「を検査する」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

規格外の検査項目を、外部検査機を使用して検査する場合に検査の信頼度を確保することができる表示パネル検査装置及び検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a display panel inspection device and an inspection method for securing inspection reliability, when inspecting a non-standard inspection item by using an external inspection machine. - 特許庁

半導体デバイスの外観検査と内部検査とを単一化して検査効率を極大化させる半導体デバイス検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device for a semiconductor device by which inspection efficiency is maximized by unifying visual inspections and internal inspections of a semiconductor device. - 特許庁

余分な検査時間を省いて、検査機や被検査対象を破壊、劣化させずに作業者が安全に作業できる検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus enabling an operator to safely operate without destructing or deteriorating an inspection machine and an object to be inspected by saving extra inspection time. - 特許庁

官能目視検査との相関を高め、検査の精度を向上させることができる固体撮像素子の検査方法及び検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method and an inspection apparatus for a solid-state imaging element capable of improving the inspection accuracy by improving the correlation with a sensory visual inspection. - 特許庁

装置側検査結果ＤＢ１４ａは、検査装置１１ａが基板を検査した結果を示すデータである検査結果データを格納する。例文帳に追加

The apparatus side inspection result DB 14a stores inspection result data that is data indicating results of inspection of substrates by the inspection apparatus 11a. - 特許庁

検査精度を低下させることなく、検査時間を短縮して検査効率の向上が図れる基板検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection method for shortening the inspection time and improving the inspection efficiency without reducing the inspection accuracy. - 特許庁

本発明は、被検査物の欠陥を確度よく能率的に検査可能な被検査物の検査方法を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a method for inspection of an object to be inspected (hereinafter, a workpiece), capable of correctly and efficiently inspecting defects in the workpiece. - 特許庁

構造を単純化し、パネルのアクティブ領域検査及び外観検査の検査時間を減らすことができるパネル検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a panel inspection device of which structure is simplified and that can reduce the inspection period of active region inspection and visual inspection of an LCD panel. - 特許庁

被検査物の品質を確保し、且つ被検査物の受入検査を効率的に行うことができる品質検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a quality inspection device capable of securing quality of an object to be inspected, and efficiently performing acceptance inspection of the object to be inspected. - 特許庁

検査または調整を行う際には、検査装置の検査用端子をＡ／Ｖジャック３へ挿入し、検査モード信号を、通信用端子２へ入力する。例文帳に追加

An inspection terminal of an inspection device is inserted into the A/V jack 3, and an inspection signal is input into a communication terminal 2. - 特許庁

被検査レンズを回転させることなく、簡単な構成で、自動的に被検査レンズの検査を行うことのできるレンズ検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a lens inspecting device capable of automatically inspecting a lens to be inspected with a simple structure without rotating the lens to be inspected. - 特許庁

複数の検出部分における反応線の変化を同時に検査して、検査効率を向上できる検査プレートの画像検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an image inspection method for an inspection plate for improving efficiency in the inspection by inspecting changes of reaction lines in a plurality of detection parts simultaneously. - 特許庁

また、組み立て検査を自動組立検査器を使用して自動的にチェックする事により、検査の質と検査スピードを向上させることが可能である。例文帳に追加

The assembly inspection is automatically done using the automatic inspection device so as to improve the quality and speed of the inspection. - 特許庁

被検査者が検査結果を手軽に確認することができながらも詳細な検査を被検査者の手間をかけずに行う。例文帳に追加

To perform a detailed inspection without requiring the labor of an examinee by allowing the examinee to easily confirm an inspection result. - 特許庁

検査の手間を少なくし、作業性を高めると共に、検査の精度の高いシーム溶接検査方法およびシーム溶接検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a seam welding inspection method and device, enhancing a work efficiency by reducing a time for inspection while having high inspection accuracy. - 特許庁

被検査体を載置することで、この被検査体の電極とポゴピン２６とが電気的に接続されて検査を行う検査ソケットである。例文帳に追加

This inspection socket is employed for inspecting an inspection body by putting the inspection body on the socket and connecting electrodes of this inspection body to POGO pins 26 electrically. - 特許庁

検査作業や検査装置の複雑化を招くことなく、検査漏れも少ないワイヤーハーネス装着部品の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a testing method of a wire harness mounted parts without complication of testing operation and testing device, with few omission of testing. - 特許庁

同一の検査項目を複数の製品１に対して、複数の検査装置によって並列に検査する検査工程を含む製造方法である。例文帳に追加

This manufacturing method includes: a checking step for parallely checking a plurality of products 1 about the same checking item by a plurality of checking devices. - 特許庁

複数の検査装置に対して、それぞれの検査装置に最適な検査を割り当てることができる検査予約装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an inspection reservation apparatus capable of allocating optimal inspections to a plurality of inspection apparatuses respectively. - 特許庁

半導体装置の検査工程及び検査内容が簡略化された検査を行う半導体装置検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor device inspection method for performing inspection where the inspection process and content of a semiconductor device have been simplified. - 特許庁

容易に色ムラ検査を実施可能な色ムラ検査方法、および色ムラ検査方法で用いる検査用画像データ生成装置を提供する。例文帳に追加

To provide a color unevenness inspection method that easily performs color unevenness inspection, and an inspection image data generation apparatus for use in the color unevenness inspection method. - 特許庁

従来の基板検査方法に比して短時間で基板検査を行うことを可能にする基板検査方法及び基板検査装置の提供。例文帳に追加

To provide a substrate inspection technique and a substrate inspection device implementing substrate inspection at a short period of time as compared with conventional substrate inspection techniques. - 特許庁

分解能に優れ、かつ検査効率の高い基板検査装置およびこれを備えた基板検査システム並びに基板検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device superior in resolution and having high inspection efficiency, a substrate inspection system employing it and a substrate inspection method. - 特許庁

検査設備開発工数の省力化を可能にするとともに、被検査装置の性能を正確に、且つ定量的に検査できる画質検査システム。例文帳に追加

To provide an image quality inspection system, wherein labor-saving of inspection equipment development man day is enabled, and performance of inspected equipment can be accurately inspected quantitatively. - 特許庁

テープに配列されたデバイスを検査する際の検査スピードを向上させる デバイス検査方法、デバイス検査装置およびＴＡＢテープ。例文帳に追加

To provide a device inspection method, a device inspecting apparatus and a TAB tape, which improve an inspection speed, when inspecting devices arrayed on a tape. - 特許庁

電子部品を、規格の種類を示す検査規格情報に対応した検査条件情報に基づいて検査する電子部品の検査装置である。例文帳に追加

The inspection device inspects electronic components, based on an inspection condition information, corresponding to inspection specification information indicating the category of the specification. - 特許庁

基板の反りの発生を防ぎ、検査ピンと検査位置との間の滑動や検査ピンと所定の検査位置との接触位置のずれを防止する。例文帳に追加

To prevent occurrence of warpage of a substrate, and prevent sliding between an inspection pin and an inspection position or dislocation of a contact position between the inspection pin and the inspection position. - 特許庁

画像処理によるタイヤの外観検査において精度良く検査を行うことができるタイヤの外観検査装置及び外観検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an appearance inspection device and an appearance inspection method of a tire for inspecting the appearance of a tire by image processing with high accuracy. - 特許庁

高精度な印刷品質検査が行える検査装置、検査方法、検査プログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device, an inspection method, an inspection program and a recording medium with the program recorded thereon capable of performing a highly accurate printing quality inspection. - 特許庁

被検査者ごとに要していた装着から検査開始までの準備期間を節約して、複数の被検査者に対する効率的な検査を行う。例文帳に追加

To efficiently examine a plurality of examinees by saving a preparation period from mounting electrodes to starting the examination required for every examinee. - 特許庁

電子基板などのワークの検査を非接触で検査できる、検査構成の利用効率が高いワーク検査システムを提供する。例文帳に追加

To provide a workpiece inspection system that can inspect a workpiece, such as an electronic substrate in a noncontact manner, and that has high utilization efficiency of an inspection constitution. - 特許庁

工業用検査に利用されるデジタルＸ線検査装置の検査工程を自動化した自動検査システムを提供する。例文帳に追加

To provide an automatic inspection system wherein an inspection process of a digital X-ray inspection device used for industrial inspection is automatized. - 特許庁

検査工程の効率を向上し、さらに製品とは別途に検査可能な検査合理化システム及び合理化検査装置を提案する。例文帳に追加

To provide an inspection rationalization system and a rationalization inspection device enhanced in efficiency for an inspection process, and allowing inspection separately from a product. - 特許庁

ウエハの表面検査とその検査結果の観察検証の両方を行うことができる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a surface inspection device and a surface inspection method, can carry out both surface inspection of a wafer and observation verification of its inspection result. - 特許庁

擬似欠陥を除外して高い検査感度で欠陥検査が可能な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection device and defect inspection method capable of omitting a false defect and inspecting a defect at high inspection sensitivity. - 特許庁

入力部１２から、設備を検査する検査の種類、検査の範囲、及び検査の結果得られた劣化度を示す情報が入力される。例文帳に追加

Information indicating the type of an inspection for inspecting equipment, the range of the inspection, and the degree of deterioration obtained as the result of the inspection is input from an input part 12. - 特許庁

検査オーダ・結果送受信部２を通過した検査オーダ情報や検査実施情報を検査データ保管部６に保管する。例文帳に追加

The examination order information or the examination performance information passing an examination order/result transmission and reception part 2 are stored in an examination data storage part 6. - 特許庁

複検査対象物の外観検査を所望の検査態様に応じて低コストで行うことが可能な部材検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a member inspection device for performing visual inspection on an inspecting object according to a desired inspection manner at a low cost. - 特許庁

異物検査の結果を受信した半導体検査管理装置は検査結果を検査情報領域に登録する２０３ｂ。例文帳に追加

The semiconductor inspection management device which received the result of contamination inspection registers the inspection result into an inspection information region (203b). - 特許庁

一度に広範囲の被検査物表面形状を検査できる表面形状検査装置及び表面形状検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a surface shape inspection device and a surface shape inspection method for extensively inspecting the surface shape of an inspection object at one time. - 特許庁

プリント回路基板のような検査対象物の検査を効率的に遂行できる検査装置及び検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device and an inspection method which enables the effective inspection of an inspection object such as a printed circuit substrate. - 特許庁

検査の迅速化と検査結果の画一化を図ることのできるフレーム用検査装置及びフレーム検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device for a frame and a frame inspection method for achieving the speedup of inspection and the standardization of inspection results. - 特許庁

他の板状部材に保持された被検査物に対して、正確な検査を行うことのできる外観検査装置および外観検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a visual inspection apparatus and a visual inspection method, capable of accurately inspecting an object to be inspected which is held by other plate-like member. - 特許庁

光を検査対象品に照射して、検査対象品からの反射光に基づいて検査対象品の特性を生産性良く検査する。例文帳に追加

An article 2 to be inspected is irradiated with light, and the characteristic of the article 2 to be inspected is inspected with good productivity based on reflected light from the article 2 to be inspected. - 特許庁

検査領域の端部における欠陥検査の精度を向上させることが可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of improving accuracy of defect inspection at the end of an inspection domain. - 特許庁