「多元素試料」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

各プラズマＰＢａ，ＰＢｂは、試料Ｓ上で化学的気相成長を行って、多元素薄膜を成膜する。例文帳に追加

Each of the plasma PBa and PBb conducts chemical vapor deposition on a sample S and forms a multi-element thin film. - 特許庁

本発明は、液体試料の元素成分の分析方法として通常行われるＩＣＰ分析方法に比べ、多くの元素を対象に簡便な操作で液体試料中の元素成分を同時分析することが可能であり、検出された元素成分の価数等の化学状態についても解析することが可能な分析方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an analysis method capable of analyzing simultaneously element components in a liquid sample aiming at many elements by simple operation in comparison with an ICP (Inductively Coupled Plasma) analysis method which is performed usually as an analysis method for element components in the liquid sample, and capable of analyzing even a chemical state such as a valence or the like of the detected element component. - 特許庁

金属試料３と電極４との間で、多数回のスパーク放電を不活性ガス雰囲気中で発生させ、スパーク放電ごとの発光を分光して金属試料中の元素を定量する。例文帳に追加

Many spark discharges are generated in an inert gas atmosphere between the metal sample 3 and the electrode 4, and emission light for every spark discharge is dispersed to quantify elements in the metal sample. - 特許庁

平面ＴＥＭ試料作製装置はグロー放電発光分光分析（ＧＤＳ）装置部１０２とイオンミリング装置部１０３とを備え、多層膜からなる試料５に含まれる特定元素に対応した制御プログラムを設定する。例文帳に追加

The device for preparing a plane TEM sample comprises a glow discharge emission spectral analysis (GDS) device part 102 and an ion milling device part 103, and sets a control program corresponding to a specific element contained in a sample 5 comprising a multilayer film. - 特許庁

不活性ガス雰囲気にて金属試料と対電極との間で多数回のスパーク放電を行なう発光分光分析にて、各元素ごとに金属試料と対電極とをそれぞれ最適の位置に移動させて定量する。例文帳に追加

The quantitative determination is carried out by moving the metal sample and the counter electrode respectively to the optimum position the element by the element, in emission spectrochemical analysis of executing spark discharge many times between the metal sample and the counter electrode under an inert gas atmosphere. - 特許庁

載置板２の試料載置側に多数の突起６が形成され、突起６の頂面を含む試料保持層７（保持領域６ａ）はイットリウム及びランタノイド元素から選ばれた元素のフッ化物、又はこれらフッ化物の２種以上の複合物を主成分とする。例文帳に追加

Many protrusions 6 are formed at the sample-mounting side of a mounting plate 2, and a sample-holding layer 7 (holding region 6a) having top surfaces of the protrusions 6 contains a fluoride of elements selected from the group consisting of yttrium and a lanthanoid or two or more types of complex substances of the fluorides as main components. - 特許庁

水素を多く含む試料中の窒素または窒素を含む複数の元素を測定対象とする元素分析において、他の共存成分の測定に影響を与えることなく、共存ガス成分中から選択的に炭化水素を除去・処理して測定する元素分析方法および元素分析装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an elemental analysis method and apparatus for measuring by selectively removing and treating a hydrocarbon from coexisting gas components without having influence on the measurement of other coexisting components, in an elemental analysis for measuring nitrogen or a plurality of elements including nitrogen in a sample containing a lot of hydrogen. - 特許庁

広範囲な試料中の極性化合物および金属元素を吸着可能で、多種多彩な使用目的に対応可能な汎用性の高い繊維状吸着材を提供する。例文帳に追加

To provide a fibrous adsorbing material, which can adsorb polar compounds and metallic elements in extensive samples and cope with a wide variety of use purposes and has high versatility. - 特許庁

安定同位体の存在比が近い元素を含む成分を含有する試料をオートMS^2分析する際に、質量が異なる同位体元素を含む同一成分が連続的にプリカーサイオンとして選択されることを防止し、近い保持時間に溶出する多様な成分のMS^2分析を可能とする。例文帳に追加

To enable an MS^2 analysis of a variety of constituents which are eluted in holding times that are close to one another while the same constituent containing isotopes having different masses is prevented from successively being selected as a precursor ion when an automatic MS^2 analysis is performed on a sample which contains a constituent containing an element having stable isotopes with abundance ratios close to one another. - 特許庁

多層ナノ薄膜のＳＥＭ ＥＤＳ、ＥＥＬＳマッピング結果を補正するのに利用可能で、マッピング条件を最適化させることができる、透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法を提供する。例文帳に追加

To provide a reference sample for element mapping of a transmission electron microscope, capable of being used for compensating results of SEM, EDS and EELS mappings of a multilayer nano thin film and capable of optimizing mapping conditions, and to provide an element mapping method for the transmission electron microscope using the reference sample. - 特許庁

固体、液体、気体などの試料形態を問わず、また、複雑な前処理工程を必要とせず、多種類の元素をオンラインで、かつリアルタイムにて検出し、定量すること。例文帳に追加

To obtain an element analyzer capable of detecting many kinds of elements on-line for a real time regardless of a solid, liquid or gaseous sample form without requiring a complicated pretreatment process to determine them. - 特許庁

本発明が解決しようとする課題は、デバイスの分析したいところを局所的に切出して針状突起にする試料予備加工の技術を提示すると共に、後述する事情の中で小さな蒸発電界の元素層を含む多層構造の試料であっても順次の安定したイオン蒸発を可能とし、原子レベルのＳＡＰ分析を可能とする技術を提供することにある。例文帳に追加

To provide a sample pre-processing technique for locally cutting out the place desired to be analyzed of a device to form a needle-like projection, and a technique capable of subjecting even a sample having a multilayered structure, which contains an element layer of a small evaporation electric field in the circumstances described hereinbelow, to sequential stable ion evaporation to enable SAP analysis of an atomic level. - 特許庁

本発明の一側面としての分析方法は、蛍石試料の溶液化、多量共存物（Ｃａ、Ｆ及び溶解に用いた溶媒など）の除去、及び残る含有不純物元素の濃縮過程を持つ試料前処理法と、分析装置としてＩＣＰ−ＭＳ（誘導結合プラズマ質量分析装置）を用いることを特徴とする。例文帳に追加

The analyzing method is characterized by that a sample pretreatment method is used having processes of dissolution of a fluorite sample, removal of a great deal of coexisting substances (such as Ca, F and solvent used for dissolution), and concentration of residual contained impurity elements, and that an ICP-MS(an inductively coupled plasma mass spectrometer) is used as an analyzer. - 特許庁

このように、一定以上の時間に亘り積算するという概念を用いずに、検出強度を取得した都度に存在比率を算出することによって、たとえ試料が突発的に多量にアブレートされ、且つ突発的アブレートによって生じた微粉体物又はガス化物中の各元素の存在比率がずれたとしても、所定の元素の存在比率を高精度に求めることができる。例文帳に追加

Thus, by calculating the existence ratio every time a detection strength is acquired without using the concept of integration for a certain period or more, the existence ratio of the predetermined element can be accurately determined even if many samples are suddenly ablated and the existence ratio of each element in a dust material or a gasified material generated by sudden ablation. - 特許庁

さらに，四重極電極４における四重極高周波電場の周波数を，試料１から飛散する２次イオン３のうち，分析対象である２次イオン以外の所定の多数イオン元素のサイクロトロン周波数の整数倍とする。例文帳に追加

A frequency of a qudrupole high-frequency magnetic field in the qudrupole electrode 4 is set at an integral multiple of a cyclotron frequency of a prescribed majority ion element other than the secondary ions, as an analytical object from among the secondary ions 3 scattered from the sample 1. - 特許庁

Ｃａ等のα線計測を妨害する夾雑元素を多く含む分析対象試料溶液であっても、α線スペクトロメトリー等の放射線計測を用いてＰｕを定量分析することが可能なＰｕ定量分析方法を提供すること。例文帳に追加

To provide Pu (plutonium) quantitative analysis method capable of quantitatively analyzing Pu by using radiation measurement such as α-ray spectrometry even in an analysis target sample solution containing much impurity elements such as Ca interrupting α-ray measurement. - 特許庁