「"Test program"」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

By the light, data are latched by an IC that is operating under the influence of a test program, test pattern output is obtained from the IC, and it is judged whether the IC is in an appropriate operation state or not according to the test pattern output.例文帳に追加

この光により、試験プログラムの影響下で作動中のＩＣにデータがラッチされ、そのＩＣからテストパターン出力が得られ、そのテストパターン出力によってＩＣが正しい動作状態にあるか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for electronic devices, for detecting error-occurred spots and for preventing alarms, when power supply thereof is turned to ON or OFF, in a test program having test programs with several tens of thousands to several hundred thousand steps.例文帳に追加

電子デバイス用試験装置及び電子デバイスの試験方法に関し、数万〜数十万ステップの試験プログラムにおいて、異常が発生した箇所を検出するとともに、電源のＯＮ、ＯＦＦ時にアラームが出ないようにする。 - 特許庁

Test data definition data 21 input in a unit test program creation system 1 is recorded by XML (extensible markup language), and the hierarchical structure of the structure group supplied to a test target program is represented by a previously defined tag.例文帳に追加

単体テストプログラム作成システム１が入力するテストデータ定義データ２１は、ＸＭＬ（extensible markup language）によって記載され、予め定義したタグによって、テスト対象プログラムに供給する構造体群の階層構造が表されている。 - 特許庁

After updating the built-in software, by re-executing the test program 30, the parameters set up using the built-in software being subject to newly debugging are set up to the register and compared with the reference parameters 44 saved in the past.例文帳に追加

組み込みソフトウェアの更新後、再び、テストプログラム３０を実行することにより、新たなデバッグ対象の組み込みソフトウェアを用いて設定されたパラメータをレジスタに設定し、これを過去に保存したリファレンスパラメータ４４と比較する。 - 特許庁

Program cells are combined by a program cell combination unit 130 by using random numbers generated by a random number generator 120 with program cell information 110 and cell weight information 111 being input, and a compiler test program 140 is automatically generated.例文帳に追加

プログラムセル情報１１０とセル重み情報１１１を入力として、乱数発生器１２０により発生させた乱数を用いて、プログラムセル組合せ器１３０でプログラムセルを組合せ、コンパイラのテストプログラム１４０を自動生成する。 - 特許庁

Whether or not success/failure conditions specified as conditions for deciding success/failure based on the test result of an object to be tested in a test program are matched with success/failure decision conditions in test required specifications is determined for one test item.例文帳に追加

一のテスト項目について、テストプログラムに被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、テスト要求仕様における合否判定条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁

To substantially cut down an inspection cost by substantially shortening an inspection time in comparison with the past by digitally inspecting a D/A converter and a VCO integrated in a semiconductor chip at the same time, and to simplify a conventional test program for the inspection.例文帳に追加

半導体チップに内蔵されたＤ／ＡコンバータとＶＣＯをデジタル的に同時に検査することで、従来に比べて検査時間を大幅に短縮して検査コストを大幅に削減すると共に、従来の検査用テストプログラムを簡易化する。 - 特許庁

When the connection characteristics of the connection mechanisms are not different from each other, a first load test execution part 22 determines load test combination programs of the test program and the load program with load effects for all processors, allocates them to the processors, and executes the load test.例文帳に追加

第１負荷試験実行部２２は接続機構の接続特性に相違がない場合、全プロセッサを対象に負荷効果のある試験プログラムと負荷プログラムとの負荷試験組合せプログラムを決定し、プロセッサに割付けて負荷試験を実行する。 - 特許庁

A test program and a test pattern generating program are downloaded into the CPU cores 2c and 3c of the LSI or the group of LSIs to generate test patterns by the test pattern generating program and diagnose internal function blocks etc.例文帳に追加

そして、上記ＬＳＩもしくは上記ＬＳＩ群のＣＰＵコア２ｃ，３ｃに試験プログラムおよび試験パターン生成プログラムをダウンロードし、上記試験パターン生成プログラムにより、試験パターンを発生させ、内部の機能ブロック等の診断を行う。 - 特許庁

A command for acquiring an analog waveform contained in the device test program 112 is executed, a content thereof is analyzed by a language analysis executing part 116, and then reading-in of the analog waveform is indicated from a tester library 118 to a tester bus emulator 120.例文帳に追加

デバイステストプログラム１１２に含まれるアナログ波形の取得命令が実行され、その内容が言語解析実行部１１６によって解析されると、テスタライブラリ１１６からテスタバスエミュレータ１２０に対してアナログ波形の取り込みが指示される。 - 特許庁

To provide an LSI test program generating method and system for realizing optimization by easily changing a series of LSI test programs to be used for an electrical function test, in an LSI tester (probe tester) in matching to a test environment.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ（プローブテスタ）において電気機能試験に用いられる一連のＬＳＩテストプログラムをテスト環境に合わせて容易に変更でき、最適化を実現できるようにしたＬＳＩテストプログラム生成方法およびそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

Then, communication between the portable telephone 30 and the portable telephone 40 is tested while the mobile phone 30 is made to operate the mobile phone 40 by allowing a control circuit 34 of the mobile phone 30 to perform the communication test program.例文帳に追加

そして、この通信試験用プログラムを携帯電話３０の制御回路３４に実行させることで、携帯電話３０に携帯電話４０の操作を行わせながら、携帯電話３０と携帯電話４０相互間の通信試験を行う。 - 特許庁

In a test mode, a CPU 10 can output register information to an external device 16 by transferring a certain program from an external device to a RAM 11 in accordance with a test program stored in a test ROM 12, and executing the program.例文帳に追加

テストモードでは、ＣＰＵ１０が、テストＲＯＭ１２に記憶されたテストプログラムに基づいて外部機器から任意のプログラムをＲＡＭ１１に転送し、このプログラムを実行することでレジスタ情報を外部機器１６に出力することができる。 - 特許庁

A test program storage part 24 stores a program realizing a plurality of test items, and a condition setting part 10 sets allowance information allowing omission of at least one test item to a plurality of tested circuits included in a lot.例文帳に追加

試験プログラム記憶部２４は複数の試験項目を実現するプログラムを記憶し、条件設定部１０はロット内に含まれる複数の被試験回路に対して試験項目の少なくとも１つの省略を許可する許可情報を設定する。 - 特許庁

A source file is converted using a primary key possessed by a program provider to create a distribution file 13 and a secondary key 13a and only in a case of using the distribution key and the secondary key, an object file of the test program can be created.例文帳に追加

ソースファイルをプログラム提供者の保有する１次キーを用いて変換することにより流通ファイル１３と２次キー１３ａを作成し、流通ファイルと２次キーとを用いた場合にのみテストプログラムのオブジェクトファイルを作成できるようにしている。 - 特許庁

The function test control part 12 also holds the control signal CS for handling the operation voltages with respect to the voltage control part 15 at least corresponding to the test program and the voltage control part 15 gets the operation voltages varied according to the control signal CS.例文帳に追加

かつ、機能試験制御部１２は、少なくとも試験プログラムに応じた電圧制御部１５に対する動作電圧操作用の制御信号ＣＳを保持し、電圧制御部１５は、制御信号ＣＳに応じて動作電圧が可変される。 - 特許庁

On a substrate for testing, a clock signal corresponding to an actual operation of the semiconductor device is supplied, and a test program for conducting a performance test on the first memory circuit is written from a tester to the second memory circuit of the second semiconductor device.例文帳に追加

試験用基板上において、上記半導体装置の実動作に相当したクロック信号を供給し、テスト装置から上記第２半導体装置の第２メモリ回路に上記第１メモリ回路の動作試験を行うテストプログラムを書き込む。 - 特許庁

To facilitate the alterations of the beginning addresses of an initializing part, an interrupt table and an address space table in a test program region, the beginning addresses of an access region, an instruction generating region and correct answer information and the scope of an area, and to make it possible to deal with the execution time.例文帳に追加

テストプログラム域における初期処理部、割込みテーブル、アドレス空間テーブルの先頭アドレスやアクセス域、命令生成域、正解情報の先頭アドレスと領域範囲の変更を容易とし、また、実行時間への対応を可能とすること。 - 特許庁

The master 11 performs test vector address synchronization to the slave 12 upon receiving the first control signal, and adjusts the starting timing of an actual test program at both the master 11 and slave 12 upon receiving the second control signal.例文帳に追加

マスター１１はスレイブ１２に対して、第１の制御信号の受信によってテストベクタアドレスの同期を行い、第２の制御信号の受信によって、マスター１１およびスレイブ１２双方における実際の試験プログラムの開始タイミングを調整する。 - 特許庁

A test program loaded by a first disk controller through a network tests a second disk controller and its disk unit, and after the end of the test, the second disk controller tests the first disk controller and its disk unit.例文帳に追加

本発明は、第１のディスクコントローラがネットワークを介してローディングした試験プログラムにより第２のディスクコントローラとそのディスクユニットの試験を行い、試験終了後は第２のディスクコントローラが第１のディスクコントローラとディスクユニットとを試験するよう構成する。 - 特許庁

The test program comprises the program main body part PH, and the cycle definition part CP, and only rewriting for the cycle definition part CP for defining the information depending on the semiconductor memory is enough to conduct the test easily when the different kind of the semiconductor memory is tested.例文帳に追加

テストプログラムはプログラム本体部ＰＨとサイクル定義部ＣＰとからなり、異なる種類の半導体メモリをテストする際には、半導体メモリに依存した情報を定義するサイクル定義部ＣＰを書き換えるだけで、テストを容易に行うことができる。 - 特許庁

The operations of the respective test functions are controlled by describing a command, which designates the communication protocol in the communication test function, in the test program described using a command for designating the operations of the in-circuit test function and the function test function.例文帳に追加

そしてインサーキットテスト機能およびファンクションテスト機能の動作をそれぞれ指定するコマンドを用いて記述されるテストプログラム中に、通信テスト機能における通信プロトコルを指定するコマンドを記述することで、前記各テスト機能の作動をそれぞれ制御する。 - 特許庁

For example, the control computer 40 controls the power source supply/ disconnection of the information processor 10 by outputting power source supply/ disconnection control data P, and starts a test program in the information processor 10 by outputting key data K.例文帳に追加

一例としては、制御コンピュータ４０は、電源投入／切断制御データＰを出力することで、情報処理装置１０の電源投入／切断を制御し、またキーデータＫを出力することで情報処理装置１０におけるテストプログラムを起動させる。 - 特許庁

The active template 12 and an intermediate parameter 10 are associated by a test spec editing function 7, and the started active template 12 generates a test program 5 by fetching the necessary intermediate parameter 10 in the intermediate parameter group.例文帳に追加

能動的テンプレート１２と中間パラメータ１０との関連付はテストスペック編集機能７によってなされており、起動された能動的テンプレート１２は、中間パラメータ群の中から必要な中間パラメータ１０を取り込むことによって、テストプログラム５を生成する。 - 特許庁

To provide a rig and a test program which can establish methods and processes for removing contamination from passages by determining the amount, if any, of contamination that will collect in the passages to equipment assemblies or sub-assemblies in a fluid flow system such as a power plant fluid delivery system.例文帳に追加

発電プラント流体供給装置などの流体流れ装置において設備アセンブリ又はサブ・アセンブリに至る通路に集積する汚染物の量を、もしあれば測定し、通路から汚染物を除去する方法及び処理を確立する、リグ及び試験プログラム。 - 特許庁

Thus, it is not required to build in a test program as an F/W in a DSP (CPU) in the card 101 to be collected without the need for using a test device such as a logic analyzer so as to simply collect the digital signal.例文帳に追加

こうすることにより、ロジックアナライザ等試験機器を使用することなく、また被試収集カード１０１内におけるＤＳＰ（ＣＰＵ）内に予めＦ／Ｗとして試験用プログラムを内蔵しておく必要がなくなり、簡単にディジタル信号の収集が可能となる。 - 特許庁

In the 2nd test program 2, when a packet for request is received from the communicating function, a response packet with information to respond to that request integrated to a protocol control part header is transmitted back when a specified delay time is passed after reception of the packet.例文帳に追加

第２のテストプログラム２は、試験対象の通信機能から要求用のパケットを受信すると、その要求に応答するための情報をプロトコル制御部ヘッダに組み込んだ応答用のパケットを、パケット受信後に所定の遅延時間が経過するのを待って返信する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing charge and discharge of a secondary battery capable of easily obtaining a result of various tests in a charge cycle and a discharge cycle as a reference when testing charge and discharge, and to provide a recording medium recording a discharge test program.例文帳に追加

充放電試験において、充電サイクル及び放電サイクルを基準とした各種試験結果を容易に得ることが可能な二次電池の充放電試験方法、放電試験装置及び放電試験プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加

主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁

To provide an endurance test apparatus for a golf club head to automatically carry out an endurance test with requiring by an observer to always stays at a test site for visual examination and without stop of the test device, provide a method for the endurance test for the golf club head, and provide an endurance test program for the golf club head.例文帳に追加

常時観察者が付いて目視観察することがなく、さらに装置を停止することなく自動的に耐久試験を行うゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラムを提供する。 - 特許庁

The plural conditions automatically execution means 17 controls so that the conditional instruction is both conditions of truth and falsehood, the instruction in a semiconductor test program 11 is simulatively executed with a program instruction simulation executing means 12, and inspected with a program inspection means 15.例文帳に追加

さらに、複数条件自動実行手段17は、条件命令が真と偽両方の条件で半導体試験プログラム11における命令が、プログラム命令模擬実行手段12により模擬的に実行され、プログラム検査手段15により検査されるように制御する。 - 特許庁

In a test of the security circuit 7 by the test program, a security test signal ST becomes active, and when a predetermined address ADR is accessed in addition, a selector 12 is changed over to a register 11 side by an output signal of an AND 14 of a circuit 10 for testing.例文帳に追加

試験プログラムでセキュリティ回路７の試験になると、セキュリティ試験信号ＳＴがアクティブとなり、更に所定のアドレスＡＤＲがアクセスされると、試験用回路１０のＡＮＤ１４の出力信号によってセレクタ１２がレジスタ１１側に切り替えられる。 - 特許庁

To provide a RAID (Redundant Arrays of Inexpensive Disks) test system with which a disk controller of a RAID device is substituted with a conventional testing computer to perform a test of another RAID device about a shipping test of RAID devices, a RAID test program and a RAID testing method.例文帳に追加

ＲＡＩＤ装置の出荷試験に関し、より詳細にはＲＡＩＤ装置のディスクコントローラを従来の試験用コンピュータと代替し、他のＲＡＩＤ装置に対して試験の実施を行うＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラムおよびＲＡＩＤ試験方法に関する。 - 特許庁

A sequence setting part 14 shows a main window having plural program cells corresponding to the execution sequence of a device test program, and when any of these program cells is clicked by using a mouse 34, the instruction of an execution order corresponding to the clicked position is set.例文帳に追加

シーケンス設定部１４は、デバイステストプログラムの実行順序に対応した複数のプログラム・セルを有するメイン・ウインドウを表示し、これらのプログラム・セルのいずれかがマウス３４を用いてクリックされたときに、このクリックされた位置に対応した実行順番の命令の設定が行われる。 - 特許庁

Pattern information generated by a printed circuit board diagnostic program, test program information and test jig production information are converted into data having the mutual relation to be correlated by the program, because they are single data respectively, to be displayed on a display 3 using a trouble analyzer.例文帳に追加

プリント回路基板診断プログラムが生成するパターン情報、テストプログラム情報、テスト治具製造情報は各々単体のデータであるため、これに相互関係を持つデータに変換しプログラムのより関連付けを行い、故障解析装置を用いてディスプレイ３へ表示する。 - 特許庁

A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.例文帳に追加

インサーキットテスト機能１１と、ファンクションテスト機能１２と、通信テスト機能１３とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段１４とを備える。 - 特許庁

Thereby, the length of a branch history that is applied for branch prediction is dynamically determined with executing program codes to improve branch prediction performance, so that execution performance of CPU commands is improved and branch prediction performance is optimized not depending on types of test program codes.例文帳に追加

これにより、プログラムコードを行いつつ分岐予測に適用される分岐履歴の長さを動的に決定して分岐予測性能を向上させることによって、ＣＰＵの命令語の実行性能を向上させ、テストプログラムコードの種類に関係なく分岐予測性能を最適化させる。 - 特許庁

When a single axis test is to be made, first a host computer 15 performs system setting processing, sets system parameters for setting the system configuration of a controller 11 or 21 corresponding to an axis a A or B to be used to a corresponding controller, and then executes a single-axis test program.例文帳に追加

単軸試験を行うときは、ホストコンピュータ１５において、まず、システム設定処理を行い、使用する軸ＡあるいはＢに対応するコントローラ１１あるいは２１のシステム構成を設定するシステムパラメータを対応するコントローラに設定してから、単軸試験プログラムを実行させる。 - 特許庁

When operation firmware 211 in use which is running in a core 1 is updated into new updated firmware 221, a core 2 where the operation firmware 211 is not running is selected, and the updated firmware 221 and a test program 222 are loaded in an occupation memory area (memory 220 for the core 2) of the core 2.例文帳に追加

コア１で稼動している現用の運用ファームウェア２１１を新たな更新ファームウェア２２１に更新する際に、運用ファームウェア２１１を稼動中でないコア２を選択し、このコア２の占有メモリ領域（コア２用メモリ２２０）に更新ファームウェア２２１とテストプログラム２２２をロードする。 - 特許庁

The CPU 7, when executing the test program 81, compares the data prepared in the write source data area 82 in the main storage device 8 with the data in the readout data area 83 sent back by the FIFO 5 in the PCI data bus returning mechanism 2 connected to a PCI bus 101.例文帳に追加

ＣＰＵ７は試験プログラム８１の実行時に、主記憶装置８内の書込み元データエリア８２に用意されているデータと、ＰＣＩバス１０１ヘ接続されているＰＣＩバスデータ折返し機構２内のＦＩＦＯ５で折返された読出しデータエリア８３内のデータとを比較する。 - 特許庁

A test waveform and measuring points set at a graphic editor part 12 are transmitted to a compiler part 13 as a waveform information, thereafter the waveform information is converted to a waveform image and a test program, then loaded in the memory of each pin card, respectively by a pin card waveform image load part 16.例文帳に追加

グラフィックエディタ部１２によって設定されたテスト波形、および測定ポイントは、波形情報としてコンパイラ部１３に送られ、該コンパイラ部１３によって波形情報が波形イメージ、およびテストプログラムに変換され、ピンカード波形イメージロード部１６によって各ピンカードのメモリにそれぞれローディングされる。 - 特許庁

When a tester 40 or a test board 12 itself of a test system is checked, or when a test program is debagged, a multiple switch 33 with contacts provided on the test board 12 is operated to be closed, so as to connect an IC socket 34 mounted with a finished product IC to an external connection terminal 32.例文帳に追加

テストシステムのテスタ４０、テストボード１２自体のチェックや、テストプログラムのデバッグを行う際には、テストボード１２上に設けられた有接点多重スイッチ３３を閉操作して、完成品ＩＣを載置したＩＣソケット３４と外部接続端子３２との間を接続する。 - 特許庁

A timing setting value calculation part 22 calculates setting values of various timing based on a test program P10 with which at least one of rise-up and fall timings of test signals T1-Tn and quality determination timing of a signal acquired from a semiconductor device 30 is specified.例文帳に追加

タイミング設定値計算部２２は、試験信号Ｔ１〜Ｔｎの立ち上がり、立ち下がりタイミング及び半導体デバイス３０から得られる信号の良否判定のタイミングの少なくとも一方が規定されたテストプログラムＰ１０に基づいて各種タイミングの設定値を算出する。 - 特許庁

In the verification of the logical operation of the information processor, the verification of the logical operation is realized with high accuracy, by generating more transaction competitive patterns by making an I/O emulator work together with a test program, and also by automatically preparing input data to the I/O emulator.例文帳に追加

情報処理装置の論理動作の検証において、Ｉ／Ｏエミュレータとテストプログラムを連動させ、且つＩ／Ｏエミュレータへの入力データは自動で作成することで、より多くのトランザクション競合パターンを発生させることにより、論理動作の検証を高精度に実現する。 - 特許庁

To provide a software generating device capable of generating software that can correctly verifying an RTL description even in the RTL description of an LSI for sequentially executing processing to each of a plurality of input values by using a test program for verifying an operation description.例文帳に追加

複数の入力値それぞれに対する処理を順次実行するＬＳＩのＲＴＬ記述であっても、そのＲＴＬ記述を正しく検証することが可能なソフトウェアを、動作記述の検証用のテストプログラムを用いて生成することができるソフトウェア生成装置を実現する。 - 特許庁