| 意味 | 例文 (65件) |
chain shiftの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 65件
This combine harvester 1 is constituted so as to provide the pretreating part 2 for reaping stems and culms and a threshing feed chain 13 for conveying the reaped stems and culms along a threshing part 3 and carry out shift transmission of power taken out from the side of threshing part 3 by a continuously variable gear 27 and transmit the power through the gear case 29 to the pretreating part 2 and the threshing feed chain 13.例文帳に追加
コンバイン１は、茎稈を刈り取る前処理部２と、刈り取った茎稈を脱穀部３に沿って搬送する脱穀フィードチェン１３とを備えると共に、脱穀部３側から取り出した動力を前処理用無段変速装置２７で変速し、ギヤケース２９を介して前記前処理部２および脱穀フィードチェン１３に伝動するように構成される。 - 特許庁
A control circuit generates a block scan clock signal including a shift clock at the same timing when a control signal shows a scan shift period for inputting and outputting data in the scan chain, and generates a block scan clock signal including pulses at different timing for each of the plurality of circuit blocks when the control signal shows a capture period for testing a logic operation of the combination circuit.例文帳に追加
制御回路は、制御信号がスキャンチェーンにデータを入出力するスキャンシフト期間を示すときに、同じタイミングのシフトクロックを含むブロックスキャンクロック信号を生成し、組み合わせ回路の論理動作をテストするキャプチャ期間を示すときは複数の回路ブロック毎に異なるタイミングのパルスを含むブロックスキャンクロック信号を生成する。 - 特許庁
A scan chain circuit 1 temporarily holds data output and input to a combination logic circuit 2 during normal operation, and serially transfers a test pattern signal SCANIn by making a plurality of flip-flops F/F function as a shift register during execution of the scan test.例文帳に追加
スキャンチェーン回路１は、通常動作時には、組み合わせ論理回路２に入出力されるデータを一時保持する一方、スキャンテスト実行時には、複数個のフリップフロップＦ／Ｆをシフトレジスタとして機能させテストパターン信号ＳＣＡＮＩｎをシリアル転送する。 - 特許庁
To prevent the generation of excessive IR drop in a scan test circuit performing a functional test of a flip-flop connected to a scan chain in parallel to a plurality of scan chains by a scan shift operation and a scan capture operation.例文帳に追加
スキャンシフト動作とスキャンキャプチャ動作によって、スキャンチェインに接続されたフリップフロップの機能テストを、複数のスキャンチェインに対して並行に行なうスキャンテスト回路において、過度のＩＲドロップの発生を防ぐ。 - 特許庁
To provide an analytical method for a scan test circuit in which a flip-flop having a nonconformity in a shift operation in a flip-flop chain of the scan test circuit is specified in a short time even without using a special analyzer such as an EB tester or the like.例文帳に追加
ＥＢテスタ等の特殊な解析装置を用いなくても、スキャンテスト回路のフリップフロップチェーンにおいてシフト動作に不具合のあるフリップフロップを短時間で特定可能なスキャンテスト回路の解析方法を提供する。 - 特許庁
In the LED display system, lamp units, each of which receives and stores lighting control data, are provided for every LED lamp in a shift-and-latch system, thereby constituting a display section in which LED lamps and lamp units are connected in a lemniscae state with a chain.例文帳に追加
各ＬＥＤランプ毎に点灯制御データをシフト＆ラッチ方式で受信記憶するランプユニットを設けることにより、ＬＥＤランプ、ランプユニットが少数の信号線で連珠状に結合された表示部を提供する。 - 特許庁
At least a given one of the scan cells of the scan chain comprises output control circuitry which is configured to disable a functional data output of the scan cell in the scan shift mode of operation and to disable a scan output of the scan cell in the functional mode of operation.例文帳に追加
スキャンチェーンのスキャンセルの少なくとも所与の１つは、スキャンシフト動作モードではスキャンセルの機能データ出力をディスエーブルし、機能動作モードではスキャンセルのスキャン出力をディスエーブルするように構成された出力制御回路を備える。 - 特許庁
To provide a discharged straw-conveying apparatus in which a lifting apparatus vertically moving a conveying is provided on a starting end side of a chain for discharged straw and shift for changing over to a conveying state and an enlarging state is accurately carried out and turning operation of a handle part vertically moved to a vertical direction is facilitated.例文帳に追加
排藁チェンの始端側に搬送体を上下動させる揚上装置を設け、搬送状態と拡張状態に切替える移動を正確に行うとともに、垂直方向に上動させるハンドル部の回動操作を行い易くした排藁搬送装置の提供である。 - 特許庁
When a groundsill spacer A is rotated around the center section 1ao at an angle of 90°, 180° or 270°, the bolt hole 1a is rotated and the rotation state of the bolt hole 1a changes from that shown by the actual line to that shown by the two-dot chain, and the position shift of the anchor bolt 4 can thus be absorbed in a broad insertion region.例文帳に追加
土台スペーサＡを中心部１ａｏを中心に、９０度、１８０度、２７０度のいずれかの角度回転させると、ボルト孔１ａは実線の状態から２点鎖線のように回転するので、アンカーボルト４の位置ずれを、広い挿通領域で吸収することができる。 - 特許庁
When the command is outptted to a sub administrative board 111 from the main control board 101, the magnetic excitation data of the stepping motor is outputted serially from the sub administrative board 111 synchronizing the transfer clock to a shift register connected in a daisy chain to a lamp drive board 112.例文帳に追加
主制御基板１０１からサブ統合基板１１１へコマンドが出力されると、ステッピングモータの励磁データが転送クロックと同期してサブ統合基板１１１からランプ駆動基板１１２へ、デイジーチェーン接続されたシフトレジスタへシリアル出力される。 - 特許庁
Switching circuits 21 and 25 are provided in wiring 15 and 16 which are included in signal paths in a shift mode and which are not included in signal paths at the time of a normal operation among the output signal lines of scan flip flops 11 and 12 constituting a scan chain 10.例文帳に追加
スキャンチェーン１０を構成するスキャンフリップフロップ１１，１２の出力信号線のうち、シフトモードの信号経路に含まれ、かつ通常動作時の信号経路に含まれない配線１５，１６に切替回路２１，２５が設けられている。 - 特許庁
In a processing (ST2), according to an event 34 of data for verification, a virtual scan chain to which a scan object register group is connected is generated to form a shift register configuration (SI, SO, MD) using the scan object register group among the plurality of registers in the RTL data 32 and terminal information 35 (SI, SO, MD).例文帳に追加
処理（ＳＴ２）では、検証用のデータの事象３４に従って、ＲＴＬデータ３２における複数のレジスタのうちのスキャン対象レジスタ群と、端子情報３５（ＳＩ、ＳＯ、ＭＤ）とを用いて、シフトレジスタ構成（ＳＩ、ＳＯ、ＭＤ）となるようにスキャン対象レジスタ群が接続された仮想スキャンチェーンを生成する。 - 特許庁
Driving force is related to a fine speed changer of a differential reduction gear system, a rough speed changer of an inner contact reduction gear system and an output section of an intersecting axle power transmission system, arbitrarily and selectively by a chain-less method by using a shift lever, to finely change speed multi-stepwise in each of rough speed change stages for low/high speed.例文帳に追加
本発明は、チェーン無し方式により駆動力を差動ギア方式の微動変速部と内接ギア方式の粗動変速部、そして交差軸動力伝達方式の出力部が変速レバーで任意的でかつ選択的に関係することにより、低・高速の粗動変速段の各々で多段階的に微動変速を行うようにしたものである。 - 特許庁
To provide a semiconductor test circuit for remarkably reducing an amount of a scanning test pattern and shortening a full scanning test time by modifying the constitution of an inside scanning chain at any time without increasing a test terminal and remarkably shortening a once-scanning shift action period in an LSI full scanning design, and to provide its test method.例文帳に追加
ＬＳＩのフルスキャン設計において、テスト端子を増加させずに、内部スキャンチェーンの構成を随時変更し、１回のスキャンシフト動作期間の大幅な短縮を行うことで、スキャンテストパターン量の大幅な削減とフルスキャンテスト時間の短縮を可能とする半導体テスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a meshing chain type lifting device for realizing the excellent meshing timing between a pair of lifting driving meshing chains by restraining the occurrence of a phase shift between a pair of lifting sprockets, miniaturization of a driving part, easily attaining phase adjusting work when a shift is caused in a phase between the pair of lifting sprockets, and safely and surely realizing lifting operation of a lifting table.例文帳に追加
一対の昇降用スプロケット間における位相のズレの発生を抑制して一対の昇降駆動用噛合チェーン間における良好な噛合タイミングを実現するとともに、駆動部分の小型化を実現し、しかも、一対の昇降用スプロケット間における位相にズレが生じた際にも位相調整作業を容易に達成するとともに昇降テーブルの昇降動作を安全かつ確実に実現する噛合チェーン式昇降装置を提供すること。 - 特許庁
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