「Basic test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目)

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Basic testの部分一致の例文一覧と使い方

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In the test piece for measuring LDH, the reagent layer 4 contains lithium lactate, a basic buffer, and diaphorase, whereas the reagent layer 5 contains β-NAD, tetrazolium violet, and an acid buffer.例文帳に追加

ＬＤＨ測定用試験片は、試薬層４に乳酸リチウム、塩基性緩衝剤、ジアホラーゼが配合され、試料保持層５にβ−ＮＡＤ、テトラゾリウムバイオレット、酸性緩衝剤が配合されている。 - 特許庁

(c) Basic methods of handling, maintenance, and test of engine, engine accessory, and engine's command system (excluding an glider other than powered glider without tow attachment and powered glider with tow attachment) 例文帳に追加

ハ　発動機、発動機補機及び発動機の指示系統の取扱い、整備方法及び検査方法の基礎（曳航装置なし動力滑空機及び曳航装置付き動力滑空機以外の滑空機の場合を除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

The method, for continuously measuring ^14CO_2 in exhalation from a test subject, includes a step (1) of absorbing total CO_2 in exhalation from the test subject into a basic compound aqueous solution, and a step (2) of measuring a ^14CO_2 amount absorbed into the aqueous solution.例文帳に追加

被験体が発生する呼気中の^１４ＣＯ_２を連続的に測定する方法であって、（１）被験体が発生する呼気中に含まれている全ＣＯ_２を塩基性化合物水溶液に吸収させる工程；及び（２）該水溶液中に吸収された^１４ＣＯ_２量を測定する工程、を含むことを特徴とする前記方法。 - 特許庁

In a system basic I/O system(BIOS), sets up the performance of a CPU 11 is set up to the maximum performance by using a CPU speed control circuit 152 in power ON self-test(POST) processing independently of CPU performance specified by a user and set up in a CMOS memory 20.例文帳に追加

システムＢＩＯＳは、ＣＭＯＳメモリ２０に設定されているユーザ指定のＣＰＵ性能とは無関係に、ＰＯＳＴ処理の中でＣＰＵ速度制御回路１５２を用いてＣＰＵ１１の性能を最高性能に設定する。 - 特許庁

例文

To provide a tire test system for tire tests that includes a lane contactable with at least one tire and a forced guide following the lane, for example, in the form of at least one rail, and performs a tire test under the most realistic conditions possible, but widely-varied, simple and precisely reproducible basic conditions.例文帳に追加

少なくとも一つのタイヤと接することが可能なレーンと、例えば少なくとも一つのレールの形をとる、このレーンに従う強制ガイド部とを備える、タイヤテストのためのタイヤテスト装置であって、タイヤテストが、可能な限り現実に近い条件のもと、しかしながら多彩で、簡易かつ正確に再現可能な基本条件でもって可能であるテスト装置を提供する。 - 特許庁

例文

With respect to a group of products designated by a manufacture history analysis result display means 400, an analysis support control means 200 displays any of the basic statistics selected and a scatter plot (including correlative coefficients) of a characteristic test value on the manufacture history analysis result display means 400.例文帳に追加

分析支援制御手段200は、製造履歴分析結果表示手段400で指定された製品群に関して、選択されたいずれかの基本統計量と特性試験値の散布図(相関係数も含む)を製造履歴分析結果表示手段400に表示する。 - 特許庁

To provide a combination of a basic power amplifier measuring function and a measuring system self-test function into one RF circuit to improve reliability and reproducibility, to reduce the costs and to improve the accuracy without cutting a high power RF switch or DUT.例文帳に追加

大電力ＲＦスイッチまたはＤＵＴの切断を必要とすることなく、高信頼性、高再現性、低コスト、及び、高正確度をもたらす、基本的な電力増幅器測定機能及び測定システム自己テスト機能の、１つのＲＦ回路への組み合わせを提供する。 - 特許庁

A physical file 142a with writing time information as unique title information and a unitary test format basic file capable of making plural logical files 142b correspond to one physical file are made integrally operable on plural screens displayed according to the switching of an operation window 112.例文帳に追加

書き込み時刻情報を一義的な見出し情報とする物理ファイル１４２ａと一つの物理ファイルに複数の論理ファイル１４２ｂを対応させることを可能とする一元的なテキスト形式の基本ファイルを、操作ウィンドウ１１２の切り替えによって表示される複数の画面で統一的に操作可能とする。 - 特許庁

To provide a control system capable of producing its device within a comparatively short period if basic conditions are fixed in a certain degree, further, quickly dealing with a change request at the time of test and easily dealing with the changes of various conditions after the system starts its operate.例文帳に追加

ある程度の基本条件が固まっていれば比較的短い納期での装置製作を可能にし、さらに、試験時の変更要求に対するクイックな対応を可能にすると共に、システム稼働後における各種条件の変更についても、容易に対応が可能となる管制装置の提供を目的としている。 - 特許庁

例文

The testing method for making the determination of good or no-good by means of a current test in static state in a wafer level testing step 5 of the semiconductor integrated circuit is characterized in that the reference current value for judging soundness is determined for each product on the basis of characteristic values of a transistor in a basic characteristics measurement step 2 for determination.例文帳に追加

半導体集積回路のウェハ状態試験工程５での静止状態電流試験によって良否判定を行う検査方法で、その良否判定基準となる基準電流値を基礎特性測定工程２でのトランジスタの特性値を基に製品ごとに決定して判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

例文

To provide high-temperature superconducting current lead basic property test equipment that not only quickly tests the properties related to the current, magnetic field and temperature of an HTS (high temperature superconducting current) lead involving low-thermal infestation and low heat generation under proper conditions, but also obtains information about the design policy of a superconducting magnet to be included in the HTS lead.例文帳に追加

低熱侵入かつ低発熱のＨＴＳリードの電流、磁場、温度に関する諸特性を迅速、かつ的確な条件で試験することが可能で、ＨＴＳリードを組み込む超電導磁石装置の設計指針に関する情報を得ることができる高温超電導電流リード基礎特性試験装置を提供する。 - 特許庁

The catalyst for cleaning the exhaust gas containing a composite oxide whose main component is Bi and Ce, for which the basic structure of the composite oxide is the tetragonal of Bi_2O_3, indicates a high PM cleaning performance even under the loose contact condition for PM combustion, and a catalyst performance is not lowered even when a heating deterioration test is performed further.例文帳に追加

ＢｉとＣｅを主成分とする複合酸化物を含む排ガス浄化用触媒であって、複合酸化物の基本構造がＢｉ_２Ｏ_３の正方晶であることを特徴とする排ガス浄化用触媒がＰＭ燃焼に対してルーズコンタクト条件下でも高いＰＭ浄化性能を示し、更に加熱劣化試験をおこなっても触媒性能が低下しないことを見出した。 - 特許庁

例文

第百七十一条の三　第五十条の三、第五十条の四、第五十条の五、第五十条の六第一項、第五十条の七、第五十条の八第二項、第五十条の十及び第五十条の十一の規定は、法第七十八条第四項において準用する法第二十九条第四項の規定による運航管理者の養成施設について準用する。この場合において、第五十条の三第一項中「航空従事者養成施設指定申請書（第十九号の四様式）」とあるのは「運航管理者養成施設指定申請書（第二十九号の二様式）」と、同条第三項第二号中「法第二十五条第一項、第二項及び第三項の限定、法第二十九条の二第一項の変更に係る限定、法第三十三条第一項の航空英語能力証明、法第三十四条第一項の計器飛行証明又は別表第三の一等航空整備士、二等航空整備士、一等航空運航整備士、二等航空運航整備士及び航空工場整備士の資格についての技能証明に係る整備の基本技術の科目の別ごとに定める過程」とあるのは「法第七十八条第一項の運航管理者技能検定に係る過程」と、第五十条の四第一号イ中「法第二十九条第一項（法第二十九条の二第二項、法第三十三条第三項又は法第三十四条第三項において準用する場合を含む。）の試験」とあるのは「法第七十八条第四項において準用する法第二十九条第一項の試験」と、第五十条の六第一項中「法第二十九条第四項」とあるのは「法第七十八条第四項において準用する法第二十九条第四項」と、第五十条の七中「航空従事者養成施設指定書（第十九号の五様式）」とあるのは「運航管理者養成施設指定書（第二十九号の三様式）」と、第五十条の八第二項中「前項」とあるのは「技能審査員」と、第五十条の十中「第五十条の二第五項」とあるのは「第百六十八条第一項第六号」と、「第五十条の二第三項及び第四項」とあるのは「第百七十条の六」と読み替えるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

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	※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。

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