「顕微鏡観察」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

透過電子顕微鏡用薄膜観察試料作成方法例文帳に追加

METHOD OF PREPARING THIN FILM SAMPLES FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION - 特許庁

暗視野観察や蛍光観察を行う際にも、顕微鏡周辺の環境を暗くする必要がない顕微鏡カバー、顕微鏡カバーを収容可能な顕微鏡、および顕微鏡カバー収容箱を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope cover eliminating any necessity of darkening environment around the microscope even if performing a dark-field observation or a fluorescence observation; and to provide a microscope capable of storing the microscope cover, and a microscope cover storage box. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置例文帳に追加

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

顕微鏡システム、観察画像補正プログラム、及び観察画像補正方法例文帳に追加

MICROSCOPE SYSTEM, OBSERVATION IMAGE CORRECTION PROGRAM, AND OBSERVATION IMAGE CORRECTION METHOD - 特許庁

光学的観察装置、走査型顕微鏡及び経内視鏡的観察装置例文帳に追加

OPTICAL OBSERVATION DEVICE, SCANNING TYPE MICROSCOPE AND ENDOSCOPIC OBSERVATION DEVICE - 特許庁

光学顕微鏡観察用試料の製造方法及び観察方法例文帳に追加

MANUFACTURING METHOD AND OBSERVATION METHOD OF SAMPLE FOR OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

顕微鏡観察および／または顕微鏡検出のための装置およびそれの使用例文帳に追加

APPARATUS FOR MICROSCOPE OBSERVATION AND/OR MICROSCOPE DETECTION AND ITS USE - 特許庁

電子顕微鏡用可動プローブ装置および電子顕微鏡の試料観察方法例文帳に追加

MOVABLE PROBE APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SPECIMEN OBSERVING METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型Ｘ線顕微鏡および走査型Ｘ線顕微鏡像の観察方法例文帳に追加

SCANNING X-RAY MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF SCANNING X-RAY MICROSCOPE IMAGE - 特許庁

走査形プローブ顕微鏡および走査形プローブ顕微鏡における光学像観察方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF OPTICAL IMAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料ホルダおよび観察方法ならびに電子顕微鏡用試料作製装置例文帳に追加

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING METHOD AND SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

落射蛍光及びリフレクションコントラスト観察可能な顕微鏡及びその顕微鏡の使用方法例文帳に追加

MICROSCOPE CAPABLE OF EPIFLUORESCENT AND REFLECTION CONTRAST OBSERVATION AND METHOD FOR USING SAME MICROSCOPE - 特許庁

共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法例文帳に追加

CONFOCAL MICROSCOPE APPARATUS AND OBSERVATION METHOD USING CONFOCAL MICROSCOPE APPARATUS - 特許庁

顕微鏡システム、顕微鏡画像表示システム、観察体画像表示方法、及びプログラム例文帳に追加

MICROSCOPE SYSTEM, MICROSCOPE IMAGE DISPLAY SYSTEM, OBJECT IMAGE DISPLAY METHOD, AND PROGRAM - 特許庁

原子間力顕微鏡における試料観察方法および原子間力顕微鏡例文帳に追加

METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

顕微鏡、顕微鏡用マイクロプラズマアレイ、表面観察方法、及び表面改質方法例文帳に追加

MICROSCOPE, MICRO-PLASMA ARRAY FOR MICROSCOPE, METHOD OF OBSERVING SURFACE, AND METHOD OF REFORMING SURFACE - 特許庁

観察対象野照明を有する手術顕微鏡及び顕微鏡照明制御方法例文帳に追加

SURGERY MICROSCOPE WITH OBSERVATION OBJECT FIELD ILLUMINATION, AND CONTROL METHOD FOR MICROSCOPIC ILLUMINATION - 特許庁

電子顕微鏡、観察試料、電子顕微鏡の試料台および半導体ウェハ例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING TEST-PIECE, TEST-PIECE BASE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

収束光位相差顕微鏡装置および収束光位相差顕微鏡観察方法例文帳に追加

CONVERGENT LIGHT PHASE DIFFERENCE MICROSCOPIC APPARATUS AND CONVERGENT LIGHT PHASE DIFFERENCE MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD - 特許庁

複数の観察者のための顕微鏡検査システムおよび顕微鏡検査方法例文帳に追加

MICROSCOPY INSPECTION SYSTEM AND MICROSCOPY INSPECTION METHOD FOR PLURALITY OF OBSERVERS - 特許庁

近接場光顕微鏡および近接場光顕微鏡による試料観察方法例文帳に追加

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD BY NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE - 特許庁

収束光明暗視野顕微鏡装置および収束光明暗視野顕微鏡観察方法例文帳に追加

CONVERGENT LIGHT BRIGHT- AND DARK-FIELD MICROSCOPIC APPARATUS AND CONVERGENT LIGHT BRIGHT- AND DARK-FIELD MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD - 特許庁

収束光偏光顕微鏡装置および収束光偏光顕微鏡観察方法例文帳に追加

CONVERGENT LIGHT POLARIZING MICROSCOPIC APPARATUS AND METHOD OF OBSERVATION WITH CONVERGENT LIGHT POLARIZING MICROSCOPIC - 特許庁

透過型電子顕微鏡で観察したい特定箇所の透過型電子顕微鏡観察用試料の観察像を鮮明にする。例文帳に追加

To clear an observation image of a sample for transmission type electron microscope observation at a specific position to be observed by the transmission type electron microscope. - 特許庁

ライン走査式光走査型顕微鏡における顕微鏡観察および／または顕微鏡検出のための装置およびそれの使用例文帳に追加

APPARATUS FOR MICROSCOPE OBSERVATION AND/OR MICROSCOPE DETECTION IN LINEAR SCANNING TYPE OPTICAL SCANNING MICROSCOPE AND ITS USE - 特許庁

顕微鏡システム（１００）は、被検体を観察する顕微鏡（３０〜８０）と顕微鏡に接続されるコンピュータ（２０）とを含む。例文帳に追加

A microscope system (100) includes a microscope (30 to 80) for observing an analyte and a computer (20) connected to the microscope. - 特許庁

走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法例文帳に追加

IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡、顕微鏡検査方法、および手術用顕微鏡の使用例文帳に追加

SURGICAL MICROSCOPE FOR OBSERVING INFRARED FLUORESCENCE, MICROSCOPIC EXAMINATION METHOD, AND USE OF SURGICAL MICROSCOPE CORRESPONDING METHOD - 特許庁

少なくとも部分的には透明である試料に対し顕微鏡対物レンズを通じて顕微鏡観察および／または顕微鏡検出するための装置例文帳に追加

To provide an apparatus for microscope observation and/or microscope detection through a microscope objective lens for a sample which is at least partially transparent. - 特許庁

本発明は、例えば、顕微鏡ヘッド部を顕微鏡スタンド部から分離して使用可能な顕微鏡観察システムに適用できる。例文帳に追加

In this case, for example, this invention is applicable to a microscope observation system that is used by separating the microscope head part from a microscope stand part. - 特許庁

コンパクト化を図ることが可能な光学顕微鏡装置及びその光学顕微鏡装置を利用した顕微鏡観察方法を提供する。例文帳に追加

To provide an optical microscopic device capable of realizing miniaturization, and a microscopic observation method utilizing the optical microscopic device. - 特許庁

電子顕微鏡用試料処理装置および電子顕微鏡用試料ホルダ、並びに、電子顕微鏡観察方法例文帳に追加

SAMPLE TREATMENT APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE HOLDER FOR THE SAME, AND METHOD OF MAKING OBSERVATIONS UNDER THE SAME - 特許庁

記録媒体を備えた顕微鏡標本の観察を効率よく行える顕微鏡システムおよび顕微鏡標本を提供する。例文帳に追加

To provide a microscopic system capable of efficiently observing a microscopic sample and equipped with a recording medium, and to provide the microscopic sample. - 特許庁

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope. - 特許庁

顕微鏡の電動駆動装置を操作するための操作部と顕微鏡画像とを、顕微鏡画像が観察しやすくなるように表示可能な顕微鏡用コントローラ、顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a controller for a microscope, capable of displaying the operation section for operating the electromotive drive device of the microscope and a microscope image, so as to easily observe the microscope image, and to provide the microscope. - 特許庁

細胞観察装置、細胞観察方法、顕微鏡システム、及び細胞観察プログラム例文帳に追加

CELL OBSERVATION APPARATUS, CELL OBSERVATION METHOD, MICROSCOPE SYSTEM, AND CELL OBSERVATION PROGRAM - 特許庁

双眼立体観察装置、電子画像実体顕微鏡、電子画像立体観察装置、電子画像観察装置例文帳に追加

BINOCULAR STEREOSCOPIC OBSERVATION DEVICE, ELECTRONIC IMAGE STEREOMICROSCOPE, ELECTRONIC IMAGE STEREOSCOPIC OBSERVATION DEVICE AND ELECTRONIC IMAGE OBSERVATION DEVICE - 特許庁

ホストシステム２は、顕微鏡装置１を用いて取得された観察体１９の顕微鏡画像の取得時における顕微鏡装置１の観察状態を取得し、時系列の当該顕微鏡画像から動画像のデータを生成する。例文帳に追加

A host system 2 obtains the observation state of a microscopic apparatus 1 when the microscopic image of an observation body 19 obtained by using the microscopic apparatus 1 is obtained, and generates moving image data from the microscopic image in time series. - 特許庁

顕微鏡部を角膜に接触させることなく、広い観察領域を確保しつつ良好な観察・撮影ができる角膜顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a cornea microscope device allowing excellent observation and photography while securing a large observation area without contact of a microscope part with a cornea. - 特許庁

試料を移動することなく、一つの装置で走査型電子顕微鏡による観察と光電子顕微鏡による観察とを可能にする。例文帳に追加

To perform both observation by a scanning electron microscope and observation by a photo-electron microscope by using a single device without moving a sample. - 特許庁

光学顕微鏡で観察された特定の物質それ自体を電子顕微鏡で観察することを可能とする分析方法を提案すること。例文帳に追加

To provide an analysis method of observing, with an electron microscopy, a specific matter itself observed with an optical microscope. - 特許庁

低真空状態で試料を最適な状態で観察できる機能を備えた低真空観察用走査電子顕微鏡電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a low-vacuum observation scanning electron microscope having a function for observing a sample under low vacuum in an optimum condition. - 特許庁

顕微鏡観察用サンプル包埋体成形用モールド成形型及び顕微鏡観察用サンプル包埋体及びその固定方法例文帳に追加

MOLD FORMING DIE FOR FORMING SAMPLE EMBEDDED BODY FOR MICROSCOPIC OBSERVATION, SAMPLE EMBEDDED BODY FOR MICROSCOPIC OBSERVATION, AND ITS FIXING METHOD - 特許庁

広い範囲の観察を可能とした顕微鏡の観察方法及びそれを用いるための顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microscopic observation method realizing observation in a wide range, and a microscope for using it. - 特許庁

また、使用者は、光学顕微鏡による試料の観察時に原子間力顕微鏡による試料の観察対象領域の探索も行う（ステップＳ２ｂ）。例文帳に追加

The user also retrieves an observed region of the sample with the atomic force microscope during observing the sample with the optical microscope (step S2b). - 特許庁