultaneously measures the profile of both sides of the substrate P to be measured.例文帳に追加

基板形状測定装置１は、垂直状態に配置した縦型定盤４と、それに平行に被測定基板Ｐを保持する基板保持機構５と、変位計走査コラム６とを有し、被測定基板Ｐの両面形状を同時に測定する。 - 特許庁

To surely suppress a change in the shape of a rolled stock without installing a sheet profile meter between stands even when the thickness of the rolled stock on the outlet side changes.例文帳に追加

スタンド間に板プロフィール計を設置することなく、出側板厚が変動した場合でも、圧延材の形状変化を確実に抑制できるようにする。 - 特許庁

To provide a radioisotope moisture meter for concrete capable of being attached to a profile diameter pump piping and capable of excluding the generation of fluctuations in a measured value and the adverse effect due to noise.例文帳に追加

異径ポンプ配管へ取り付けでき、測定値変動の発生、ノイズによる悪影響等の排除できるコンクリート用ラジオアイソトープ水分計を提供する。 - 特許庁

The gas meter device includes a gas apparatus discriminating means 6 determining in-use gas apparatus and a wrongful use discriminating means 7 determining implementing of wrongful use of gas when specific flow rate change profile differ from a device discrimination value registered into a registration memory means 5.例文帳に追加

使用ガス器具を判断する器具判別手段６と、登録記憶手段５に登録された器具判別値とは異なる特定の流量変化プロファイルが発生した場合に、ガスの不正使用が行われていると判断する不正使用判別手段７を有するガスメータ装置。 - 特許庁

The perimeter and the circularity of the tube are measured with a profile meter using a scanning laser range finder or the like on the outlet side of a mandrel mill and the roll gap and the number of revolution of the mandrel mill are feedback-controlled so that the difference between the measured value and the preset value becomes zero.例文帳に追加

マンドレルミルの出側で管の外周長及び真円度を走査レーザ距離計等を用いたプロフィール計で測定し、測定値と設定値との差がゼロとなるようにマンドレルミルのロールギャップ及び回転数をフィードバック制御する。 - 特許庁

In this shape measurement method of the chip type electronic component, among shape profiles 10 which is obtained by scanning a laser displacement meter 4 to a corner part 1b of an object 1, a circular fitting operation is performed by extracting the part within an absolute value of extracted threshold value which a differential value f'(x) of differential profile 20 is predetermined.例文帳に追加

このチップ型電子部品の形状測定方法では、素体１の角部１ｂにレーザ変位計４を走査して得られる形状プロファイル１０のうち、微分プロファイル２０の微分値ｆ’（ｘ）が予め設定された抽出閾値の絶対値の範囲内となる部分を抽出して円フィッティングを行っている。 - 特許庁

The objective masking assembly useful for masking a region from the thermal spraying of metal or ceramic particles has a heat resistant substrate with an exposed surface having <50.8 μm smoothness blasted with abrasive grains and a thin thermosetting epoxy coating film bonded to the exposed surface and having ≤1.5 μm surface roughness as the average read value (Ra) of the profile meter.例文帳に追加

50.8μm未満の平滑度を持つ露出された砥粒ブラスト面を持つ耐熱基体、及び上記露出面に結合され、プロフィルメーターの平均読取値（Ra）で1.5μm以下の表面粗さを持つ、薄い熱硬化性エポキシ被膜、を有する金属又はセラミック粒子の溶射の溶射から領域をマスキングするのに有用なマスキング組立体。 - 特許庁