| 例文 (999件) |
を検査するの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 36107件
検査対象の良否を高速に検査できる検査装置および検査方法を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection device and an inspection method capable of inspecting at high speed the quality of an inspection object. - 特許庁
検査装置を用いた検査方法、検査装置が有する制御プログラム、検査装置例文帳に追加
INSPECTION METHOD USING INSPECTION DEVICE, CONTROL PROGRAM POSSESSED BY INSPECTION DEVICE, AND INSPECTION DEVICE - 特許庁
被測定部材を検査するヘッド機構、検査装置、検査システム及び検査結果フィードバックシステム例文帳に追加
HEAD MECHANISM FOR INSPECTING MEASURING OBJECT MEMBER, INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM AND INSPECTION RESULT FEEDBACK SYSTEM - 特許庁
被検査物の被検査面に向けて出射させる検査光を拡開させることにより、被検査物の被検査面の表面状態の検査に要する検査時間を短縮させることができる被検査物検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection device of an inspection target capable of shortening the inspection time required in the inspection of the surface state of the surface to be inspected of the inspection target by expanding the inspection light emitted to the surface to be inspected of the inspection target. - 特許庁
チップ比較検査の検査時間（スループット）を早くする。例文帳に追加
To decrease the inspection time (throughput) of a chip comparison inspection. - 特許庁
主制御部はその個体認証値を検査する第１検査値を生成すると共に、前記同期検査値を検査する第２検査値を生成する。例文帳に追加
The main control unit generates a first check value for checking the authentication value, and generates a second check value for checking the synchronous check value. - 特許庁
主制御部は、その個体認証値を検査する第１検査値を生成すると共に、前記同期検査値を検査する第２検査値を生成する。例文帳に追加
The main control unit generates a first check value for checking the authentication value, and generates a second check value for checking the synchronous check value. - 特許庁
主制御部は個体認証値を検査する第１検査値を生成し、前記同期検査値を検査する第２検査値を生成する。例文帳に追加
The main control unit generates a first check value for checking the authentication value, and generates a second check value for checking the synchronous check value. - 特許庁
検査後データと検査データとを比較する。例文帳に追加
The data after inspection and the inspection data are compared. - 特許庁
車両検査装置は、車両を検査する。例文帳に追加
The vehicle inspection device inspects a vehicle. - 特許庁
検査装置４，５は、包装商品Ｂを検査する。例文帳に追加
The inspecting apparatuses 4 and 5 inspect the packaged commodity B. - 特許庁
絶縁検査の検査精度を向上する。例文帳に追加
To improve accuracy of insulation inspection. - 特許庁
低い検査頻度で高精度のパターン検査を実現する。例文帳に追加
To perform a highly accurate pattern inspection at a low inspection frequency. - 特許庁
この検査領域で識別線の検査をする。例文帳に追加
The identification line is inspected in this inspection area. - 特許庁
欠陥を検査する方法及び欠陥検査装置例文帳に追加
FLAW INSPECTING METHOD AND FLAW INSPECTION DEVICE - 特許庁
欠陥を検出する検査方法及び検査装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT - 特許庁
二次電池用活物質の材料を検査する検査システム例文帳に追加
INSPECTION SYSTEM FOR INSPECTING ACTIVE MATERIAL FOR SECONDARY BATTERY - 特許庁
検査精度の高いコネクタ導通検査具を提供する。例文帳に追加
To provide a connector continuity inspection tool with high inspection accuracy. - 特許庁
医療検査支援装置は、検査情報を管理する。例文帳に追加
A medical examination support device manages inspection information. - 特許庁
金属ベルト端部の表面の傷を検査する検査方法例文帳に追加
INSPECTION METHOD FOR INSPECTING FLAW OF SURFACE OF METAL BELT END - 特許庁
ダイアライザーの外観を高い検査精度で検査する。例文帳に追加
To inspect the appearance of a dialyzer with high inspection accuracy. - 特許庁
医療検査支援装置は、検査情報を管理する。例文帳に追加
A medical examination support device manages examination information. - 特許庁
検査機能を有する遊技機、および遊技機の検査装置例文帳に追加
GAME MACHINE WITH CHECKING FUNCTION AND CHECKING DEVICE OF GAME MACHINE - 特許庁
多列の物品の検査における誤検査を防止する。例文帳に追加
To prevent incorrect inspection in inspection of multiple rows of articles. - 特許庁
ピンの２段の位置検査部として、Ｘ方向を検査する第一位置検査部と、Ｙ方向を検査する第二位置検査部とを形成する。例文帳に追加
As the two-stage position inspection part for the pin, the first position inspection part for inspecting the X-direction and the second position inspection part for inspecting the Y-direction are formed. - 特許庁
検査装置１は、患者に対して検査を行って複数の検査データを取得するとともに、各検査データの検査時刻を取得する。例文帳に追加
The inspection device 1 acquires a plurality of inspection data through inspections on a patient, and acquires an inspection time of each inspection data. - 特許庁
被検査物を搬送する搬送装置と、前記被検査物を検査する検査装置とを備えた検査システムである。例文帳に追加
An inspection system is equipped with a feed device for feeding an object to be inspected and an inspection device for inspecting the object to be inspected. - 特許庁
検査対象物を複数の検査視野にて検査する検査装置において、主として、検査に要する時間の短縮を図る。例文帳に追加
To shorten time mainly required for testing with a testing device for testing an object from a plurality of visual test fields. - 特許庁
被検査物の検査結果と試験用被検査物の検査結果とを区別することができる物品検査装置を提供すること。例文帳に追加
To provide an apparatus for inspecting articles, in which inspected results of an object to be inspected can be distinguished from those of a test object to be inspected. - 特許庁
検査対象物の欠陥の有無を検査すると共に複数の検査対象物を連続して検査する欠陥検査装置である。例文帳に追加
This defect inspection device is employed for inspecting the existence of a defect of an inspection object and inspecting a plurality of inspection objects continuously. - 特許庁
主任検査官は、立入検査着手時に検査対象先の責任者に対し、検査命令書及び検査証票を提示するものとする。例文帳に追加
The Chief Inspector will show to the Responsible Person the Inspection Order and his/her identification as an Inspector. - 金融庁
サーバは、検査用携帯端末から検査ジョブについて結果を受信すると、検査対象、検査内容、検査部位、検査基準、その他付属情報からなる検査ジョブの情報を検査結果データベースに格納する。例文帳に追加
A server stores, on receipt of a result for an inspection job from an inspection portable terminal, information for the inspection job including an inspection object, an inspection content, an inspection part, an inspection reference and other attachment information in an inspection result database. - 特許庁
複数の検査パターンを積算して行う欠陥検査を、一つの検査パターンによって行い、ＴＦＴアレイ検査の検査時間を短縮する。例文帳に追加
To shorten the inspection time of a TFT array by performing the inspection of a flaw, which is performed by integrating a plurality of inspection patterns in one inspection pattern. - 特許庁
検査実行部１４は検査指示信号を受け付けたときに、検査が行われている場合に検査経過信号Ｓ２を検査管理部１４ｂに出力し、検査管理部１４ｂからの検査指示に従って検査を開始する。例文帳に追加
The examination performing part 14 outputs the examination progress signal S2 to the examination management part 14b in the case that the examination is being performed when receiving an examination instruction signal and starts the examination according to an examination instruction from the examination management part 14b. - 特許庁
印刷物検査装置１は、初版基準画像２９と検査領域３３−ｎの検査画像３５−ｎとを比較検査し、検査結果を表示する。例文帳に追加
The device 1 conducts comparative inspection of the reference image 29 of the first edition and an image 35-n to be inspected in an inspection area 33-n and displays the result of the inspection. - 特許庁
検査員による目視検査でありながら、検査記録の省力化手段により検査効率を上げる目視検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide a visual inspection device, which can improve the efficiency of inspections by means of a labor saving means for inspection records though the inspections are conducted by an inspector. - 特許庁
また、主任検査官は、検査官の検査手法等に関し、検査対象先と意見交換を行い、効率性の高い検査の実施に努めるものとする。例文帳に追加
In order to achieve highly efficient inspection, the Chief Inspector shall also communicate with the Firm regarding the manner of inspection. - 金融庁
渦流検査方法、該渦流検査方法で検査した鋼管、及び該渦流検査方法を実施するための渦流検査装置例文帳に追加
EDDY CURRENT INSPECTION METHOD, STEEL PIPE INSPECTED THEREBY AND EDDY CURRENT INSPECTION DEVICE FOR EXECUTING THE EDDY CURRENT INSPECTION METHOD - 特許庁
傷検査装置、傷検査システム、及び傷検査方法において、検査対象の表面を短時間で検査すること。例文帳に追加
To provide a flaw inspection device, a flaw inspection system and a flaw inspection method for inspecting a surface of an inspection object in short time. - 特許庁
スケール検査の精度と同等の精度で迅速に検査可能な、被検査物の検査方法及び検査治具を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection method and an inspection holder of an object to be inspected that can perform inspection rapidly with precision equivalent to that of a scale inspection. - 特許庁
検査指示装置は、検査装置７が行う部品検査の検査レベルを記憶する検査レベル記憶部９と、部品の検査結果に基づいて検査レベルを最適化し、最適化された検査レベルを検査レベル記憶部９に送信する検査結果評価部８とを備える。例文帳に追加
The apparatus comprises an inspecting level memory 9 for storing the inspecting level of the component inspection to be conducted by the device 7, and an inspected result evaluating unit 8 for optimizing the level, based on the inspected result of the component and transmitting the optimized level to the memory 9. - 特許庁
透過光による検査を自動検査するパターン検査装置を実現すると共に、１つの装置で反射光による検査と透過光による検査を自動検査するパターン検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide a pattern inspecting apparatus for automatically performing an inspection due to transmitted light and automatically performing an inspection due to reflected light and that due to the transmitted light by one piece of apparatus. - 特許庁
最上層を検査する装置条件（検査条件）を容易に設定可能な表面検査装置を提供する。例文帳に追加
To set easily a device condition (inspection condition) for inspecting the uppermost layer. - 特許庁
異音検査に使用した被検査音を分析して、異音検査の検査結果を検証することが可能な、異音検査方法及び異音検査装置を提供するとともに、外乱ノイズを除去することにより良好なＳＮ比の被検査音を使用する異音検査方法及び異音検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an unusual sound inspection method and an unusual sound inspection apparatus which can verify the inspection results of unusual inspection by analyzing a sound to be inspected used in the unusual inspection and uses a sound to be inspected with a favorable signal-to-noise ratio by removing external disturbing noise. - 特許庁
異音検査に使用した被検査音を分析して、異音検査の検査結果を検証することが可能な、異音検査方法及び異音検査装置を提供するとともに、外乱ノイズを除去することにより良好なＳＮ比の被検査音を使用する異音検査方法及び異音検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an abnormal sound inspection method and an abnormal sound inspection apparatus which allow to verify the inspection result of abnormal sound inspection by analyzing a sound to be inspected used in the abnormal sound inspection and use a sound to be inspected with a favorable SN ratio by removing disturbance noise. - 特許庁
本検査装置１は、絵柄を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。例文帳に追加
The inspection device 1 can inspect with high accuracy defects in the inspection object having patterns. - 特許庁
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