「"Test program"」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

A test program 1 is input into an extraction means 21, and the test condition parameter is extracted therein.例文帳に追加

テストプログラム１は、抽出手段２１へ入力され、テスト条件パラメータを抽出される。 - 特許庁

To remarkably reduce the manhours for preparing a test program used when a semiconductor memory is tested.例文帳に追加

半導体メモリをテストする際に用いられるテストプログラムの作成工数を大幅に低減する。 - 特許庁

The test management device 600 outputs the execution situation of the test program notified from the test execution device 500 when a confirmation request of the execution situation of the test program is received from the outside.例文帳に追加

試験管理装置６００は、テスト・プログラムの実行状況の確認要求が外部から受け付けられた際、試験実行装置５００から通知されたテスト・プログラムの実行状況を出力する。 - 特許庁

To provide a method for test program generation, an apparatus thereof and a test apparatus for semiconductor integrated circuit, equipped with the apparatus capable of efficiently generating a test program, without requiring complex operations.例文帳に追加

煩雑な作業を必要とせず効率的に試験プログラムを生成することができる試験プログラム生成方法及び装置並びに当該装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To form a load test program for a large computer device while reducing a development labor, and to create various load states for the large computer device by the load test program.例文帳に追加

開発の労力を抑えた上で、大規模コンピュータ装置の負荷試験プログラムを作成可能とし、当該負荷試験プログラムによって大規模コンピュータ装置に対して多様な負荷状態を作ることを課題とする。 - 特許庁

A test program is analyzed by an emulator program internal block, and the analysis result is compared with computer-filed semiconductor device standards to find an error contained in the test program at its early stage and proofread it.例文帳に追加

テストプログラムをエミュレータプログラム内部ブロックにて解析し、解析された結果をコンピュータファイル化された半導体素子規格と相互比較してテストプログラムに含まれたエラーを初期に発見し、それを校正する。 - 特許庁

PROGRAM TEST DEVICE, DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST PROGRAM AND INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プログラム試験装置、試験用プログラム作成装置、試験用プログラム作成方法及び情報記録媒体 - 特許庁

The test execution device 500 generates the test program according to the function recorded in the operation content file.例文帳に追加

試験実行装置５００は、操作内容ファイルに記録された関数に応じてテスト・プログラムを生成する。 - 特許庁

PROGRAM FOR AUTOMATICALLY CREATING INSPECTION SPECIFICATION, PROGRAM FOR CHECKING TEST PROGRAM AND PROGRAM FOR OPTIMIZING TEST SEQUENCE例文帳に追加

検査仕様書自動作成プログラムならびにテストプログラム検証プログラムおよびテスト順番最適化プログラム - 特許庁

To provide a test program preparing device and method which is capable of performing failure analysis of a tested LSI.例文帳に追加

試験後のＬＳＩの故障解析を考慮したテストプログラム作成装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

By the above constitution, the operability of the automatic test program generating system can be improved.例文帳に追加

上記のような構成とすることで、テストプログラム自動生成システムの操作性を向上させることができる。 - 特許庁

BURN-IN BOARD, BURN-IN TESTER, BURN-IN TEST METHOD AND MEMORY MEDIUM HAVING STORED BURN-IN TEST PROGRAM THEREON例文帳に追加

バーンインボード、バーンイン試験装置、バーンイン試験方法、及び、バーンイン試験プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To dispense with an expensive IC tester, and to easily, simply and quickly degug a test program prepared already.例文帳に追加

高価なＩＣテスタ不要として、作成済みテストプログラムが簡単容易に、かつ速やかにデバッグすること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING HEAVY LOAD IN ENCRYPTION SYSTEM AND RECORDING MEDIUM STORING HEAVY LOAD TEST PROGRAM例文帳に追加

暗号化システムにおける高負荷試験方法及び装置と高負荷試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

MUSIC RECORDING/REPRODUCING SYSTEM EVALUATION METHOD AND TEST PROGRAM GENERATING PROGRAM FOR MUSIC RECORDING/REPRODUCING SYSTEM EVALUATION例文帳に追加

音楽録音再生システム評価方法および音楽録音再生システム評価用テストプログラム生成プログラム - 特許庁

To increase working efficiency of test work by a test program, and to reduce memory capacity for the test work.例文帳に追加

テストプログラムによるテスト作業の作業効率を高め、テスト作業用のメモリ容量を少なくすること。 - 特許庁

To provide an emulation circuit with simplified circuit/device structure to create an LSI test program(TP).例文帳に追加

ＬＳＩテストプログラム（ＴＰ）を作成するための回路・装置構成簡易化したエミュレーション回路を提供する。 - 特許庁

The test program 10 starts testing on the program 20 after selecting the real table 110 to be used (S4-S7).例文帳に追加

テストプログラム１０は、使用する実テーブル１１０を選択した後、プログラム２０のテストを開始する（S4〜S7）。 - 特許庁

To provide a method for testing memory which utilizes a general memory test program independent of an internal memory configuration.例文帳に追加

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

A test program debug device includes a device under test simulator and a semiconductor testing apparatus simulator.例文帳に追加

本発明のテストプログラムデバッグ装置は、被試験デバイスシミュレータ及び半導体試験装置シミュレータとを備える。 - 特許庁

ENDURANCE TEST APPARATUS FOR GOLF CLUB HEAD, ENDURANCE TEST METHOD FOR GOLF CLUB HEAD, AND ENDURANCE TEST PROGRAM FOR GOLF CLUB HEAD例文帳に追加

ゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラム - 特許庁

To reduce the capacity of a multi-axis test program and at the same time easily execute a multi-axis test.例文帳に追加

多軸試験プログラムの容量を小さくするとともに、多軸試験を容易に実行できるようにする。 - 特許庁

The test program is defined as a function with which the language for generating a test program is not provided, and a generic function is designated in a stack part 50 for calling a function with which the general function is provided, and the general argument is saved.例文帳に追加

テスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語が備えていない関数であって、汎用関数が備えている関数を呼び出すべく、スタック部５０に汎用関数を指定し、汎用引数を待避させる。 - 特許庁

To automatically generate a test program for operation verification of a processing system of a test object developed as a refine product to a standardized product, and verify the operation validity by use of the test program.例文帳に追加

標準規格品に対するリファイン品として開発した検査対象の処理系に関し、処理系の動作検証を行うテストプログラムを自動生成し、そのテストプログラムにより動作正当性検証を行う。 - 特許庁

To provide a test program generation system generating automatically a template for each LSI tester model.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ機種ごとのテンプレートを自動的に生成することのできるテストプログラム生成システムを提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of customizing directly a circuit constitution of a performance board on a debugging tool of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのデバッグツール上で、パフォーマンスボードの回路構成を直接にカスタマイズ可能なＩＣテスタを提供。 - 特許庁

SYSTEM FOR AUTOMATICALLY GENERATING TEST PROGRAM/TEST PATTERN OF MIXED-SIGNAL LSI AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE SYSTEM AS PROGRAM例文帳に追加

ミックスドシグナルＬＳＩのテストプログラム・テストパタン自動生成システム及びそのシステムをプログラムとして記録した記録媒体 - 特許庁

A test program generation device 104 designates a security attack from a threat list table 105 by a designation unit 701.例文帳に追加

テストプログラム生成装置１０４は、指定部７０１にて脅威一覧テーブル１０５からセキュリティ攻撃を指定する。 - 特許庁

OPERATION TEST METHOD FOR PORTABLE TERMINAL, OPERATION TEST SYSTEM FOR PORTABLE TERMINAL AND OPERATION TEST PROGRAM FOR THE PORTABLE TERMINAL例文帳に追加

携帯端末の動作試験方法、携帯端末の動作試験システム及び携帯端末の動作試験プログラム - 特許庁

To provide a debug support system for a semiconductor integrated circuit test program with a parameter change point as a break point.例文帳に追加

パラメータの変更点をブレークポイントとする半導体集積回路試験プログラムのデバッグ支援装置を提供する。 - 特許庁

The device 2 executes a test program by the received instruction and transmits an execution result to the device 3.例文帳に追加

エミュレーション装置２は受信した命令でテストプログラム５を実行し、実行結果を自動テスト装置３に送信する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INFORMATION COLLECTION SYSTEM AND RECORDING WITH RECORDING INFORMATION COLLECTION SYSTEM TEST PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

情報収集システム試験装置および方法と情報収集システム試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

TEST SAMPLE MOUNTING DEVICE, BENDING TESTING APPARATUS, BENDING TEST METHOD, BENDING TEST PROGRAM, AND TEST SAMPLE例文帳に追加

試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 - 特許庁

Thereby, the test program can be dynamically changed to increase the working efficiency.例文帳に追加

このような構成により、動的にテストプログラムを変更することが可能となり、作業効率を高めることが可能となる。 - 特許庁

To increase the number of parallel tests more than hitherto without enlargement of a device or complication of a test program.例文帳に追加

装置の大型化やテストプログラムの複雑化を来たすことなく並列試験個数を従来よりも増大させる。 - 特許庁

By using a good product for the semiconductor integrated circuit, whether there is a bug in the test program or not can be determined.例文帳に追加

半導体集積回路に良品を使用することにより、テストプログラム中のバグの存否が判明する。 - 特許庁

To provide a technique for verifying function operation of a virtual tape device under a test operation environment by operating a test program on a host computer that is a host control device and a test program on a monitoring terminal.例文帳に追加

上位制御装置であるホストコンピュータ上の試験用プログラムと監視端末の試験プログラムとを稼働させることによって、この試験運用環境下における仮想テープ装置の機能動作を検証する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function.例文帳に追加

テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

The IC tester is characteristically constituted of: a memory for storing the test program composed of pass test and fail test; and performing means for controlling the testing part by performing either all of the test program or performing the pass test.例文帳に追加

本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a protection method for a test program safely distributing the test program without depending on confidentiality and to provide a test method for LSI whose data analysis is difficult for a third party.例文帳に追加

守秘義務に頼る必要なく、安全にテストプログラムを流通させることの可能なテストプログラムの保護方法を提供すること及び第三者によるデータの解析が困難なＬＳＩのテスト方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The test program 10 selects a real table to be used for the test based on a test procedure and gives an instruction to a data selection program 30 (S2).例文帳に追加

テストプログラム10は、テスト手順に基づいて、テストに使用する実テーブルを選択し、データ切替プログラム30に指示を出す（S2）。 - 特許庁

A verification test program 106 and a CPU model 101 request an access to a memory model 105 for the memory control circuit 102.例文帳に追加

検証テストプログラム１０６とＣＰＵモデル１０１は、メモリ制御回路１０２にメモリモデル１０５へのアクセスを要求する。 - 特許庁

The LSI tester 111 executes a test program 113 using the acquired test pattern 114, and tests the LSI 101.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ１１１は獲得したテストパタン１１４を用いてテストプログラム１１３を実行し、ＬＳＩ１０１のテストを行う。 - 特許庁

A display means 23 displays the contents of the test program on the position detected by the execution position detection means 21.例文帳に追加

表示手段２３は、実行位置検出手段２１により検出された位置のテストプログラムの内容を表示する。 - 特許庁

To provide a pixel array and a driving method of the same using a simple test program, and to provide a display panel.例文帳に追加

テストのプログラムが簡単である画素アレイ及びその駆動方法、並びに表示パネルを提供することを目的とする。 - 特許庁