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Comparative Inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 19件
Comparative Inspection 例文帳に追加
比較検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム
The device 1 conducts comparative inspection of the reference image 29 of the first edition and an image 35-n to be inspected in an inspection area 33-n and displays the result of the inspection.例文帳に追加
印刷物検査装置1は、初版基準画像29と検査領域33−nの検査画像35−nとを比較検査し、検査結果を表示する。 - 特許庁
To provide an inspection condition setting method which enables the selection of an optimum inspection condition when a flaw is detected by a Die to Die inspection system and a Ref comparative inspection system.例文帳に追加
Die to Die検査方式及びRef比較検査方式による欠陥検出を行う際に、最適となる検査条件を選定することが可能な検査条件設定方法を提供する。 - 特許庁
Article 20 (1) The Minister of Economy, Trade and Industry may, for the time being, implement a comparative inspection of specified measuring instruments specified by Cabinet Order. 例文帳に追加
第二十条 経済産業大臣は、当分の間、政令で定める特定計量器の比較検査を行うことができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
The tablet inspection device 100 is constituted of a near infrared ray irradiation unit 11, a transmitted light detection unit 17 a database 32 and a comparative operation unit 31.例文帳に追加
錠剤検査装置100を、近赤外光照射部11、透過光検出部17、データベース32及び比較演算部31を備える構成とする。 - 特許庁
(5) A person who intends to receive a comparative inspection set forth in paragraph 1 shall pay fees, the amount of which shall be prescribed, in consideration of the actual expenses, by Cabinet Order. 例文帳に追加
5 第一項の比較検査を受けようとする者は、実費を勘案して政令で定める金額の手数料を納付しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
This invention is the inspection apparatus 101 for checking whether a solid medicine 5 of a fixed shape used in comparative testing is packed as requested or not.例文帳に追加
本発明は、比較試験中に用いられる一定の形状を有する固形製剤5が所望通りに包装されているか否かを検査するための検査装置101である。 - 特許庁
In defect detection of conductor patterns 20, 21, there is a case that defects cannot be detected by a comparative inspection, using a periodic pitch, in each outermost pattern 22, 23, 26, and 27.例文帳に追加
導体パターン20,21の欠陥検出において、最外部パターン22,23,26,27での周期ピッチを用いた比較検査では、欠陥を検出できない場合がある。 - 特許庁
Since the comparative inspection part 15 compares the reference image of the characteristic part extracted by the reference image area retrieval part 12 with the picked-up image of the object and discriminates the object or decide its quality, the inspection efficiency and inspection precision can be improved.例文帳に追加
比較検査部15は、基準画像エリア検索部12によって抽出された特徴的な部分である基準画像と撮像された対象物の画像とを比較して、対象物の識別または良否の判定を行なうので、検査効率および検査精度の向上を図ることが可能となる。 - 特許庁
Comparing pitch and comparing direction are altered during a series of inspection operations where a semiconductor wafer is scanned with an electron beam by specifying regions A and B in the inspection file of a visual comparative inspection equipment and inputting the comparing pitch (first comparison pitch d1, second comparison pitch d2) and the comparing direction (X direction, Y direction) of respective regions A and B into the inspection file.例文帳に追加
外観比較検査装置の検査ファイルに、領域A,Bを指定し、さらに領域A,Bの各々の比較ピッチ(第1の比較ピッチd1,第2の比較ピッチd2)および比較方向(Y方向,X方向)を検査ファイルに入力することにより、半導体ウエハ上を電子ビームで走査する1回の一連の検査動作中に、比較ピッチおよび比較方向を変更する。 - 特許庁
A Ref comparative inspection means 31b compares the selected reference image data with other image data to calculate a second threshold value not detecting a dummy flaw at every other image data on the basis of the comparison result.例文帳に追加
Ref比較検査手段31bは、選択された参照画像データと他の画像データとを比較し、比較結果に基づいて他の画像データごとに擬似欠陥を検出しない第2の閾値を算出する。 - 特許庁
To provide a technology for shortening the time required for visual comparative inspection in a semiconductor device having a plurality of kinds of pattern group where the comparing pitch and comparing direction of a repetitive pattern are different from each other.例文帳に追加
繰り返しパターンの比較ピッチおよび比較方向が互いに異なる複数種類のパターン群を有する半導体装置において、外観比較検査に要する時間を短縮することのできる技術を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor chip inspection apparatus capable of adapting to simultaneous connection to a large number of electrode pads and electrode pads of a plurality of chips through the use of a probe card constituting a membrane probe sheet highly densely arranged at a narrow pitch comparative to the pitch of electrode pads.例文帳に追加
電極パッドのピッチと同程度にまで狭ピッチで高密度、かつ高い位置精度に配置された薄膜プローブシートを構成したプローブカードを用い、多数の電極パッドや複数のチップの電極パッドに対する同時接続にも対応する。 - 特許庁
Next, contour extraction p5 is applied to the extracted pattern to acquire a pattern contour line, comparative measurement p6 is performed from data of the contour line to quantitatively measure a form difference of the pattern, and an acceptance/rejection decision p7 is performed to inspect the pattern appearance of the inspection target mask.例文帳に追加
次に抽出されたパターンに対して輪郭抽出処理p5を行いパターン輪郭線を取得し、輪郭線のデータから比較計測p6を行ってパターンの形状差を定量的に計測し、合否判定p7することにより検査対象マスクのパターン外観検査を行う。 - 特許庁
(4) With regard to the application of Article 16, paragraph 1, Article 49, paragraph 1, Article 72, paragraph 4, Article 118, paragraph 1, Article 119, paragraph 3 and Article 151, paragraph 1 of the New Act, comparative inspection marks affixed pursuant to the provision of Article 101, paragraph 1 of the Old Act prior to the enforcement date (limited to those of which the valid period has not yet expired) as well as comparative inspection marks affixed pursuant to the provision of Article 101, paragraph 1 of the Old Act which, pursuant to the provision of paragraph 2 of this Article, are deemed to remain valid on and after the enforcement date shall be deemed to be verification marks set forth in Article 72, paragraph 1 of the New Act. 例文帳に追加
4 施行日前に旧法第百一条第一項の規定により付された比較検査証印(比較検査の有効期間を経過していないものに限る。)及び施行日以後に第二項の規定によりなおその効力を有するものとされた同条第一項の規定により付された比較検査証印は、新法第十六条第一項、第四十九条第一項、第七十二条第四項、第百十八条第一項、第百十九条第三項及び第百五十一条第一項の適用については、新法第七十二条第一項の検定証印とみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
The image processor includes a reference image area retrieval part 12 which extracts the part with the largest dispersion as a reference image from the picked-up image of good quality and a comparative inspection part 15 which compares the reference image extracted by the reference image area retrieval part 12 with a picked-up image of an object and discriminates the object or decides its quality.例文帳に追加
画像処理装置は、撮像された良品の画像から分散が最も高い部分を基準画像として抽出する基準画像エリア検索部12と、基準画像エリア検索部12によって抽出された基準画像と撮像された対象物の画像とを比較して、対象物の識別または良否の判定を行なう比較検査部15とを含む。 - 特許庁
To provide a medium verification device for presenting not only comparative verification by visual inspection but objective auxiliary information for verification in short period of time to raise verification accuracy in verification of a verification medium having images comprised of optical members with characteristics that texture and/or colors change according to the observation direction and/or the illumination direction.例文帳に追加
観察方向および/または照明方向により図柄および/または色彩が変化する特性を有する光学部材で構成される画像を有する検証媒体の検証において、目視による比較検証だけではなく、検証のための客観的な補助情報を短時間で提示し、検証精度を上げることが可能な媒体検証装置を提供する。 - 特許庁
(2) In the case where the Minister of Economy, Trade and Industry implements a comparative inspection pursuant to the provision of the preceding paragraph, the provisions of Article 99 (excluding paragraph 1, item 1), Article 101, paragraph 1, Article 102 and Article 104 of the Old Act shall remain in force with regard to said comparative inspection. In this case, the term "the Ordinance of the Ministry of International Trade and Industry" in Article 99, paragraph 1, item 2 of the Old Act shall be deemed to be replaced with "the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry", the term "Cabinet Order" in item 3 of the same paragraph shall be deemed to be replaced with "the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry", the term "the Ordinance of the Ministry of International Trade and Industry" in paragraphs 2 and 3 of the same Article shall be deemed to be replaced with "the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry", and the term "Article 88, paragraph 1, items 1 through 3" in Article 104, paragraph 1 of the Old Act shall be deemed to be replaced with "Article 88, paragraph 1, items 2 and 3." 例文帳に追加
2 前項の規定により経済産業大臣が比較検査を行う場合においては、旧法第九十九条(第一項第一号を除く。)、第百一条第一項、第百二条及び第百四条の規定は、当該比較検査について、なおその効力を有する。この場合において、旧法第九十九条第一項第二号中「通商産業省令」とあるのは「経済産業省令」と、同項第三号中「政令」とあるのは「経済産業省令」と、同条第二項及び第三項中「通商産業省令」とあるのは「経済産業省令」と、旧法第百四条第一項中「第八十八条第一項第一号から第三号まで」とあるのは「第八十八条第一項第二号及び第三号」とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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