「"Test program"」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The execution part 44-1 loads a test program from the device 5-n to a memory 42-1 and executes a test based on the test program.例文帳に追加

試験実行部４４−１は試験対象装置であるデバイス５−ｎから試験プログラムをメモリ４２−１へロードし、試験プログラムに基づいて試験を実行する。 - 特許庁

PROBE CARD, CHARACTERISTIC TEST DEVICE, CHARACTERISTIC TEST TECHNIQUE AND CHARACTERISTIC TEST PROGRAM例文帳に追加

プローブカード、特性検査装置、特性検査方法および特性検査プログラム - 特許庁

The test program 10 can acquire a processing result of the program 20 to verify it (S7).例文帳に追加

テストプログラム10は、プログラム20の処理結果を取得し、検証可能である（S7）。 - 特許庁

TURNING TEST DEVICE, TURNING TEST METHOD, TURNING TEST PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

旋回試験装置、旋回試験方法、旋回試験プログラム及び記録媒体 - 特許庁

A storage part for storing the program code to be inserted into the test program is provided to store a combination of a pattern matched with the test program and the program code to be inserted thereinto.例文帳に追加

テストプログラムに対して挿入したいプログラムコードの記憶部を設け、テストプログラムにマッチするパターンと挿入したいプログラムコードとの組を格納する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, TEST PROGRAM, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置 - 特許庁

A test program for specifying the operation of a semiconductor testing device 2 for testing a semiconductor device DUT is generated in language for generating a test program.例文帳に追加

半導体デバイスＤＵＴを試験する半導体試験装置２の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。 - 特許庁

CONNECTION TEST METHOD, CONNECTION TEST PROGRAM, RECORDING MEDIUM AND INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

接続テスト方法、接続テストプログラム、記録媒体および情報処理装置 - 特許庁

The test program 10 instructs execution of the test to an application program 20 to be tested (S4).例文帳に追加

テストプログラム10は、テスト対象のアプリケーションプログラム20にテスト実行を指示する（S4）。 - 特許庁

VECTOR SET GENERATION METHOD, TESTING SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM FOR STORING TEST PROGRAM例文帳に追加

ベクトル・セット生成方法、試験システム及び試験プログラムを格納する記録媒体 - 特許庁

RAID TEST SYSTEM, RAID TEST PROGRAM AND RAID TESTING METHOD例文帳に追加

ＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラム及びＲＡＩＤ試験方法 - 特許庁

MAINTENANCE TEST PROGRAM, MAINTENANCE TEST DEVICE AND MAINTENANCE TEST METHOD OF VIRTUAL TAPE DEVICE例文帳に追加

仮想テープ装置の保守試験プログラム、保守試験装置及び保守試験方法 - 特許庁

The test program 200 executes processing for testing an operation of a communication device 125.例文帳に追加

テストプログラム２００は、通信デバイス１２５の動作をテストする処理を実行する。 - 特許庁

To provide a method of generating a test program for a computer program, automatically generating a test program capable of extracting defect generated under a complicated condition to a test target program.例文帳に追加

テスト対象プログラムに対し、複雑な条件で発生する不良の摘出が可能なテストプログラムを自動で生成するコンピュータプログラムのテストプログラム生成方法を提供する。 - 特許庁

All one has to alter and revise a test program is to alter and revise setting conditions of each sheet, allowing the test program to be altered and revised easily.例文帳に追加

また、テストプログラムの変更、修正を行なう場合には各シートの設定条件を変更、修正するだけでいいので、テストプログラムの変更、修正を容易に行うことができる。 - 特許庁

To provide a test program checking apparatus capable of identifying a test item with which a test is performed in an incorrect setting state and prompting modification (configuration) of the test program.例文帳に追加

正しくない設定状態でテストを行っているテスト項目を割り出し、テストプログラムの修正（確認）を促すことができるテストプログラムチェック装置を実現する。 - 特許庁

To improve productivity by optimizing the "waiting time setting" in a test program description and by shortening the program execution time of a test program.例文帳に追加

テストプログラム記述における「待ち時間設定」を最適化してテストプログラムプログラム実行時間を短縮することにより生産性を改善できるＬＳＩテストシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide a test system capable of easily changing a test program without an error.例文帳に追加

テストプログラムを誤りなく容易に変更することのできるテストシステムを提供する。 - 特許庁

COMMUNICATION TEST APPARATUS, COMMUNICATION TEST SYSTEM, COMMUNICATION TEST METHOD, AND COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加

通信試験装置と通信試験システム，通信試験方法及び通信試験プログラム - 特許庁

METHOD FOR TEST PROGRAM GENERATION, APPARATUS THEREFOR AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

試験プログラム生成方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁

METHOD AND STRUCTURE FOR DEVELOPING TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のための試験プログラムを開発するための方法および構造 - 特許庁

To provide an inspection method for a semiconductor device wirelessly receiving a test program.例文帳に追加

無線によりテストプログラムを受信する半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate the judgement of test result and performance degradation by automating execution of a test program.例文帳に追加

テストプログラムの実行を自動化し、テスト結果、性能劣化の判断を容易にする。 - 特許庁

As a result, a test program can be easily changed and an inspection circuit or the like is not required.例文帳に追加

これにより、テストプログラムの変更が容易になり、且つ、検査回路等が不要となる。 - 特許庁

A generation unit 706 generates a test program from the program code whose test object is set.例文帳に追加

生成部７０６は、試験対象が設定されたプログラムコードからテストプログラムを生成する。 - 特許庁

A test program 11 is a program that is built in a host device to control the entire test.例文帳に追加

試験プログラム１１は上位装置に内蔵され試験全体を制御するプログラムである。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING MEASUREMENT DATA OF DEVICE UNDER TEST, PROGRAM, AND MEASUREMENT DATA ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - 特許庁

A CPU 111 executes a test program 200 stored in a floppy disk 100, etc.例文帳に追加

ＣＰＵ１１１は、フロッピーディスク１００等に格納されたテストプログラム２００を実行する。 - 特許庁

For the cut part, after coding the processing, a test program is generated to execute a part test.例文帳に追加

切り出した部品は、処理をコーディング後、テストプログラムを生成して部品テストを実施する。 - 特許庁

An inter-device test program parallel execution means 24 and a test program manual operation parallel execution means 25 respectively leave start for the test program stored in each device of the test device group 4 together with the required start information.例文帳に追加

装置内連続試験プログラム並列実行手段２３、装置間試験プログラム並列実行手段２４、及び試験プログラム手操作並列実行手段２５はそれぞれ必要な起動情報とともに試験装置群４の各装置に格納された試験プログラムに起動を渡す。 - 特許庁

To reduce development cost of a test program for a memory chip mounted on a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置に実装されたメモリチップの試験プログラムの開発コストを削減する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, WIRELESS COMMUNICATION TESTING METHOD, AND WIRELESS COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加

無線通信システム及び無線通信試験方法並びに無線通信システム試験プログラム - 特許庁

TEST METHOD AND TEST PROGRAM GENERATING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及び半導体集積回路のテストプログラム生成プログラム - 特許庁

TEST METHOD, TEST DEVICE AND TEST PROGRAM, FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置試験方法、半導体装置試験装置および半導体装置試験プログラム - 特許庁

The test execution device 500 delivers input data to the test target device 402 to the function of the test program to execute the test program, and notifies the test management device 600 about an execution situation thereof.例文帳に追加

そして、試験対象装置４０２への入力データをテスト・プログラムの関数に渡すことによりテスト・プログラムを実行し、その実行状況を試験管理装置６００へ通知する。 - 特許庁

A test pattern f and a test program g for skew detection suited for a measured LSI are created based on the minimum resolution, the maximum skew value, circuit connection information d and a test program c.例文帳に追加

最小分解能および最大スキュー値と回路接続情報ｄとテストプログラムｃをもとに被測定ＬＳＩに合わせたスキュー検出用のテストパタンｆとテストプログラムｇを生成する。 - 特許庁

To reuse a prepared program code even when a specification is changed, when a test program is prepared from the formal specification and when the program code is inserted manually into the test program.例文帳に追加

形式的仕様からテストプログラムを生成し、そのテストプログラムに手作業でプログラムコードを挿入した場合、仕様が変更されたときでも作成されたプログラムコードを再利用可能とする。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method of a semiconductor test program for automatically conducting inspection of plural conditional branches of a conditional branching instruction in the inspection of the semiconductor test program.例文帳に追加

半導体試験プログラムの検査において、条件分岐命令の複数の条件分岐の検査を自動で行う半導体試験プログラムの検査装置及び検査方法の提供。 - 特許庁

A program conversion device 1 stores the three hierarchized libraries of a main flow, a group flow and a sub-flow and precisely converts each flow of a test program by referring to the libraries at the time of converting the test program being a conversion source into the test program of the format fitted to the IC tester.例文帳に追加

プログラム変換装置１は、メインフロー、グループフローおよびサブフローの３つの階層化されたライブラリを記憶し、変換元となるテストプログラムを異なるＩＣテスタに適合する形式のテストプログラムに変換する際に、これらのライブラリを参照することによって、テストプログラムの各フローを正確に変換する。 - 特許庁

A chip information acquiring device 103 acquires chip information 102 stored in a semiconductor chip 101, selects a test program corresponding to the acquired chip information 102 out of programs stored in a test program database 104, and loads the selected test program onto a semiconductor tester 105.例文帳に追加

チップ情報取得装置１０３は、半導体チップ１０１に記憶されたチップ情報１０２を取得し、取得したチップ情報１０２に対応するテストプログラムを、テストプログラムデータベース１０４に格納されているプログラムの中から選択し、選択したテストプログラムを半導体テスター１０５にローディングする。 - 特許庁

In the case of executing the complied test program, a tester control part 110 executes the common program linked by the intermediate code independently of the test program, and even when the content of the common program are changed, the changed contents are reflected on the test program in common.例文帳に追加

テスタ制御部１１０はコンパイルされたテストプログラムを実行する際に、中間コードによってリンクされている共通プログラムをテストプログラムとは独立して実行し、共通プログラムの内容が変更された場合でもその変更内容が、テストプログラムに共通に反映されるようにする。 - 特許庁

As the inspection method of the semiconductor device, a test program is transmitted as a communication signal for every test.例文帳に追加

半導体装置の検査方法として、テストプログラムを通信信号として、テスト毎に送信する。 - 特許庁

BIOMOLECULE TEST DEVICE, BIOMOLECULE TEST CHIP, BIOMOLECULE TEST METHOD, AND BIOMOLECULE TEST PROGRAM例文帳に追加

生体分子検査装置、生体分子検査チップ、生体分子検査方法、及び生体分子検査プログラム - 特許庁

COMMUNICATION TEST DEVICE, NETWORK WITH COMMUNICATION TEST FUNCTION, COMMUNICATION TEST METHOD AND COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加

通信試験装置、通信試験機能を有するネットワーク、接続試験方法および接続試験プログラム - 特許庁