「"Test program"」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST BOARD, TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN CPU, SELF-TEST PROGRAM, AND READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストボード、ＣＰＵ内蔵半導体集積回路のテストシステム、そのテスト方法、セルフテストプログラムおよび可読記録媒体 - 特許庁

To shorten testing time of semiconductor devices, while preventing mistakes in setting and altering test conditions, within a test program.例文帳に追加

試験プログラム内での試験条件の設定ミスや変更ミスを防止しながら、半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

In the 2nd terminal device 2, a 2nd test program 2 is installed and exclusive hardware, firmware and software are integrated.例文帳に追加

第２の端末装置２には、第２のテストプログラム２がインストールされ、専用のハードウエア，ファームウエア，ソフトウエアが組み込まれる。 - 特許庁

VIRTUAL TESTER, TEST DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND VERIFICATION METHOD OF TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

仮想テスタ、テスト装置、半導体集積回路用テストシステム、及び半導体集積回路用テストプログラムの検証方法 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at higher speed at low cost in offline simulation environment of a testing device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

An address conversion section 13 converts a test address into an address of a common area 23 being the same areas as the test program 3a of the opposite subordinate unit 2a for an opposite test when receiving an access to the test address from the test program 3 in the subordinate unit 2.例文帳に追加

アドレス変換部１３は、下位装置２内の試験プログラム３から試験用アドレスへのアクセスがあると、対向試験を行う対向側の下位装置２ａの試験プログラム３ａと同一エリアの共通エリア２３へとアドレス変換する。 - 特許庁

Specification file information of every test item 11 which is described in the inspection specification 13, is extracted from a specification file 1 being extracted from the test program, whereby the inspection specification 13 of the test program can be created automatically, accurately and rapidly.例文帳に追加

テストプログラムから抽出したスペックファイル１から、検査仕様書１３に記述する各テスト項目１１毎のスペックファイル情報を抽出することにより、テストプログラムの検査仕様書１３を自動的で正確かつ迅速に作成することができる。 - 特許庁

At the time of the IC test processing, the analysis and conversion processing part 1041 successively analyzes a program for one instruction from the read test program 301, and successively converts the analyzed program into a test program 302 for its own equipment, and stores it in the storage part 1044.例文帳に追加

解析変換処理部１０４１は、ＩＣテスト処理に際して、読み出したテストプログラム３０１から１命令分のプログラムを順次解析し、その解析したプログラムを自機用のテストプログラム３０２に順次変換して記憶部１０４４に記憶する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加

マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Only a change due to updating of a test program is efficiently extracted by comparison-verifying fluctuations before and after the updating of the test program with a production time-serial fluctuation, in each of a plurality of measuring items.例文帳に追加

本発明は、複数の測定項目毎の、試験プログラムの更新前後での変動と製造された時系列での変動とを比較検証することにより、試験プログラムの更新による変化のみを効率的に抽出することを特徴とする。 - 特許庁

In the electronic instrument provided with an MPU 1, an expansion memory slot 14 and an operation section 9, a test module 15 as a memory with a test program stored therein is mounted in the expansion memory slot 14, and with the MPU 1, the test program is executed to inspect the electronic instrument.例文帳に追加

ＭＰＵ１と、増設メモリスロット１４と、操作部９とを備えた電子機器において、テストプログラムを格納したメモリとしてのテストモジュール１５を増設メモリスロット１４に装着し、ＭＰＵ１にテストプログラムを実行させ、電子機器の検査を行う。 - 特許庁

A test program is created using a microprogram of a spreadsheet program, which is one application software one is accustomed to use, thereby allowing even a user having little knowledge of semiconductor test systems to create the test program easily.例文帳に追加

通常使い慣れたアプリケーションソフトの一つである表計算ソフトのマイクロプログラムを利用してテストプログラムを作成するようにしたものであり、これによって、半導体試験装置の知識の浅いユーザでも容易にテストプログラムを生成することができる。 - 特許庁

A test program generator 103 receiving the transformed test execution part description file 102-2 analyzes the received file, and inserts a test execution part program into a corresponding position of a test program 104 generated from a test condition 100 and a test algorithm 101.例文帳に追加

変換後のテスト実行部記述ファイル１０２‐２を受信したテストプログラムジェネレータ１０３は、これを解析し、テスト条件１００とテストアルゴリズム１０１から生成したテストプログラム１０４の該当箇所にテスト実行部プログラムを挿入する。 - 特許庁

When the test program is executed in an execution state of the product inspection program, a priority of a test task to be executed according to the test program is lowered than a priority of a product inspection task to be executed according to the product inspection program.例文帳に追加

製品検査用プログラムの実行状態時にテスト用プログラムを実行する場合に、製品検査用プログラムに従って実行する製品検査タスクの優先度よりもテスト用プログラムに従って実行するテストタスクの優先度を低くする。 - 特許庁

The system automatically generates a test program and an analogue section test pattern of a mixed-signal LSI to be tested by a digital section test program of the mixed-signal LSI to be tested, and an analogue core test program model file and an analogue core test pattern model file which are retrieved based on an analogue core information file which is retrieved from an analogue core test database.例文帳に追加

被試験ミックスドシグナルＬＳＩのデジタル部テストプログラムと、アナログコアテストデータベースから取り込まれるアナログコア情報ファイルに基づいて取り込まれるアナログコアテストプログラム雛型ファイル及びアナログコアテストパタン雛型ファイルと、によって被試験ミックスドシグナルＬＳＩのテストプログラム及びアナログ部テストパタンを自動生成するシステム及びそのシステムをプログラムとして記録した記録媒体。 - 特許庁

A 1st test program 1 is installed to the 1st terminal device 10 and the communicating function which is to be the subject of the test is integrated.例文帳に追加

第１の端末装置１０には、第１テストプログラム１がインストールされ、試験対象となる通信機能が組み込まれる。 - 特許庁

A tester 2 receives testing conditions, and tests the semiconductor chip on a wafer via a probe 6, according to the accept/reject test program.例文帳に追加

テスタ２は、テスト条件を受信して、合否判定テストプログラムに従い、プローバ６を介してウエハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁

A program generation means generates a test program outputting an output value based on the computed true and faulty input values.例文帳に追加

プログラム生成手段は、演算された真および偽入力値に基づく出力値を出力させるテストプログラムを生成する。 - 特許庁

TEST SYSTEM, TEST METHOD AND TEST PROGRAM OF PROTECTION RELAY, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM例文帳に追加

保護継電器の試験システム、保護継電器の試験方法、保護継電器の試験プログラム、およびこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide an IC test system capable of quickly retrieving a desired measurement result file, in debugging a test program for IC testers.例文帳に追加

ＩＣテスタ用テストプログラムのデバッグにおいて、所望の測定結果ファイルを迅速に探索可能なＩＣテストシステムを提供。 - 特許庁

Integrated circuits according to the present invention individually changes the order of execution of a plurality of subprograms contained in a burn-in test program.例文帳に追加

本発明による集積回路は、バーンインテスト用プログラムに含まれる複数のサブプログラムの実行順序を個別に変更する。 - 特許庁

The external system 12, in a development stage, for instance, starts a test program externally or runs a remote check on an application.例文帳に追加

これは、開発の段階では、例えばテスト用のプログラムを外部から起動したり、あるいはアプリケーションのリモートチェックを実施する。 - 特許庁

A parameter setting processing and a test program reading processing in the catalog test are simultaneously executed in parallel.例文帳に追加

カタログ機能用いた試験（カタログ試験）におけるパラメータ設定処理と試験プログラム読み込み処理が並行して同時に実行される。 - 特許庁

When the inside of the IC chip is judged to come within a prescribed temperature (processing S2), a prescribed test program is executed under the high-temperature environment (processing S3).例文帳に追加

所定温度範囲内と判断されれば（処理Ｓ２）、高温環境下による所定のテストプログラムを実行する（処理Ｓ３）。 - 特許庁

The load test program retains an assignment rule table 7 in which rules for assigning hardware resources of large computer are arranged.例文帳に追加

また、負荷試験プログラムは、大規模コンピュータのハードウェア資源を割り当てるルールが配置された割り当てルールテーブル７を保持する。 - 特許庁

To provide a test system, a test method and a test program for reducing the amount of data necessary in a test.例文帳に追加

テストにおいて必要となるデータ量を削減することができるテストシステム、テスト方法およびテストプログラムを提供すること - 特許庁

The tester simulation device for performing tests of the test object by the test program by a tester is improved.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To prevent a logical circuit from missing verification by automatically interpolating an omitted test program description done by a designer.例文帳に追加

設計者によるテストプログラム記述漏れを自動的に補完することができるようにし、論理回路の検証漏れを防ぐこと。 - 特許庁

To achieve a test system which can easily detect abnormalities in a test program through waveform observations by an oscilloscope.例文帳に追加

オシロスコープの波形観測により、テストプログラムの異常個所を容易に検出できるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an operation method of a menu selectable test program tool for allowing even an inexperienced engineer to make a test pattern program in a short period in a generating method and the device of the menu selectable test program tool, and a device thereof.例文帳に追加

本発明はメニュー選択型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関し、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができるメニュー選択型試験プログラムツールの動作方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

The test board 2 includes an interface circuit 5 which requests the test program corresponding to the semiconductor device 4 from the semiconductor testing device 3 in accordance with the semiconductor device 4 to be mounted thereon, and which instructs the semiconductor testing device 3 to read out the requested test program.例文帳に追加

試験ボード２は、搭載される半導体装置４に応じて、半導体装置４に対応する試験プログラムを半導体試験装置３に要求し、要求した試験プログラムを半導体試験装置３に読み出し指令させるインターフェース回路５を有する。 - 特許庁

To solve the problem that since trimming data are random data unique to each chip, when a plurality of chips are measured simultaneously by an external device, individual control of chips is required, a test time, a test cost such as man-hour for test program development, and human errors due to complication of a test program are increased.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

When the interpreter 42B is started after the initialization of a hardware 32, an operator inputs, for example, a test program for inspecting the peripheral devices 44 from the input/output terminal 34, stores in a test program storage area 43A, instructs the execution thereof, and outputs the results.例文帳に追加

ハードウェア３２の初期化後にインタプリタ４２Ｂが起動されると、オペレータは入出力端末３４からたとえば周辺デバイス４４の検査のためのテストプログラムを入力してテストプログラム格納領域４３Ａに格納してその実行を指示し、結果を出力させる。 - 特許庁

A test program control part 4 translates commands of the test program and outputs a change request signal including a change parameter after the change and an input terminal of a change target to a test parameter control part 5 when the change of the parameter value of a test signal is requested.例文帳に追加

試験プログラム制御部4は、試験プログラムのコマンドを翻訳し、試験信号のパラメータ数値の変更を要求している場合、変更対象の入力端子と、変更後の変更パラメータとを含む変更要求信号を試験パラメータ制御部5に出力する。 - 特許庁

This tester has a memory part for storing a test program for testing the tested object, and a control means for conducting control by the per-pin system and the shared system by the test program stored in the memory part, based on the per-pin system and the shared system.例文帳に追加

本装置は、被試験対象を試験するテストプログラムを記憶する記憶部と、パーピン方式、シェアード方式に基づいて、記憶部のテストプログラムにより、パーピン方式またはシェアード方式で制御を行う制御手段を有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a forming method of a developable test program tool for allowing even an inexperienced engineer to make a test pattern program in a short period in the forming method and the device of the developable test program tool, and a device thereof.例文帳に追加

本発明は展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関し、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an automatic test program execution method for automatically and continuously downloading test programs by a portable terminal.例文帳に追加

携帯端末上で連続して複数のテストプログラムを自動的にダウンロードして実行するテストプログラムの自動実行方法を提供する。 - 特許庁

To actualize an apparatus for tester simulation allowing the same test program as one of an actual machine to run thereon and a method for tester simulation.例文帳に追加

実機と同じテストプログラムを動作させることができるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a client-server system, a load test method, and a load test program capable of performing a proper load test using a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で適切な負荷テストを行なうことが可能なクライアント−サーバシステム、負荷テスト方法、および負荷テストプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of creating a test program where appropriate settling time detected automatically is reflected and reducing test costs.例文帳に追加

自動的に検出される適切なセットリングタイムが反映されたテストプログラムを作成し、テストコストを低減できる試験装置を提供する。 - 特許庁

This invention solves the problem that the prober must be set up when the tester or a test program is developed.例文帳に追加

本発明によれば、テスタまたはテストプログラム開発時に、プローバをセットアップしなければならないという問題を解消することができる。 - 特許庁

When an operation program is selected by an external operation, the operation program is read and when a hardware functional test program is selected, the hardware functional test program is selectively read from the ROM 1 and executed by a microprocessor at the operation program and the hardware functional test program are stored on the same ROM 1 and the ROM 1 is mounted on the same substrate.例文帳に追加

運用プログラムとハードウェア機能試験プログラムとが同一ＲＯＭ１上に格納された上、該ＲＯＭ１が同一基板上に実装されている状態で、外部操作により運用プログラムが選択された場合は、該運用プログラムが、ハードウェア機能試験プログラムが選択された場合には、該ハードウェア機能試験プログラムが、ＲＯＭ１よりそれぞれ選択的に読み出された上、マイクロプロセッサで実行されるようにしたものである。 - 特許庁

To provide a method for generating a trigger signal in a scope mode of a memory tester for executing a test program having an algorithmic property.例文帳に追加

アルゴリズム的性質を持つテストプログラムを実行するメモリテスタのスコープモードにおいて、トリガ信号を生成するための方法を提供する。 - 特許庁

The test program stored in the first address is then executed while referring to the argument stored in the second address.例文帳に追加

さらに、前記第２のアドレスに格納された引数を参照しつつ、前記第１のアドレスに格納された前記テストプログラムを実行する。 - 特許庁

To precisely and automatically convert a test program for an IC tester into a format fitted to a different IC tester.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタのためのテストプログラムを異なるＩＣテスタに適合する形式に正確に自動変換することである。 - 特許庁