| 例文 |
"Test program"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 547件
To provide a semiconductor testing system capable of simply updating a test program in accordance with an update request from a test board side.例文帳に追加
試験ボード側からの更新要求に応じて簡単に試験プログラムを更新することができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁
A plurality of site CPUs 10 respectively start the execution of the test program by using a start instruction S12 from a work station 110 as an opportunity.例文帳に追加
ワークステーション110からの起動命令S12を契機として、複数のサイトCPU10がそれぞれテストプログラムの実行を開始する。 - 特許庁
The determination processing function stores a received input value whenever receiving a set of an input value and an output value from a test program and executes determination processing on the condition that the number of times for receiving the set of an input value and an output value from the test program exceeds the number of pipeline stages.例文帳に追加
この判定処理関数は、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取る度に受け取った入力値をバッファに保存し、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取った回数がパイプライン・ステージ数を越えたことを条件に、判定処理を実行する。 - 特許庁
To solve the following problem: test costs such as test time and test program development man-days increase, and human errors increase due to test program complications, because control by individual chips becomes necessary in the case where a plurality of chips are simultaneously measured by an external device, because trimming data is a random data peculiar to each chip.例文帳に追加
トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁
Interrupt address tables CIT and TIT to be used in the interrupt process executed according to the image control program CP or the test program TP are stored in association with the image control program CP and the test program TP in the program ROM 414.例文帳に追加
プログラムROM414は、画像制御プログラムCPおよび検査プログラムTPにしたがって実行される割り込み処理に用いられる割り込みアドレステーブルCIT,TITを画像制御プログラムCPおよび検査プログラムTPの双方に対応してそれぞれ格納している。 - 特許庁
A digital composite device 20 is provided with a printed wiring board 30, which is a semiconductor device having a flash memory 8 serving as a nonvolatile storage means, and the flash memory 8 is provided with a product program area 8a for storing a product program and a test program area 8b for storing a test program.例文帳に追加
ディジタル複合装置20は非揮発性記憶手段であるフラッシュメモリ8を備えた半導体装置であるプリント配線基板30を備え、フラッシュメモリ8は、製品プログラムを格納する製品プログラム領域8aと、テスト用プログラムを格納するテスト用プログラム領域8bとを有する。 - 特許庁
To provide a burn-in test program simulation device, its method, and a storage medium for simulating a burn-in test program for executing a burn-in test on an IC without using any actual device or any IC to be tested so as to shorten the evaluation time.例文帳に追加
本発明の課題は、ICのバーンイン試験を実行するためのバーンイン試験プログラムを実装置及び被試験ICを使用せずにシミュレーションすることで評価時間を短縮するバーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体を提供することである。 - 特許庁
Since the test program suitable for the inspection of each semiconductor device is selected on the basis of the manufacture process information J1 and the electrical inspection is executed, the efficiency of the electrical inspection is improved, the inspection time is shortened and the burdens of the correction and alteration, etc., of the test program are reduced.例文帳に追加
製造プロセス情報J1に基づいて各半導体装置の検査に好適なテストプログラムが選定され、電気的検査が実行されるので、電気的検査の効率が高められて検査時間が短縮され、テストプログラムの修正、改定等の負担が軽減される。 - 特許庁
A start test program selection means 21 started from an input device 1 decides a test program able to be tested from information stored in a device mount information storage section 31, obtains scheduling information from a start information storage section 32 for parallel execution to generate start information.例文帳に追加
起動試験プログラム選択手段21は、入力装置1から起動を受けると、装置実装情報記憶部31の情報から起動可能な試験プログラムを決定し、起動情報記憶部32から並列実行するためのスケジューリング情報を得て、起動情報を作成する。 - 特許庁
To provide a test program development device allowing easy comprehension of a form of an automatically generated source code, allowing guarantee of identity of test conditions between an input sheet and a source file after edition by a user, and allowing heightening of working efficiency of debug or the editing of a test program.例文帳に追加
自動生成されたソースコードの形態を容易に把握でき、入力シートとユーザーが編集した後のソースファイル相互間のテスト条件の同一性が保証され、テストプログラムの編集やデバッグの作業効率を高めることができるテストプログラム開発装置を提供すること。 - 特許庁
A wafer control host 1 has a test condition database 3, that stores test conditions including information on the quality decision test program for a semiconductor chip, information on a specific characteristic value and a characteristic measurement test program for measurement, and information on a chip address for carrying out a characteristic measurement test.例文帳に追加
ウエハ制御ホスト1は、半導体チップの合否判定テストプログラムの情報と、具体的な特性値と測定するための特性測定テストプログラムの情報と、特性測定テストを行うチップアドレスの情報とを含むテスト条件が記憶されているテスト条件データベース3を備える。 - 特許庁
Thus, it is not necessary to generate or correct the flow after the automatic conversion of the test program and work efficiency can be improved.例文帳に追加
したがって、テストプログラムの自動変換後に、フローの作成あるいは修正といった作業をする必要がなく、作業効率の向上が図れる。 - 特許庁
To provide an automatic test program generation system not complicating operation even in the case of providing a plurality of generation screens for specifying operation.例文帳に追加
指定操作の生成画面を複数の生成画面にした場合にも操作が複雑化しないテストプログラム自動生成システムを提供すること。 - 特許庁
A trigger specification is defined based on parts executed in an existing hardware for operating a DUT 14 and the test program.例文帳に追加
DUT14を動作させるための既存ハードウエアおよびテストプログラムのどの部分が実行されているかに基づいてトリガ仕様が定義される。 - 特許庁
To provide a test method, a test program, a test device and a test system, allowing improvement of test efficiency compared to a conventional test method.例文帳に追加
従来の試験方法に比べて、試験効率を向上することができる試験方法、試験プログラム、試験装置及び試験システムを提供する。 - 特許庁
Only an approved test program 7 is automatically transferred from the EWS server for submission 8 to an EWS server for storage 9 and is stored therein.例文帳に追加
そして、承認されたテストプログラム7のみ、提出用EWSサーバ8から保存用EWSサーバ9に自動転送されて保存される。 - 特許庁
COMPUTER ADAPTIVE TEST DEVICE, COMPUTER ADAPTIVE TEST SYSTEM, COMPUTER ADAPTIVE TEST METHOD, AND RECORDING MEDIUM STORING COMPUTER ADAPTIVE TEST PROGRAM例文帳に追加
コンピュータ適応型テスト装置、コンピュータ適応型テストシステム、コンピュータ適応型テスト方法およびコンピュータ適応型テストプログラムを格納する記録媒体 - 特許庁
An operation verification device 100 in one embodiment includes a program execution part 134 executing a test program for operation confirmation of the Web page.例文帳に追加
実施の1形態の動作検証装置100は、ウェブページの動作確認のためのテスト・プログラムを実行するプログラム実行部134を備える。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus, capable of debugging a test program of a DSP (digital signal processor), any times as needed, by using a virtual environment.例文帳に追加
DSPのテストプログラムのデバッグをいつでも必要なときに仮想環境を用いて行うことができる半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁
To improve processing efficiency in a test of an LSI by enabling sharing of a test pattern, a test program and a test jig by different LSIs.例文帳に追加
テストパターン,テストプログラム,およびテスト治具を異なるLSIで共用できるようにし、LSIのテストにおける処理効率の向上を図る。 - 特許庁
The processors executes the test program after the application of the correction file is completed, and the execution results are collected therefrom and reported to the system manager.例文帳に追加
そして、修正ファイルの適用が完了した後に、このテストプログラムを実行させ、その実行結果を収集してシステム管理者に通知する。 - 特許庁
An adding part 23 adds offset quantity specified in the test program P10 for a set value determined in the timing setting value calculation part 22.例文帳に追加
加算部23は、タイミング設定値計算部22で求められた設定値に対してテストプログラムP10に規定されたオフセット量を加算する。 - 特許庁
INDUCTOR RECOGNIZING METHOD, LAYOUT TESTING METHOD, COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH LAYOUT TEST PROGRAM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
インダクタ認識方法、レイアウト検査方法、レイアウト検査プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体および半導体装置の製造方法 - 特許庁
To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a measuring device to be used is changed.例文帳に追加
使用する測定器に変更が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a one-chip microcomputer capable of creating a test program without considering an address, where a STOP instruction is executed, and shortening a test period of time.例文帳に追加
STOP命令を実行する番地を考慮せずにテストプログラムを作成でき、かつテスト時間を短縮できるワンチップマイクロコンピュータを得る。 - 特許庁
The present invention improves a tester simulation system for simulating a test of a device under test on the basis of a test program.例文帳に追加
本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
COMPUTER ADAPTIVE TEST DEVICE, COMPUTER ADAPTIVE TEST SYSTEM, COMPUTER ADAPTIVE TEST METHOD, AND RECORDING MEDIUM WITH COMPUTER ADAPTIVE TEST PROGRAM STORED THEREIN例文帳に追加
コンピュータ適応型テスト装置、コンピュータ適応型テストシステム、コンピュータ適応型テスト方法およびコンピュータ適応型テストプログラムを格納する記録媒体 - 特許庁
The tester simulation device for simulating a test of the test object by a tester based on the test program is improved.例文帳に追加
本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
To provide a tester simulation system and a tester simulation method easily performing pull-up or pull-down on the basis of a test program.例文帳に追加
テストプログラムに基づいて、容易にプルアップまたはプルダウンが行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁
The mobile terminal MN executes the evaluation test program acquired from the evaluation test server 5, and transmits the evaluation result to the evaluation test server 5.例文帳に追加
モバイル端末MNは、評価試験サーバ5から取得した評価試験プログラムを実行し、その後、評価結果を評価試験サーバ5へ送信する。 - 特許庁
To automatically create a cache test program and a cache state setting program according to cache configuration modeling arrangement and the description of a cache test sheet on the basis of a cache configuration to automatically create a program easily and certainly testing a cache function without a description mistake, in a test program creation system creating the program testing the cache function, a test program creation program, and a record medium.例文帳に追加
本発明は、キャッシュ機能の試験を行うプログラムを生成する試験プログラム生成システム、試験プログラム生成プログラム、および記録媒体に関し、キャッシュ構成をもとにキャッシュ試験シートの記述およびキャッシュ構成モデリング配列に従い、キャッシュ状態設定プログラムおよびキャッシュ試験プログラムを自動生成し、簡易かつ確実かつ記述ミスなしにキャッシュ機能の試験を行うプログラムを自動生成することを目的とする。 - 特許庁
In the case of compiling a test program by an intermediate code group compiler, an intermediate code to be linked with the common program is inserted into the position of the program specification command.例文帳に追加
中間コード群コンパイラによってテストプログラムをコンパイルする際に、プログラム指定コマンドの位置に共通プログラムにリンクさせる中間コードを挿入する。 - 特許庁
The test program-generating component embodiment part 102 can obtain weight information showing that a component is easy to be selected from component weight information 105.例文帳に追加
テストプログラム生成用部品具現化部102は、部品重み情報105から部品の選択され易さを示す重み情報を得ることができる。 - 特許庁
To provide a test support system which can provide an easy understanding of the entire flow of a test program which includes many branches or the like and a complicated processing flow.例文帳に追加
分岐などを多く含んでいて処理の流れが複雑なテストプログラム全体の流れを容易に理解できるテスト支援装置を提供することにある。 - 特許庁
To improve efficiency in an inspection and to shorten inspection time by automatically selecting an optimum test program and performing the electrical inspection of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の電気的検査を最適なテストプログラムを自動的に選定して行うことにより、検査の効率を改善し、検査時間の短縮を図る。 - 特許庁
To provide a test program for an application program for accurately testing the picture of an application program without manually indicating a verification object.例文帳に追加
検証対象を手動により指定することなくアプリケーションプログラムの画面を正確にテストできるアプリケーションプログラムのテストプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a computer system, a test device, a test method, and a test program for reliably testing whether an overtaking function works normally or not.例文帳に追加
追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁
The control software 12A which has obtained the specific information instructs a recording operation of a specific-instruction-condition recording device 12E so as to execute an IC test program 12C.例文帳に追加
特定情報を得た制御ソフトウェア12Aは、特定命令条件記録装置12Eに対し記録を指示し、IC試験プログラム12Cを実行する。 - 特許庁
A conforming substrate and an object substrate are made to operate individually with a test program and a measuring means is used to measure signals of all nets or a selected net (S1).例文帳に追加
良品基板と対象基板をそれぞれ別個にテストプログラムで動作させ、測定手段を用いて全ネットまたは選択ネットの信号を測定する(S1)。 - 特許庁
In the signal processing circuit, a performance test on the first memory circuit is conducted according to the test program written in accordance with the clock signal.例文帳に追加
上記信号処理回路において、上記クロック信号に対応して上記書き込まれたテストプログラムに従って上記第1メモリ回路の動作試験を行う。 - 特許庁
METHOD FOR RESISTANCE VALUE COMPENSATION, CIRCUIT HAVING RESISTANCE VALUE COMPENSATION FUNCTION, TEST METHOD OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, RESISTANCE VALUE COMPENSATION PROGRAM, TEST PROGRAM OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, AND SYSTEM例文帳に追加
抵抗値補償方法、抵抗値補償機能を有する回路、回路の抵抗値試験方法、抵抗値補償プログラム、回路の抵抗値試験プログラム及びシステム - 特許庁
To provide a method for testing a non-volatile memory capable of simplifying a test program and carrying out write and read-out tests as a series of tests.例文帳に追加
試験プログラムが簡素化でき、書込みと読出しの試験を一連の試験として行うことができる不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁
When starting the test, the file of the test program stored in the product directory 22 is installed in a main storage device 23 and the test is started.例文帳に追加
そして、試験を開始する際に、製品ディレクトリ22に格納されている試験プログラムのファイルを主記憶装置23にインストールして試験を開始する。 - 特許庁
To provide a program production system of a semiconductor testing device which reduces the trouble of developing an OS and a test program and simplifies debugging work.例文帳に追加
OSやテストプログラムの開発の手間を低減でき、デバッグ作業を簡略化することができる半導体試験装置のプログラム作成方式を提供すること。 - 特許庁
To attain a tester simulation system for modifying wide use format data by accompanying modification of a test program, and to attain a tester simulation method.例文帳に追加
テストプログラムの変更に伴って、汎用フォーマットデータの変更が行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁
In this address converting circuit 23, a memory array is divided into a test program region 32 and a memory region 31 to be tested in accordance with the control signal for test.例文帳に追加
このアドレス変換回路23は、テスト用制御信号に応じて、メモリアレイがテストプログラム領域32とテスト対象メモリ領域31とに分割される。 - 特許庁
To solve the problem that test design is difficult because attention should be paid to the whole of a test in the case of designing or altering a specified part of a test program.例文帳に追加
テストプログラムの特定の部分を設計又は変更する場合に、テスト全体に注意を払わなければならない為、テスト設計が困難である。 - 特許庁
A simulation is executed (step 1), an input/output switch timing of an integrated circuit is calculated to create a test program and a test pattern (step 2, step 3).例文帳に追加
シミュレーションを実行して(ステップ1)集積回路の入出力の切替えタイミングを算出し、テストプログラムとテストパタンとを作成する(ステップ2,ステップ3)。 - 特許庁
A workstation is provided with a regression test program 62 for testing an application program developed by a workstation by using a stored test script 66.例文帳に追加
ワークステーションが、格納された試験スクリプト(66)を利用して、ワークステーションで開発されたアプリケーション・プログラムを試験する回帰試験プログラム(62)を備える。 - 特許庁
Improvement is added to the tester simulation system performing simulation by a DUT MODEL and a virtual tester means on the basis of the test program.例文帳に追加
本発明は、DUTモデルと仮想テスタ手段とにより、テストプログラムに基づいて、シミュレーションを行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|