「顕微鏡観察」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

二次信号検出器およびその増幅回路の帯域幅の上限を超える速さで荷電粒子線を走査した場合に発生する画像の劣化を補正し、リアルタイム観察が可能な電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide an electron microscope which can perform real-time observation by correcting deterioration of images which is brought about when charged particle beams are scanned with a speed exceeding the upper limit of a band width of a secondary signal detector and its amplifying circuit. - 特許庁

本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field. - 特許庁

タンパク質のような巨大分子の分析を目的とした質量分析顕微鏡観察で生じる像ボケを低減する方法、プログラム、装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method, along with a program and apparatus, for reducing image blur during mass spectrometry microscopic observation intended to analyze the macromolecules of protein or the like. - 特許庁

走査型電子顕微鏡１０において、画像切出部１９より、電子線１３を偏向する偏向信号ｓ４，ｓ５の電圧値若しくは電流値を輝度として切り出した偏向画像２１，２３を、観察画像と同時に取得する。例文帳に追加

In the scanning electron microscope 10, deflection images 21, 23 in which a voltage value or a current value of the deflection signals s4, s5 to deflect electron beams 13 is cut out as luminance is obtained simultaneously with an observation image from an image cut-out part 19. - 特許庁

観察する試料物体の表面の高さ情報（凹凸値など）を得るのに、従来に比べ、容易かつ安価に構成可能な共焦点顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a confocal microscope for acquiring height information (e.g., ruggedness value) about a surface of a sample object to be observed, which is configured more easily and more inexpensively than in a conventional manner. - 特許庁

対物レンズから接眼レンズに至る観察光学系に光学装置を装着可能であって、かつ、剛性に優れた倒立顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an inverted microscope that is highly rigid and capable of attaching an optical device to an observation optical system between an objective lens and an ocular lens. - 特許庁

ユーザによる顕微鏡での観察対象物の見落としの危険性を回避できるようにするための情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラムを提供すること。例文帳に追加

To provide an information processor for avoiding a risk for missing a to-be-observed object observed by a user using a microscope, an information processing method, and a program of the same. - 特許庁

走査型顕微鏡は、所定の波長の励起光を走査しながら試料２に照射し、試料２からの観察光をデスキャンせずにPMT６６ａおよびPMT６６ｂにより検出することが可能である。例文帳に追加

The scanning type microscope detects the observation light from the sample 2 with a PMT (photo multiplier tube) 66a and a PMT 66b by irradiating the sample 2 with excited light of a predetermined wavelength while scanning the sample 2 with the excited light without performing descanning with the observation light from the sample 2. - 特許庁

簡易な構成で照明ムラや観察像のムラを低減することができる汎用性の高い光学系、照明装置および顕微鏡装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a very versatile optical system capable of reducing the illumination unevenness or observation image unevenness with a simple structure, and to provide an illumination device and a microscope device. - 特許庁

細胞など生きた状態の生体試料を水平型光学顕微鏡で観察しながら任意の時点で固定することができる試料の固定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fixing device of a sample for fixing a biological sample in a state where cells, or the like are alive at an optional point in time while observing by a horizontal optical microscope. - 特許庁

試料の観察に使用する対物レンズに関する情報を容易に確認できるリング、顕微鏡、対物情報検出ユニットを提供すること。例文帳に追加

To provide a ring configured for allowing a user to easily obtain information about an objective lens to be used for observation of a specimen, and to provide a microscope and an object information detection unit. - 特許庁

この支持部Ｇは、透明基板２０に覆われない領域であって、透明基板２０の顕微鏡に対向する観察面２１より後退して段差を形成する位置に設けられる。例文帳に追加

The supported section G is an area which is not covered with the transparent substrate 20, and provided at a position at which it backs away from an observation plane 21 of the transparent substrate 20 facing the microscope so as to form a step. - 特許庁

中性子を用い、非破壊で物質や構造内部の状況を透過画像により拡大し観察できる中性子顕微鏡及び中性子透過拡大画像形成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a neutron microscope, along with a neutron transmission magnified image forming method, capable of magnifying a state in a substance or structure in a non-destructive manner using a neutron by a transmission image to observe the same. - 特許庁

運搬と管理が容易なように蛍光顕微鏡のコンパクト化を図り、インキュベーターやクリーンベンチ内部など狭い場所にも配置可能で、遠隔制御を通じた試料観察が可能であること。例文帳に追加

To provide a fluorescent microscope which is made compact so as to facilitate transportation and management, can be disposed in a narrow place such as the inside of an incubator or a clean bench, and can achieve a samples observation through a remote control. - 特許庁

光軸方向に合焦位置の異なる複数の標本断面の画像を観察するため、装置の製造や構成が簡単で操作の容易な結像装置及び顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide an imaging apparatus that is easily manufactured, has a simple configuration, and is easily operated, in order to observe images of a plurality of specimen cross-sections of different focusing positions in the direction of an optical axis, and to provide a microscope device. - 特許庁

観察試料又は欠陥部の帯電状態が最適になった時点で信号検出をできる荷電粒子顕微鏡装置及び荷電粒子ビーム制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide a charged particle microscope device capable of detecting a signal at the time when a charged state of an observation sample or an electrostatic state of a defect part becomes optimal, and to provide a control method of a charged particle beam. - 特許庁

金属材料の試料面を、カメラを付設した金属顕微鏡で観察し、非金属介在物の検査を行う非金属介在物の自動検査方法および装置に関する。例文帳に追加

To provide an automatic inspection method and an automatic inspection apparatus of a non-metal inclusion for observing the sample surface of a metal material by a metal microscope having a camera and for inspecting the non-metal inclusion. - 特許庁

アフォーカルリレー光学系３内部に結像する顕微鏡観察像結像面１１の１部を遮光し、遮光範囲内に画像表示手段１０に表示する画像から射出する光束を導いて結像させている。例文帳に追加

One part of the image-formation surface 11 of the microscopic observed image formed inside the optical system 3 is shielded from light, and the luminous flux emitted from a picture displayed on a picture display means 10 is guided to the inside of the light shielding range and formed into the image. - 特許庁

環流用チューブや電位測定用パッチを付けた状態で、単一または複数の培養容器において高速に観察位置を変更できる顕微鏡装置の提供。例文帳に追加

To provide a microscope apparatus capable of changing observation positions of a single or a plurality of culture vessels at a high speed in the state of attaching a tube for reflux and a patch for potential measurement. - 特許庁

表面のアライメントマーク３０４を顕微鏡２１０で観察し、フォトマスク３１０に設けられた裏面用アライメントマーク１０４と合致させて、磁気記録媒体４０４の裏面にアライメントマークを設ける。例文帳に追加

The alignment mark 304 on the surface is observed through a microscope 210 and is matched to an alignment mark 104 for a back surface provided on a photomask 310, then an alignment mark is provided on the back surface of the magnetic recording medium 404. - 特許庁

加えて、本発明による開口絞り装置は、少なくとも顕微鏡の観察パラメータのそれぞれ設定した値により、開口絞り（５０ａ、５０ｂ）に開口信号に出力する制御装置（５２）を備える。例文帳に追加

Additionally, the aperture diaphragm device is equipped with a controller (52) outputting the aperture signal to the aperture diaphragm(50a and 50b) at least according to the respectively set values of the observation parameters of the microscope. - 特許庁

簡単な構成で、培養環境を一定に保ちながら、透過照明観察を行うことのできる透過照明装置、それを備えた顕微鏡、及び透過照明方法を提供する。例文帳に追加

To provide a transmitted illumination device that enables the observation under the transmitted illumination as the cultivation environment is kept constant with a simple structure, a microscope equipped with the same and transmitted illumination method. - 特許庁

更に、顕微鏡観察用培養器１を大幅に軽量化できる結果、重量制限があるような微細な動作をする電動ステージにも設置が可能となる。例文帳に追加

Further the incubator 1 for microscopic observation is significantly lightened and, as a result, the incubator is mounted on the electric stage finely acting in such a manner as to have a weight restriction. - 特許庁

主術者と並んだ位置においても対向した位置においても、副術者が自己の視野で術部を拡大して観察することが可能となる手術顕微鏡システムを提供する。例文帳に追加

To provide an operating microscope system which permits a sub operator to enlarge a site of operation for observation with his/her own field of vision even in a position where he/she is beside a main operator or a position where he/she faces the main operator. - 特許庁

光源装置や照明光学系をあまり大きくすることなく照明光を効率よく観察対象物に対して照射することができる顕微鏡を、提供する。例文帳に追加

To efficiently radiate illuminating light without making an illumination optical system and a light source device larger by providing a middle part with a fiber rod curved by a specified angle. - 特許庁

試料の観察表面が変形したり、ダメージを受けたりせず、真空チャンバ内を排気する排気装置の負荷が増大しない顕微鏡用試料作成装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a sample preparation device for a microscope capable of preventing a sample observation surface from being deformed or damaged, and preventing a load of an exhaust system for exhausting the vacuum chamber inside from being increased. - 特許庁

この耐摩耗性評価装置１０００において所定時間処理された後に、リング１０４の端面を顕微鏡等で目視観察して耐摩耗性が評価される。例文帳に追加

After certain time treatment, the wear resistance evaluating device 1000 evaluates the wear resistance of the ring 104 with its end face visually observed by a microscope or the like. - 特許庁

培養観察装置内の顕微鏡の対物レンズ８１０は、先端部分が培養空間２０２内に位置し、残りの部分は培養空間２０２より低湿度の培養装置副本体の内部空間１５６内に位置している。例文帳に追加

This objective lens 810 of a microscope in the culture observation device is provided by positioning its tip end part at the inside of a culturing space 202, and the rest of its part at the inside space 156 of a culturing device sub-main body at a lower temperature than that of the culturing space 202. - 特許庁

顕微鏡下での細胞長期観察時に、細胞培養に必要な各種の液体または気体を細胞への刺激を低減した状態で供給排出できるようにすること。例文帳に追加

To be able to feed or discharge various kinds of solutions or gases required for culturing cells, in a state of reduced stimulation to the cells, at a long-term observation of cells under a microscope. - 特許庁

試料のＸ線像を電子像に変換して観察する新規なＸ線顕微鏡において、電子加速空間を確保し容易に光学的位置調整ができさらに試料の交換を容易にする試料室を提供する。例文帳に追加

To provide a sample chamber which ensures an electron accelerating space, can easily adjust an optical position and makes exchange of a sample easy in a novel X-ray microscope that an X-ray image of the sample is converted to an electron image to observe it. - 特許庁

小型軽量であっても画像の記録や同時観察などを簡便に行うことができ、野外に持ち出して使用できるような携帯用の双眼顕微鏡とそれを用いた撮像方法を提供する。例文帳に追加

To provide a portable binocular microscope by which the recording and the simultaneous observation of an image are easily executed even through it is small- sized and is light in weight and which is carried out and used to/at outdoors and to provide an image pickup method using it. - 特許庁

顕微鏡本体の変形のみならず、標本がいずれの方向に移動した場合においても、これに追従するように観察位置を自動的に補正する。例文帳に追加

To automatically correct an observation position so as to follow movement of a sample not only in the case that a microscope body is deformed, but also in the case that the sample moves in any direction. - 特許庁

透過型顕微鏡（ＴＥＭ）観察用試料等をはじめとする各種超薄切片を、短時間、低コスト、簡便かつ効率的に製造し得る方法の提供。例文帳に追加

To provide a method capable of simply and efficiently manufacturing various ultra-thin segments such as a sample for transmission type electron microscope (TEM) observation in a short time and at a low cost. - 特許庁

近視野顕微鏡やフォトンＳＴＭでの偏光観察に好適に使用できると共に、より簡便な工程で作製可能な微小偏光光源を提供する。例文帳に追加

To provide a minute polarizing light source which is appropriately used for observations carried out by a near-field microscope or a photon STM and being manufactured through simpler processes. - 特許庁

標本の光軸方向の異なる位置における光像を観察可能とする照明方法と、これを具備する照明装置を有する顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an illuminating method by which the optical images of a sample at different positions in an optical axis direction can be observed, and a microscope having an illuminator provided with the illuminating method. - 特許庁

アルミニウム合金表面の結晶の偏光顕微鏡観察像において、明暗コントラストを３段階に等分したとき、各段階のコントラストを有する結晶の面積分率を、それぞれ２０〜５０％の範囲とする。例文帳に追加

In a polarization microscope image of crystals at the surface of an aluminum alloy, when the light and dark contrast in the microscope image is graded into three levels of equal intervals, the area ratio of crystals having each contrast level each falls within the range of 20-50%. - 特許庁

光学顕微鏡のＸＹＺステージ上に設けられた観察領域内で、Ｙ軸方向に沿って複数の第１及び第２の撮影領域１１及び１２が、Ｘ軸方向で互いに重なり合うように配置される。例文帳に追加

In an observation area provided on an XYZ stage of a light microscope, first and second photographing areas 11 and 12 which are multiple in a Y axis direction are arranged so as to be overlapped with each other in an X axis direction. - 特許庁

低コストで大型化することなく、観察光学系と連動して調光を行なっても色温度が変化しない顕微鏡システムを提供すること。例文帳に追加

To provide a microscope system which is low in cost and does not change a color temperature even if lighting is controlled cooperatively with an observation optical system without upsizing. - 特許庁

シリコン結晶中の欠陥を透過型電子顕微鏡で観察するための試料作製方法であって、結晶表面の浅い領域のみを剥離させて薄片化し薄片試料とするようにした。例文帳に追加

The method for manufacturing the sample to observe the defect in the silicon crystal by the transmission electron microscope comprises the steps of releasing only a shallow region on the surface of the crystal, and thinning the region to the thin piece samples. - 特許庁

非常に微小な領域についての観察と同時に、ＣＡＲＳの時間分解分光計測を、従来と比較して少ない計測回数、時間で行える顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microscopic device, capable of performing time-resolved spectroscopic measurement of CARS (Coherent Anti-Stokes Raman Scattering) at the same as with the observation of a very minute area by a smaller number of measuring times and in a shorter measuring time than in the conventional manner. - 特許庁

また、前記電子顕微鏡観察用試料支持部材において、前記試料支持部材の試料片を固定する部分の凹凸を、５μｍ以下にすることで達成される。例文帳に追加

Further, the irregularities of the part for fixing the sample piece of the sample support member is set to 5 μm or less. - 特許庁

光電変換面に試料を近接して配置し透過Ｘ線を電子像に変換して観察するＸ線顕微鏡に使用する試料スライドおよび試料の保持挿入機構を提供することである。例文帳に追加

To provide a sample slide used for X-ray microscope in which a sample is arranged to be adjacent to a photoelectric transducing face, and with which transmitted X-rays are transduced into an electronic image so as to be observed, and to provide a sample holding and insertion mechanism. - 特許庁

本発明は、接眼部における視度調整や、アイシェードなどの操作が行い易く、使用者に応じて適正な観察状態に迅速に調整することができる顕微鏡装置を提供することを最も主要な特徴とする。例文帳に追加

To provide a microscopic apparatus which facilitates the diopter adjustment in an eyepiece section and the operation of an eye shade and the like and is rapidly adjustable to an adequate observation state according to users. - 特許庁

光源１２ａからの照明光Ｌ１を、開口絞り１２ｅを介して観察物Ｏに照射する照明光学系１２を備えた顕微鏡において、開口絞り１２ｅの位置に、光拡散性素子１２ｆを備える構成を採用した。例文帳に追加

In the microscope provided with an illumination optical system 12 irradiating an object to be observed O with an illumination light L1 from a light source 12a via an opening diaphragm 12e, a light diffusion element 12f is disposed on the position of the opening diaphragm 12e. - 特許庁

ウエルの底面を完全に平滑な平面とし、ウエル底部の厚みをきわめて薄くしてクリアな顕微鏡観察を実現し、しかもウエルの形状、大きさ、深さの誤差を少なくする。例文帳に追加

To realize clear microscopic observation by forming the bottom surface of a well into a perfectly smooth flat surface and making the thickness of the base of the well extremely thin and to reduce the error of the shape, size and depth of the well. - 特許庁