「を検査する」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

固体撮像素子の検査において、検査時間を短縮しつつ検査個数を増大させ、検査効率を高めることができる検査方法および検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method increasing the number of solid-state imaging element to be tested while reducing an inspection time, and improving inspection efficiency, in inspection of a solid-state imaging element, and also to provide an inspection device. - 特許庁

また、表面検査用超音波送信部１９を追加して備え、体積検査および表面検査という性格の異なる検査、すなわち、ハイブリッドな検査を行なえる超音波検査装置１を提供する。例文帳に追加

In addition, the ultrasonic inspection device 1 additionally comprises an ultrasonic transmission section 19 for surface inspection, which performs hybrid inspection, such as volume and surface inspections that have different characteristics. - 特許庁

被検査物に設けた複数の検査面に対して、それぞれ接触子を押し当てて前記被検査物の検査を行うようにした検査装置において、被検査物の大きさや形状の変更に対応できるものを提供する。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus which can respond to a change of a magnitude and a form of an inspected object, in the inspection apparatus which is made to inspect two or more inspection faces established in the inspected object with contact elements respectively. - 特許庁

検査対象物の形状によらずに検査領域を設定でき、検査対象物の外観検査を極めて高精度に行うことが可能な外観検査方法及び外観検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a visual inspection method and a visual inspection device capable of setting an inspection domain regardless of the shape of an inspection object, and performing visual inspection of the inspection object with extremely high accuracy. - 特許庁

容易に検査対象物の検査対象領域を抽出可能であり、形状寸法の検査と外観検査の両方を短時間で高精度に行うことができる外観検査方法とそれに用いる外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a visual inspection method and a visual inspection apparatus therefor that enable quick and accurate geometric and visual inspections by easily extracting areas to be inspected of inspection objects. - 特許庁

検査技師がワークシート８に従い実施した検査の結果が検査結果受付処理部３により検査結果データベース１５に登録すると、検査漏れ検出処理部１２は、当日検査分データベース１４と検査結果データベース１５とを比較して、検査漏れのチェックを行う。例文帳に追加

When the results of inspections executed by an inspection engineer in accordance with the work sheet 8 are registered in an inspection result database 15 by an inspection result receiving processing part 3, an inspection omission detecting processing part 12 compares the database 14 with the database 15 to check the possible omission of an inspection. - 特許庁

そして、外観検査手段１は、当該試料について行われた前検査の結果に基づき外観検査の検査条件を変更する一方で、前検査手段３は、当該試料２３の前検査を、外観検査手段２が当該試料２３以外の他の試料２３の外観検査と平行して行う。例文帳に追加

In this visual inspection apparatus 1, the inspection condition of visual inspection is altered on the basis of the result of the pre-inspection performed with respect to the sample 23 while the inspection apparatus 3 is constituted so as to perform the pre-inspection of the sample 23 in parallel to the visual inspection of another sample 23 other than the inspected sample 23 by the visual inspection means 2. - 特許庁

密着前に第１状態の検査用基板１００での欠陥検査をし、密着後の第２状態の検査用基板１００での欠陥検査結果と第１状態の検査用基板１００での欠陥検査結果とを比較する。例文帳に追加

Defects on the plate 100 for the 1st state are inspected before contacting the carrier and the plate, and compared with the defects on the plate 100 for the 2nd state after contacting. - 特許庁

検査結果の状況に応じて検査頻度を自動的に変更することにより、検査結果と検査頻度との対応がとられた検査システム及び検査方法を得る。例文帳に追加

To provide an inspection system and an inspection method, where an inspection result and an inspection frequency are well balanced with each other by automatically changing the inspection frequency, corresponding to the state of the inspection result. - 特許庁

平面の放射状の傷・皺検査や折り目検査さや凹凸検査、あるいは、高さを有するワークの側面の縦傷検査や縦方向の凹凸検査に際して、撮像される検査画像に陰影をはっきりつける。例文帳に追加

To provide an inspection image which is picked up with a definite shade for radial flaw/wrinkle inspection, fold-line inspection, and rough inspection on a plane, as well as vertical flaw inspection on a side surface and vertical rough inspection of a tall work. - 特許庁

たとえばリモートコントローラ受光装置の製品検査工程において、検査前工程、特にチップ検査工程での複雑な検査を実施することなく、製品検査工程での生産性を向上させ得る検査方法の提供。例文帳に追加

To provide an inspecting method capable of improving productivity in a product inspection process, without performing a complicated inspection in an inspection pre-stage, a chip inspection process in particular, for instance, in the product inspection process of a remote controller light receiver. - 特許庁

検査対象物に応じて検査対象領域の大きさが異なる場合でも検査対象物の検査を正確に行える画像処理検査装置及び画像処理検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device and a method for image processing and inspection which can accurately inspect an object to be inspected even if the size of an inspection object area is different corresponding to the object to be inspected. - 特許庁

検査治具３２は、検査基板２１の配線パターンの検査点に接触させて、配線パターンを検査するための複数の検査用プローブ３５を備える、また、基板検査装置１に取り付けられて用いられる。例文帳に追加

This inspecting tool 32 includes a plurality of inspection probes 35 for inspecting a wiring pattern while they are brought into contact with inspection points of the wiring pattern of an inspection substrate 21, and is attached to the substrate inspecting apparatus 1 and used. - 特許庁

検査に際して、検査回路に検査条件が入力され、検査回路は検査条件に従って、電磁ソレノイド１６、ＬＥＤランプを順次に作動することにより検査が行われる。例文帳に追加

In inspection, inspection conditions are inputted into an inspection circuit, and the inspection circuit is inspected by sequentially actuating the electromagnetic solenoids 16 and the LED lamps according to the inspection conditions. - 特許庁

ワイヤハーネス検査装置はマトリックス検査ステップとショート検査ステップとオープン検査ステップと全点検査ステップとをワイヤハーネスに施して検査する。例文帳に追加

A wire harness inspection device inspects the wire harness by a matrix inspection step, a short inspection step, an open inspection step and a whole points inspection step. - 特許庁

生産制御システム２は、検査装置３に検査対象のロットが到着すると検査装置３に検査を指示し、検査装置３による検査が行われる。例文帳に追加

The production control system 2 instructs inspection to the inspection device 3 when the inspection object lot arrives at the inspection device 3, and the inspection device 3 performs inspection. - 特許庁

検査内容が全て終了する前にレギュラーな行為により被検査品が検査装置から取り外されることによる被検査品の部分的検査の未実施という検査漏れを防ぐ。例文帳に追加

To prevent a situation in which an article to be inspected is not inspected when the article is removed from an inspection device due to any irregular act before all the inspection content is completed. - 特許庁

また、記憶部８は、第１の検査対象領域内の第１の検査点に対応した第２の検査対象領域内の第２の検査点における参照画像と第１の検査点とが関連付けられた検査情報（レシピ）を記憶する。例文帳に追加

The storage section 8 stores inspection information (recipe), where a first inspection point in a first inspected region is related to the reference image at a second inspection point, in a second inspected region corresponding to the first inspection point. - 特許庁

一人の作業員が単位時間に品質検査し得る被検査物の個数を増大することを可能にし、また、表面の光反射率が高い被検査物を検査する場合であっても、被検査物の品質を正確に検査することができる撮像装置、及び品質検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an imaging device and a quality inspection device, capable of increasing the number of objects to be inspected one worker can execute quality inspection in a unit time and capable of inspecting accurately the quality of the objects to be inspected even when inspecting the objects to be inspected with the surface having a high light reflectivity. - 特許庁

検査が行われる検査対象を２つ以上有する被検査装置と、センサによる検査対象の検知結果の異常を判定する検査装置とを備える検査システムであって、検査対象と、検知結果を異常と判定する閾値であるパラメータとを関連づけて変更する。例文帳に追加

In this inspection system equipped with a device to be inspected having two or more inspection objects to be inspected, and an inspection device for determining an abnormality of a detection result of the inspection objects by a sensor, the inspection objects and a parameter which is a threshold for determining a detection result to be abnormal are changed to be correlated. - 特許庁

この検査装置は、被検査体画像において検査対象要素を相互に接続するパターンから特徴点を生成し、特徴点の基準位置からの変位に基づいて被検査体画像の位置ずれを補正する位置補正部と、位置が補正された被検査体画像を検査する検査部と、を備える。例文帳に追加

The inspection device includes a position correction part for generating a characteristic point from a pattern mutually connecting the elements to be inspected on the image of the material for correcting a shift in position of the image of the material based on displacement from a reference position of the characteristic point, and an inspection part for inspecting the image of the material whose position has been corrected. - 特許庁

組み込み機器１０Ａは、その検査要求を受信すると、その検査要求に係るセキュリティポリシー準拠の合否を検査するための検査情報を取得し、その検査情報に基づいて自らの検査を行い（Ｓ１０９）、検査結果を検疫サーバ４０に送信する（Ｓ１１０，Ｓ１１１）。例文帳に追加

Upon receiving the inspection request, the embedded apparatus 10A acquires inspection information for inspecting the conformity of the security policy related to the inspection request, inspects itself based on the inspection information (S109), and transmits the inspection result to the quarantine server 40 (S110, S111). - 特許庁

被検査体である燃料棒１００を撮影する検査ヘッド４と、燃料棒１００または検査ヘッド４を移動させる移動手段と、検査ヘッド４で撮影した燃料棒１００の外観画像から外観寸法検査または欠陥検査をする燃料棒検査制御装置６とを有する。例文帳に追加

This device has an inspection head 4 for photographing each fuel rod 100 which is an inspection object, a moving means for moving the fuel rod 100 and the inspection head 4, and a fuel rod inspection control device 6 for performing visual dimension inspection or defect inspection from an appearance image of the fuel rod 100 photographed by the inspection head 4. - 特許庁

検査治具の検査電極を被検査体に押圧して繰り返し導通検査を行っても、検査電極及び配線層の一部が絶縁基板より離脱することなく、信頼性の高い導通検査ができる検査治具及びその製造方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an inspection jig and its manufacturing method capable of performing a highly reliable continuity inspection without any separation of a part of a test electrode or a wring layer from an insulated board even when the continuity inspection is carried out repeatedly by pressing the test electrode in the inspection jig onto an inspected object. - 特許庁

検査対象物がx軸方向及びｙ軸方向にマトリクス状に配置される配線を有するタッチパネルのような検査物であっても、非接触検査方式にて検査を実施することで、検査時間を短縮して効率良く検査を実施することが可能となるタッチパネル検査装置の提供。例文帳に追加

To provide a touch panel inspection apparatus, capable of shortening an inspection time and conducting an effective inspection for even an inspection object, such as, touch panel which has wiring arranged in the form of a matrix in an x-axis direction and a y-axis direction, by conducting inspection in a noncontact inspection fashion. - 特許庁

電子メール装置が、電子メールに秘密情報が含まれるか否かを検査する場合に、検査対象部分と検査対象外部分とを判別する検査対象判別部と、検査対象部分に秘密情報が含まれるか否かを検査する秘密情報検査部とを備える。例文帳に追加

An e-mail apparatus is provided with an inspection object discrimination part for discriminating the inspection object part and the inspection exempt part when inspecting whether or not secret information is included in the e-mail, and a secret information inspection part for inspecting whether or not the secret information is included in the inspection object part. - 特許庁

検査ラインを流れてくる似たような形状を持つ様々な製品に対応する被検査製品の外形図や検査項目を検査順序に従って表示することが可能な製品検査システムを提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a product inspection system that can display external views of various products to be inspected, which are conveyed on an inspection line and which have shapes like to one another, and inspection items therefore, successively in the order of inspection. - 特許庁

地方公共団体による検査実施を要請する一方、地方公共団体の検査機関において水道水の検査が困難な場合、当該地方公共団体に対し、厚生労働省が民間検査機関や国の研究所等検査実施可能な検査機関を紹介することで、当面の検査体制を確保する。例文帳に追加

If the inspection of tap water by the laboratories of local governments is difficult in spite of the request, the MHLW introduces these local governments to private laboratories or national research institutions capable of inspection, so thereby tentatively secures the inspection systems. - 厚生労働省

本発明は、電子回路部を有する製造工程を移動する被検査対象ワークを、検査装置の検査制御部が主導権をとって検査するワーク検査システムに関する。例文帳に追加

The workpiece inspection system inspects an inspected workpiece, moving in a manufacturing process having an electronic circuit mainly with an inspection control section of an inspection device. - 特許庁

複雑な検査装置を使用せずに、煙感知器の受光増幅回路の検査を、基板単体で検査することができ、しかも実動作と同様の動きによって検査することができる検査装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide test equipment enabling a test of a light-receiving amplifier circuit of a smoke sensor by using a substrate single body alone without using complicated test equipment through the similar movement to actual movement. - 特許庁

検査システムの電気的な接続状態を変更することなく、検査対象を検査する検査装置を高精度に診断する検査システムを提供する。例文帳に追加

To provide an inspection system for highly precisely examining an inspection device for inspecting a test object without changing electric connection in the inspection system. - 特許庁

検査対象パターン画像と、設計データ等の検査対象パターンを製造するために使用するデータを用いて検査対象パターンを検査するパターン検査装置および方法を提供する。例文帳に追加

To provide a pattern inspection apparatus and method for inspecting a pattern to-be-inspected by using an image of the pattern to-be-inspected and data for fabricating the pattern to-be-inspected such as design data. - 特許庁

被検査サンプルを検査装置によって自動的に検査する方法において、複数の被検査サンプルを連続して測定している検査途中に、自動的に標準サンプルの測定を行い、その結果をもとに前記検査装置を自動管理しながら被検査サンプルを連続測定するようにした。例文帳に追加

In the method for inspecting a sample automatically by an inspection equipment, measurement of a standard sample is conducted in the way of inspection where a plurality of samples are measured continuously and the samples are measured continuously while managing the inspection equipment automatically based on the measurements. - 特許庁

検査に要する時間を短くするとともに、検査による判断の信頼性を高くすることができる電気機器の検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device for electrical apparatus capable of shortening the inspection time required and improving the reliability in the determination by inspection. - 特許庁

検査時間を短縮するとともに、検査の精度が低下するのを抑制することが可能な探傷検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a flaw inspection method that shortens the inspection time and can suppress reduction in the inspection accuracy. - 特許庁

先端部が検査点に接触し、後端部が電極部に接触する検査用プローブと、複数の電極部を有する接続体と、検査用プローブを保持する保持体とを有する検査用治具及びこれに用いる検査用プローブ。例文帳に追加

The inspection jig includes an inspection probe of which the tip makes contact with an inspection point and of which the rear end makes contact with the electrode; a connecting member having a plurality of electrodes; and a holding member for holding the inspection probe. - 特許庁

検査者が液晶パネルを目視して検査する検査装置であって、液晶パネルの微小欠陥を容易に検出することができ、小形化することができる液晶パネルの検査装置、および検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device for inspecting a liquid crystal panel which enables an inspector to visually inspect the liquid crystal panel, offers easy detection of the microdefect of the liquid crystal panel, and can be made small-sized, and also to provide an inspecting method. - 特許庁

検査対象が凹凸を有する担体であっても高精度に検査することができる選択結合性物質固定化担体の検査装置、検査方法、検査プログラムを提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an inspection device, an inspection method, and an inspection program of a selective bonding substance immobilizing carrier capable of accurately inspecting a target even when it is an uneven carrier. - 特許庁

同一の駆動信号を分岐して被検査装置に供給し、被検査装置の動作により被検査装置の検査を行うための信号分岐装置及び装置検査方法に関し、検査を容易かつ確実に行える信号分岐装置及び装置検査方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a signal branching device and a device inspection method wherein inspection can be made easily and surely, regarding the signal branching device and the device inspection device to supply the same driving signal to the inspected device by branching and making the inspection of the inspected device by the action of the inspected device. - 特許庁

半田印刷後の基板を撮像して印刷状態を検査する印刷検査に用いられる検査用データ作成において、基板上で検査対象となる検査対象位置データをグループ化し、各グループ別に検査しきい値と検査頻度を付与した実行用データを作成する。例文帳に追加

When generating inspection data used for print inspection for inspecting the printed state by imaging a substrate after solder printing, inspection object position data which are inspection objects on the substrate are grouped, and execution data to which an inspection threshold and an inspection frequency are added are generated in each group. - 特許庁

ＩＣとフレキシブル基板の接続状態を検査する検査回路を複数配置し、該検査回路間をＩＣまたはフレキシブル基板上の配線で接続し、フレキシブル基板上に設けた検査ランド２ヶ所に検査機を接続して、複数の検査回路の状態を一括して検査する。例文帳に追加

A plurality of inspection circuits which inspect a connection state of an IC and the flexible printed wiring board are arranged, these inspection circuits are connected with a wiring on the IC or the flexible printed wiring board, an inspecting device is connected to two inspection lands formed on the flexible printed wiring board, and a state of each of the plurality of inspection circuits is simultaneously inspected. - 特許庁

嚥下障害を簡便に検査してその結果を表示する生体検査装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a biological examination apparatus which simply examines dysphagia and displays the result. - 特許庁

x軸方向及びｙ軸方向にマトリクス状に配置される配線を有するタッチパネルを、非接触検査方式にて検査を実施することで、検査時間を短縮して効率良く検査を実施することが可能となる検査装置の提供。例文帳に追加

To provide an inspection device that allows efficient inspection to be performed in shorter inspection time by inspecting without contact a touch panel having wirings arranged in matrix in an x-axis direction and a y-axis direction. - 特許庁

曲率を有する検査表面を精度よく位置決めでき、かつ、検査表面の曲率に起因する外乱を除去して、その表面性状を精度よく検査できる表面性状の検査方法と検査装置を提供することである。例文帳に追加

To provide a method and a device for surface property inspection which can precisely position an inspected surface with curvature and precisely inspect its surface properties by removing disturbance due to the curvature of the inspected surface. - 特許庁

周期性のあるパターンを持つ被検査体のムラ欠陥を検出する場合に、映り込みの判別を短時間に行うことが出来、さらに大面積の被検査体の検査時間を短縮する検査装置及び検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device that determines reflection in a short time in detecting unevenness defects of an inspected object having a periodic pattern, and reduces the time for inspecting a large-area inspected body, and to provide an inspection method. - 特許庁