「capacity test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To increase working efficiency of test work by a test program, and to reduce memory capacity for the test work.例文帳に追加

テストプログラムによるテスト作業の作業効率を高め、テスト作業用のメモリ容量を少なくすること。 - 特許庁

The self test circuit device is provided with a test memory 12, a test result storage memory 13 of which the capacity is larger than the capacity of the test memory or is equal to the capacity, and a control circuit 15 constituted so that the test result is stored in the test result storage memory by performing a test of the test memory in the actual use frequency.例文帳に追加

自己試験回路装置は、テストメモリ１２と、前記テストメモリより容量が大きいかまたは等しいテスト結果格納メモリ１３と、実使用周波数において前記テストメモリのテストを行って、そのテスト結果を前記テスト結果格納メモリに格納するように構成された制御回路１５とを具備する。 - 特許庁

To minimize the capacity of a test area and to record test patterns taking crosstalks into consideration.例文帳に追加

テストエリアの容量を最小限にとどめ、クロストークを考慮したテストパターンを記録する。 - 特許庁

To perform a memory test using an internal memory with smaller capacity than that of a memory under test.例文帳に追加

被試験メモリの試験を被試験メモリの容量よりも少ない内部メモリで試験する。 - 特許庁

To produce a large amount of fixed test data without increasing capacity of a test data storage region.例文帳に追加

試験データ格納領域の容量を増やすことなく大量の固定試験データを発生する。 - 特許庁

This mobile test apparatus for medical application predicts the amount of test data on the basis of test order information and determines whether or not the storage capacity for storing the test data remains.例文帳に追加

検査オーダー情報をもとに検査データ量を予測して、検査データを保存する容量が残っているか、判断する医療用の移動型検査装置。 - 特許庁

To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test.例文帳に追加

スキャンテストに必要なテストパタン数（クロック数）、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the capacity of a multi-axis test program and at the same time easily execute a multi-axis test.例文帳に追加

多軸試験プログラムの容量を小さくするとともに、多軸試験を容易に実行できるようにする。 - 特許庁

To prevent loading of test force exceeding the capacity of a load cell.例文帳に追加

ロードセルの容量を超えた試験力が負荷されることを防止する。 - 特許庁

To generate a variety of test patterns utilizing a small capacity memory.例文帳に追加

多種多様のテストパターンの発生を小容量のメモリを利用して行う。 - 特許庁

To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.例文帳に追加

従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

To suppress reduction of charge and discharge efficiency in a cycle test of a battery, and maintain a battery capacity high after the cycle test.例文帳に追加

電池のサイクル試験における充放電効率の低下を抑制し、サイクル試験後の電池容量の高く維持する。 - 特許庁

A translation capacity determining part 106 of the translation support system 100 transmits a test for determining translation capacity to a user terminal 300-1 and marks answers to the test.例文帳に追加

翻訳支援システム100内の翻訳能力判定部106は、利用者端末300-1に対して翻訳能力を判定するためのテストを送信し、このテストに対する解答を採点する。 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC REFRIGERATING CAPACITY CONTROL DEVICE AND ENVIRONMENTAL TEST DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

電磁弁式の冷凍能力制御装置及びこれを備えた環境試験装置 - 特許庁

Because inputting only the program of a part necessary for the test, the memory capacity for the test work can be reduced.例文帳に追加

また、テストに必要な箇所のプログラムのみを入力するため、テスト作業用のメモリ容量を少なくすることが可能となる。 - 特許庁

To provide a test frame composition device and a test frame composition method which can transmit arbitrary large capacity data.例文帳に追加

本発明は、任意の大容量データを送信可能なテストフレーム構成装置及びテストフレーム構成方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To shorten time of a load test without need of a large scale facility in the load test of a large power generator with large capacity.例文帳に追加

大容量の大型発電機の負荷試験において、大規模な施設を必要とせず、負荷試験の時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a scan test pattern input method capable of minimizing tester memory capacity for storing test patterns and reproducing all the test patterns created by ATPG.例文帳に追加

テストパタンを記憶するテスターメモリ容量を最小限とし、かつＡＴＰＧによって生成された全てのテストパタンを再現可能なスキャンテストパタン入力方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory test apparatus in which a test result can be referred to properly in the midst of the test without providing a log memory of a large capacity and which is inexpensive and can be constituted simply.例文帳に追加

大容量のログメモリを設けることなく、試験途中でテスト結果を適宜参照でき、安価かつ簡単に構成できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic apparatus that allows reducing test manhours and conducting a reliable evaluation test using a small-capacity memory.例文帳に追加

試験工数を減少させ、小容量のメモリにより十分な評価試験を実行することができる電子機器を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of storing a test result in a small-capacity data fail memory by using a compression technique.例文帳に追加

圧縮技術を用いて、小さな容量のデータフェイルメモリにテスト結果を格納することができる、半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a nonaqueous secondary battery which has high capacity, and has high safety even in a temperature elevation test.例文帳に追加

高容量で、かつ昇温試験においても安全性が高い非水二次電池を提供する。 - 特許庁

To provide a nonaqueous secondary battery which has a large capacity and has high safety in a temperature elevation test.例文帳に追加

高容量で、かつ昇温試験においても安全性が高い非水二次電池を提供する。 - 特許庁

To provide a nonaqueous secondary battery with high capacity and high safety in temperature rise test.例文帳に追加

高容量で、かつ昇温試験においても安全性が高い非水二次電池を提供する。 - 特許庁

To provide a lithium secondary battery exhibiting a high reliability according to the nailing test and assuring a high capacity.例文帳に追加

釘刺し試験における信頼性が高く、かつ高容量なリチウム二次電池を提供する。 - 特許庁

To enable high-precision leak detection by a differential pressure type air leak test device while reducing the capacity of master-side and work- side two test pressure closure systems.例文帳に追加

差圧型エアリークテスト装置において、マスタ側，ワーク側の２つのテスト圧閉鎖系の容積を減少させて、高精度の漏れ検出を行う。 - 特許庁

To test a semiconductor integrated circuit constituting a switching power supply circuit by using an ordinary test device with a small current capacity.例文帳に追加

スイッチング電源回路を構成する半導体集積回路において、電流容量の小さい通常の試験装置を用いてテストを可能とする。 - 特許庁

To provide a capacity measurement device which can measure the capacity of a test object with high accuracy by enhancing the measurement accuracy of leak current.例文帳に追加

リーク電流の測定精度を上げて被測定対象の容量値を精度良く測定することのできる容量測定装置を提供する。 - 特許庁

Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).例文帳に追加

このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁

To provide a test device measurement system that suitably controls the processing amount of data transmitted from a test device according to the data processing capacity of an information processor.例文帳に追加

情報処理装置のデータ処理能力に応じて、試験装置から送信されるデータの処理量を最適制御する試験装置測定システムを提供する。 - 特許庁

To test an integrated circuit without changing the constitution of the integrated circuit of a testing object and without providing a large capacity of test vector memory.例文帳に追加

テスト対象の集積回路の構成を変更する必要がなく、大容量のテストベクトルメモリも設けることなく、集積回路のテストを可能にする。 - 特許庁

To provide a nonaqueous electrolyte battery with a high output at initial ambient temperature and at -30°C, providing high discharge capacity even at high-rate discharging, and yet, with a high capacity retention ratio after endurance tests such as high-temperature preservation test and a cycle test, and excellent in initial output performance and a high-rate discharge capacity even after the endurance test.例文帳に追加

初期の常温および−３０℃出力が高く、ハイレート放電時にも高い放電容量を与え、加えて高温保存試験やサイクル試験といった耐久試験後の容量維持率が高く、かつ耐久試験後でも初期の出力性能やハイレート放電容量に優れた非水系電解液電池を提供する。 - 特許庁

A pump has a capacity of several times or more the flow rate requested by the prescribed facility (test facility).例文帳に追加

ポンプは、所定の設備（試験設備）から要求される流量の数倍以上の能力を備える。 - 特許庁

To print a test pattern while saving the storage capacity of a storage medium mounted on a serial printer.例文帳に追加

シリアルプリンタに搭載された記憶媒体の記憶容量を節約してテストパターンを印刷できるようにする。 - 特許庁

To measure a capacity at a high speed, using a semiconductor parametric test system.例文帳に追加

半導体パラメトリックテストシステムを利用し、容量測定を高速に測定する容量測定システムを提供する。 - 特許庁

TEST CONDITION DETERMINATION METHOD OF ADHESIVE CAPACITY TO TITANIUM TYPE HARD COAT LENS BASE MATERIAL, AND TESTING METHOD例文帳に追加

チタン系ハードコ−トのレンズ基材との密着性能の試験条件決定方法及び試験方法 - 特許庁

Each accumulation capacity broken by application of the test voltage is detected in each pixel (process S2).例文帳に追加

上記試験電圧の印加によって破壊された蓄積容量を画素毎に検出する（工程Ｓ２）。 - 特許庁

To further reduce test time of memory in a semiconductor integrated circuit which incorporates a large capacity memory.例文帳に追加

大容量のメモリを内蔵した半導体集積回路において、さらにメモリのテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To enable shortening a test time for word lines and bit lines even in a memory having a large capacity.例文帳に追加

大容量化するメモリに対してもワード線やビット線に対する検査時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

To produce a catalyst enhanced in heat resistance and having high purifying capacity even after a high temp. durability test.例文帳に追加

耐熱性が向上し、高温耐久試験後にも高い浄化能を有する触媒を製造する。 - 特許庁

To execute a self-test by using a signal path which is the same as that in its normal use, and to make it unnecessary to overlap an address space for a self-test ROM, and to reduce a self-test ROM capacity.例文帳に追加

通常使用時と同じ信号経路を用いてセルフテストが実施でき、セルフテストＲＯＭのためにアドレス空間を重複させる必要がなく、セルフテストＲＯＭ容量を削減できるようにすること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory equipped with a test circuit whose I/O constitution is small and which is useful for shorting the test time of a DRAM and simplifying the test process, and to suppress the variation and dispersion of input capacity.例文帳に追加

Ｉ／Ｏ構成の小さいＤＲＡＭのテスト時間の短縮とテスト工程の簡略化に役立つテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供し、入力容量の変化やばらつきを抑制する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for semiconductor memory, in which capacity of fail memories required for relieving analysis of a semiconductor memory is reduced and of which the test cost is reduced.例文帳に追加

半導体メモリの救済解析に必要とされるフェイルメモリの容量を削減し、半導体メモリの試験コストを低減することができる半導体メモリの試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a loading test method excellent in the rapidity or economical efficiency of a test and capable of easily grasping the capacity of a ground anchor by employing a fast loading test method as a loading test for the ground anchor, and a testing apparatus therefor.例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験として急速載荷試験方法を採用することによって、試験の迅速性や経済性に優れ、かつ容易にアンカーの性能を把握することができる載荷試験方法及びその装置を提供することである。 - 特許庁

In this case, the total number of test areas in the entire disk is increased in proportion to the increase of an optical disk capacity.例文帳に追加

このとき、光ディスクの容量の増加に比例してディスク全体におけるテストエリアの総数を増加する。 - 特許庁