| 例文 (999件) |
パターンを検査するための方法例文帳に追加
PATTERN INSPECTION METHOD - 特許庁
基板を検査する方法および装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING SUBSTRATE - 特許庁
動作検査機能を有するカメラ例文帳に追加
CAMERA WITH OPERATION INSPECTING FUNCTION - 特許庁
物体を検査する方法および装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING OBJECT - 特許庁
ガラス容器を検査するための機械例文帳に追加
MACHINE FOR INSPECTION OF GLASS CONTAINER - 特許庁
ガラス容器を検査する装置例文帳に追加
INSPECTION DEVICE FOR GLASS VESSEL - 特許庁
食品検査のスループットの向上が可能な検査方法および検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection method and an inspection device for improving a throughput of food inspection. - 特許庁
検査の高速化を図ることができる電子ビームを用いた検査方法及び検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection method and device, capable of performing the inspection at a higher speed, using an electron beam. - 特許庁
検査部３は、静電容量式タッチパネル５０を上に載置して検査を行う検査面を有する。例文帳に追加
The inspection part 3 has an inspection surface on which the capacitive touch panel 50 is placed for inspection. - 特許庁
検査時間の短縮化を図れ、かつ検査精度の向上を図れる穴内検査装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a hole inside inspection device capable of shortening an inspection time, and improving inspection accuracy. - 特許庁
高い検査精度を維持しつつ検査効率を向上し得る検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection device capable of improving inspection efficiency, while keeping high inspection accuracy. - 特許庁
検査を終えた検査対象物からその検査結果を容易に得ることを可能にする。例文帳に追加
To easily obtain an inspection result from a work to be inspected which has been inspected. - 特許庁
検査の高速化を図ることができる電子ビームを用いた検査方法及び検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection method and an inspection device using an electron beam which increases speed of an inspection. - 特許庁
主任検査官は、立入検査期間中、適宜検査対象先との間で、検査の進捗状況、検査対象先の検査への対応などについて意見交換を行い、検査を効率的かつ効果的に実施するよう努めるものとする。例文帳に追加
In order to achieve efficient and effective inspection, the Chief Inspector shall communicate with the Firm regarding the progress of the inspection, the Firm’s responsiveness to the inspection, etc. in the course of the on-site inspection. - 金融庁
伝熱管を検査する検査信号の検出性を向上すること。例文帳に追加
To improve detectability of an inspection signal which inspects heat-transfer pipes. - 特許庁
プリンタは、印刷精度を検査するための検査用画像８０を印刷する。例文帳に追加
The printer prints an image 80 for inspection for inspecting printing precision. - 特許庁
全数検査を可能とすることができる刻印検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide a marking inspection apparatus capable of performing a total inspection. - 特許庁
複数のノズルを有する液体吐出検査の検査時間を短縮する。例文帳に追加
To shorten the inspection time for liquid discharge inspection device having a plurality of nozzles. - 特許庁
基板の欠陥を検査する際に、検査レシピを効率よく更新する。例文帳に追加
To update efficiently an inspection recipe, when inspecting a defect of a substrate. - 特許庁
複数の突起部を有する検査対象物を迅速に検査する。例文帳に追加
To rapidly inspect an inspecting object having a plurality of protrusions. - 特許庁
構造を超音波で検査するための装置、および構造を検査する方法例文帳に追加
DEVICE FOR INSPECTING STRUCTURE BY ULTRASONIC WAVE, AND METHOD OF INSPECTING STRUCTURE - 特許庁
検査時間を短縮することができる半導体検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide a semiconductor inspection device that shortens an inspection time. - 特許庁
短い検査時間で検査対象の欠陥を検出することを課題とする。例文帳に追加
To detect a defect to be inspected in a short inspection time. - 特許庁
電極スラリーの混ざり具合を検査する新規な検査方法を提案する。例文帳に追加
To provide a novel inspection method inspecting a mixing state of an electrode slurry. - 特許庁
検査時間を短縮することの可能な検査装置を提供する例文帳に追加
To provide an inspection device capable of shortening the inspection time. - 特許庁
皮膚の状態を幅広く正確に検査する検査シートを提供する。例文帳に追加
To provide an inspection sheet for widely and accurately inspecting a state of the skin. - 特許庁
食用果実の内部を精度よく検査する検査方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method for inspecting the inside of an edible fruit with high accuracy. - 特許庁
スライダ検査装置は支持構造体と、検査するためスライダを受け取る検査ソケットとを含む。例文帳に追加
A slider test apparatus includes a support structure and a test socket receiving a slider for testing. - 特許庁
検査者の目視による外観検査を効率的に行うことができる外観検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide a visual inspection apparatus capable of performing an efficient visual inspection by inspectors' visual observation. - 特許庁
本発明は、被検査対象を検査する半導体検査装置に改良を加えたものである。例文帳に追加
The semiconductor inspecting apparatus is obtained by improving a semiconductor inspecting apparatus for inspecting objects to be inspected. - 特許庁
モデル検査装置３は，モデル２によるモデル検査を行い，検査結果４を出力する。例文帳に追加
A model inspection device 3 performs model inspection by the model 2, and outputs an inspection result 4. - 特許庁
その後、検査者は通信品質検査装置７０を用い、記録解析された第２情報を検査する。例文帳に追加
Afterwards, the examiner uses the communication quality examination apparatus 70 to examine the recording analyzed second information. - 特許庁
半導体膜の品質を検査するための検査システム及びこれを用いた検査方法例文帳に追加
INSPECTION SYSTEM FOR INSPECTING QUALITY OF SEMICONDUCTOR FILM, AND INSPECTION METHOD USING IT - 特許庁
放射線検査装置、それを用いる放射線検査方法およびそれを制御する放射線検査プログラム例文帳に追加
RADIATION INSPECTION DEVICE, RADIATION INSPECTION METHOD USING IT AND RADIATION INSPECTION PROGRAM - 特許庁
検査基板８を短時間で検査可能な電子線式基板検査装置１を提供する。例文帳に追加
To provide an electron beam type substrate inspecting apparatus 1 capable of inspecting an inspection substrate 8 in a short time. - 特許庁
検査効率が優れるとともに信頼性の高い検査を行える検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection device excellent in inspection efficiency and performing an inspection of high reliability. - 特許庁
各検査ポイントの間の絶縁状態を短時間で検査し得る絶縁検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an insulation inspection apparatus which can inspect insulation state between inspection points in a short time. - 特許庁
検査精度を低下させることなく、検査対象基板を短時間で容易に検査する。例文帳に追加
To easily inspect a substrate to be inspected in a short time without reducing inspection accuracy. - 特許庁
太陽電池の検査精度を上げることができる太陽電池の検査装置と検査方法を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection device and an inspection method for solar batteries that can improve inspection accuracy. - 特許庁
被検査体に対して洩れ検査を高精度に実施できる洩れ検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide a leakage inspection apparatus capable of implementing a leakage inspection of an inspection target with high accuracy. - 特許庁
簡易に全数検査を行うことが可能な口部検査装置及び口部検査方法を提供する。例文帳に追加
To provide an opening part inspection device and an opening part inspection method performing easily total inspection. - 特許庁
検査時間を短縮できるバンプ検査装置及びバンプ検査方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a bump inspection device and a bump inspection method capable of shortening an inspection time. - 特許庁
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