「を検査する」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

検査時間の短縮が図れ、検査のための回路の効率がよい基板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspecting means capable of shortening an inspection time, and having high efficiency of a circuit for inspection. - 特許庁

１つの検査処理の検査結果である検査結果データを容易に区別して出力する。例文帳に追加

To readily and distinctly output inspection result data which are inspection results in a single inspection processing. - 特許庁

印刷物検査装置１は、初版検査条件３１に基づいて検査条件を設定する。例文帳に追加

The device 1 sets conditions of inspection on the basis of the conditions 31. - 特許庁

精度よく且つ効率よい検査が可能な検査装置及び検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device and inspection method capable of efficiently performing inspection with high accuracy. - 特許庁

検査コストの削減および検査時間の短縮が可能な機器検査システムを提供する。例文帳に追加

To provide a device inspection system capable of reducing inspection cost and shortening inspection time. - 特許庁

精度良く検査することが可能な半導体検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor inspection apparatus capable of accurate inspections. - 特許庁

検査領域に対する検査ストライプの位置を指定できるようにする。例文帳に追加

The inspection stripe position is allowed to be assigned with respect to an inspection area. - 特許庁

被検査部の検査の精度を十分に高くすることができるようにする。例文帳に追加

To sufficiently increase an accuracy for inspecting an inspected part. - 特許庁

被検査体の超音波検査時に被検査体の検査部位に流動制限器具を配置し、被検査体の検査部位が流動制限器具によって安定的に支持された状態でプローブを用いて超音波検査を実施する。例文帳に追加

A flow limiting instrument is disposed at an inspected portion of the subject when the ultrasonic inspection of the subject is performed, and the ultrasonic inspection is carried out using the probe in the stably supported state of the inspected portion of the subject by the flow limiting instrument. - 特許庁

検査作業者の検査判断に格別な経験を必要とせず、検査精度の均一性をはかることができ、適確かつ迅速な検査結果が検査現場で取得可能な漏洩検査方法及び漏洩検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a leakage inspection method and a leakage inspection device capable of dispensing with any special experience for inspection judgement by an inspection worker, capable of uniformizing inspection precision, and capable of acquiring exactly and quickly an inspection result in an inspection field. - 特許庁

検査管理部１４ｂは検査実行部１４ａに対して検査の実行指示を行う検査開始信号Ｓ１を出力し、検査実行部１４ａは検査途中のステップに応じて検査経過信号Ｓ２を出力する。例文帳に追加

The examination management part 14b outputs an examination start signal S1 for instructing the performing of the examination to the examination performing part 14a and the examination performing part 14a outputs an examination progress signal S2 corresponding to a step in the middle of the examination. - 特許庁

そして、検査不能な第１検査回路７１Ａ以外の検査回路（第２検査回路７１Ｂ）を用いて未検査ノズルについてのノズル検査を行って、すべての未検査ノズルの吐出の良否を判定する。例文帳に追加

The inspection circuit (the second inspection circuit 71B) other than the inspection-disabled first inspection circuit 71A is used to make the nozzle inspection of the uninspected nozzles and to determine the ejection propriety of all the uninspected nozzles. - 特許庁

被検査物に段差等が存在する場合であっても、被検査物の表面欠陥を検査することができる表面欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a surface flaw inspection system capable of inspecting the surface flaw of an inspection target even if difference in level is present in the inspection target. - 特許庁

検査するタイヤの位置決め装置および検査器、とくに、レーザ検査器を有するタイヤ用検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a tire inspection instrument having the positioning device and inspector of a tire to be inspected, especially a laser detector. - 特許庁

基板の検査に際し、被検査部位の種類等に応じた検査ができ、かつ、検査時間を短縮できる、検査方法、検査装置および検査用プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide an examination method, an examination apparatus, and an examination program, performing examination corresponding to the type or the like of a site to be examined and reducing the examination time when examining a substrate. - 特許庁

全ての検査項目を実行することによる検査工数の増大を防止しつつ、デグレード不具合を検査できるシステム検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a system inspection method capable of inspecting degradation failure while preventing increase in inspection man-hours caused by executing all inspection items. - 特許庁

再検査時の診断精度および検査スループットを向上する。例文帳に追加

To improve a diagnosis accuracy and an examination throughput in a reexamination. - 特許庁

2.生体検査及びとさつ後検査を受けたことを示す欄を確認する例文帳に追加

2. checks the boxes indicating that the animal received ante- and post-mortem inspection; - 厚生労働省

複数の検査を行うことができ、各検査結果を複合的に分析することのできるレンズ検査装置及びレンズ検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and method for lens inspection, capable of conducting a plurality of inspections and composite analysis on results of each inspection. - 特許庁

検査者の負担を減らし、検査作業時間の短縮、検査結果の誤判断を未然に防止することができる検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection instrument by which a burden of an inspector is reduced, inspection work time is shortened and erroneous judgment of an inspection result is prevented. - 特許庁

検査工程における工数を減少させ、検査者の検査負担を軽減することができるＬＥＤ点灯検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an LED lighting inspection apparatus capable of reducing working hours in an inspection process and reducing the inspection burden of an inspector. - 特許庁

検査装置は、原版を検査する検査部３ａと、検査部３ａを制御する制御部４とを備える。例文帳に追加

The inspection apparatus comprises an inspection section 3a for inspecting the original plate and a control section 4 for controlling the inspection section 3a. - 特許庁

被検査体１表面を撮像手段１６で撮像し、当該被検査体１表面の凹凸を検査する表面検査方法を提供する。例文帳に追加

This surface inspection method is provided for inspecting irregularities on the surface of the body 1 to be inspected by imaging the surface of the body 1 to be inspected by an imaging means 16. - 特許庁

工事の検査を検査員が現場で行ったかどうかを確認することができる検査情報管理サーバ及び検査情報管理方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection information management server capable of making sure if an inspector has inspected a factory on site. - 特許庁

検査における装置の起動時間および検査の準備に要する時間を短縮でき、検査の効率を向上可能な医用検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a medical examination device which reduces time for starting a device for an examination and improves efficiency in the examination. - 特許庁

復号部は、ｍ個の公開鍵を検査する第２公開鍵検査手段と、係数ｃ、τを検査する第２係数検査手段とを備える。例文帳に追加

The decryption part includes a second public key inspection means for inspecting m public keys, and a second factor inspection means for inspecting factors c and τ. - 特許庁

検査精度を向上させ、検査時間を短縮することのできる密封容器の密封検査装置、及び、その密封検査方法の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide a seal inspection apparatus and method for a sealed container which can enhance inspection accuracy and shorten inspection time. - 特許庁

円筒体の検査において、目視検査により近い条件にて検査を行うことを可能とする外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a visual inspection device capable of inspecting in a more similar condition to visual inspection, concerning inspection of a cylindrical body. - 特許庁

被検査基板に温度ストレスをかけつつ検査時間を短縮することができる基板検査装置及び基板検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device and a substrate inspection method which are capable of shortening the time required for inspecting a substrate, while imposing thermal stress on an inspected substrate. - 特許庁

大型の被検査基板であっても、検査精度を確保して効率良く検査することが可能なマクロ検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a macro inspection device capable of efficiently inspecting even a large substrate to be inspected while securing the inspection accuracy. - 特許庁

本発明は、被検査対象が出力する信号の波形品位によって、被検査対象を検査する検査装置に改良を加えたものである。例文帳に追加

The invention is to improve an inspection device for inspecting an object of inspection with waveform quality of a signal that the object of inspection outputs. - 特許庁

一般家庭においても高い検査精度の尿検査を容易に実行することができる尿検査装置及び呈色反応検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a urine tester and a color reaction tester for easily executing a urine test of high test accuracy even in a general household. - 特許庁

撮像対象物の表面欠陥検査とピンホール検査を１つの検査ユニットで実現することができる照明装置と検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a lighting system and an inspection device for inspecting surface defects and pin holes of an object to be imaged by one inspection unit. - 特許庁

検査時間を短縮することができるアナログ電圧出力装置の検査装置、検査システム、および検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device, an inspection system, and an inspection method of an analog voltage output device capable of shortening inspection time. - 特許庁

幅方向に検査領域を分割しなくても精度良く検査することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a defect inspection apparatus and a method of inspecting defects for precisely inspecting defects even if an inspection region is not divided in a width direction. - 特許庁

非破壊検査により検査対象物の焼入れ品質を精度良く検査することができる焼入れ品質検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a hardening quality inspection device which is capable of accurately inspecting hardening quality of an object to be inspected, by nondestructive inspection. - 特許庁

被検査体の表面内を均一な検出感度にて検査することができる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a surface inspection device and a surface inspection method capable of inspecting the surface of a body to be inspected with uniform detection sensitivity. - 特許庁

検査領域（非検査領域）を効率よく設定することができる検査領域設定装置および外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection region setting apparatus which can efficiently set up an inspection region (non-inspection region), and to provide an outer appearance inspection apparatus. - 特許庁

検査工程では、検査用パターン３０の検査領域３５を計測することにより、主パターンにおける線幅とアライメントずれとを検査する。例文帳に追加

In the inspection stage, the inspection region 35 of the pattern 30 for inspection is measured to inspect line widths and misalignment of the main pattern. - 特許庁

短い検査時間で被検査物の外観の状態を検査することが可能な外観検査装置およびその画像処理方法を提供する。例文帳に追加

To provide a visual examination device that inspects the appearance state of an inspection target in a short inspection time, and to provide an image processing method thereof. - 特許庁

検査表示部と隣接する表示部の光源から検査透過部への漏光検査を自動化できる漏光検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device for leaked light, capable of automating inspection of a leaked light from a light source of a display part adjacent to an inspection display part to an inspection transmission part. - 特許庁

容器詰め液製品の検査において、未検査品の再検査や被検体の複数回検査を、人手を介することなくスムーズに行えるようにする。例文帳に追加

To perform re-inspection on an uninspected article and multi-time inspection on an analyte in inspection on a container-filled liquid product without any human intervention. - 特許庁

シリンジへのシリコン塗布の検査のような被検査物の表面状態の違いを検査することができる検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device capable of inspecting difference in surface state of an inspected object like an inspection of silicon coating to syringe. - 特許庁

検査対象受体を縦に保持する検査装置に装着しても、検査対象の液体が流出しない検査対象受体を実現すること。例文帳に追加

To provide an inspection object acceptor from which a liquid does not outflow in the case where the inspection object acceptor is attached on an inspection apparatus which vertically holds the inspection object acceptor. - 特許庁

被検査基板の欠陥を検出する基板検査装置において、被検査基板の検査効率を向上できるようにする。例文帳に追加

To enhance the inspection efficiency of a substrate to be inspected in a substrate inspection device for detecting the flaw of the substrate to be inspected. - 特許庁