「X－ray diffractometry」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Preferably, the crystallinity of the low-density polyethylene measured by the X-ray diffractometry is not higher than 50% and the crystallinity of the high-density polyethylene is at least 55%.例文帳に追加

Ｘ線回折法により測定した、低密度ポリエチレンの結晶化度は５０％以下であり、高密度ポリエチレン等の結晶化度は５５％以上であることが好ましい。 - 特許庁

This crystal is obtained by following steps; crude crystal of ebselen is dissolved in a mixed solvent of acetone, acetonitrile and ethanol, the resultant solution is concentrated and dried so as to obtain the crystal having a X-ray diffractometry pattern shown below.例文帳に追加

エブセレンの粗結晶を、アセトン、アセトニトリルおよびエタノールの混合溶媒に溶解した後、得られた溶液を濃縮乾固して結晶し、下記のＸ線回折パターンを有するエブセレンの結晶を得る。 - 特許庁

The aluminum oxide carrier has a diffraction pattern obtained by X-ray diffractometry having a specific spacing d between lattice planes and a peak corresponding to a relative intensity I/I_0 in a calcined state.例文帳に追加

この触媒は、該アルミニウム酸化物支持体が、焼成状態において、特定の格子面間隔ｄ、及び相対強度Ｉ／Ｉ_０に対応するピークを含む、Ｘ線回折により得られた回折図を有する。 - 特許庁

This method is based on a knowledge that the crystallite size has a high correlation with the positive electrode capacity and the crystallite size of the lithium manganate can be measured with a high precision by the X-ray diffractometry.例文帳に追加

この発明はマンガン酸リチウムは結晶子サイズが正極容量と高い相関性をもつとともに、マンガン酸リチウムの結晶子サイズがＸ線回折法により高精度で測定できるとの知見に基づく。 - 特許庁

Through X-ray diffractometry of the surface layer, a primary diffraction peak corresponding to at least one of the (111) crystal plane, (200) crystal plane and (311) crystal plane is observed.例文帳に追加

表層のＸ線回折により、（１１１）結晶面、（２００）結晶面、（２２０）結晶面及び（３１１）結晶面の少なくとも一つに対応した１次回折ピークが観察される。 - 特許庁

This dull polyester fiber contains 0.1-5.0 wt.% of a 3-40C dicarboxylic acid metal salt compound, being ≥80% in the degree of orientation determined by X-ray diffractometry and 1.320-1.365 g/cm3 in density.例文帳に追加

構成炭素数３〜４０のジカルボン酸金属塩化合物を０．１〜５．０重量％含み、Ｘ線回折によって測定された配向度が８０％以上、密度が１．３２０〜１．３６５ｇ／ｃｍ^3の範囲である、艶消しポリエステル繊維。 - 特許庁

Interlayer distances by step of the active material found by a powder X-ray diffractometry is 0.33-0.36 nm in the pre-treating step, 0.5-2.1 nm in the oxidizing step, and 0.34-0.5 nm in the reducing step.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折法で求めた活物質の段階別層間距離は、前処理段階において０．３３〜０．３６ｎｍ、酸化段階において０．５〜２．１ｎｍ、及び還元段階において０．３４〜０．５ｎｍである。 - 特許庁

A water-soluble polymer is applied to the non-graphite carbon material wherein a mean layer face interval (d002) obtained by X-ray diffractometry is 0.345 nm or more and burnt.例文帳に追加

Ｘ線回折法で求められる平均層面間隔（ｄ_００２）が０．３４５ｎｍ以上での非黒鉛質炭素材料に、水溶性高分子を塗布後、焼付処理する。 - 特許庁

The crystal of a 1-methylcarbapenem compound represented by formula (I) which characteristically shows a certain main peak in powder X-ray diffractometry by copper K_α radiation, or its pharmacologically permissible salt, are provided.例文帳に追加

銅のＫ_α線の照射で得られる粉末Ｘ線回折において、特定の主ピークを示すことを特徴とする式（Ｉ）で表される１−メチルカルバペネム化合物又はその薬理上許容される塩の結晶。 - 特許庁

This method comprises the steps of preparing the crystal of a complex composed of a human-derived hematogenous organ-type prostaglandin D synthase, glutathione and a substrate analogue or inhibitor and determining the three-dimensional structural coordinates of the respective atoms of the complex by X-ray crystal diffractometry.例文帳に追加

ヒト由来造血器型プロスタグランジンＤ合成酵素、グルタチオン、及び基質アナログ又は阻害剤等の複合体の結晶を調製し、Ｘ線結晶回折により複合体の各原子の３次元構造座標を求める。 - 特許庁

In the above equation, Δβ is a half-width obtained when the intensity distribution ranging from 0 to 360 degrees in the azimuthal angle direction is determined by fixing the peak scattering angle by X-ray diffractometry.例文帳に追加

配向度α＝（１８０—Δβ）／１８０ …（１）（但し、Δβは、Ｘ線回折測定によるピーク散乱角を固定して方位角方向の０〜３６０度までの強度分布を測定したときの半値幅を表す。） - 特許庁

To provide a new method for producing such an alkaline earth thioaluminate-based fluorescent compound that only the diffraction pattern of a perfect alkaline earth thioaluminate compound is detected and no other substances' diffraction patterns are recognized in the X-ray diffractometry.例文帳に追加

Ｘ線回折分析において完全なアルカリ土類チオアルミネート化合物の回折パターンのみ検出され、他の物質の回折パターンが認められないアルカリ土類チオアルミネート系蛍光体化合物の新規な製造法を提供する。 - 特許庁

Or, it contains cerium as cerium dioxide of ≥8 wt.% and ≤40 wt.% and a crystalline phase having an interplaner spacing (d) of 3.1-3.2 Å which is detected as a peak in X-ray diffractometry.例文帳に追加

あるいは、本焼結体は、セリウムを二酸化セリウムに換算して８重量％以上、４０重量％以下含有しており、Ｘ線回折測定において面間隔（ｄ）が３．１〜３．２オングストロームの位置にピークを有する結晶相を含んでいる。 - 特許庁

Smectite clays such as montmorillonite and hectorite, especially the one having an average layer-to-layer distance in the (001) plane of ≤1.5 nm measured by using a wide angle X ray diffractometry and finely dispersed in a form having ≤10 layers are favorably used as the layered silicate.例文帳に追加

層状珪酸塩として、有機化処理されていないモンモリロナイト、ヘクトライトなどのスメクタイト系のクレイ、特に、広角Ｘ線回折測定法により測定した（００１）面の平均層間距離が１．５ｎｍ以下であって、１０層以下の形態で微分散されているものが好ましく使用される。 - 特許庁

To provide a magnesium oxide powder having good crystallinity in which the half width of the peak of a specific surface in the powder X-ray diffractometry using Cu-Kα line is 0.20 degree or less, respectively, and the crystallite diameter is not less than 700 Å.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線を用いた粉末Ｘ線回折法における特定の面のピークの半価幅がそれぞれ０．２０度以下であり、かつ結晶子径が７００Å以上である結晶性が良好な酸化マグネシウム粉末を提供する。 - 特許庁

In a powder X-ray diffraction pattern of the lithium composite metal oxide by powder X-ray diffractometry in the diffraction angle 2θ of 10° to 90° using CuKα as the source, a diffraction peak (diffraction peak A) is present in the diffraction angle 2θ of 20° to 23°.例文帳に追加

ＣｕＫαを線源とし、かつ回折角２θの測定範囲を１０°以上９０°以下とする粉末Ｘ線回折測定により得られるリチウム複合金属酸化物の粉末Ｘ線回折図形において、２θが２０°以上２３°以下の範囲に回折ピーク（回折ピークＡ）を与えることを特徴とするリチウム複合金属酸化物。 - 特許庁

The artificial graphite for the negative electrode of the lithium-ion secondary battery has a crystallite size Lc in the c axis direction, obtained by X-ray diffractometry, of 60 to 120 nm, and has a crystallite size Lc of ≥150 nm when a graphitization treatment under an inert gas atmosphere at 3,000°C is performed.例文帳に追加

本発明に係るリチウムイオン二次電池負極用人造黒鉛は、Ｘ線回折によって求められるｃ軸方向の結晶子サイズＬｃが６０〜１２０ｎｍであり且つ不活性ガス雰囲気下、３０００℃の温度での黒鉛化処理が施されると結晶子サイズＬｃが１５０ｎｍ以上となることを特徴とする。 - 特許庁

The feed material 11 is one in which a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than that corresponding to the (111) plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, through X-ray diffractometry of the surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

フィード材１１は、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素を含む表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察されるものである。 - 特許庁

The short fiber for rubber reinforcement comprises a polyester with ethylene terephthalate as a main repeating unit, and has a long period, as determined by small-angle X-ray diffractometry, of 9-12 nm, and a terminal carboxy group content in the short fiber of 20 equivalent/ton or higher, and an epoxidized surface-treating agent adheres to the fiber surface.例文帳に追加

エチレンテレフタレートを主たる繰り返し単位とするポリエステルからなる短繊維であって、短繊維のＸ線小角回折による長周期が９〜１２ｎｍであり、短繊維中の末端カルボキシル基量が２０当量／ｔｏｎ以上であり、短繊維表面にエポキシ基を有する表面処理剤が付着しているゴム補強用ポリエステル短繊維。 - 特許庁

This is the alkoxylation catalyst containing an Al-Mg oxide complex having 30 amorphous degree or higher calculated by the equation: the amorphous degree =1/M×10-7 (wherein M is crystal grain size of the Al-Mg oxide complex calculated by a Scherrer equation from the diffraction line near 2θ=43° in the X-ray diffractometry).例文帳に追加

式（１）：アモルファス化度＝１／Ｍ×１０^-7〔但し、Ｍは、Ｘ線回折分析において、２θ＝４３度付近の回折線から、Scherrerの式により算出されたＡｌ−Ｍｇ酸化物複合体の結晶粒子径を表す〕により算出されたアモルファス化度が３０以上の高アモルファス化を有するＡｌ−Ｍｇ酸化物複合体を含むアルコキシル化触媒。 - 特許庁

In the electrolyte membrane, the degree of orientation α of the molecular chain of the liquid crystalline polymer along the fixed direction determined from the following equation: α=(180-Δβ)/180 by X-ray diffractometry is not lower than 0.45 and lower than 1, and the conductivity in the direction of thickness of the membrane is higher than the conductivity in a direction parallel to the surface of the membrane.例文帳に追加

液晶性高分子の分子鎖は一定方向に配向され、電解質膜はＸ線回折測定から下記式（１）により求められる液晶性高分子の分子鎖の前記一定方向に沿った配向度αが０．４５以上１未満の範囲であり、膜の厚み方向の導電率が膜の表面と平行な方向の導電率よりも高い。 - 特許庁

This method for producing the subject catalyst comprises mutually contacting a microparticle composition, a group IV, V or VI transition metal compound having at least one conjugated five-membered cyclic ligand and an organoaluminum compound; wherein the microparticle composition is prepared by mutually contacting in water a compound containing an alkali or alkaline earth metal and a microparticulate support ≥2.0 in the half-value width of the diffraction peak in the powder X-ray diffractometry.例文帳に追加

アルカリ金属又はアルカリ土類金属を含む化合物と、粉末Ｘ線回折測定における回折ピークの半値幅が２．０以上の微粒子担体とを水中で接触させて得られた微粒子組成物と、共役五員環配位子を少なくとも１個有する周期律表ＩＶ〜ＶＩ族遷移金属化合物と、有機アルミニウム化合物とを接触させてオレフィン重合用触媒を製造する。 - 特許庁

The α type, β type and γ type crystals produced by treating hydrochloride of 4'-{2-[(1S, 2R)-2-hydroxy-2-(4-hydroxyphenyl)-1-methylethyl-amino]ethoxy}-3-isopropyl-3', 5'-dimethylbiphenyl-4-carboxylic acid with specified solvents, which can be discriminated by the characteristic diffraction peaks of powder X-ray diffractometry and the like.例文帳に追加

４´−｛２−［（１Ｓ，２Ｒ）−２−ヒドロキシ−２−（４−ヒドロキシフェニル）−１−メチルエチルアミノ］エトキシ｝−３−イソプロピル−３´，５´−ジメチルビフェニル−４−カルボン酸の塩酸塩を特定の溶媒で処理することにより製造され、粉末Ｘ線回折の特徴的な回折ピーク等によって識別できるα形、β形及びγ形結晶。 - 特許庁

The seed material 12 is one in which a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that corresponding to the (111) crystal plane are not observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, through X-ray diffractometry of the surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加

シード材１２は、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素を含む表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークが観察され、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークの回折強度の１０％以上の回折強度を有する他の１次回折ピークが観察されないものである。 - 特許庁

A biaxially oriented polyester film comprises a polyester (A) and a polyether imide (B) and has a single glass transition temperature, wherein the diffraction peak of the crystal face in the main chain direction of the biaxially oriented polyester has a half-width in the range of 55-85 degrees in the circumference direction when the film is rotated about its normal line in crystal orientation analysis by diffractometry of wide angle X-ray diffraction.例文帳に追加

ポリエステル（Ａ）とポリエーテルイミド（Ｂ）とを含んでなる単一のガラス転移温度を有する二軸配向ポリエステルフィルムであって、広角Ｘ線回折のディフラクトメータ法による結晶配向解析で該フィルムをその法線を軸として回転した時に得られる該二軸配向ポリエステル主鎖方向の結晶面の回折ピークの円周方向の半値幅が５５〜８５度の範囲であることを特徴とする二軸配向ポリエステルフィルム。 - 特許庁