「を検査する」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

複数の検査対象項目を検査する眼科装置において、検査対象項目毎に適切な撮影光学系を用いて検査する。例文帳に追加

To provide an ophthalmic apparatus which examines a plurality of items subjected to an examination and uses an appropriate imaging optical system for every item subjected to the examination. - 特許庁

検査時間を短縮することができる欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査プログラムを提供すること。例文帳に追加

To provide a defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection program capable of shortening the inspection time. - 特許庁

各検査機１では、検査を実行する毎に、その検査結果、測定データ、検査に使用した画像データなどをメモリに保存する。例文帳に追加

Each time an inspection is carried out, each inspection apparatus 1 stores the inspection result, measured data, image data employed for the inspection, etc. in a memory. - 特許庁

検査対象物の所定の検査エリアを高速に検査することができるＸ線検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray inspection device capable of speedily inspecting a prescribed inspection area of inspection objects. - 特許庁

十七　非破壊検査技術を用いてロケットモータを検査するための装置例文帳に追加

(xvii) Equipment used to test rocket motors using non-destructive examination technology  - 日本法令外国語訳データベースシステム

六　その他身体検査を適正に実施しうる検査体制を有すること。例文帳に追加

(vi) There shall be other examination systems that enable proper conduct of medical examinations.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

は s の最初の maxlen バイトのみを検査しs+maxlen より先を検査することはない。例文帳に追加

looks only at the first maxlen characters at s and never beyond s+maxlen.  - JM

ＤＲＡＭマクロの検査時間の短縮化を図り、検査コストを低減する。例文帳に追加

To reduce a test cost by shortening a test time of a DRAM-macro. - 特許庁

検査パラメータを管理するための技法のデータベースを用いる検査方法例文帳に追加

INSPECTION METHOD USING DATABASE OF TECHNIQUE FOR MANAGING INSPECTION PARAMETER - 特許庁

複数のマイクロチップを効率よく検査できる検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus capable of efficiently inspecting a plurality of microchips. - 特許庁

検査用素子を有する半導体装置およびそれを用いた検査方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING ELEMENT FOR INSPECTION AND INSPECTION METHOD USING IT - 特許庁

本発明は、効率よくフォトマスクを検査できる検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus for efficiently inspecting a photomask. - 特許庁

視野検査を短時間で行うことができる視野検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a visual field test system performing a visual test in a short time. - 特許庁

検査を行う際には、溝部２に検査用プローブを挿入する。例文帳に追加

When inspecting, the inspection probe is inserted into the groove 2. - 特許庁

スムーズで確実な検査を行うことのできる検査システムを提供する。例文帳に追加

To provide an inspection system capable of performing smooth and reliable inspection. - 特許庁

検査コストの低減を実現可能な半導体検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor inspection device capable of reducing inspection cost. - 特許庁

検査効率の向上を図ると共に、正確な検査を行えるようにする。例文帳に追加

To improve inspection efficiency and exactly inspect. - 特許庁

この台車２１上に、コンテナＣを検査する検査装置２２を設ける。例文帳に追加

The inspection device 22 detecting the container C is provided on the truck 21. - 特許庁

検査員による目視によらず表面歪の検査を行うことを可能にする。例文帳に追加

To inspect surface distortion without visual observation by an inspector. - 特許庁

検査時間を短縮できるワイヤハーネス検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method capable of shortening the inspection time. - 特許庁

能率良く検査板を組立て、ワイヤハーネスを効率良く検査する。例文帳に追加

To efficiently assemble an inspection plate and to efficiently inspect a wire harness. - 特許庁

棒鋼検査を効率よく実施できる棒鋼形状検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a bar steel shape inspecting device for efficiently inspecting bar steel. - 特許庁

工程Ｓ５で、欠陥などの有無を検査する欠陥検査を行なう。例文帳に追加

In the stage S5, defect inspection is performed for inspecting whether defects or the like are present or not. - 特許庁

更に、前記検査方法を用いたマスク検査装置を提供する。例文帳に追加

An apparatus for mask inspection using the above inspection method is also presented. - 特許庁

検査装置のメモリを大型化させず、且つ検査時間を短縮すること。例文帳に追加

To shorten an inspection time without expanding a memory in an inspection apparatus. - 特許庁

検査と対策とを連携し，ガス管の検査コストを軽減する。例文帳に追加

To reduce the inspection costs for a gas pipe by carrying out inspection and measures in cooperation. - 特許庁

大型基板を高速で検査できる基板検査装置を実現する。例文帳に追加

To provide a substrate inspecting apparatus capable of inspecting a large substrate at a high speed. - 特許庁

高精度に検査を行うことができるＸ線検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray inspection device capable of performing inspection readily and with high accuracy. - 特許庁

検査の効率化を図ることが可能な検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus capable of improving inspection efficiency. - 特許庁

検査精度を保ちつつスループットを向上させることができる検査装置、検査方法および検査プログラムを提供すること。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus, an inspection method, and an inspection program capable of improving a throughput while retaining inspection accuracy. - 特許庁

その後、検査端末４０は、シリアル番号に対応する形式で検査結果（検査良好又は検査不良）をデータベース３０に登録する。例文帳に追加

Then the inspection terminal 40 registers an inspection result (good or not good) in a form corresponding to the serial number in the database 30. - 特許庁

各回路基板検査装置の検査処理に合致する装置固有検査用基準データの作成が容易な回路基板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a circuit board inspection device capable of originating easily device characteristic inspection reference date conforming to inspection processing of each circuit boras inspection device. - 特許庁

本発明は、量産品の検査が容易に行えるとともに、検査精度も高くすることができる画像検査方法および画像検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image inspecting method and an image inspecting apparatus which can easily inspect mass-produced articles and increase the inspection precision. - 特許庁

検査対象が変更になった場合などに、検査対象捺印文字の登録作業無しで検査することの可能な捺印文字検査方法を提供する。例文帳に追加

To inspect a sealed character of an inspecting object without a registration work when the inspecting object is changed, etc. - 特許庁

①検査対象先の帳簿書類その他の物件を検査する。例文帳に追加

(i) by examining books and records and other materials related to the Firm’s Audit and Attestation Services,  - 金融庁

① 検査対象先の帳簿書類その他の物件を検査する。例文帳に追加

(i) by examining books, records and other materials related to the Firm’s Audit and Attestation Services,  - 金融庁

劇症１型糖尿病(FT1DM)の検査方法及び検査試薬を提供する。例文帳に追加

To provide an examining method and an examining reagent for fulminant type 1 diabetes mellitus (FT1DM). - 特許庁

検査装置によって行う点字検査に適した点字ラベルを提供する。例文帳に追加

To provide a braille label suitable for braille inspection conducted with an inspection device. - 特許庁

検査システム５０は、二重化モジュールの各モジュール１_1〜１_4を検査する。例文帳に追加

An inspection system 50 inspects respective modules 1_1 to 1_4 of duplicated modules. - 特許庁

すなわち，被検査ワーク５のタイミングにより検査プログラムを実行する。例文帳に追加

Namely, the inspection program is performed by the timing of the workpiece 5. - 特許庁

電子線式半導体ウエハ検査装置の検査条件を適正化する。例文帳に追加

To make proper inspection conditions of an electron-beam semiconductor wafer inspection apparatus. - 特許庁

検査プロセッサは、複数の基準に従って現在の画素を検査する。例文帳に追加

An inspection processor inspects the present pixel according to a plurality of standards. - 特許庁

液晶パネルＰを点灯検査する点灯検査装置１１である。例文帳に追加

This lighting inspection device 11 is for performing lighting inspection on the liquid crystal panel P. - 特許庁

自動化ウェハ欠陥検査システムおよびこのような検査を実行する方法例文帳に追加

AUTOMATED WAFER DEFECT INSPECTION SYSTEM AND PROCESS OF PERFORMING SUCH INSPECTION - 特許庁

ファンを有するコンピュータシステムの検査方法及び検査装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTION OF COMPUTER SYSTEM HAVING FAN - 特許庁