「"Test program"」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

A test program 8 is not only downloaded from a PC2 for downloading connected to the device 1 to be tested to an embedded memory 5 but also booted.例文帳に追加

試験対象装置１に接続されたダウンロード用ＰＣ２から、内蔵メモリ５にテストプログラム８をダウンロードすると共にテストプログラム８を起動する。 - 特許庁

To effectively generate an executable test program according to path information of a counterexample gained as a result of performing a model inspection to an object program.例文帳に追加

対象プログラムに対してモデル検査を行った結果得られる反例のパス情報どおりに実行可能なテストプログラムを効果的に生成すること。 - 特許庁

TEST METHOD FOR ELECTRICALLY REWRITABLE NON-VOLATILE MEMORY, AND INFORMATION RECORDING MEDIUM IN WHICH TEST PROGRAM OF ELECTRICALLY REWRITABLE NON-VOLATILE MEMORY IS RECORDED例文帳に追加

電気的書換可能な不揮発性メモリのテスト方法および電気的書換可能な不揮発性メモリのテストプログラムを記録した情報記録媒体 - 特許庁

To provide a lifetime prediction test method of a polymer membrane capable of carrying out in short time evaluation of the lifetime of a polymer membrane, a test device, and a test program.例文帳に追加

高分子膜の寿命評価を、短時間で行うことができる高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラムを提供する。 - 特許庁

At the same time, the information on the setting voltage of the test program is utilized, thereby supplying an optimal voltage without requiring a power source control operation.例文帳に追加

且つ、テストプログラムの設定電圧の情報を利用しているため、電源制御の操作を要することなく、最適な電圧を供給することができる。 - 特許庁

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

The test module has a register for holding a register value supplied from the control device by performing the test program by the control device, and the gate array for changing the hardware logic by the register value held by the register, and supplying the test data corresponding to the test sequence realized by the test program to the device under test.例文帳に追加

テストモジュールは、制御装置が試験プログラムを実行することによって制御装置から供給されたレジスタ値を保持するレジスタと、レジスタが保持するレジスタ値によりハードウェア論理を変更し、試験プログラムにより実現される試験シーケンスに応じた試験データを被試験デバイスに供給するゲートアレイとを有する。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

A general memory test program can be used for memory testing, even when the internal memory configuration is different by memory (i.e., when the correspondence relation between a program address specified by the test program and internal physical address are different from each other) by inputting the correspondence relation for each memory from the outside.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

The integrated circuit system (IC) 100 include a RAM 120, a serial interface 150, a means for downloading a burn-in test program to the RAM 120 of the integrated circuit system by the serial interface 150, and a means for reading the burn-in test program downloaded from the RAM 120 and allowing the CPU 110 to execute it.例文帳に追加

集積回路装置（ＩＣ）１００は、ＲＡＭ１２０、シリアルインターフェース１５０を含み、前記シリアルインターフェース１５０でバーインテストプログラムを集積回路装置の前記ＲＡＭ１２０にダウンロードする手段と、前記ＲＡＭ１２０からダウンロードされたバーインテストプログラム読み出して、前記ＣＰＵ１１０に実行させる手段とを含む。 - 特許庁

The emulation circuit is provided with a data register circuit 22, a decoded address register circuit 23 and a status register circuit 24 to be accessed from the LSI test program(TP) and from an emulation program(EP) separately from the LSI test program and equivalent to a register of an LSI, an address decoding circuit 21, a timer circuit 26, and first and second interruption circuits 25, 27.例文帳に追加

ＬＳＩテストプログラム（ＴＰ）およびこれとは別にエミュレーションプログラム（ＥＰ）からそれぞれアクセスできる、ＬＳＩのレジスタに相当するデータレジスタ回路２２、デコードアドレスレジスタ回路２３およびステータスレジスタ回路２４と、アドレスデコード回路２１と、タイマー回路２６と、第１および第２割り込み回路２５、２７とを備えている。 - 特許庁

The system is provided with a set value acquiring means for acquiring a set value set to the virtual tester means from the virtual tester means on the test program, and a converting means for converting the set value from the set value acquiring means into wide use format data easily performing conversion on the test program.例文帳に追加

本装置は、テストプログラムに基づいて、仮想テスタ手段に設定された設定値を、仮想テスタ手段から取得する設定値取得手段と、この設定値取得手段からの設定値を、テストプログラムに変換が容易に行える汎用フォーマットデータに変換する変換手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

In the display device, when a test program is loaded, a test route between the respective design modules of a semiconductor tester described in the test program and the DUT is made in a block diagram, and an initialized value on the program is imaged and outputted on a screen.例文帳に追加

テスタを構成するメインフレームのテスターコントローラに設けられ、ヘッドの操作状態を表示する表示装置において、テストプログラムロード時に、テストプログラムに記述された半導体試験装置の各計測モジュールとＤＵＴ間のテスト経路をブロック図とし、プログラム上の初期設定値をイメージ化して画面に出力する。 - 特許庁

Also, a result storage position where processing to store a test result to be obtained for the test conditions of the object to be tested in predetermined variables is executed on the test program is acquired.例文帳に追加

また、テストプログラム上の、被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数に格納する処理が実行される結果格納位置を取得する。 - 特許庁

To provide a unit test support device and a program therefor achieved in a function to automatically generate a minimum required test program when a stub is replaced with an actual program.例文帳に追加

スタブを実プログラムに置き換えた際に最低限必要となるテストプログラムを自動生成する機能を実現した単体テスト支援装置およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

A recording control circuit 50 stops renewal of the memory content of the memory, at the stoppage of the test program of the semiconductor testing machine and at operation of the output control circuit 14.例文帳に追加

記録制御回路５０は、半導体試験装置のテストプログラムの停止時及び出力制御回路１４の動作時、メモリ４２の記憶内容の更新を停止する。 - 特許庁

To execute a test program from a master device by switching the interface elements of drivers/receivers connected to channels of many sorts so as to be suited to the sort of a connected channel.例文帳に追加

多種類のチャネルに接続されたドライバ／レシーバのインターフェイス素子をチャネルの種類に適合するように切り替えて上位装置から試験プログラムを実行する。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of impressing a proper off-set voltage without setting the off-set voltage by a test program, and capable of suppressing an overrange.例文帳に追加

オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an automatic software verification system for reducing man-hours required to create a regression test program necessary during development as a whole.例文帳に追加

製品全体として開発時に必要とされるリグレッションテストプログラム作成に要する工数を低減できるソフトウェア自動検証システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To reduce the amount of time to check that a semiconductor integrated circuit such as a microcomputer functions normally in a user mode without storing a test program in a program memory.例文帳に追加

マイクロコンピュータ等の半導体集積回路がユーザモードで正常に動作することをプログラムメモリに試験用プログラムを格納せずに短時間で確認できるようにする。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a change or addition in test items, measuring instruments, devices under test, or the like occurs.例文帳に追加

試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

The wafer test host 21 transmits the wafer specification code J2 to an electrical inspection device 22, and the electrical inspection device 22 selects a test program and then executes the electrical inspection.例文帳に追加

ウエハテストホスト２１は電気的検査装置２２へウェハスペックコードＪ２を送信し、電気的検査装置２２はテストプログラムを選定した上で電気的検査を実行する。 - 特許庁

In a master data preparation process S1, a non-defective board is operated on the basis of a predetermined test program, a signal of all nets or a selected net is measured, and the result is stored.例文帳に追加

マスタデータ作成工程Ｓ１では良品基板を予め作成したテストプログラムで動作させ、全ネットまたは選択ネットの信号を測定し、その結果を格納する。 - 特許庁

The device test program is constituted of a program 12 described in general-purpose programming language and a program 13 described in programming language exclusive for semiconductor test.例文帳に追加

デバイステストプログラムは、汎用プログラミング言語で記述されたプログラム１２と、半導体試験用の専用のプログラミング言語で記述されたプログラム１３によって構成されている。 - 特許庁

Each subprocessor 21-26 reads its own self-test program from the ROM 34 for the subprocessors and executes it before the setting of the DDR 33 by the main processor 11 is performed.例文帳に追加

各サブプロセッサ２１〜２６は、メインプロセッサ１１によるＤＤＲ３３の設定が行われる前にサブプロセッサ用ＲＯＭ３４から自身のセルフテストプログラムを読み出して実行する。 - 特許庁

Write or read to/from a storage element is performed by a verification test program, and the data of the scoreboard are updated so that access to the storage element can be realized at random.例文帳に追加

検証のテストプログラムで、記憶素子に対して、ライトもしくはリードを行うと同時に、スコアボードのデータを更新することによって、ランダムにアクセスすることを可能としている。 - 特許庁

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.例文帳に追加

テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁

SERVER PROCESS TESTING SYSTEM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST FRAMEWORK RECORDED AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST PROGRAM RECORDED例文帳に追加

サーバプロセス試験システム、サーバプロセス試験フレームワークを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、およびサーバプロセス試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A software update execution control part 113 distributes a correction file and a test program for confirming the application result of the correction file to the selected information processors.例文帳に追加

ソフトウェア更新実行制御部１１３は、選定された情報処理装置に修正ファイルと修正ファイルの適用結果を確認するためのテストプログラムとを配布する。 - 特許庁

To provide a test program and a test method capable of performing a load change test in accordance with a hardware configuration on a target system with an arbitrary hardware configuration.例文帳に追加

任意のハードウェア構成を有する対象装置についてハードウェア構成に応じた負荷変動試験を実施することができる試験プログラムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

To accurately and rapidly carry out creating an LSI inspection specification, checking test program specifications between different devices and considering a programming description enabling the shortest test period to be realized.例文帳に追加

ＬＳＩ検査仕様書作成、異機種間のテストプログラム仕様の確認、テスト時間を最短にするプログラミング記述の検討を正確かつ迅速に行うことを目的とする。 - 特許庁

In this microprocessor, a test address different from a boot address is selected after the reset of the microprocessor, a test program is executed on the basis of the selected test address.例文帳に追加

この発明は、マイクロプロセッサのリセット後に、ブートアドレスとは別のテストアドレスを選択し、選択したテストアドレスに基づいてテストプログラムを実行するように構成される。 - 特許庁

A test simulate part operates a device test program 112 to be debugged under the operating system of a general computer, and constitutes a pseudo semiconductor testing device.例文帳に追加

テスタシミュレート部は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成するものである。 - 特許庁

A pattern matching part matches the test pattern generated from the formal specification with the stored pattern, and inserts the corresponding program code into the test program.例文帳に追加

パターンマッチ部は、形式的仕様から生成されたテストプログラムに対して、格納されているパターンとのマッチングを行い、対応するプログラムコードをテストプログラムに挿入する。 - 特許庁

The program execution part 134 includes: a first test execution mode to execute the operation confirmation of the Web page by making an interface disposed by a Web browser be called from the test program; and a second test execution mode to execute the operation confirmation of the Web page by making a control code newly added to the Web page be called from the test program.例文帳に追加

プログラム実行部１３４は、ウェブブラウザが公開するインタフェースをテスト・プログラムから呼び出させることによりウェブページの動作確認を実行する第１のテスト実行態様と、ウェブページに対し新たに追加した制御コードをテスト・プログラムから呼び出させることによりウェブページの動作確認を実行する第２のテスト実行態様とを含む。 - 特許庁

In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.例文帳に追加

この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁

The image display device comprises a program ROM 414 for storing an image control program CP for displaying images based on image data and a test program TP for testing whether the image display device is normally operated or not independently; and a control part capable of executing the image control program CP and the test program TP.例文帳に追加

画像表示装置は、画像データに基づく画像を表示するための画像制御プログラムＣＰと、画像表示装置が正常に動作するか否かを検査するための検査プログラムＴＰとを互いに独立した状態で格納したプログラムＲＯＭ４１４と、画像制御プログラムＣＰおよび検査プログラムＴＰを実行可能な制御部とを備える。 - 特許庁

This microcomputer is provided with a reference signal generation circuit for generating a reference signal in a predetermined cycle, and a checking signal in the same cycle as that of the reference signal is generated by a test program, and the reference signal is compared with a collation signal generated in the program, and the comparison result is outputted, and for the error decision, the test program is erased.例文帳に追加

所定周期の基準信号を発生させる基準信号発生回路を有し、この基準信号と同じ周期の照合信号を試験プログラムで発生させ、基準信号とプログラムで発生させた照合信号とを比較し、比較の結果を出力し、エラー判定の場合は試験プログラムを消去するマイクロコンピュータの試験方法。 - 特許庁

The first invention has a step for recognizing a discrimination mark disposed corresponding to the semiconductor device, a step for determining a test program necessary for inspection of the semiconductor device following correspondence relation set beforehand based on the recognized discrimination mark, and a step for inspecting the semiconductor device based on the determined test program.例文帳に追加

第一の発明では、半導体デバイスに対応して配設されている識別マークを、認識するステップと、当該認識した識別マークに基づいて、予め設定された対応関係に従って、半導体デバイスの検査に必要なテストプログラムを、決定するステップと、当該決定したテストプログラムに基づいて、半導体デバイスを検査するステップとを、備えている。 - 特許庁

In a specific IC net measuring process S2, a defective board is operated on the basis of the test program, and a signal of all nets connected to a terminal of IC with respect to an arbitrarily selected IC chip, is measured.例文帳に追加

特定ＩＣネット測定工程Ｓ２では不良基板をテストプログラムで動作させ、任意の選択ＩＣチップに対して該ＩＣの端子と接続された全ネットの信号を測定する。 - 特許庁

When the load test program is executed, a rule is selected for each of various hardware resources from the assignment rule table 7 so as to apply a load to a predetermined position (e.g., the rule surrounded by the thick line frame).例文帳に追加

負荷試験プログラムを実行すると、所定部位に負荷が掛かるように、割り当てルールテーブル７から各種ハードウェア資源ごとにルールが選択される（例えば、太枠で囲ったルール）。 - 特許庁

To provide a call-connection test program that achieves an efficient test, facilitates an engineer in charge of testing a call connection to perform the test, and allows the engineer to flexibly set the test conditions, and a test terminal.例文帳に追加

試験を効率化でき、試験担当技術者が試験を行いやすく、柔軟に試験の条件を設定できる呼接続試験プログラムおよび試験用端末を提供する。 - 特許庁

During a test, at least one test program is executed which allows a flash controller on each flash controller die to test one or more flash memory dies of each flash device.例文帳に追加

テスト中、各フラッシュコントローラ・ダイ上に属するフラッシュコントローラが、各フラッシュ・デバイスの一つ以上のフラッシュメモリ・ダイの各々をテストするための、少なくとも一つのテスト・プログラムを実行する。 - 特許庁

Then, the test program is restarted, and, when the trigger is generated, furthermore transmitted vectors are transmitted from the memorized target sequence, to thereby switch the combination of the voltage threshold and the sample timing offset.例文帳に追加

次に、テストプログラムを再開し、トリガが発生すると、さらなる送信ベクトルが、記憶されたターゲットシーケンスから発信され、閾電圧値およびサンプルタイミングオフセットの組み合わせが切り換わる。 - 特許庁

A test program generation device 20 converts a test pattern TP in such a predetermined format as to test a circuit to be tested into specific test programs A-C used by testers 31A-31C.例文帳に追加

テストプログラム生成装置２０は、被テスト回路をテストするための所定の形式のテストパタンＴＰをテスタ３１Ａ〜３１Ｃで使用される固有のテストプログラムＡ〜Ｃに変換する。 - 特許庁