「analysis sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

LASER ABLATION METHOD, SAMPLE ANALYSIS METHOD, BINDER FOR ANALYSIS AND MANUFACTURING METHOD OF POWDER PROCESSED MATERIAL例文帳に追加

レーザーアブレーション方法、試料分析方法、分析用バインダ、及び粉末加工物の製造方法 - 特許庁

To raise the precision of structural analysis of evaluation patterns by making a thin filmlike evaluation sample surely contain the evaluation patterns, and moreover thinning the membrane of the evaluation sample.例文帳に追加

薄膜状の評価サンプルに確実に評価パターンを含ませるようにする。 - 特許庁

SAMPLE PLATE FOR ANALYSIS, AND X-RAY SPECTROSCOPY USING CHARACTERISTIC X-RAY USING SAMPLE PLATE例文帳に追加

分析用試料板及び該試料板を使う特性Ｘ線利用のＸ線分光分析法 - 特許庁

SAMPLE BASE FOR INFRARED MICROSPECTROMETRY AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR INFRARED MICROSPECTROSCOPIC ANALYSIS例文帳に追加

顕微赤外分光測定用試料台、及び顕微赤外分光分析用試料作製方法 - 特許庁

Even if the discrimination number of the sample S is unclear, the quantitative analysis of the sample S becomes possible.例文帳に追加

また、試料Ｓの識別番号が不明であっても試料Ｓの定量分析が可能になる。 - 特許庁

Thereafter, the analysis condition file is designated and analysis is executed by a GC device 1, to thereby enable analysis equivalent to the desired analysis sample.例文帳に追加

後で、この分析条件ファイルを指定してＧＣ装置１で分析を実行することにより、所望の分析例と同等の分析が可能となる。 - 特許庁

A resin sample is ashed by a method for adding an oxidizing agent to the resin sample to heat the resin sample, and fluorescence X-ray analysis of the ashed sample is performed.例文帳に追加

樹脂試料に酸化剤を加えて加熱する等の方法により樹脂試料を灰化し、灰化した試料の蛍光Ｘ線分析を行う。 - 特許庁

The quantity of the additive contained in the analysis sample is determined by using the analytical curve created in the above process by the analysis sample analysis process and the quantitative process.例文帳に追加

分析試料分析工程および定量工程によって、前記工程で作成した検量線を用いて分析試料に含有される添加剤を定量する。 - 特許庁

By this sample analysis method, even if the observation surface of the sample is not coated with the conductive film, the occurrence of an abnormal analysis results associated with the charge of the sample can be avoided.例文帳に追加

この分析方法によれば、導電膜を試料の観察面にコーティングしなくても、試料の帯電に伴う異常な分析結果の発生を回避することができる。 - 特許庁

To provide a sample analysis device capable of accurately acquiring analysis results when continuously processing a sample in the same sample container a plurality of times.例文帳に追加

同一の試料容器内の試料に対して複数回連続して処理を行う場合に、精度よく分析結果を取得し得る試料分析装置を提供する。 - 特許庁

To realize a sensor and a sensor chip used therein, which prevent the efficiency of a sample analysis from lowering in the sample analysis in which a sample is fixed to the sensor for a long time.例文帳に追加

試料分析時に、センサに長時間固定しておくことにより試料分析の能率が損なわれることのないセンサ、およびそれに用いられるセンサチップを得る。 - 特許庁

FLUORESCENT OPTICAL STATION FOR TEST SAMPLE CARD, AND FLUORESCENT ANALYSIS METHOD例文帳に追加

テスト試料カード用蛍光光学ステーション及び蛍光分析方法 - 特許庁

ELEMENT ANALYSIS METHOD, ELEMENT ANALYZER, AND SAMPLE FOR ANALYZING ELEMENT例文帳に追加

元素分析方法、元素分析装置、及び元素分析用試料 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR THIN FILM ANALYSIS AND THIN FILM ANALYZING METHOD例文帳に追加

薄膜分析用サンプルの製造方法及び薄膜分析方法 - 特許庁

In the separation column 10, the gradient analysis of the sample is performed.例文帳に追加

分離カラム１０では試料のグラジエント分析が行なわれていく。 - 特許庁

In the two dimensional graph 15, the abscissa shows the analysis result of the accuracy control sample 1, and the ordinate shows the analysis result of the accuracy control sample 2.例文帳に追加

２次元グラフ１５は、横軸が精度管理試料１の分析結果を示し、縦軸が精度管理試料２の分析結果を示す。 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS DEVICE, AND CALIBRATION METHOD FOR RADIATION LIMITING DIAPHRAGM例文帳に追加

試料分析装置および放射線制限絞りのキャリブレーション方法 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS DEVICE, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM RECORDING ITS PROGRAM例文帳に追加

試料分析装置、プログラムおよびそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

IMAGE ANALYSIS SYSTEM AND METHOD OF PROVIDING ANALYZED IMAGE OF SAMPLE例文帳に追加

画像解析システムおよび試料の解析処理画像提供方法 - 特許庁

A first image, obtained prior to the start of the analysis of the sample is compared with a second image, obtained after the start of the analysis of the sample.例文帳に追加

試料の分析を開始する前に得た第１の画像と試料の分析を開始した後に得た第２の画像を比較する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYSIS OF METAL ELEMENT IN SOLID SAMPLE例文帳に追加

固体試料の金属元素分析方法およびその分析装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING SURFACE ANALYSIS ON SAMPLE例文帳に追加

サンプルの表面分析を行う方法及びこれを実施する装置 - 特許庁

ANALYSIS SYSTEM FOR ANALYZING LIQUID SAMPLE ON ASSAY ELEMENT例文帳に追加

分析試験エレメント上での液体試料の分析用分析システム - 特許庁

SURFACE ANALYSIS METHOD FOR SOLID SAMPLE USING CP/MAS NMR例文帳に追加

ＣＰ／ＭＡＳＮＭＲを用いた固体試料の表面解析方法 - 特許庁

FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS METHOD AND EVALUATION METHOD OF SAMPLE STRUCTURE例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析方法及び試料構造の評価方法 - 特許庁

ELECTRON-SPECTROSCOPE DEVICE, ELECTRON SPECTROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

電子分光装置および電子分光器ならびに試料分析方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PREPARING SAMPLE FOR ANALYSIS OF DIOXINS例文帳に追加

ダイオキシン類分析用試料の調製方法および調製装置 - 特許庁

A sample is disposed in an optical cuvette suitable for microscopic analysis.例文帳に追加

サンプルが、顕微鏡分析に適した光学キュベット内に配置される。 - 特許庁

ION SOURCE FOR TIME-OF-FLICHT MASS SPECTROMETER FOR GAS SAMPLE ANALYSIS例文帳に追加

ガスサンプル分析用の飛行時間型質量分析計用のイオン源 - 特許庁

TOC HIGH-SPEED ANALYSIS METHOD FOR SAMPLE CONTAINING PERSISTENT ORGANIC SUBSTANCE例文帳に追加

難分解性有機物含有試料のＴＯＣ高速分析方法 - 特許庁

This sample analysis method includes a first analysis method for subjecting the sample to first analysis in a first analyzing medium, a recovery process for recovering the sample component after the first analysis in a sample recovery part and a second analyzing process for subjecting the sample component, after recovery to second analysis.例文帳に追加

本発明のサンプル分析方法は、複数の成分を含むサンプルを複数回分析するために、第１分析媒体中にてサンプルを第１分析に供する第１分析工程；第１分析後のサンプル成分をサンプル回収部に回収する回収工程；および回収後のサンプル成分を第２分析に供する第２分析工程を包含する。 - 特許庁

To provide a sample holder and a sample analysis method for preventing a sample from being moved by a vibration transferred from the outside, and implementing an accurate fluorescent X-ray analysis of the sample even if the sample is a light and small piece.例文帳に追加

試料が軽量な小片である場合でも外部から伝わる振動による試料の移動を防止し、試料の蛍光Ｘ線分析を精度良く行うことができる試料ホルダ及び試料分析方法を提供する。 - 特許庁

To perform accurate Auger spectroscopic analysis in the surface analysis of a sample with an insulating surface.例文帳に追加

絶縁性の表面を有する試料の表面分析において、正確なオージェ分光分析を可能とする。 - 特許庁

A set of sample data is generated for supporting analysis condition setting to a set of data as an analysis target.例文帳に追加

分析対象データセットに対する分析条件の設定を支援するためのサンプルデータセットを生成する。 - 特許庁

MOLECULAR ANALYSIS LIGHT DETECTION METHOD, MOLECULAR ANALYSIS LIGHT DETECTION DEVICE USED THEREFOR, AND SAMPLE PLATE例文帳に追加

分子分析光検出方法およびそれに用いられる分子分析光検出装置、並びにサンプルプレート - 特許庁

To provide a fluorescence analyzer and an analysis method capable of executing properly fluorescence analysis of a sample.例文帳に追加

試料の蛍光解析を好適に実行可能な蛍光解析装置及び解析方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE PRE-TREATMENT SYSTEM FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS SYSTEM HAVING THE SAME例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析用試料前処理システムおよびそれを備えた蛍光Ｘ線分析システム - 特許庁

To provide an optical analysis method and a related instrument/device for an analysis object in a sample.例文帳に追加

試料中の分析対象物の光学的分析方法および関連器具／装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an analysis device capable of simply and speedily measuring many analysis items by a small amount of sample.例文帳に追加

少量の検体で多数の分析項目を簡便かつ迅速に測定できる分析具を提供する。 - 特許庁

To allow micro elementary analysis and average elemental analysis for a sample, by one X-ray analyzer.例文帳に追加

１台のＸ線分析装置で試料の微小元素分析と平均的元素分析を可能とする。 - 特許庁

To provide an analysis system and an analysis method for analyzing a liquid sample on an assay element.例文帳に追加

本発明は、分析試験エレメント上での液体試料の分析用分析システムおよび方法の提供。 - 特許庁

ANALYSIS SAMPLE GATHERING UNIT FOR SEMICONDUCTOR VAPOR GENERATOR AND ANALYSIS PROCESSING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体用水蒸気生成装置の分析試料採取器具及び該器具を用いた分析処理方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD AND ANALYSIS DEVICE OF ELEMENT IN SAMPLE MELTED AND TREATED IN INERT GAS ATMOSPHERE例文帳に追加

不活性ガス雰囲気で融解処理された試料中の元素分析方法および元素分析装置 - 特許庁

To reduce sample manufacturing time, analysis time, and costs by reducing the number of wafers used for an analysis.例文帳に追加

分析に用いるウェハの枚数を削減し、サンプル製造時間、分析時間及びコストを削減する。 - 特許庁

The terahertz spectroscopic device 1 receives the terahertz waves having penetrated through the sample to perform the spectral analysis of the sample.例文帳に追加

テラヘルツ分光装置１は、試料を透過したテラヘルツ波を受波して、試料の分光解析を行う。 - 特許庁