「"function pattern"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

When it is discriminated that the U key 20 is placed in the use position P2, the user set pattern F is read out in a step S36, and photographing is conducted by a function pattern of the user set pattern F in a step S38.例文帳に追加

判断が肯定された場合には、ステップＳ３６でユーザー設定パターンＦを読出し、ステップＳ３８で、ユーザー設定パターンＦの機能パターンで撮影を行う。 - 特許庁

In a plurality of layers of a semiconductor device, a function pattern 100 that is a pattern necessary for functions of the semiconductor device and a dummy patter 102 not necessary for functions are formed.例文帳に追加

半導体装置の複数の層に、半導体装置の機能上必要なパターンである機能パターン１００と、機能上は不必要なダミーパターン１０２とを形成する。 - 特許庁

Between a silicon substrate 80 and the function pattern 100 or between the function patterns, a plug 104 for forming a desired wire configuration is formed.例文帳に追加

シリコン基板８０と機能パターン１００との間、あるいは機能パターン１００相互間には、所望の配線構成を形成するためプラグ１０４が形成されている。 - 特許庁

To provide a film circuit board that can be economically taken out from a synthetic resin film and need not be replaced entirely even if the function pattern is defective.例文帳に追加

合成樹脂フイルムから無駄なくフレキシブル回路基板を取り出せ、機能パターンに不良があってもフレキシブル回路基板全体を交換する必要がないフイルム回路基板を提供する。 - 特許庁

To efficiently perform a decoding process of data from a two-dimensional code including a function pattern area for expressing information except for encoded data, for example, a QR code.例文帳に追加

例えばＱＲコードのように、エンコードされたデータ以外の情報を表す機能パターン領域を含む２次元コードからのデータのデコード処理を効率的に行なえるようにする。 - 特許庁

To provide an LSI test device which can reduce periods necessary for an LSI test by reducing the frequency for setting test timing information contained in a function pattern, in an LSI tester.例文帳に追加

ファンクションパターンに含まれるテストタイミング情報をＬＳＩテスタに設定する回数を減らして、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することが可能なＬＳＩテスト装置を提供すること。 - 特許庁

A test timing information converting part 8 converts the test timing information of the external pin without signal variation which is detected by the setting part 2 into test timing information of the external pin of other function pattern.例文帳に追加

テストタイミング情報変換部８は、信号変化有無設定部２によって検出された信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンの当該外部ピンのテストタイミング情報に変換する。 - 特許庁

Thereby the positioning aiding device can guarantee accurate positioning of artificial denture in bite without restriction of personal function pattern of a patient and simultaneously reduce 80% of time and labor in comparison with known methods.例文帳に追加

これにより、配列補助装置は、患者の個人的な機能パターンの制限なしに、噛み合いにおける人工的な義歯の正確な位置決めを保証すると同時に、公知の方法に対して作業の手間を８０％減じることができる。 - 特許庁

As a result, when the test timing information of the external pin without signal variation can be made identical to test timing information of other function pattern, test timing information can be carried out in common, so that periods necessary for the LSI test can be reduced.例文帳に追加

したがって、信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンのテストタイミング情報と同じにすることができる場合には、テストタイミング情報を共通にすることができ、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することができる。 - 特許庁

The face state detection part 20 detects a face state during the execution of authentication processing of the finger authentication means 5 to 8, and the function pattern decision part 21 decides the normal function and the additional function by combining the finger and the face state at the time of finger authentication.例文帳に追加

顔状態検出部２０は、指認証手段５〜８の認証処理実行中における顔状態を検出し、機能パターン判定部２１は、指の認証時において、指と顔状態とを組み合わせて、通常機能と付加的機能とを判定する。 - 特許庁

A user depresses a U key 20 and depresses a release button 16 with the U key 20 moved to a U key use position P2, when photographing by using a user set pattern F, and the user depresses the release button 16 with the U key 20 kept at a U key non-use position P1, when photographing by using an initially set function pattern.例文帳に追加

ユーザーは、ユーザー設定パターンＦを使って撮影したい場合にはＵキー２０を押してＵキー２０をＵキー使用位置Ｐ２に移動させた状態でレリーズボタン１６を押下し、初期設定の機能パターンで撮影したい場合には、Ｕキー２０をＵキー不使用位置Ｐ１に配置したままでレリーズボタン１６を押下する。 - 特許庁

Characteristic configuration technique to be constituted by passing a test procedure manual creating means 4 to create a test procedure manual 5 to indicate test procedures about a 'processing function A', a 'processing function B' by inputting function pattern tables 2', 3 to express the 'processing function A', the 'processing function B', etc., described in program specifications 1 of a testing object by standardized patterns is adopted.例文帳に追加

試験対象物のプログラム設計書１に記載された［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］などを、標準化したパターンで現した機能パターン表２’，３が入力されることで、当該［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］についての試験手順を示す試験手順書５を作成する試験手順書作成手段４を経てなる特徴的構成手法の採用。 - 特許庁