「高解像電子顕微鏡」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

電子顕微鏡装置の所望の結像解像度を維持しながら、一度に形成される一次電子ビームスポットの数や、密度を高める。例文帳に追加

To increase the number and density of primary electron beamlet spots formed at a time while maintaining a desired image forming resolution of an electron microscope device. - 特許庁

高い空間分解能で良質な電子像を得られ、かつ、放電による試料の損傷を防止することができる放射電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a radiation electron microscope which can obtain a quality electron image with a higher space resolution while preventing damage of a sample as caused by electric discharge. - 特許庁

クーロン効果によるボケの発生を少なくして解像度を高めることができる写像型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a mapping type electron microscope capable of improving resolution by lessening the occurrence of a blur by the coulomb effect. - 特許庁

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining a high-resolution and high-contrast concavoconvex image of a sample surface. - 特許庁

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which obtains a high-resolution and high-contrast concavo-convex image of a sample surface. - 特許庁

これにより、写像型電子顕微鏡全体として歪曲収差が小さくなり、高分解能で試料を観察することができる。例文帳に追加

Thereby the total distortion aberration of mapping type electron microscope becomes small, and the sample can be observed with high resolution. - 特許庁

本発明は低加速電圧領域で空間分解能の高い走査像を得ることの出来る走査形電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which produces scanning image with high space resolution at a low-acceleration voltage area. - 特許庁

広視野での歪曲収差を抑えることができ、高分解能で試料を観察できる写像型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a mapping type electron microscope capable of suppressing the distortion aberration in a wide field of view and observing a sample with a high resolution. - 特許庁

高分解能の電子顕微鏡の特徴であるノイズ成分を多く含む画像に対し、ノイズの低減と画像の輪郭の強調という、従来技術では相反する画像処理を同時に行うことのできる電子顕微鏡の画像処理システムを提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscopic image processing system, capable of simultaneously performing reduction in noise and contour emphasis of an image which are conflicting image processing in the conventional art, in regard to an image containing many noise components which is a characteristic of a high-resolution electron microscope. - 特許庁

短焦点の対物レンズを用いた電子顕微鏡装置において、低加速電圧条件での観察時に、低倍率から高倍率までの広い倍率範囲において高解像度で歪みのない良好な画像の取得を可能とする電子顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscope device using a short focus objective lens that enables acquiring a good image of high resolution without any distortion in a wide range from low magnification to high magnification at the observation in low acceleration voltage condition. - 特許庁

元素像を生成する機能を有する電子顕微鏡において、高Ｓ／Ｎかつ高空間分解能の弾性散乱電子像や特性Ｘ線による元素像や電子線エネルギー分光による元素像を測定できるようにする。例文帳に追加

To measure a high S/N ratio and high space resolution elastic scattering electron image, an element image formed with characteristic X-rays and an element image formed by an electron beam energy spectrum in an electron microscope device having an element image generating function. - 特許庁

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。例文帳に追加

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy. - 特許庁

二次電子像での高分解能化が可能であり、かつＴＴＬ方式の走査型電子顕微鏡にてコントラストの良い反射電子像を効果的に得ることが課題である。例文帳に追加

To provide a TTL-mode scanning electron microscope capable of giving high resolution to a secondary electron image and effectively providing a reflected electron image with good contrast. - 特許庁

インレンズ形対物レンズを有する高分解能走査電子顕微鏡において、散乱角の大きな透過電子を検出できるようにし、試料や目的に応じた高コントラストのＳＴＥＭ像を観察する。例文帳に追加

To enable to detect a transmitted electron with a large scattering angle and to observe an STEM image of a high contrast according to a testpiece and a purpose, in a high-resolution scanning electron microscope having an in-lens type objective lens. - 特許庁

照射電子ビームのエネルギーを単色化し、色収差を低減してスポット系を縮小することにより、像分解能を高めることのできる実用的なモノクロメータを備えた走査電子顕微鏡を提供することにある。例文帳に追加

To provide an electron microscope with a practical monochromator which can increase the image resolution by monochromatizing the energy of an irradiation electron beam and reducing the diameter of a light spot while decreasing chromatic aberration. - 特許庁

撮像画像に評価精度を悪化させる要因がある場合であっても、高精度に分解能を評価することが可能な、電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体を提供すること。例文帳に追加

To provide a resolution-evaluating method of an electron microscope, a program and an information storage medium, by which the resolution can be evaluated with high accuracy even in case that a picked-up image involves a factor degrading the accuracy of evaluation. - 特許庁

高価で複雑な除振機構を必要とせず、高い分解能で正確な像を得ることができる走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To establish a scanning image signal acquiring method and provide a scan type electron microscope, capable of producing an accurate image with a high resolution without requiring any expensive, complicated vibrationproof mechanism. - 特許庁

半導体ウエハ等の欠陥検査による高スループットの直接写像観察と、高分解能での走査像観察機能を備えた電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an electron microscope endowed with functions of direct-image observation of a high throughput by defect inspection of a semiconductor wafer or the like and scanned image observation at a high resolution. - 特許庁

現用のＺｒ／Ｏ／Ｗ電子源よりも電子放出面の仕事関数を減少させ、狭エネルギー幅かつ高電流密度の放出電子が得られ、長寿命な電子源を提供し、高分解能像が短時間に得られる電子顕微鏡や高スループットな電子線描画装置を実現する。例文帳に追加

To provide an electron source which can reduce a work function of an electron emission surface rather than a currently-used Zr/O/W electron source and can attain emitted electrons with narrow energy width and high current density and has longer lifetime, an electron microscope which can attain high resolution image for a short period, and an electron beam lithography device having high throughput. - 特許庁

直立カラムを用いて得られるトップダウン像と同程度の高分解能の傾斜像を得ることのできる傾斜カラム付の走査電子顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope device with an inclined column capable of obtaining an inclined image having high resolution in the same level as that of a top-down image obtained using a vertical column. - 特許庁

試料に負電圧を印加するリターディング法により試料表面の観察を行う際に、試料を傾斜させても高分解能像を得ることを可能にする走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of providing a high-resolution image even if a sample is tilted when a surface of the sample is observed by a retarding method for applying a negative voltage to the sample. - 特許庁

ドライエッチング耐性および走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）による電子線への耐性を向上させるとともにアルカリ現像液に対する溶解性を維持し、さらに高解像性を有するネガ型レジスト組成物を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a negative resist composition which retains solubility in an alkali developer while improving dry etching resistance and resistance to an electron beam from a scanning electron microscope (SEM) and further has high resolution. - 特許庁

広視野ＴＶカメラの出力信号に代わって高分解能ＴＶカメラの出力信号をモニターへ切替えて供給しても、その切替えの前後において、モニター画面上の試料拡大像倍率がほぼ同じになるような電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an electron microscope which forms an enlarged image of almost the same magnification on a monitor screen before and after switching-over when supplying to the monitor a high resolution TV camera output signal replaced with a wide view TV camera output signal. - 特許庁

半導体の検査および計測に使用される電子顕微鏡等の荷電粒子ビーム装置用の「撮像装置」（収差補正装置に準ずる装置）であって、ＥＤＸ分析、ＷＤＸ分析、欠陥検査等の分解能およびスループットを向上させるために高プローブ電流で分散の小さいビームを形成できるようにする。例文帳に追加

To provide an imaging device (a device according to an aberration correction device) for a charge particle beam device as an electron microscope or the like used for the inspection and measurement of a semiconductor, in which a small deviation beam with a high probe current is formed to improve the resolution and throughput in EDX analysis, WDX analysis, or defect inspection. - 特許庁