「顕微鏡観察」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

術部を観察可能な鏡体４と、少なくとも１つの可動部を有し、鏡体４を移動可能に支持する支持手段６とを有する手術用顕微鏡。例文帳に追加

The operating microscope comprises: a mirror body 4 for observing a part to be operated; at least one movable part; and a support means 6 for movably supporting the mirror body 4. - 特許庁

作業性の悪化を招いたり光学系の複雑化を図ることなく迷光を抑え、コントラストの高い標本像を観察できる簡素で安価な実体顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a simple and inexpensive stereoscopic microscope which suppresses a stay light without degrading the workability neither making the optical system complicated and enables a user to observe a sample image of high contrast. - 特許庁

透過型電子顕微鏡用薄片試料の作製時間を効率よく短縮し、また、作製した試料が包埋樹脂と剥離を起こし難く、観察可能個所を増やすこと。例文帳に追加

To efficiently shorten the manufacturing time of a slice sample for a transmission type electron microscope, and to make it less apt to cause release of the manufactured sample and embedding resin, while increasing the number of observable spots. - 特許庁

主ビームのサイズを減らすことなくサイドローブを除去することを可能にし、数十nmのサイズを有する物体を歪むことなく観察することができる共焦点自己干渉顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide confocal self-interference microscopy from which a side lobe can be removed without reducing a size of a main beam, and capable of observing an object of several tens nm without distortion. - 特許庁

基準マークを確認しうる顕微鏡を回転テーブル６の４箇所の停止位置の１つに設けて、マスタースタンパの信号溝の外周端を観察できるようにする。例文帳に追加

A microscope capable of checking a reference mark is disposed at one of the stop positions at four points of the turn table 6 so that the outer peripheral ends of the signal grooves of the master stamper can be checked. - 特許庁

液中観察などに適し、カンチレバをカンチレバ取付台に容易に取付けることができるカンチレバ保持機構および走査形プローブ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a cantilever holding mechanism which is suitable for an observation or the like in a liquid and by which a cantilever can be attached easily to a cantilever mounting base, and to provide a scanning probe microscope. - 特許庁

また、レーザ位置調整時には、オペレータは、光学顕微鏡２９でカンチレバ１０を観察しながら、カンチレバ背面の適当な位置にレーザスポットが位置するように、前記レーザ位置調整機構２７を調整する。例文帳に追加

In laser position regulation, an operator regulates a laser position regulating mechanism 27 so that laser spot is located in a proper position of the back surface of a cantilever 10 while observing the cantilever 10 through an optical microscope 29. - 特許庁

操作指令部２０は顕微鏡６０の光源６６の光量、対物レンズの倍率、ＸＹＺステージ６１の焦点（ｚ方向）及び観察位置（ｘｙ方向）の操作指令を生成し、宇宙局２へ送信する。例文帳に追加

The command part 20 generates control commands for the light quantity of a light source 66, the magnification of an objective lens, a focal point on an XYZ stage 61 (direction (z)) and an observing position (direction (xy)) in the microscope 60 and transmits them to the station 2. - 特許庁

摘出試料を任意の方向に向けて試料台に固定することが可能な透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for preparing samples for transmission electron microscope observation and a sampling apparatus whereby extracted samples can be fixed in an arbitrary direction to a sample stage. - 特許庁

被手術眼を照明する照明光の角度が変更されたときに、好適な明るさの観察像を容易に得ることができる手術用顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope for surgical operation, where an appropriately bright surgical observation image is readily obtained even when the angle of light illuminating the eye for operation has been changed. - 特許庁

ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。例文帳に追加

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing. - 特許庁

試料観察時にＸＹスキャナおよびＺ軸微動支持部材に大きな負荷が加わることを極力防止することができる走査プローブ顕微鏡を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope which can prevent a large load from being applied to an X-Y scanner and a Z-axis fine-adjustment support member when a sample is observed. - 特許庁

走査型電子顕微鏡により高分子材料の相分離構造、ラメラ構造および結晶の配向状態を解析することが可能な高分子材料の微細構造の観察方法を提供する。例文帳に追加

To provide an observation method for a microstructure of a polymeric material capable of analyzing a phase separation structure, a lamellar structure and an oriented state of a crystal of the polymeric material by a scanning electron microscope. - 特許庁

その場合に、磁性層の表面を走査型電子顕微鏡により観察した視野像から求められる、アルミナの面積占有率が０．３〜１．０％で、かつその空間分布の標準偏差が３以下となるように設定する。例文帳に追加

In this case, it is set that the area occupancy of the alumina to be calculated from a visual field image by observing the surface of the magnetic layer by a scanning electron microscope is 0.3 to 1.0% and the standard deviation of the spatial distribution of alumina is three or less. - 特許庁

顕微鏡内に照明光源１０を備える従来の方法に比べて、単純な光学系で、明るい均一な照明が得られ、正確な試料観察ができる。例文帳に追加

Uniform illumination can be obtained by a simpler optical system than that in a conventional method of providing the illuminating light source 10 within a microscope, and accurate sample observation is possible. - 特許庁

実体顕微鏡には、試料を観察するための２つのズーム光学系が設けられており、それらのズーム光学系の光軸３５−１と光軸３５−２とは平行になるようになされている。例文帳に追加

A stereomicroscope is provided with two zoom optical systems for observing the sample, where the optical axes 35-1 and 35-2 of the zoom optical systems are in parallel. - 特許庁

この顕微鏡用コンデンサレンズは、光源側から被観察物側へ向かって順に、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズ（Ｌ１）と、３枚の単体正レンズ（Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４）とを配置してなる。例文帳に追加

The condenser lens for the microscope is constituted, by arranging a cemented negative meniscus lens (L1) which is concave to a light source side and three single-body positive lenses (L2, L3, and L4), in this order, from the light source side to an observed body side. - 特許庁

、標本の内部まで観察できるとともに、広範囲に渡る光刺激を短時間で行うことのできる顕微鏡装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a microscope apparatus that can observe into the interior of a specimen and that can apply an optical stimulus over a wide area within a short period of time. - 特許庁

目（２２）の前側区域を観察するための顕微鏡装置（１）と、少なくとも１つのカメラを有する（２１）、目（２２）の網膜を視覚化する装置（２）とを備える、目（２２）を観察するための光学観察装置（１００）において、前記視覚化装置（２）は前記顕微鏡装置（１）の手前の補助モジュールとして構成されており、前記視覚化装置（２）は位置決め装置（１２）に配置されるとともに、前記位置決め装置（１２）を介して目（２２）の手前で位置決め可能である、光学観察装置である。例文帳に追加

The optical observation apparatus 100 for an eye 22 includes a microscope 1 for observing the front side area of an eye 22, and a visualizing device 2 for the retina of the eye 22 which has at least one camera 21, wherein the retina visualizing device 2 is prepared as an auxiliary module in front of the microscope 1, is arranged at a positioning device 12 and can be positioned in front of the eye 22 through the positioning device 12. - 特許庁

イオンビームの照射によって電極表面をその厚さ方向に堀削して、堀削面における活物質層の走査イオン顕微鏡（ＳＩＭ）像を観察し、観察されたＳＩＭ像における活物質のコントラストに基づき電極の性能を評価する。例文帳に追加

Surface of electrode is scraped by irradiating ion beam, image of drilled face of the activator is observed by a scanning ion microscope (SIM), and a property of the electrode is evaluated on the basis of contrast of the activator in observed SIM image. - 特許庁

レーザ光線の走査範囲の蛍光色素を褪色又は変色させ、それによって、顕微鏡的拡大観察により得られた微細な観察像が体内のどの位置のものなのかを容易かつ正確に特定することができる共焦点内視鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a confocal endoscope capable of easily and accurately specifying the in-vivo position of a minute observation image obtained by the microscopic enlarged observation by fading or discoloring the fluorochrome in the scanning range of a laser beam. - 特許庁

焦点誤差検出光学系により得られる焦点誤差信号を用いて観察光学系の自動合焦を行う顕微鏡の合焦を補正する方法であって、観察用ウェルプレートのたわみを補正して、焦点を合わせることを特徴とする。例文帳に追加

In the focus correcting method for a microscope that automatically focuses an observation optical system by using a focus error signal obtained by a focus error detection optical system, focusing is applied by correcting warpage of an observation well plate. - 特許庁

本発明の課題は、観察用のレーザー走査光学系と光刺激用の光学系とを異なる特性の光学系を使って光刺激と観察を行うことにより、それぞれに最適な光線の照射が可能なレーザー走査型顕微鏡を提供することである。例文帳に追加

To provide a laser scanning type microscope capable of achieving optimum irradiation with a light beam respectively for a laser scanning optical system for observation and an optical system for luminous stimulus by performing luminous stimulus and observation by the use of optical systems having different characteristics. - 特許庁

種々の形状を有する観察対象に対し、必要な輪郭線を設定した上で、視野を配列することで、観察対象の形状に沿った必要な視野設定に基づく電子顕微鏡像を選択的に取得することが可能となる。例文帳に追加

By setting a required contour line on the observation object having a variety of shapes, and arranging the filed of vision, an image of the electron microscope can be selectively obtained based on the required field of vision set along the shape of the observation object. - 特許庁

ＦＩＢを用いて観察試料を作製する場合に、イオン照射によって注入され、試料表面近傍に残留するイオンの問題を解決し、その影響を受けることなく本来の試料観察ができる顕微鏡試料作製手法を提示することにある。例文帳に追加

To provide a microscope sample preparing technique, wherein by solving the problem of ions injected by ion irradiation and remaining in the vicinity of the surface of a sample when of preparing a sample to be observed through the use of FIB, the sample is properly observed without being affected by the ions. - 特許庁

簡易な方法で安価に平面観察用半導体薄片試料を作製することを可能にする集束イオンビーム加工装置の試料ステージおよびこの試料ステージを用いた透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法の提供。例文帳に追加

To provide a sample stage for a focused ion beam processing device, using an easy method for inexpensively making a plane-observed semiconductor thin sample, and to provide a method using the same for making the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample. - 特許庁

顕微鏡観察等に用いられる撮影装置であって、ＬＣＤモニタ９１で動画を観察する表示モードで位置合わせやピント合わせを行い、撮影ボタン９２１を操作することにより撮影モードに切り替わり静止画が撮影される。例文帳に追加

The photographing apparatus is used for microscope observation or the like, carries out positioning and focusing in the display mode wherein a user observes a moving picture on an LCD monitor 91, is switched to the photographing mode by operating a photographing button 921 to photograph a still picture. - 特許庁

これにより樹脂ペレットの切断面を偏光顕微鏡で観察したとき、中心部において、球晶が観察されず、または樹脂ペレット中に滑剤を含有せず、かつ前記樹脂ペレットを積み上げたときの安息角が２３度以下のペレットを得る。例文帳に追加

A pellet wherein when the cut face of the resin pellet is observed by means of a polarized microscope, no spherulite is observed in the central part and no lubricant is incorporated in the resin pellet and angle of repose is at most 23 degree when the resin pellets are piled up, is obtd. - 特許庁

＋∞＝−∞＝１＝−１＝０ の数式から「１」イコール無限大の宇宙である可能性があるので、質量１（元素記号番号１）の水素原子を精度の高い顕微鏡で観察するとそこに無限の宇宙を観察する事ができる事により、この問題を解決する。例文帳に追加

Since a formula +∞=-∞=1=-1=0 may cause the possibility that "1" equal to the infinite universe, the observation of a hydrogen atom of mass 1 (atomic number 1) with a highly accurate microscope enables the observation of the infinite universe, thereby solving the problem. - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察用の試料となる試料片２を薄片化した後、フォトレジスト３でパターンを形成して、エッチングを行い、形成されたエッチング部４にイオンミリング装置による研磨を行って観察部５を形成する試料作製方法である。例文帳に追加

This method for making a sample comprises thinning a sample piece 2 that becomes the transmission electron microscopic sample, forming a pattern by a photo resist 3 followed by etching, and polishing a formed etched part 4 by an ion milling device to form an observation part 5. - 特許庁

本体２に設けた光学系によって標本の像を拡大して観察する顕微鏡は、使用の際に観察者と対向する面を正面とするときの背面側に設けられ、本体の重心よりも上方に位置する取っ手３を備えている。例文帳に追加

A microscope for magnifying a sample image by an optical system provided in a body 2 is provided on the back-face when a surface opposed to an observer faces forward during use, and is equipped with a grip 3 located above a center of gravity of the body. - 特許庁

デジタル走査されたイメージを構築し、デジタル走査されたイメージを顕微鏡なしでビューするのに好都合なタイル化フォーマットで記憶し、かつ遠隔の観察者が観察できるように改良された新規のデータ構造を記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供すること。例文帳に追加

To provide a computer-readable recording medium storing a novel and improved data structure configured to form digitally scanned images, store the digitally scanned images in a tiled format for viewing the images without using a microscope, and allow a remote observer to observe the images. - 特許庁

研磨工程終了後、ガラス基板の表面を、フッ酸や硝酸等を含む酸性のエッチング溶液を用いて５μｍエッチングし、面取り部に残留する加工変質層（キズなど）を等方的にエッチングして観察しやすい大きさのピット欠陥にした後、光学顕微鏡を用いて観察する。例文帳に追加

After a polishing process ends, a top surface of the glass substrate is observed using an optical microscope after a pit defect which has an easy-to-observe size is obtained through 5 μm etching using an acid etching solution including hydrogen fluoride, nitric acid, etc., and then isotropic etching of a processing deformed layer (a flaw etc.) remaining at a chamfer part. - 特許庁

基板の移動を利用せずに観察状態を実現することができ、基板の表面の状態（親水性／撥水性）に拘わらず、観察点の周囲の不要な箇所（後から回収できない箇所）への液体の広がりを防止できる液浸顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide an immersion microscope apparatus capable of obtaining an observing state without using movement of a substrate and capable of preventing spread of a liquid toward an unnecessary area (i.e., an area where a liquid cannot be recovered afterward) around an observation point regardless of the condition (hydrophilic/repellent property) of the surface of a substrate. - 特許庁

光学ガラス系の光学部品の反射防止膜に使用されるフッ化マグネシウムの払拭による表面粒子の崩壊を阻止して微小散乱を抑えることにより、顕微鏡観察等、極微弱光を扱う観察においてＳ／Ｎ比の向上を図る例文帳に追加

To provide an anti-reflection film for optical components of an optical glass system, permitting to improve an S/N ratio in observation treating very feeble light such as microscope observation, by preventing collapse of surface particles due to eradication of magnesium fluoride and suppressing micro-scattering. - 特許庁

従来の顕微鏡観察用透明加温装置では、載置プレートに低温領域が生じているので適正加温領域が小さく、観察しているディッシュＤ以外のものを載置して、細胞が適正な温度に保たれるように加温できる範囲が限られてしまう。例文帳に追加

To solve a problem wherein a range, where a cell can be heated so as to be kept at appropriate temperature, is limited by placing substance other than a dish D to be observed because a low temperature area is formed on a placing plate and an appropriately heated area is small in a conventional transparent heating device for microscopic observation. - 特許庁

極低倍の観察に必要な偏光子や１／４波長板などの各素子を予め組み込んで構成することで、レボルバの回転作業のみで、極低倍から高倍までの観察を切り替えることが可能な対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide an objective lens which is constituted by previously incorporating respective elements such as a polarizer and a quarter-wave plate necessary for extremely low magnification observation, thereby capable of switching observation from a very low magnification to a high magnification by only making a revolver revolve, and to provide a microscope device which includes the lens. - 特許庁

本発明は、手術用顕微鏡と、視野移動機能を備えた内視鏡装置とを組み合せたシステムで視野移動を行った場合でも撮像画像の観察位置を正しく検出して術者に呈示できる術部観察システムを提供することを最も主要な特徴とする。例文帳に追加

To provide an operative part observing system capable of correctly detecting an observation position in a pickup image to be provided for an operator even when a visual field is moved in a system comprising a microscope for an operation combined with an endoscope device provided with a visual field moving function as the most important feature. - 特許庁

光学顕微鏡１９は、光検出器面２２ａ（第一物面）については部分反射ミラー２，３の透過光により観察し、ホログラム面２１ａ（第二物面）については部分反射ミラー２と部分反射ミラー３との間を往復後の透過光により観察する。例文帳に追加

The optical microscope 19 observes a photodetector surface 22a (first object plane) by transmitted light from the partial reflection mirrors 2, 3 and observes the hologram surface 21a (second object plane) by transmitted light after reciprocating between the partial reflection mirror 2 and the partial reflection mirror 3. - 特許庁

これにより樹脂ペレットの切断面を偏光顕微鏡で観察したとき、中心部において、球晶が観察されず、または樹脂ペレット中に滑剤を含有せず、かつ前記樹脂ペレットを積み上げたときの安息角が２３度以下のペレットを得る。例文帳に追加

When the cross section of the resin pellet is observed by a polarization microscope, a spherurite can not be observed in the center part, a lubricant is not contained in the resin pellet and the pellets with an angle of repose of ≤23° when the resin pellets are piled are obtained. - 特許庁

観察者の足元に位置され、観察者自身の脚で、操作可能な操作入力装置で入力した操作力を、手術用顕微鏡の鏡体２の位置を変更する移動力に変換して鏡体２の位置を変えるようにした支持装置である。例文帳に追加

The support device is positioned at the foot of the observer, and is constituted to shift the position of a mirror body 2 by converting operational force input in an operation input device which is operated by the foot of the observer into moving force for shifting the position of the mirror body 2 of a surgical microscope. - 特許庁

被検眼Ｅの前眼部や眼底部をそれぞれ観察するために、上下方向移動ユニット７Ａを動作させて顕微鏡本体８を上下方向に移動させ、前眼部フォーカス位置および眼底部フォーカス位置の少なくとも一方の観察フォーカス位置をメモリ６１に記憶する。例文帳に追加

A microscope body 8 is vertically moved by activating a vertical direction moving unit 7A in order to respectively observe the anterior segment and eyeground segment of the eye E to be examined and the observation focus position of at least either of the focus position of the anterior segment and the focus position of the eyeground segment is stored in a memory 61. - 特許庁

電子顕微鏡で試料の加熱時のガスとの反応過程をリアルタイムで観察する際に起こる、ガスによる鏡体内の真空の悪化や、加熱によるヒーターの伸びからくる試料ドリフトを解決し、高分解能観察を可能にする。例文帳に追加

To provide an electron microscope of which, the problem of deterioration of vacuum in a mirror body caused by gas, and drift of sample resulting from the elongation of a heater by heating, which occurs in real-time observation of a reaction process of the sample with the gas in heating are solved, capable of observing with high resolution. - 特許庁

左右一対の観察光学系ＩＬ、ＩＲと、前記左右一対の観察光学系の光路中にそれぞれ配置された可変開口絞り３０Ｌ、３０Ｒと、前記可変開口絞りの開口径を左右独立に変える独立可変手段３２Ｌ、３２Ｒと、を有することを特徴とする実体顕微鏡１００。例文帳に追加

The stereomicroscope 100 includes a pair of observation optical systems IL and IR; variable aperture stops 30L and 30R disposed respectively in optical paths of the pair of observation systems; and independent variable means 32L and 32R which independently change the aperture diameters of the variable aperture stops. - 特許庁

感応膜に配置された水溶液などの被検査流体に含まれる生体関連物質の電気的特性を検出し、顕微鏡などの観察機器によって、かつ、高倍率によって被検査流体に含まれる生体関連物質を観察するバイオセンサを提供する。例文帳に追加

To provide a biosensor which detects electric characteristics of a bio-related substance contained in fluid to be tested such as aqueous solution arranged in a sensitive film and observes the bio-related substance contained in the fluid to be tested by observation equipment such as a microscope and with high magnification. - 特許庁