「顕微鏡観察」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

この立体顕微鏡検査システムは、観察されるべき物体又は中間像を配置する物体平面を有する対物システムと、対物レンズの左側に入射するビーム束が供給される左側接眼システムと、対物レンズの右側に入射するビーム束が供給される右側接眼システムとを備えている。例文帳に追加

This stereoscopic microscope inspection system has an objective system having an object plane to be arranged with the object to be observed or the intermediate image, a left side eyepiece system to which an incident beam flux on the left side of the objective lens is supplied and a right side eyepiece system to which the incident beam flux on the right side of the objective lens is supplied. - 特許庁

また、本発明の別態様によると、試料の観察部位に照射光を照射する、入射角度を調節可能な光源と、上記試料で反射された上記照射光を検出する検出手段とを具備し、上記検出手段で検出した反射光強度の上記入射角に対する角度依存性を測定可能に構成されていることを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。例文帳に追加

The scan near-field optical microscope comprises a light source for irradiating light on the location to be observed of the sample and adjusting the angle of incidence, and a detecting means to detect the irradiating light reflected by the sample, and can measure the angle dependency to the angle of incidence of the intensity of the reflected light detected by the detecting means. - 特許庁

気相法によって製造されたシリカ・チタニア複合酸化物粒子であって、チタニアの含有量が５０重量％以上、ＢＥＴ比表面積が１００ｍ^2／ｇ以下、電子顕微鏡観察下においてシリカ単独粒子およびチタニア単独粒子の割合が１０％以下、好ましくは５％以下であり、表面が疎水化されているシリカ・チタニア複合酸化物粒子。例文帳に追加

The silica-titania composite oxide particle produced by a vapor deposition method has a titania content of 50 wt.% or more, a BET specific surface area of 100 m^2/g or less, a containing rate of a silica single particle and a titania single particle by electron microscope observation of 10% or less, favorably 5% or less, and a hydrophobic surface. - 特許庁

（ａ）ポリケトン樹脂５〜８０容量％及び（ｂ）ポリオレフィン樹脂９５〜２０容量％からなる樹脂組成物であり、電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造として、ポリオレフィン樹脂が連続相、ポリケトン樹脂が帯状分散相である相構造を有する樹脂構造体とする。例文帳に追加

The resinous structure comprises a resin composition consisting of 5-80% by volume of a polyketone resin and 95-20% by volume of a polyolefin resin and has a phase structure, as a resin phase-separating structure observed with an electron microscope, in which structure the polyolefin resin is of a continuous phase and the polyketone resin is of a beltlike dispersed structure. - 特許庁

皮膚より採取した角層細胞を鑑別する方法であって、顕微鏡下、乃至は、拡大ビデオでの観察下、油浸オイルで封入されたスライドグラス上の角層細胞に、紫外線光源より紫外線を照射し、紫外線によって励起される、角層細胞の蛍光強度を指標とすることを特徴とする。例文帳に追加

In this method of differentiating the subcorneal cell collected from the skin, an ultraviolet ray is emitted from an ultraviolet ray source toward the subcorneal cell on a slide glass sealed with an immersion oil, under observation by a microscope or magnification video, and fluorescence intensity of the subcorneal cell excited by the ultraviolet ray is used as the index. - 特許庁

透過電子顕微鏡をはじめとする試料分析装置において、観察しようとする試料に外部電圧を印加し、デバイスが動作状態のまま構造、組成、電子状態を分析するための、試料保持台、試料の前処理および試料ホルダに関する課題に対応する方法、および、当該試料の分析を行う方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method corresponding to the subject related to a sample holding stand, sample pretreatment and a sample holder for analyzing a structure, a composition and an electronic state in a device operated state by applying external voltage to a sample to be observed in a sample analyzer inclusive of a transmission electron microscope, and a sample analyzing method. - 特許庁

細胞又は組織を含む生体標本上の特定の領域に対して、試薬溶液をインクジェット法により供給し付着させて生体標本への試薬の分注を行った後、前記細胞又は組織中の標的物質を、顕微鏡観察又は質量分析によって解析する、生体標本の解析方法。例文帳に追加

In this analysis method for the biological specimen, after supplying and sticking the reagent solution to the specific area on the biological specimen including the cell or the tissue by the inkjet method to dispense the reagent to the biological specimen, a target substance in the cell or the tissue is analyzed by microscopic observation or mass spectrometry. - 特許庁

結晶融解ピーク温度が２６０℃以上であるポリアリールケトン樹脂７０〜３０重量％と非晶性ポリエーテルイミド樹脂３０〜７０重量％とからなるフィルムを結晶化処理したフィルムであって、透過型電子顕微鏡で観察した際に、最大結晶粒径が０．３μｍ以下であることを特徴とする耐熱性フィルム。例文帳に追加

The heat-resistance resin is obtained by subjecting to a crystallization treatment a film comprising 70-30 wt.% of a polyarylketone resin having a crystal melting peak temperature of at least 260°C and 30-70 wt.% of a non- crystalline polyetherimide resin and has a maximum crystal grain size of at most 0.3 μm as observed by a transmission electron microscope. - 特許庁

光学像を観察する接眼光学系を複数有する実体顕微鏡において、鏡体１の内部に、少なくとも１つのズーム光学系５を備えており、且つ、視差の異なる像を時間的に特性を変調できる光学素子４を介して変調し、変調された複数の像を同一のズーム光学系５を通過させ、通過後の像を視差の異なる像に分離させる光学素子８を有している。例文帳に追加

A stereoscopic microscope having a plurality of eyepiece optical systems for observing an optical image is provided with at least one zoom optical system 5 and an optical element 8 which modulates the images of different parallaxes through an optical element 4 whose characteristic can be modulated with time, allows the plurality of modulated images pass through the system 5 and separates the images after passing through to images of different parallaxes inside a mirror 1. - 特許庁

本発明のレーザ走査顕微鏡は、レーザ光で被観察面上を走査するスキャナ（１１）と、前記走査の速度変化を検出する検出手段（１１，２０３）と、前記検出された前記速度変化に応じて前記レーザ光のパワーを変化させるパワー制御手段（２０４，２０５）とを備えたことを特徴とする。例文帳に追加

The laser scanning microscope of the present invention is characterized in being provided with: a scanner (11) which scans a face to be observed with a laser beam; detection means (11 and 203) which detect the variation in the velocity of the scanning; and power control means (204 and 205) which vary the power of the laser beam according to the detected variation in the velocity. - 特許庁

ニポウディスク式共焦点スキャナと分光光学ユニットを用いて試料を多色で観察することができると共に、分光光学ユニット内でダイクロイックミラーの透過像と反射像を同じ向きに補正することにより、反転像に対する画像処理を必要としない共焦点顕微鏡を実現すること目的とする。例文帳に追加

To provide a confocal microscope which is capable of observing a sample with multicolors by using a Nipkow disk system confocal scanner and a spectroscopic unit and does not require image processing with respect to an inversion image because a transmission image and a reflection image of dichroic mirror can be corrected in the same direction in the spectroscopic optical unit. - 特許庁

鋼材は、所定の化学成分組成を満足し、且つ顕微鏡観察したときの介在物の最大投影長さに垂直な方向で最も幅の大きい長さを介在物の大きさとしたときに、その大きさが２μｍ以上である介在物が分散したものであると共に、該介在物は下記（１）式および（２）式の関係を満足するものである。例文帳に追加

The steel material satisfies a prescribed chemical component composition, and in the steel material, when the size of each inclusion is defined as the length of the widest portion in the direction perpendicular to the maximum length of the projection of the inclusion as observed with a microscope, inclusions each characterized in that the size is ≥2 μm are dispersed. - 特許庁

樹脂に包埋固結した鉱石や金属製錬中間物の試料を顕微鏡観察に供するために研磨する際に、仕上げ研磨及び最終研磨での研磨機のモータにかかるトルクを検知して、その変化に基づいて仕上げ研磨及び最終研磨における鉱石試料研磨の終点判定を行う。例文帳に追加

The end point for polishing the ore sample in finish polishing and the final polishing, is determined on the basis of its change, by detecting torque applied to a motor of a polishing machine in the finish polishing and the final polishing, when polishing a sample of an ore and a metallic refining intermediate material wrapped, embedded and consolidated in resin to be provided for a microscopic observation. - 特許庁

凸型率（％）＝（凸型断面繊維の本数／マルチフィラメントの構成本数）×１００さらに、モノフィラメント繊維断面を光学顕微鏡によって観察した際、シース層とコア層の二層に識別可能で、コア層の平均直径ｒ_２の繊維断面直径ｒ_１に対する比率Ｒ（％）が９０％以下であるポリベンザゾール繊維。例文帳に追加

Furthermore, when the monofilament cross-section is observed by an optical microscope, it is distinguished into two layers of sheath and core layers, wherein the ratio R (%) of the average diameter r_2 of the core layer to the diameter r_1 of the monofilament cross section is 90% or less. - 特許庁

液晶性分子材料を用いた光学補償素子の光学特性の評価方法において、偏光顕微鏡により光学補償層の表面を観察し、液晶性分子の軸方位の違いにより形成された粒状のドメインの大きさを評価し、該ドメインの大きさが直径５μｍ以下であることを特徴とする。例文帳に追加

In the evaluation method for the optical characteristics of the optical compensation element using a liquid crystal molecular material, the surface of an optical compensation layer is observed by a polarization microscope, the dimension of each granular domain formed by differences between the axial orientations of liquid crystal molecules are evaluated, and the dimension of the domains has a diameter of 5 μm or less. - 特許庁

ポリアミド樹脂（ａ）１５〜５０重量％およびポリ乳酸樹脂（ｂ）５０〜８５重量％を配合してなる熱可塑性樹脂組成物であり、かつ電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造においてポリアミド樹脂（ａ）が連続相、ポリ乳酸樹脂（ｂ）が分散相または連続相となる相構造を形成することを特徴とする熱可塑性樹脂組成物。例文帳に追加

The thermoplastic resin composition is obtained by compounding 15-50 wt.% polyamide resin (a) and 50-85 wt.% polylactic acid resin (b), and forming a phase structure, wherein, in resin phase separation structure observed by an electron microscope, the polyamide resin (a) forms a continuous phase and the polylactic acid resin (b) forms a continuous phase or a dispersed phase. - 特許庁

大気中の浮遊粒子状物質を効率的に捕集し、その捕集した粒子を容易に顕微鏡で観察することができ、かつ、容易に個別の粒子を抽出して各種分析機器に供することのできる捕集装置と、その捕集装置により捕集した浮遊粒子状物質を、広い粒径範囲において高い分解能のもとに粒度分布を測定することのできる方法を提供する。例文帳に追加

To provide a capturing device capable of efficiently capturing a floating particulate matter in the atmosphere, facilitating the observation of the captured particles with a microscope and the extraction and supply of independent particles to various analyzing equipments, and a method capable of measuring the particle size distribution of the floating particulate matter captured by the capturing device with high resolution in a wide particle size range. - 特許庁

制御部１３３は、対物レンズ１０５により生じる、顕微鏡光源１１０で発光させる観察用の照明光とＬＤ１２０で発光させるＡＦ用の測定光との色収差の補正が必要か否かの判定を行うと共に、当該判定の結果に応じ、色収差補正レンズ１２５を移動させて色収差を補正する。例文帳に追加

A control part 133 decides whether or not the chromatic aberration between illuminating light for observation emitted by a microscopic light source 110 and measuring light for AF emitted by an LD 120, which is caused by an objective 105, must be performed, and corrects the chromatic aberration by moving a chromatic aberration correction lens 125 in accordance with the result of decision. - 特許庁

被測定対象物である半導体表面を走査型トンネル顕微鏡(STM)で観察する際に、探針を基準として半導体に正の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像と、探針を基準として半導体に負の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像とを比較することにより、半導体中の不純物原子を検出することを特徴とする半導体不純物原子検出方法である。例文帳に追加

When the surface of the semiconductor which is a measuring target is observed by a scanning tunnel microscope (STM), the STM image of the surface of the semiconductor by applying positive voltage to the semiconductor on the basis of a probe is compared with the STM image of the surface of the semiconductor obtained by applying negative voltage to the semiconductor on the basis of the probe to detect the impurity atom in the semiconductor. - 特許庁

自動調整手段は、対物レンズまたは観察光学系の切り替え完了後、顕微鏡画像を取得し、格納されている明るさの基準情報を読み出し、取得した画像の明るさ情報と比較して、受光素子１２３のゲイン値を計算し、得られたゲイン値を受光素子１２３に設定することで切り替え後の画像の明るさを調整する。例文帳に追加

An automatic adjusting means acquires the microscopic image after completing switching of the objective or the observation optical system, reads out the stored reference information on the brightness, compares it with the acquired information on brightness of the image, calculates a gain value of a photodetector 123, and sets the obtained gain value to the photodetector 123, thereby adjusting the brightness of the image after switching. - 特許庁

イオン照射領域とイオン非照射領域を規定するマスクのエッジ部に数ミクロンから数百ミクロン単位のマークを付けることにより、このマークに注目してマスクと試料の位置関係を確認して光学顕微鏡での観察を容易にし、数ミクロン程度の位置精度の高い断面試料を作製することを特徴としている。例文帳に追加

A mask of a several micron-several hundred micron unit is applied to the edge part of the mask for prescribing an ion irradiation region and an ion non-irradiation region and the positional relation of the mask, and the sample is confirmed, on the basis of the mark to facilitate the observation due to an optical microscope to manufacture a cross-sectional sample high in positional precision of about several microns. - 特許庁

ウェハ支持装置５延いては観察装置１では、ベース７の開口６に臨む倒立型顕微鏡２の対物レンズ３に対して、ウェハホルダ１１の開口１２に嵌められた光透過部材１４に臨むウェハＷの位置合せが行われた後、固定機構３１によってベース７に対してウェハホルダ１１が固定される。例文帳に追加

In a wafer supporting device 5 or a wafer observing device 1, a wafer W facing a light transmission member 14 fitted in an opening 12 of a wafer holder 11 is positioned with respect to an objective lens 3 of an inverted microscope 2 facing an opening 6 of a base 7, and then the wafer holder 11 is fixed to the base 7 by a fixing mechanism 31. - 特許庁

本発明は、電子ビームが通過するインナーパイプ内部を真空とし、試料室との間に設けた対物絞りにより低真空観察が可能な走査電子顕微鏡において、対物絞りと試料との間にさらに第二の対物絞りを設けた２段対物絞りユニットをインナーパイプの端に設ける。例文帳に追加

In the scanning electron microscope in which the inside of an inner pipe for passing an electron beam is set up to be vacuum and a low vacuum observation is possible with an objective restriction arranged between the inner pipe and a specimen chamber, a two-stage objective restriction unit having another second objective restriction between the objective restriction and the specimen is arranged at an end of the inner pipe. - 特許庁

軸受として使用する形状に近い形状に成型した成型物を焼成して得られる炭素黒鉛質基材であって、顕微鏡観察により求めた面積空隙率が１５％以下で、固定炭素が９０〜９９質量％含まれているとともに、リンを含有する銅、もしくは銅合金が充填されている炭素黒鉛質基材を使用した炭素黒鉛質軸受を備えることを特徴とする冷媒圧縮機とした。例文帳に追加

This refrigerant compressor is characterized by having a carbon graphite-based bearing using a carbon graphite-based material provided by baking a mold molded in a shape near a shape used as the bearing, that is, the carbon graphite-based material having area porosity determined by microscopic observation of 15% or less, including fixed carbon by 90-99 mass% and filled with copper including phosphorus or a copper alloy. - 特許庁

上記発明によれば、被検査物の検査範囲に応じて、ステージの可動範囲が設定され、その範囲外への移動が禁止されるので、高倍率で観察しながら操作しても、顕微鏡の視野範囲が被検査物の検査範囲外に移動することが防止され、操作性を向上させることができる。例文帳に追加

By this method, the stage movable range is set in accordance with the inspecting range of the object to be inspected, and the stage is inhibited from moving outside the range, so that the visual field range of the microscope is prevented from moving outside the inspecting range of the object to be inspected, and the operability is improved even though the microscope is operated in the case of the observation with high magnification. - 特許庁

粘着性プラスチックフィルムを薄切片の支持材として用いて、凍結包埋試料から作製した薄切片を、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で染色を行った後、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、光学顕微鏡で観察できる永久標本として封入保存する。例文帳に追加

To stain a thin section produced from a frozen embedded sample by using an adhesive plastic film as a support material for the thin section in a state attached to the adhesive plastic film, and thereafter enclose and preserve it in the form attached to the adhesive plastic film as a permanent specimen that can be observed by an optical microscope. - 特許庁

共焦点顕微鏡と光ピンセット技術を組み合わせた３次元共焦点観察用装置において、固定の対物レンズと蛍光撮像用カメラとの間に、一方のレンズが光軸方向に移動可能とされている焦点面変位用レンズペアを配置し、かつ、蛍光撮像用カメラにより得られた蛍光共焦点像の歪みを補正する手段を設ける。例文帳に追加

The three-dimensional confocal observation apparatus constituted by combining a confocal microscope and an optical tweezers technology has a pair of lenses for focal plane displacement of which one lens can be moved in an optical axis direction arranged between a fixed objective lens and a camera for fluorescent imaging, and includes means of correcting distortion of fluorescent confocal images obtained by the camera for fluorescent imaging. - 特許庁

コントロールユニット１６は、１以上の撮像手法で試料１２を拡大して観察する画像を撮像する顕微鏡装置１３を制御し、ユーザにより指定された撮像手法の組み合わせが登録された撮像手法リストに従って、１以上の撮像手法で試料１２の画像を撮像して記録する。例文帳に追加

A control unit 16 controls a microscope device 13 that magnifies and images a sample 12 with one or more imaging methods, and images and records the image of the sample 12 with one or more imaging methods according to an imaging method list in which combinations of imaging methods specified by a user are registered. - 特許庁

磁気信号の記録および／または再生時に磁気テープと磁気ヘッドとが接触摺動する接触摺動型リニアテープドライブ用磁気ヘッドにおいて、接触摺動時に磁気テープと接触摺動する面に、走査型プローブ顕微鏡の表面凹凸像において観察される凹部を複数有し、かつ該複数の凹部は下記（１）〜（４）を満たす。例文帳に追加

In a magnetic head for a contact slide type linear tape drive sliding in contact with the magnetic tape upon recording and/or reproduction of a magnetic signal, a surface sliding in contact with the magnetic tape upon contact sliding has a plurality of recessed parts observed in a surface projecting and recessed image of a scanning probe microscope and the plurality of recessed parts satisfy the following (1) to (4). - 特許庁

上述の手法で検知されるＸ線は、概ね、観察試料支持部材内での入射電子の拡散範囲内の領域から放出されることとなり、当該入射電子の拡散範囲を数ｎｍ程度に制御すれば、得られる走査型Ｘ線顕微鏡像の分解能は、従来の手法の理論的限界とされていた１０ｎｍ以下とすることが可能となる。例文帳に追加

The X-ray detected by the method described above is discharged mostly from the region within the diffusion range of the incident electron in the observation sample support member, and if the diffusion range of the incident electron is controlled to about a few nm, the resolution of the scanning X-ray microscope can be not more than 10 nm which has been considered to be the theoretical limit by the conventional method. - 特許庁

結晶相とアモルファス相の間を相変化する相変化材料の表面を走査型電子顕微鏡で観察して得られる電子線像において、結晶相の輝度をＬｃ、アモルファス相の輝度をＬａとするとき、Ｌｃ＞Ｌａである相変化材料を記録層とする相変化型記録媒体。例文帳に追加

The phase transition type recording medium has the phase transition material, of which relation: Lc>La is satisfied when brightness of the crystalline phase is Lc and brightness of the amorphous phase is La in an electronic ray image obtained by observing a surface of the phase transition material the phase of which changes between the crystalline phase and the amorphous phase with a scanning type electronic microscope, as the recording layer. - 特許庁

手術用顕微鏡を構成する鏡体６内で左右に視差を持つように配置されたＣＣＤ１８ａ、１８ｂにより撮像された左右の画像は、立体画像表示制御装置９の信号処理部３４を介してＦＭＤ１１の左右のＬＣＤ２３ａ、２３ｂに表示され、術者は左右の眼でズーム光学系２２ａ、２２ｂを経て光学的に立体観察する。例文帳に追加

Right and left pictures picked up by CCDs 18a and 18b arranged to have parallax right and left in a mirror body 6 constituting a surgical microscope are displayed on right and left LCDs 23a and 23b in an FMD 11 via a signal processing part 34 in the stereoscopic picture display controller 9, and optically stereoscopically observed by an operator with right and left eyes through zoom optical systems 22a and 22b. - 特許庁

コンタクトＣ１、Ｃ２の間隔が互いに異なるコンタクトアレイＲ１、Ｒ２を形成し、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２に対応したレジストパターンをマスクとして、絶縁層のウェットエッチングを行った後に、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２のレジストパターンの変色を金属顕微鏡にて観察する。例文帳に追加

A method of managing an etching width includes a step of forming contact arrays R1, R2 having different intervals of contacts C1, C2, a step of wet etching an insulating layer with resist patterns corresponding to these contact arrays R1, R2 as masks, and a step of then observing the discoloring of the resist patterns of these contact arrays R1, R2 by a metallurgical microscope. - 特許庁

３６０度回転可能なウェハチャックと半導体ウェハ直径の半分の可動距離をもつＸ−Ｙステージとを有し、半導体ウェハ１を４分割した領域をウェハの欠陥位置座標に応じてウェハチャックを回転して、この４つの領域を順次固定された顕微鏡２により観察して、ウェハ全面の欠陥レビューを行うようにしている。例文帳に追加

A wafer chuck rotatable 360° and an X-Y stage with a movable distance which is a half of the diameter of a semiconductor wafer are provided, and the regions provided by dividing a semiconductor wafer 1 into four is rotated with a wafer chuck, according to wafer's defect position coordinate and the four regions are observed sequentially with a fixed microscope 2, for defect review on the entire wafer surface. - 特許庁

ガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品であって、該部品の表面について、走査型電子顕微鏡を用いて観察した５０μｍ×５０μｍの視野中に、直径１〜１０μｍの孔が、少なくとも５個存在するか、該視野中に存在する幅０．５〜５μｍの線状孔の全長さが、少なくとも５０μｍであることを特徴とするガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品である。例文帳に追加

In the component for glassy carbon CVD device, when observing a field of view of 50μm×50μm on its surface by a scanning electron microscope, at least five holes of 1-10μ in diameter exist, or the total length of a linear hole of 0.5-5μm in width is at least 50μm in the field of view. - 特許庁

扁平状の粒子を複数、配向面が非平行となるように集合又は結合させてなり、粒子の断面を走査型顕微鏡写真で観察したときに細孔を有する黒鉛粒子に、有機系結着剤及び溶剤を添加し、混合してなる黒鉛ペーストを集電体に塗布、一体化してなるリチウム二次電池用負極。例文帳に追加

The negative electrode for lithium secondary battery is comprises coating and integrating, on a current collector, a graphite paste which is made by adding and mixing an organic binder and solvent to graphite particles which are made by assembling and binding a plurality of flat-shape particles so that the orientation surface is unparallel having pores, when the cross-section of the particles is observed by a scanning type microscope photograph. - 特許庁

対物レンズと、前記対物レンズの焦点面と共役な位置に配置されて絞り径が可変な視野絞りと、前記対物レンズの観察光路上に配置された倍率変倍装置とを備えた顕微鏡において、変倍時に変化する視野径に対して常に視野絞りの径が大きい状態を保つように制御することによって解決される。例文帳に追加

This microscope includes the objective lens, the field stop disposed in a conjugate position to a focal plane of the objective lens to vary a stop diameter, and a magnification change device disposed on an observation optical path of the objective lens, wherein the field stop is controlled to always keep a large stop diameter to the visual field diameter changed in a variable power. - 特許庁

ニポウディスク方式共焦点スキャナから出力される光学像を分光する分光光学ユニットを有し、試料の多色観察を行う共焦点顕微鏡において、 前記分光光学ユニットは、前記光学像を分光する反射透過特性の異なる複数の分光手段と、 これら分光手段で反射された光学像を反転させる反転手段と、を備えた構成とする。例文帳に追加

The confocal microscope has the spectroscopic unit which spectroscopes an optical image outputted from the Nipkow disk system confocal scanner and performs multicolor observation of the sample, wherein the spectroscopic unit is provided with a plurality of spectroscopic means having the different reflection and transmission characteristics according to the spectroscopy for the optical image and an inversion means that inverts the optical image reflected by the spectroscopic means. - 特許庁

基本的な電子顕微鏡本体に加え、ホログラフィ観察において要求する空間分解能を入力する手段と、入力された値及び装置固有のパラメータから要求された空間分解能を実現する電子線バイプリズム及び試料位置を算出するための計算装置及び、得られた計算結果を実現するためのこれら二つの位置を移動させる機構を設ける。例文帳に追加

In addition to a basic electron microscope, this device comprises means for inputting a required space resolution in a holography observation, a calculating device for calculating an electron beam bi-prism and a specimen position for realizing a required space resolution from an input value and a parameter unique to the device, and a mechanism for moving these two positions for realizing the found calculation results. - 特許庁

有機成分を含有する原水をろ過して蛍光顕微鏡での微生物観察をする場合において、ろ過膜からのバックグラウンドを抑えることにより、コントラストの高い蛍光像を得ることができ、さらに、有機成分の吸着等によりろ過特性が低下しづらく、通水性が高いろ過膜装置を提供する。例文帳に追加

To provide a filtration membrane apparatus with which a fluorescent image with a high contrast can be provided by suppressing the background of the filtration membrane in the case of microorganism observation using a fluorescent microscope after filtration of raw water containing organic components; whose filtration capability is hardly deteriorated by adsorption of organic components; and which has a high water permeability. - 特許庁

本発明の半導体装置の故障解析方法は、偏光顕微鏡２０を用いた偏光法により、ゲート配線４Ａと配線８Ｂ間のコンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を当該コンタクト部に光を照射し、その反射光の方向成分を観察することで、上記コンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を検出することを特徴とする。例文帳に追加

In the fault analyzing method of the semiconductor device, the shape defect (existence of disconnection part 13, for example) in the contact part between gate wiring 4A and wiring 8B is detected by irradiating the contact part with light and observing the direction component of reflected light by a polarizing method using a polarized microscope 20. - 特許庁

探針プローブを電極パッドに接触させて特性検査を行う際、安定な抵抗が得られ、探針プローブを接触させたことが顕微鏡観察等により容易に視認することができるようにし、さらに、ハンダに対する濡れ性が良好で、電極パッド上にハンダバンプを好適に形成することができる、半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device, where stable contact resistance can be obtained when a probe is brought into contact with an electrode pad to check its properties, and the probe is kept in contact with the electrode pad can be visually confirmed with ease by a microscope, the electrode is superior in solder wettability, and a solder bump can be suitably formed on the electrode pad. - 特許庁

像観察用の蛍光板（６）とテレビカメラ（７）とを備えた透過型電子顕微鏡において、テレビカメラ（７）に入射する電子線（２）を遮断しない孔を形成した電子線検出器（８）と、電子線検出器（８）で測定した電子線量によりフィルム撮影時の露光時間を算出し、算出した露光時間に基づいてシャッター（４）を制御する制御手段（９）とを備えるようにしたものである。例文帳に追加

In a transmission electron microscope having a fluorescent plate 6 for image observing and a television camera 7, the transmission electron microscope comprises an electron beam detector 8 formed with a hole allowing the electron beam which is incident to the television camera 7, and a control means for controlling a shutter 4 based on the exposure time calculated from the exposure time of a film shot. - 特許庁

本発明の芯材粉体の表面に無電解めっき法によってニッケル皮膜を形成した導電性無電解めっき粉体は、前記ニッケル皮膜の厚さ方向断面を、走査型電子顕微鏡によって１０００００倍迄の拡大倍率で観察したときに、該断面に結晶粒界が認められないことを特徴とする。例文帳に追加

The conductive electroless plating powder in which a nickel film is formed by an electroless plating method on the surface of the core member powder is characterized in that grain boundaries are not admitted at the section in the thickness direction of the nickel film when the section is observed by a scanning electron microscope at magnifying power up to 100,000 times. - 特許庁

コンピュータ２は、レーザ装置４によるレーザ光の照射の制御を行って観察試料１０８における標本の部分領域にフォトブリーチを施す一方で、共焦点レーザ走査型顕微鏡本体１を制御してそのときの当該標本における当該フォトブリーチが施された領域の蛍光の回復の時間変化を観測する。例文帳に追加

In the experiments and analyses, a computer 2 controls laser beam irradiation from a laser system 4 to make photobleaching on a partial area of a specimen in observation sample 108, while controlling a confocal laser scan type microscope body 1, to observe time variation in recovery of fluorescence on the area, where photobleaching in the specimen at this time has been carried out. - 特許庁