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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > diffraction intensityに関連した英語例文

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diffraction intensityの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 365



例文

The light beam Lp being linearly polarized light made incident on a light intensity modulator 16 is transmitted through a polarizing beam splitter 30 and diffracted at a specified diffraction angle by an AOM 36, reflected by a reflector 40 after it is changed to the light beam Lc being circularly polarized light by a 1/4 wavelength plate 38, and transmitted through the plate 38 again.例文帳に追加

光強度変調装置16に入射された直線偏光の光ビームLpは、偏光ビームスプリッタ30を透過してAOM36で所定の回折角度をもって回折され、1/4波長版38で円偏光の光ビームLcに変換された後に反射板40で反射され、再度1/4波長版38を透過する。 - 特許庁

The ink composition comprises a colorant composed of a pseudo- one-dimensionally crystallizable color organic pigment having a diffracted wave showing a maximum intensity and its n-th order diffracted wave (wherein n is an integer of ≥2) as the major peaks in the X-ray diffraction spectrum, a water-soluble organic solvent, a surface active agent, and a water-soluble resin.例文帳に追加

X線回折スペクトルにおいて、最大強度を示す回折線とそのn次(n:2以上の整数)の回折線を主要ピークとして有する擬1次元結晶性カラー有機顔料からなる着色剤、水溶性有機溶剤、界面活性剤および水溶性樹脂を含有することを特徴とするインク組成物により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

A light flux passing through an incident slit 1 is dispersed into light having a short wavelength to light having a long wavelength by a concave diffraction grating 2, and an optical filter 4 formed by bonding a plurality of optical filters having different properties and having bonding surfaces in the oblique direction is arranged just before a photodiode array type detector 3 for detecting the light intensity of the dispersed light.例文帳に追加

入射スリット1を通した光束を凹面回折格子2で短波長から長波長の光に分散し、この分散光の光強度を検出するホトダイオードアレイ型の検出器3の直前に、斜め方向の接合面を有する複数の異なった性質の光学フィルタを接合してなる光学フィルタ4を配置する。 - 特許庁

Among laser light beams emitted from the junction surface 6A by a semiconductor laser 6 in this optical pickup device, an unnecessary light component 8 having a larger radiation angle but smaller light intensity than a signal light 17 incident on the signal diffraction grating 5 of a hologram element 13 is converged on two focuses P1, P2 by stray light prevention hologram pattern sections 11, 12.例文帳に追加

この光ピックアップ装置によれば、半導体レーザ6がその接合面6Aから出射するレーザ光のうち、ホログラム素子13の信号用回折格子5に入射する信号光17よりも放射角が大きく光強度が小さな不要光8を、迷光防止用ホログラムパターン部11,12でもって2つの焦点P1,P2に集光させる。 - 特許庁

例文

Grinding is executed by using a resin bond grinding wheel using abrasive grains of which the ratio of including diamond abrasive grains is 25-45% (55-75% in DLC ratio), and/or the X-ray diffraction intensity of diamond {311} crystal face of abrasive grain powder is 4,900-6,250 count under the condition of 70% or less of abrasive grains smoothing ratio.例文帳に追加

砥粒のダイヤモンドを含む比率が25%〜45%(DLC比率では55%〜75%)およびまたは砥粒粉のダイヤモンド{311}結晶面のX線回折強度が4900カンウト〜6250カンウトである砥粒を用いたレジンボンド砥石とそれを用いて砥粒の平滑化率が70%以下となる条件で研削する。 - 特許庁


例文

A portion where electrons reflected vertically from a sample 104 are formed is shielded by a shielding object 117, on a diffraction spot formed on a rear focal plane of an electron lens 111, and other reflected electron beams are detected by a detector 112, and its integration intensity is monitored by an input/output device 115, to thereby determine a foreign matter or a flaw.例文帳に追加

電子レンズ111の後焦点面に形成される回折スポットのうち、試料104から垂直に反射される電子が形成する部分を遮蔽物117で遮蔽し、その他の反射電子線を検出器112で検出し、その積分強度を入出力装置115でモニタすることにより異物や欠陥の判定を行う。 - 特許庁

Also, the tin or tin layer reduced in the formation of the whiskers is obtained by forming the layer in such a manner that the ratio of the peak intensity corresponding to the crystal face forming the angle 5 to 22° or the face equivalent thereto to the total peak intensity of all the peaks observed in X-ray diffraction spectra is10%.例文帳に追加

スズまたはスズ合金の層を基体上に電着するときに、スズまたはスズ合金層に隣接する結晶面またはその同等な面と5°〜22°の角度を形成する結晶面またはその同等な面が実質的にないようにする、また、X線回折スペクトルにおいて観察されるすべてのピークの合計ピーク強度に対する5°〜22°の角度を形成する結晶面およびその同等な面に対応するピーク強度の比が10%以下であるようにすることによってホイスカーの形成が減少したスズまたはスズ合金層を得る。 - 特許庁

The optical characteristics of the optical component to be inspected can be evaluated at high speed by simultaneously detecting two interference regions 20 and 21 generated by a diffraction grating 16 and having different phases, and calculating initial phases in the interference regions from one interference image by using an intensity radio and a phase difference at the same coordinate point in the interference regions 20 and 21.例文帳に追加

回折格子16により生成され、異なる位相を有する2つの干渉領域20,21を同時に検出し、干渉領域内の20,21の同一座標点における強度比、位相差を用いて1枚の干渉画像から干渉領域内の初期位相の算出することにより被検光学部品の光学特性を高速に評価することを可能にする。 - 特許庁

While the intensity of the laser light is periodically changed, the point of converged light is moved at a constant speed so as to produce a region where the refractive index is periodically changed to form an optical waveguide type Bragg diffraction grating.例文帳に追加

Al_2O_3を含むガラスのような光誘起屈折率変化を起こしやすいガラス材料とB_2O_3を含むガラスのように変化を起こしにくいガラス材料の積層体に対し、集光したレーザ光を照射し、かつレーザ光強度を周期的に変化させながら一定速度で集光点を移動させることにより、周期的屈折率変化領域を生成させて光導波路型ブラッグ回折格子が形成できる。 - 特許庁

例文

The information recording medium is made to record ≥2 kinds of the optical information in the same or different recording pits as shape records identifiable and detectable with each other in the microregions below the diffraction limit of light by recording the light intensity information and/or polarization information included in near field light to a photosensitive material which can induce a photoanisotropic reaction accompanied by a shape change.例文帳に追加

近接場光に含まれる光強度情報及び/又は偏光情報を、形状変化を伴う光異方性反応を起こし得る感光材料に記録させることにより、光の回折限界以下の微小領域において、2種以上の光情報を互いに識別検出可能な形状記録として、同一又は異なる記録ビットに記録した情報記録媒体 - 特許庁

例文

The carbon electrode material for a redox flow battery using an aqueous electrolyte has pseudo graphite crystal structure in which the stacked structure ratio based on the peak intensity of <002> diffraction as determined by X-ray analysis is 0.50-0.90, and the amount of surface acidic functional groups as determined by XPS surface analysis is 0.2-1.2% of the number of carbon atoms on the whole surface.例文帳に追加

水溶液系電解液を使用するレドックスフロー電池用の炭素電極材であって、X線広角解析より求めた<002>回折のピーク強度に基づく積層構造比が0.50〜0.90である擬黒鉛結晶構造を有し、XPS表面分析より求めた表面酸性官能基量が全表面炭素原子数の0.2〜1.2%であることを特徴とする。 - 特許庁

In a state that the table 27 is rotated by a spindle motor 24 and a feed motor 18 after imaging the diffraction ring and the table 27 is moved in parallel with a light receiving surface of the imaging plate 28, the laser detection device PUH applies the laser beam to the imaging plate 28 and acquires a laser irradiation position when the intensity of light emitted from the imaging plate 28 becomes maximum.例文帳に追加

回折環を撮像した後、スピンドルモータ24及びフィードモータ18によって、テーブル27を回転させるとともにイメージングプレート28の受光面に平行に移動させた状態で、レーザ検出装置PUHによって、イメージングプレート28にレーザ光を照射して、イメージングプレート28が発する光の強度が極大となるときのレーザ照射位置を取得する。 - 特許庁

By using a photomask or a reticle formed with an auxiliary pattern having a light intensity reduction function formed of a diffraction grating pattern or a translucent film, the width of a region with a small thickness of a gate electrode can be freely set, and the widths of two LDD regions capable of being formed in a self-aligned manner with the gate electrode as a mask can be different in accordance with the each circuit.例文帳に追加

回折格子パターン或いは半透膜からなる光強度低減機能を有する補助パターンを設置したフォトマスクまたはレチクルを用いることによって、ゲート電極の膜厚の薄い領域の幅を自由に設定でき、そのゲート電極をマスクとして自己整合的に形成できる2つのLDD領域の幅を個々の回路に応じて異ならせることができる。 - 特許庁

Then, the signal light 5 is broken, reading light 6 of S polarization is applied to the optical storage medium 10, the first hologram is reproduced as diffraction light 8 of S polarization, its intensity is detected by a photo detector 53s, and the recording/reproducing head 20 is aligned to the optical storage medium 10 based on the detection signal of the alignment pattern included in the first hologram.例文帳に追加

次に、信号光5は遮断し、S偏光の読み出し光6を光記録媒体10に照射して、第1のホログラムをS偏光の回折光8として再生し、その強度を光検出器53sにより検出して、第1のホログラムに含まれている位置合わせ用パターンの検出信号に基づいて、記録再生ヘッド20と光記録媒体10の位置合わせをする。 - 特許庁

例文

The X-ray diffraction intensity is subjected to Fourier transformation to calculate a function that represents atomic position in the oxide causing a molten component, a molten phase and a crystalline phase of the oxide causing the molten component are discriminated from a peak value of the function that represents the atomic position, and the structure of the oxide is evaluated by simultaneously evaluating the structures of the molten phase and the crystalline phase.例文帳に追加

そして、そのX線回折強度をフーリエ変換して、溶融成分を生じさせた酸化物中の原子配置を表す関数を求め、当該原子配置を表す関数のピーク値から、前記溶融成分を生じさせた酸化物の溶融相及び結晶性の相を判別し、該溶融相および該結晶性の相の構造を同時に評価することにより、酸化物の構造を評価する。 - 特許庁




  
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