「顕微鏡観察」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

異なる深さのある物体または光軸方向に距離がある複数の物体を同時に観察し、かつ、観察する全体像を同時観察すると共に、見てすぐに直感的に理解できる特性を保持し、かつ、経済性にも優れた光学顕微鏡を得ることにあり、特に、例えば、蛍光色素を結合した生体物質の立体形態を解明し、その挙動を解析してたんぱく質の性質を明らかにすること。例文帳に追加

To provide an economical optical microscope used for observing objects having different depths or a plurality of objects having distances in the direction of optical axis simultaneously and observing the overall images of the objects to be observed simultaneously and having an intuitive understanding characteristic, and, in particular, for clarifying three-dimensional form of a biological substance formed by coupling fluorescence dyes, analyzing its behavior, and clarifying properties of protein. - 特許庁

電子顕微鏡の観察用試料作製用マスクは、観察対象領域１３Ａを有する半導体基板１１上に、観察対象領域１３を電子線が透過できる厚みに相当する幅Ｗ１で形成された第１マスク１３と、半導体基板１１上に、少なくともその一部が第１マスク１３よりも大きい幅Ｗ２で形成された第２マスク１４とを具備している。例文帳に追加

The mask for manufacturing the observation mask of the electron microscope is provided with a first mask 13 formed on a semiconductor substrate 11 with the observed region 13A and having a width W1 corresponding to a thickness for transmitting an electron beam through the observed region 13 and a second mask 14 formed on the semiconductor substrate 11 and having a width W2 partially larger than the first mask 13. - 特許庁

電子ビーム鏡筒を移動させることによって、試料保持部に保持される試料の観察面上の各箇所を観察する位置に電子ビーム鏡筒を位置付けることにより、装置の床面積を節約する電子顕微鏡において、電子ビーム鏡筒の移動部から発生するパーティクルが試料の観察面に落ちることを防止する。例文帳に追加

To prevent particles generated from a moving part of an electronic beam lens barrel from falling onto an observation face of a sample in an electronic microscope in which a floor area of a device is saved by positioning the electronic beam lens barrel at a position of observing respective points on the observation face of the sample to be retained by a sample retaining part by moving the electronic beam lens barrel. - 特許庁

高解像でセクショニング効果が高く、出力画像を得るまでの時間を短縮化でき、光を強く散乱する物体の内部を、蛍光色素を付加することなく観察可能で、振動等に強く高解像で観察可能であり、更に、半導体ウエハー上に形成されたＩＣパターンの積層構造をも観察可能な光学装置及び顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an optical device and a microscope whose resolution is excellent and whose sectioning effect is excellent, by which time required until obtaining an output image is shortened and the inside of an object to intensively scatter light is observed without adding a fluorescent pigment and is observed by excellent resolution without being affected by vibration or the like and also the lamination structure of an IC pattern formed on a semiconductor wafer is observed. - 特許庁

集束イオンビームを用いて透過型電子顕微鏡で観察をおこなうための薄膜試料を作製する方法において、大きな試料基板から観察所望部位を確実に抽出し、薄膜試料作製のための仕上げ加工を行なう際に、観察所望部位を試料ホルダに安定して保持することができるようにする。例文帳に追加

To hold an observation desired portion stably on a sample holder, when extracting surely the observation desired portion from a large sample substrate and performing finishing process for preparing a thin-film sample, in a method for preparing the thin-film sample for performing observation by a transmission electron microscope by using a focused ion beam. - 特許庁

本発明は、高圧力下における試料を顕微鏡観察するための光学顕微観察用高圧力試料容器１０であって、容器本体１２と、この容器本体１２に着脱可能に装着される蓋体１４と、前記容器本体１２及び前記蓋体１４の少なくとも一方に設けられ、試料から放射される光を放出する観察窓３２とを備えている。例文帳に追加

The high pressure sample container for the optical microscopic observation 10 for observing the sample under high pressure by a microscope includes: a container body 12; a cover 14 detachably attached to the container body 12; and an observation window 32 provided in at least one of the container body 12 and the cover 14 and emitting light emitted from the sample. - 特許庁

少なくとも一つの光源と、拡散照明をもたらすためのリフレクターとを備えて構成され、前記リフレクターが少なくとも部分的に、顕微鏡対物鏡と観察されるべき対象物との間の観察ビーム路を取り囲んでいる、顕微鏡用照明装置において、リフレクターは少なくとも部分的に弾性があって、且つ少なくとも第一空間的形態から少なくとも第二空間的形態へ可逆的に変形可能である、照明装置によって解決される。例文帳に追加

The lighting system for the microscope includes, at least one light source and a reflector for providing diffused lighting, and the reflector at least partially surrounds an observation beam path between a microscope objective mirror and an object to be observed; and the reflector, at least partially has elasticity and can be reversibly deformed from at least a first spatial form to at least a second spatial form. - 特許庁

いくつかの検査技法のひとつを用いて細胞分裂の特定の段階にある染色体を染色すると、顕微鏡下で観察した染色体上に明暗の縞模様（バンド）が出現する；このバンドのパターンは各染色体の同定と構造の評価に有用な情報となる。例文帳に追加

when chromosomes at a particular stage in cell division are stained using one of several laboratory techniques, a specific pattern of light and dark stripes (bands) appears when the chromosomes are viewed through a microscope; the banding pattern assists in assigning each chromosome its particular number and evaluating its structure.  - PDQ®がん用語辞書 英語版

ターボ分子ポンプやイオンポンプ、あるいはロータリーポンプなどといった通常入手できる排気系を採用した電子顕微鏡において、希少性の高い対象物の観察または吸着を安全に実行できる装置を実現する。例文帳に追加

To realize an electron microscope which has adopted for it a normally available exhaust system such as a turbo molecular pump, an ion pump or a rotary pump and which can safely execute observation or adsorption of a highly scarce object. - 特許庁

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。例文帳に追加

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM). - 特許庁

表面に疎水性または親水性が異なる部分を有する対象物を有機化合物で修飾されたカンチレバータイプの探針を有する走査プローブ原子間力顕微鏡を用いて水平力を測定することで対象物の表面を観察する。例文帳に追加

The object surface is observed by measuring a horizontal force relative to the object whose surface has a part having different hydrophobicity or hydrophilicity by using the scanning probe atomic force microscope having a probe of a cantilever type modified by an organic compound. - 特許庁

曝露された細胞に損傷を与えることなく、顕微鏡での高精度の観察、及び様々な生物学的測定を行うのに十分な量の細胞を効率的かつ容易に回収することができる煙曝露試験用モジュールを提供する。例文帳に追加

To provide a smoke exposure testing module which enables the efficient and easy recovery of cells in an amount sufficient for performing highly precise observation with microscopes and various biological measurements without damaging the exposed cells. - 特許庁

基板上に圧電セラミックス層を配置してなる圧電発電素子において、前記圧電セラミックス層が走査型電子顕微鏡観察により粒径０．０１μｍ以上、０．１μｍ以下の範囲のセラミックスで形成されていることを特徴とする。例文帳に追加

In the piezoelectric power generating element formed by arranging a piezoelectric ceramics layer on a substrate, the piezoelectric ceramics layer is formed of ceramics in the range of a grain diameter of ≥0.01 μm and ≤0.1 μm by scanning electron microscope observation. - 特許庁

また、集束イオンビーム加工装置による透過電子顕微鏡観察用試料作製に用いるサンプリング装置は、プローブの軸を回転軸とする回転が可能なプローブと、その回転を行うための回転手段とを備えることを特徴とする。例文帳に追加

This sampling apparatus used in preparing samples for transmission electron microscope observation by a focused ion beam processing apparatus includes a probe which can rotate which its shaft being as an axis of rotation and a rotating means for rotating the probe. - 特許庁

カーボンブラックを含むエポキシ樹脂組成物中のカーボン凝集物を検査する方法において、該組成物からなる成形品表面を、撮像素子分光感度が４００ｎｍ〜１２００ｎｍの赤外線顕微鏡で観察することを特徴とするエポキシ樹脂組成物中のカーボン凝集物検査方法。例文帳に追加

This method for inspecting the carbon aggregate in the epoxy resin composition including carbon black is characterized by observing the molding surface comprising the composition by an infrared microscope having imaging element spectral sensitivity of 400 to 1,200 nm. - 特許庁

これら食品組成物を、ラウリル硫酸ナトリウムやシュガーエステル等の低分子界面活性剤を含む水溶液で希釈することで、安定した希釈乳化物を調製し、この希釈乳化物を光学顕微鏡で観察する事で、容易に再現性良く乳化状態を測定できる事を見いだした。例文帳に追加

A food composition comprising the food is diluted with an aqueous solution containing a low-molecular surfactant such as a sodium lauryl sulfate and a sugar ester to prepare a stable diluted emulsion, and the diluted emulsion is observed by an optical microscope to measure easily an emulsified state with satisfactory reproducibility. - 特許庁

偏光顕微鏡で観察したとき、平均サイズ１〜５μｍの結晶子がランダムに配向している黒鉛粒子と、樹脂（フェノール樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂など）とで構成された導電性組成物を成形し、セパレータを得る。例文帳に追加

The separator is obtained by molding a conductive composition comprising graphite particles in which crystallites having a mean size of 1-5 μm are oriented at random when observed under a polarization microscope, and a resin (e.g. a phenolic resin or a polyphenylene oxide resin). - 特許庁

本発明は分散性及び分散安定性が極めて良好であり、優れた色相及び着色力を有するアゾ顔料を提供することを目的とするものであり、好ましくは透過型顕微鏡で観察した際の長軸方向の長さが０．０１μｍ〜３０μｍであるアゾ顔料を提供すること。例文帳に追加

To provided an azo pigment which has extremely excellent dispersibility and dispersion stability and exhibits good color hue and high tinting strength, preferably, an azo pigment which has a length in a long axis direction of 0.01-30 μm when observed under a transmission microscope. - 特許庁

ＣＰＵ４４は、予め登録されている電子メールアドレスを宛先とし、当該画像データと、当該画像データで表されている観察像の撮影時における顕微鏡１０若しくはカメラ３０の設定状態を示す情報とが含まれている電子メールを作成する。例文帳に追加

A CPU 44 generates email to an email address registered in advance, which includes the image data and information on settings of the microscope 10 or camera 30 for imaging the observed image represented by the image data. - 特許庁

μｍ級の微小対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡で、探針に加わる好ましくない試料表面に平行な力を除き、ｍｍ級の広域走査の測定を探針摩耗等の問題を起こすことなく高い再現性、測定精度で行えるようにする。例文帳に追加

To perform the measurement of mm-class wide scanning with high reproducibility and measuring accuracy without causing such problems as probe wear excluding undesirable force to the sample surface being applied to the probe with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target. - 特許庁

第一の集束イオンビーム１０１のスパッタリングエッチング加工を行って薄片を作製すると同時に、薄片の側壁と平行な方向から第二の集束イオンビーム１０２の照射を行って走査イオン顕微鏡観察をし、薄片の厚さを測定する。例文帳に追加

Irradiation with a second converged ion beam 102 from the direction parallel to the side wall of the leaf is performed simultaneously with preparation of the leaf by a sputtering/etching processing using a first converged ion beam 101 to observe the leaf by a scanning ion microscope and the thickness of the leaf is measured. - 特許庁

塩化メチレン不溶の粒径５μｍ以上の異物が１００個／ｇ以下である芳香族−脂肪族共重合ポリカーボネート樹脂を成形してなる、顕微鏡観察による１〜５μｍの異物が１０，０００個／ｍｍ^3以下である光学製品。例文帳に追加

This optical product including ≤10,000/mm^3 foreign matters having 1-5 μm size measured by microscope observation is obtained by molding the aromatic-aliphatic copolymerized polycarbonate resin including ≤100/g foreign matters having ≥5 μm particle diameters insoluble in methylene chloride. - 特許庁

観測用プレートに水溶液を滴下させ、それを乾燥させて肉眼で水分が視認できなくなったら乾燥を止め、観測用プレート上に析出顕在化した懸濁物質の結合状態、集合状態を光学顕微鏡により観察するようにした。例文帳に追加

The aqueous solution is dropped onto an observation plate, followed by drying; the drying is stopped, when moisture is not observed visually by naked eyes; and the coupling condition and the aggregation condition of the suspended matter deposited and actualized on the observation plate are observed by an optical microscope. - 特許庁

また、光の干渉、回折を利用した光学観察装置を用いることにより、従来において電子顕微鏡を用いてレジストパターンの認識を行った場合のようにレジストパターンの収縮を発生させることはなく、非破壊で精密に線幅を測定することができる。例文帳に追加

Besides, by using an optical observation apparatus utilizing the interference and refraction of light, without shrinking the resist pattern like the conventional case of recognizing the resist pattern by using an electron microscope, the line width can be precisely measured in a nondestructive manner. - 特許庁

本発明は、集束イオンビーム装置により薄膜化した観察部を作製する際にその側面に生成される非晶質層を除去する透過型電子顕微鏡用試料作製装置に関し、再デポを生じさせないで有効に非晶質層を除去する。例文帳に追加

To effectively remove an amorphous layer without generating deposits again in relation to a sample-forming apparatus for a transmission type electron microscope which removes the amorphous layer generated to the side face of an observation part when forming the thin-filmed observation part by a convergent ion beam apparatus. - 特許庁

赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡は、３つのチップ３５、３６、３７を有するカメラシステム２５を含み、対象物９から発する赤外光は、ダイクロイックビームスプリッタ３３を介して３つのカメラチップのうちの１つのみに供給される。例文帳に追加

The surgical microscope for observing infrared fluorescence includes a camera system 25 having three chips 35, 36, 37, wherein infrared light emanating from an object 9 is supplied to only one chip among the three chips of the camera via a dichroic beam splitter 33. - 特許庁

透過型顕微鏡下における観察で粒径が１００ナノメートル未満の微結晶を含有する軟磁性金属皮膜の少なくとも一層（Ａ層）が湿式めっき法によって形成されてなるシート状電磁波障害防止用材料である。例文帳に追加

The sheeted material for preventing electromagnetic interference is provided, in which at least one layer (layer A) of a soft magnetic metal film comprising microcrystal whose particle size is less than 100nm as observed by a transmission microscope, is formed by wet plating. - 特許庁

本発明の製造方法は、電子顕微鏡による観察の際に試料支持用として用いられる、グリッドメッシュ１０と、グリッドメッシュ１０上に設けられた、孔部２１を有する薄膜２０と、を備えたマイクログリッド１の製造方法である。例文帳に追加

The manufacturing method is used for a micro grid 1 that includes a grid mesh 10 that is used for sample support when observed by an electron microscope and a thin film 20 placed on the grid mesh 10 that has pores 21. - 特許庁

本発明の目的は、FIB加工で試料から、より微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を容易に固定、安全に取扱うことが可能な電子顕微鏡観察用試料支持部材を提供することにある。例文帳に追加

To provide a sample support member for electron microscopic observation capable of easily fixing and safely treating an extracted minute sample piece when extracting a more minute sample piece from a sample by FIB working and working it into a TEM sample. - 特許庁

レーザーを用いた高さ測定機能を、電子線分析装置が備える光学顕微鏡の構成要素の一部を兼用することによって設け、これによって、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時測定を可能とする。例文帳に追加

A height measurement function using a laser beam is provided by using a part of components of an optical microscope equipped in the electron beam analyzer, and consequently, the unevenness image of the sample surface can be simultaneously measured in the same visual field as the EPMA analysis image and the SEM observation image. - 特許庁

イオンミリング法によるＳｉＰ型半導体パッケージでの断面試料を作成するために光学顕微鏡では観察できない試料内部構造中の所望の断面を正確に得ることができる断面作成方法及び作成システムを提供する。例文帳に追加

To provide a cross section preparation method and a preparation system capable of acquiring accurately a desired cross section in sample internal structure unobservable by an optical microscope in order to prepare a cross-sectional sample of a SiP type semiconductor package by an ion milling method. - 特許庁

上部構造を保護するシートメッシュ１１０と、シートメッシュ１１０上に具備されてナノ粒子１３０が分散している支持膜１２０とを含む、透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッド１００とその製造方法を提供する。例文帳に追加

There is provided a moon grid 100 specialized for three-dimensional observation by a transmission electron microscope, and its manufacturing method, wherein the moon grid includes a sheet mesh 110 for protecting an upper structure, and a support film 120 equipped on the sheet mesh 110 and containing nanoparticles 130 dispersed. - 特許庁

光学顕微鏡試料のカバーガラスを素早くかつ強固に下部材に密着する方法を提供すること、および生きた試料の刺激などに対する瞬時から長期に及ぶ反応を高解像度で継続的に観察することを可能にするチャンバーを提供すること。例文帳に追加

To provide a method for quickly and firmly attaching the cover glass of an optical microscope sample to a lower material and a chamber with which reaction from a moment to a long time to stimulation to a live sample is continuously observed in high resolution. - 特許庁

本発明が解決しようとする課題は、特別な検出手段を要せず顕微鏡観察しながらマニピュレータを操作するだけで微小な試料へプローブが確実に且つソフトに接触するようにアプローチ出来る手法を提示すると共に、それを実行する装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method in which a probe can approach so as to accurately and softly come into contact with a minute sample only by operating a manipulator while performing microscope observation without requiring special detection means, and to provide a device for executing the same. - 特許庁

樹脂に含まれるフィラーの分散状態を評価する方法であって、フィラーを含む樹脂を溶媒で溶解し、溶解液を、ろ過フィルターを用いてろ過し、前記ろ過フィルター上に残ったフィラーを顕微鏡で観察し、評価する方法。例文帳に追加

In this method of evaluating a dispersion state of the filler contained in the resin, the resin containing the filler is dissolved in a solvent, a solution is filtered using a filter, the filler remained on the filter is observed and evaluated by a microscope. - 特許庁

カリウムイオンの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、カリウムイオンを含有し且つ透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜１０である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。例文帳に追加

The colloidal silica produced using activated silicic acid as a raw material in the presence of potassium ions contains potassium ions and contains a group of nonspherical deformed silica particles having a major to minor axis ratio of 1.2-10 as observed with a transmission electron microscope. - 特許庁

本発明の目的は、試料交換から観察までのスループット向上を図ると共に、電子ビーム照射時には、必要なプローブ電流量が得られるようオリフィス径を従来より拡大することができる排気システムを備えた低真空電子顕微鏡を提供することにある。例文帳に追加

To provide a low vacuum scanning electron microscope including an evacuation system in which an orifice diameter can be made larger than the conventional one so that a throughput until observation from sample exchange can be improved, and a required amount of a probe current can be obtained when irradiating an electron beam. - 特許庁

生物試料が蛍光した蛍光光が蛍光観察用吸収フィルター３を透過すると、蛍光励起用フィルター２からの蛍光励起光波長は吸収フィルター３にて吸収遮断され蛍光像のみが実体顕微鏡の対物レンズ５に到達する。例文帳に追加

When the fluorescence light obtained by fluorescence of the biological sample is transmitted through an absorption filter 3 for fluorescence observation, the fluorescence excitation light wavelength from the filter 2 for the fluorescence excitation is absorbed and cut off by the absorption filter 3, and then only a fluorescence image reaches an objective lens 5 of the stereomicroscope. - 特許庁

ポリフェノールを含有する試料と菌体とを反応させた後、該反応液にセリウム化合物を作用させ、次いで菌体表層部に形成されたセリウムの結晶物を電子顕微鏡により観察する菌体に吸着したポリフェノールの検出法。例文帳に追加

The method for detecting the polyphenol adsorbed on the microbial cells is provided by reacting the specimen containing the polyphenol with the microbial cells, then effecting a cerium compound with the reaction liquid, and then observing the crystalline materials of the cerium formed on the surface layer part of the microbial cells by an electron microscope. - 特許庁

標本の形状に対応させて、標本と偏斜照明を標本の垂直軸に対して相対的に回転させることにより、標本によって偏斜照明が遮断されることなく照射され、適切な偏斜照明により観察することができる光学顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical microscope capable of performing observation by proper focal illumination by relatively rotating a sample and focal illumination with respect to the vertical axis of the sample, while being made to correspond to the shape of the sample, thereby performing irradiation, without intercepting the focal illumination by the sample. - 特許庁

標本を観察するための対物レンズ９と、透過明視野照明装置１７と、透過明視野照明装置１７の下側または上側に透過暗視野照明装置２５を装着するための装着機構を有するベース部３を備える顕微鏡１。例文帳に追加

This microscope 1 includes an objective lens 9 for observing the sample, the transmission bright field lighting system 17, and a base part 3 having a mounting mechanism for mounting the transmission dark field lighting system 25 on the lower side or the upper side of the transmission bright field lighting system 17. - 特許庁

集束イオンビームでＴＥＭ観察用の薄片化試料を作製し、低加速電圧の気体イオンビームで試料表面のダメージ層を除去する装置において、電子顕微鏡と試料とを最適な距離に配置すること。例文帳に追加

To arrange an electron microscope and a sample so that the distance therebetween is optimum, in a device which prepares a thin sample by focused ion beam for use in observation by a transmission electron microscope (TEM) and removes a damaged layer on the sample surface using a gaseous ion beam at a low acceleration voltage. - 特許庁

対物レンズの瞳をリレーして、瞳共役面に瞳変調素子を配置して位相物体を観察する際に、瞳共役面の位置が変動しても、収差の発生が少ない良好な像が得られる顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope device capable of obtaining a good image with less aberration, even when the position of a pupil conjugate surface is fluctuated in the case of observing a phase object by relaying a pupil of an object lens and arranging a pupil modulation element on the pupil conjugate surface. - 特許庁

乾燥重量に対するフッ素の含有率が４００ｐｐｍ以下、走査型電子顕微鏡観察において結晶粒子が双四角錐台形状である鉄の全部又は一部をβ骨格構造中に含有するβ型鉄シリケートを用いる。例文帳に追加

A β-type iron silicate has a fluorine content of 400 ppm or less relative to the dry weight and has all or part of iron contained in a β-skeleton structure, provided that crystalline particles of the β-type iron silicate have a dual truncated quadrangle pyramid under a scanning electron microscope. - 特許庁

対物レンズの切り換えを簡単に行うことができ、装置自体をコンパクトにするとともに、粗微動焦準操作部と対物レンズ切り換え操作部を観察光軸よりも手前側に配置する対物レンズ切り換え装置及び対物レンズ焦準装置を具備する顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide: an objective lens switching device capable of easily switching an objective lens, decreasing a size of the very device, and arranging a coarse/fine focusing operation part and an objective lens switching part on a near side relative to an observing optical axis; and a microscope equipped with an objective lens focusing device. - 特許庁