「顕微鏡観察」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

時間のかかる煩瑣の組込操作または補足の調節方策を要することなく、顕微鏡の異なる箇所に−特に、反対側に−設置でき、公知の類似の解決法の欠点がないモノスコピックのまたは条件付きでステレオスコピックの共同観察用鏡筒を創成する。例文帳に追加

To obtain a lens barrel for a joint observer made monoscopic or conditionally stereoscopic, which is installed at the different spot of a microscope, especially on an opposite side, without requiring troublesome assembling operation to take much time or a supplementary adjusting method, and having no fault in a well-known similar solution. - 特許庁

ナノ秒オーダーのごく強い短パルスＸ線を照射する場合にも光電変換面に十分な電流を供給しかつ電圧降下を抑制することにより、生きた状態で生体観察が可能なレーザプラズマＸ線顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To supply a sufficient current onto a photoelectric transfer face and to restrain a voltage drop to observe a living organism under a living condition, when irradiated with a nano-second order of very strong short pulse X-ray. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で膜の内／外表面および膜断面のいずれかを観察した時の、倍率５万倍での膜面構造が幅が５ｎｍ以上でアスペクト比が２以上であるラメラの集積により形成されている、ポリフッ化ビニリデン系樹脂膜を用いてろ過を行う。例文帳に追加

Filtration is made by using a polyvinylidene resin membrane formed by the integration of lamellas of ≥5 nm in the width of the membrane surface structure at a magnification 50000 times when either of the inside/outside surfaces of the membrane and the membrane section is observed by a scanning electron microscope and ≥2 in aspect ratio. - 特許庁

上記比較ステップは、工具顕微鏡３１を用いて、基準レンズの凸側レンズ面の側からレンズホルダの中空状孔を通して上記印を観察し、レンズホルダの実際の取付位置と基準レンズの基準位置とを比較して、レンズホルダの取付精度を確認する。例文帳に追加

In the comparison step, a tool microscope 31 is used to observe the mark from the convex lens surface of the reference lens through the hole of the lens holder, and the actual fitting position of the lens holder is compared with the reference position of the reference lens to confirm the fitting accuracy of the lens holder. - 特許庁

偏光顕微鏡観察下での光学的異方性組織の割合が９０％以上であり、かつ、光学的異方性組織における球状と分類される異方性組織の割合が５０％以上である石油生コークスを賦活して得られる活性炭により上記課題が達成される。例文帳に追加

The subject is solved by the active carbon obtained by activating the oil raw coke whose rate of optical anisotropic organization under polarization microscope observation is 90% or more and rate of an anisotropic organization classified as a sphere in the optical anisotropic organization is 50% or more. - 特許庁

本発明は観察対象である試料を照明する照明手段と、この試料上のパターンの特定の空間周波数成分を除去する空間フィルタとを簡単な構成で実現する顕微鏡装置及びその照明方法を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope device capable of realizing with a simple constitution an illumination means for illuminating a sample which is an observation object and a space filter for removing a specific space frequency component of a pattern on the sample, and its illumination method. - 特許庁

Ｃｏおよび／またはＮｉを主体とする５〜３０重量％の結合相２で硬質分散相３を結合してなるＴｉＣＮ基サーメット１において、電子顕微鏡写真にて観察した場合、硬質分散相３内に多角形形状をなすＴｉＣ微粒子７を分散させる。例文帳に追加

In the TiCN cermet 1 obtained by binding a hard dispersion phase 3 with a binding phase 2 of 5 to 30 wt.% essentially consisting of Co and/or Ni, TiC fine particles 7 with a polygonal shape (in the case observation is performed with electron micrographs) are dispersed into the hard dispersion phase 3. - 特許庁

半導体結晶の劣化を引き起こすＡｕ等の材料を必要とせず、先端が極めて鋭い針状結晶を製造することができる針状結晶の製造方法と、被観察物表面の極めて微細な凹凸に対応することが可能な走査型プローブ顕微鏡のカンチレバーとを提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a needle crystal which can manufacture the needle crystal having an extremely sharp tip without requiring materials such as Au and the like that cause deterioration of a semiconductor crystal, and a cantilever of a scanning type probe microscope which can comply with extremely fine irregularities of the surface of an observation object. - 特許庁

半導体レーザー照射装置の励起光照射部１８が手術顕微鏡１の観察光の取入口１５に着脱自在なアタッチメント１６に備えられているため、不使用時には外しておくことができ便利であると共に、メンテナンス（交換調整等）も容易である。例文帳に追加

Because an excitation light irradiation part 18 of a semiconductor laser irradiation device is disposed on the attachment 16 detachably set on an observation light intake 15 of a surgical microscope 1, the excitation light irradiation part 18 can be conveniently removed when it is not in use and maintenance (such as replacement and adjustment) becomes easier. - 特許庁

培養物観察システムは、培養物（細胞）の培養に適した環境を構成するための培養庫２と、該培養庫２内に設けられ、培養物の顕微鏡画像を撮影するための撮像手段（撮像装置３）と、該撮像手段を制御する制御手段（コンピュータ）とを備える。例文帳に追加

This system for observing the culturing material is provided, by installing an incubator 2 that constitutes an environment which is suitable for culturing the material to be cultured (cells), and an imaging means (imaging device 3) installed in the incubator for taking the microscopic images of the culturing material and a control means (computer) for controlling the imaging means. - 特許庁

１０μｍ〜１００μｍオーダーの平滑な断面形成に適し、作業者の熟練の技術を必要とせず、かつ加工位置精度に優れ、所望の特定位置に正確に断面を形成できる、走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a sample for cross-section observation by a scanning electron microscope that is appropriate to smooth cross-section formation of 10-100 μm order, does not require a skilled technique of a worker, has high processing position accuracy, and accurately forms a cross section at a desired specific position. - 特許庁

本発明は、電子顕微鏡内で熱電効果を発生させ、それに伴う発生磁場を可視化することにより、ナノレベルの熱電材料組織と熱電特性を同時に評価できる装置およびそれを用いた熱電材料を観察する方法の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide a device capable of evaluating nano-level thermoelectric material tissues and thermoelectric characteristics at the same time, a method of observing a thermoelectric material using the same, by generating a thermoelectric effect in an electron microscope, and visualizing an ensuing magnetic field. - 特許庁

固定重り５９の重量による加圧力によって顕微鏡観察用の試料４４に直接力を作用させることにより、シャーレ５５の底部の円孔５６内に正しいセット状態で、収納された試料４４を着脱自在に固定するようにしたものである。例文帳に追加

Force is applied directly to a sample 44 for microscopic observation by pressurizing force generated by the weight of a fixing weight 59 to detachably fix the sample 44 which is housed in a correct setting state within a circular hole 56 at the bottom of a petri dish 55. - 特許庁

その組織構造は、実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。例文帳に追加

The tissue structure has the structural characteristic in which the crystal structure substantially exclusive of a graphite structure does not substantially exist, the diffraction lines belonging to the metal Si and Si compound by the pattern analysis using an X-ray diffraction method are not detected and the granular structure is not identifiable by the observation of a transmission type electronmicroscope(TEM). - 特許庁

大気中の浮遊粒子状物質を背景の影響を受けることなく顕微鏡で鮮明に観察し、あるいは大気中の浮遊粒子状物質の量を正確に測定し、更には大気中の浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を正確に同定することのできる方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method capable of clearly observing suspended particulate matter in an atmosphere with a microscope without being affected by backgrounds, accurately measuring the amount of the suspended particulate matter in the atmosphere, and accurately identifying chemical substances contained in the suspended particulate matter in the atmosphere. - 特許庁

ＦＩＢ加工により作製した断面ＴＥＭ観察用試料の、低取り出し角のＸ線分析器によるＥＤＸ分析においても、高いＸ線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor. - 特許庁

本発明の実体顕微鏡は、被観察物体１０からの光束を受けこれをアフォーカル光束にする対物レンズ１１と、対物レンズ１１からの光束を受けこれを変倍する変倍レンズ１２を備え、単眼光学系を構成している。例文帳に追加

This stereomicroscope is equipped with an objective lens 11 receiving luminous flux from the object 10 and making it afocal luminous flux, and a variable power lens 12 receiving the luminous flux from the lens 11 and varying the magnification of the luminous flux and constitutes a single lens optical system. - 特許庁

顕微鏡１１には、標本１３から発現した蛍光を標本１３の像を結像させるための観察光学系に入射させる対物レンズ２２と、複数の光ファイバからなり、標本１３から発現した蛍光を対物レンズ２２に入射させるイメージガイド２５とが設けられている。例文帳に追加

A microscope 11 is provided with an object lens 22 for throwing the fluorescence developed from the specimen 13 on an observation optical system for forming the image of the specimen 13 and an image guide 25 composed of a plurality of optical fibers and throwing the fluorescence developed from the specimen 13 on the object lens 22. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。例文帳に追加

While observing with a scanning electron microscope, a plurality of probes 1, 2, 3 and 4 each having a sharp tip are made to approach sample electrodes 5, 6, 7 and 8, respectively, and made to come into contact with them completely until a contact current saturates by the use of probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17 under the control of a probe movement control circuit 18. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。例文帳に追加

A plurality of point probes having sharp tips 1, 2, 3 and 4 access sample electrodes 5, 6, 7 and 8 respectively until contact currents saturate and contact with them securely, while observing through a scanning electron microscope, by the control of a point probe moving control circuit 18 by using point probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17. - 特許庁

鱗片状黒鉛粒子またはそれを改質した粒子からなる原料粒子（ｘ）に、破断面の顕微鏡観察で黒鉛切片が種々の方向に向かうキャベツ状の外観を有する原料球形化粒子（ｙ）を混合して流動状態で衝突させる。例文帳に追加

Raw material particles (x) consisting of flaky graphite particles or the particles obtained by reforming the same particles are mixed with raw material spheroidized particles (y) with a cabbagelike appearance in which graphite cut pieces go toward various directions by microscopic observation in the broken-out section, and they are collided in a flowing state. - 特許庁

セリア−ジルコニア系複合酸化物を表面積から推定される平均粒子径Ａと電子顕微鏡観察から測定される平均粒子径比Ｂの比Ａ／Ｂが＜１．５であり、かつ１０００℃で３時間焼成後の比表面積が４０ｍ^２／ｇ以上とする。例文帳に追加

The ceria-zirconia based compound oxide satisfies A/B<1.5 wherein A is an average particle diameter estimated from surface area and B is an average particle diameter ratio measured by observation with an electron microscope, and a specific surface area of the compound oxide after firing at 1,000°C for 3 h is ≥40 m^2/g. - 特許庁

光学装置である顕微鏡１００に用いる照明部（照明装置）１０を、照明光を放射する光源部２０と、この光源部２０からの照明光を物体面Ｏに照射するとともに、その照明視野を、観察視野に対応して変化させる偏向部３０と、から構成する。例文帳に追加

The lighting part (a lighting system) 10 used for a microscope 100 as an optical device, is structured of a light source part 20 emitting illumination light and a deflection part 30 irradiating the illumination light from the light source part 20 on an object surface O and making its illumination visual field change in accordance with an observation visual view. - 特許庁

紙に印刷された印刷物や、ボールペンやマジックなどを用いて筆記された筆記物に転移したインキ等の転移及び浸透状態を、集束イオンビーム装置等により断面を作製し、該断面を電子顕微鏡或いはエレクトロンプローブマイクロアナライザーにより観察する。例文帳に追加

To form the cross section of an ink transfer part by a focusing ion beam device, in the observation of the transfer and penetration of the ink transferred to a printed matter wherein ink is printed on paper or a written matter written by using a ball point pen or a marking pen, to observe the same by an electron microscope or an electron probe microanalyser. - 特許庁

ＴＧ４、ＡＦＥ５、同期信号生成部６、及びシステム制御部７で構成される撮像制御部は、所定の撮像条件の下で撮像素子３を制御して、撮像素子３の受光面に結像した標本の顕微鏡での観察像の画像を撮像させる。例文帳に追加

An imaging control unit composed of a TG 4, an AFE 5, a synchronizing control section 6 and a system control section 7 controls an imaging device 3 under a predetermined imaging condition, and picks up an observation image of a sample, formed on a light receiving surface of the imaging device 3, under a microscope. - 特許庁

生体細胞または生体組織または生体の固体に代表されるような試料（屈折率ｎｄが１．３３〜１．５）を観察するまたは計測するための液浸用顕微鏡対物レンズであって、使用される液浸液が、屈折率が１．３４〜１．５の合成オイルであるとして設計されている。例文帳に追加

The immersion microscope objective lens is a lens for observing or measuring a sample (the refractive index nd is 1.33 to 1.5) represented by the living cells, the living tissues or the living body solid and is designed so that the immersion liquid used is a synthetic oil having a refractive index of 1.34 to 1.5. - 特許庁

電子顕微鏡観察用試料支持部材の微小試料片固定部厚みを微小試料片厚さ以上にし、試料固定側の試料支持部材の両端に微小試料片以上の厚さおよび高さをもつ突起部分を設けたことにより達成される。例文帳に追加

In this sample support member for electron microscopic observation, the thickness of a minute sample piece fixing part is set to the thickness of a minute sample piece or more, and projection parts having a thickness and height larger than those of the minute sample piece are provided on both sample fixing-side ends of the sample support member. - 特許庁

本発明では、透過照明光学系と落射照明光学系とを有し、蛍光体が付与された固体発光素子を透過照明系の光源とする顕微鏡システムを用いて落射照明観察をする場合、落射照明光学系から落射光が固体発光素子にあたらないようにすることを目的とする。例文帳に追加

To prevent vertical illuminating light from a vertical illumination optical system from being radiated to a solid light-emitting element when performing vertical illumination observation by using a microscope system having a transmitted illumination optical system and the vertical illumination optical system and using the solid light-emitting element to which phosphor is imparted as a light source of a transmitted illumination system. - 特許庁

また、血液細胞分析法における顕微鏡で観察した場合に血液中の各赤血球は真円形状に分離し、有棘赤血球等の異常形状の赤血球を正常なものとし、更に白血球の径を赤血球の２．５倍以上とする。例文帳に追加

When the antitumor substance is administered into a human body, each erythrocyte in the blood is separated in a true circle state and erythrocytes having abnormal shapes, e.g. acanthrocyte are changed to normal erythrocytes and further, the diameter of leukocyte is made ≥2.5 times larger than that of erythrocyte when the blood is observed by a microscope in a blood cell analysis method. - 特許庁

従来の顕微鏡のステージ装置は、観察対象物を載置した上板ステージが移動すると、同時に操作ハンドルもその方向へ移動してまい、操作ハンドルから手を離した場合には、接眼レンズから目を逸らさずに探し出しているため、使い勝手が悪い。例文帳に追加

To solve the problem that a stage device of a conventional microscope is not easy to use since an operation handle moves as a top plate stage where an object to be observed is mounted moves and then the operation handle is searched for without turning an eye away from an ocular when a hand is put away from the operation handle. - 特許庁

顕微鏡的拡大観察像を得るように共焦点光学系２５に向かって走査される光学単ファイバ２６の先端面２６ａから射出されるレーザ光線の強度を、外部操作により一瞬だけ大きくするレーザ光射出強度制御手段６６，６７を設けた。例文帳に追加

The confocal endoscope has laser beam emission intensity control means 66 and 67 for increasing the intensity of the laser beam emitted from the distal end face 26a of an optical single fiber 26, which scans toward a confocal optical system 25 to obtain the microscopically enlarged observation image, only for an instant by the external control. - 特許庁

さらに、生体標本の画像情報を読み取り位置情報を記録し、当該画像情報に合わせて特定の領域に上記試薬処理方法を行った後、顕微鏡観察または質量分析によって解析する、生体標本の解析方法。例文帳に追加

Furthermore, in the analysis method of the biospecimen, the image data for the biospecimen are read and position data are recorded; and after the reagent treatment method is performed with respect to a specific region so as to be matched with the image data, the biospecimen is analyzed by microscopic observation or mass analysis. - 特許庁

顕微鏡本体１の観察光学系の光路ｘを横切る開口部１２ａを有するディスク１２を有し、このディスク１２をモータ１３で回転駆動させるとともに、モータ１３の回転数を制御する回転制御装置１５を有する像ぶれ低減装置５を備える。例文帳に追加

The microscope device has a disk 12 having an opening part 12a crossing the optical path (x) of an observation optical system of a microscope body 1 and is equipped with an image blur reducing device 5 having a rotation controller 15 which drives and rotates the disk 12 by a motor 12 and controls the rotational frequency of the motor 13. - 特許庁

鋼板表面と直交する方向の断面を電子顕微鏡にて倍率５００００倍以上で観察したときに、鋼板表面長さ１０μｍに占めるＳｉ含有酸化物の割合が、任意に選択される５箇所の平均で８０％以下となるようにする。例文帳に追加

This steel sheet has 80% or less of a ratio of Si-containing oxide occupying in 10 μm length of the steel sheet surface in an average measured on arbitrarily selected five places, when a cross section in the transversal direction to the steel sheet surface is observed with an electron microscope at a magnification of 50,000 times or higher. - 特許庁

生体標本の透過照明による顕微鏡観察が可能であり、標本の取り扱いが容易であり、冷凍保存が可能であり、且つ生体標本を全ての質量分析装置に導入することができる、生体標本の作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for producing a biological specimen that allows microscopic observation by transmitted illumination of the biological specimen, facilitates handling of the specimen, allows frozen storage, and can introduce the biological specimen into all mass spectrometers. - 特許庁

アルコールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、アルコールを含有し、透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜６である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。例文帳に追加

The colloidal silica is produced from active silicic acid as an original material in the presence of an alcohol, and contains the alcohol and a group of silica particles in various nonspherical shapes wherein a ratio of long length diameter/short length diameter observed by a transmission electron microscope is 1.2-6. - 特許庁

この発明は、既存のＦＩＢ装置を用いて観察用試料４の薄片化加工を行い、静電ピンセット１０を装備した既存のマイクロマニピュレータ付きの光学顕微鏡を用いて、薄片化試料４の摘出と貼り付け作業を行うように構成される。例文帳に追加

This method is constituted so as to laminate the observation sample 4 by using an existing FIB (focused ion beam) device, and to perform an extracting and sticking work of the laminated sample 4 by using an optical microscope having an existing micromanipulator equipped with an electrostatic pincette 10. - 特許庁

透明に近い細胞などの生体材料を非染色状態で試料とし、コントラストの低い試料を可視化する顕微鏡などの観察装置に最適な三次元画像取得装置およびその方法とこれを利用した加工装置の提供。例文帳に追加

To provide a three-dimensional image acquisition apparatus and its method optimal for an observation device such as a microscope, which uses biological materials such as nearly transparent cells in an undyed state as samples and visualizes low-contrast samples, and provide a processing apparatus using the same. - 特許庁

実機から抜管したサンプル管の金属組織を透過型電子顕微鏡で観察し、Ｃｕ富化相の析出によって生じる歪場の黒点の密度を次のような方法で計測することにより、クリープ損傷を精度よく推定する方法。例文帳に追加

In this method, the creep damage is estimated accurately by observing the metallographic structure of a sample tube extracted from an actual machine by a transmission electron microscope, and by measuring the density of black spots on a strain field generated by deposition of a Cu-enriched phase by the following methods. - 特許庁

ミクロ相分離構造膜に、常圧プラズマを照射し、ミクロ相分離構造が確認可能な部分まで膜をエッチングした後、表面を原子力間顕微鏡（ＡＦＭ）で観察することによりミクロ相分離構造を確認する方法である。例文帳に追加

In this method, a micro phase separation structure film is irradiated with normal-pressure plasma, and the film is etched up to a part allowing confirmation of the micro phase separation structure, and then the surface is observed by an atomic force microscope (AFM), to thereby confirm the micro phase separation structure. - 特許庁

暗室内観察を行うための顕微鏡の設定条件の少なくとも１つが整えられたことを検知する検知手段と、前記検知手段により前記検知がなされると、発光表示部の表示を禁止する禁止手段とが備えられる。例文帳に追加

This controller is provided with detecting means for detecting that at least one of the setting conditions of a microscope for carrying out the in-darkroom observation is set and inhibition means for inhibiting the display of a luminous display section when the detection described above is made by the detecting means. - 特許庁

対物レンズと結像レンズとの間に設けた中間光学系（例えば変倍光学系）に起因するフレアの発生を抑えることができ、かつ、標本に対する照明方向を観察方向と揃えることもできる顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope which can suppress the occurrence of flares caused by the intermediate optical system (e.g. a variable magnification optical system) provided between the objective lens and the focusing lens and can make the sample illuminating direction coincide with the observation direction. - 特許庁

拡大画像観察システム、共焦点顕微鏡、画像データ転送方法、３次元合焦点画像生成方法、データ転送プログラム、３次元合焦点画像生成プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器例文帳に追加

MAGNIFIED IMAGE OBSERVATION SYSTEM, CONFOCAL MICROSCOPE, IMAGE DATA TRANSFER METHOD, THREE-DIMENSIONAL FOCUSED IMAGE FORMING METHOD, DATA TRANSFER PROGRAM, THREE-DIMENSIONAL FOCUSED IMAGE FORMING PROGRAM, COMPUTER RECORDABLE RECORDING MEDIUM, AND APPARATUS WITH PROGRAM RECORDED - 特許庁

試料Ｓに圧子１１を押し付けることによって形成されるくぼみから硬さを測定し、前記くぼみを観察可能な光学システムを備える硬さ試験機１において、前記くぼみの表面をプローブ１８によって走査可能であるプローブ顕微鏡１７を備えている。例文帳に追加

In a hardness tester 1 which measure the hardness of a sample S by pushing an indenter 11 against the sample S and is provided with an optical system which can observe the recess, a probe microscope 17 which can scan the surface of the recess with a probe 18 is provided. - 特許庁

電気的に独立した複数のプローブ１０ａ，１０ｂ等を有し、プローブ１０ａ，１０ｂ等のうち、２本以上のプローブ１０ａ，１０ｂ等がナノチューブプローブであり、かつ、１本以上のプローブ１０ａ，１０ｂ等が像観察機能を備えることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡である。例文帳に追加

This scanning probe microscope is characterized by having the electrically independent plural probes 10a, 10b or the like, among which two or more probes 10a, 10b or the like are nanotube probes and one or more probes 10a, 10b or the like are equipped with image observation function. - 特許庁