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diffraction intensityの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 365件
The X-ray diffraction intensity of the composite material by CuKα is represented by expression (1): I_1/I_2≤2 (1), wherein I_1 is the peak diffraction intensity at 2θ=5.5-6.5°; and I_2 is the peak diffraction intensity at 2θ=5.5-6.5°.例文帳に追加
ここで、I_1:2θ=5.5〜6.5°間のヒ゜ーク回折強度、I_2:2θ=5.5〜6.5°間のヒ゜ーク回折強度である。 - 特許庁
When calculating them, vector compensation is applied on X-ray diffraction intensity of each diffraction peak.例文帳に追加
算出に際しては、各回折ピークのX線回折強度についてベクトル補正を行う。 - 特許庁
The HAADF image intensity is not affected by dynamical diffraction. 例文帳に追加
HAADF像の強度は、動力学的回折に影響されない。 - 科学技術論文動詞集
Cellulose I type crystallinity degree (%)=[(I_22.6-I_18.5)/I_22.6]×100 (1) [wherein I_22.6 represents the diffraction intensity of lattice plane (plane 002) (diffraction angle 2θ=22.6°) and I_18.5 represents the diffraction intensity of amorphous part (diffraction angle 2θ=18.5°) in X-ray diffraction].例文帳に追加
セルロースI型結晶化度(%)=〔(I_22.6−I_18.5)/I_22.6〕×100 (1)〔I_22.6は、X線回折における格子面(002面)(回折角2θ=22.6°)の回折強度、及びI_18.5は、アモルファス部(回折角2θ=18.5°)の回折強度を示す〕 - 特許庁
A diffraction X-ray 5 diffraction at the sample 3 is measured in its intensity by an X-ray detector 6.例文帳に追加
試料3で回折した回折X線5は、X線検出器6でその強度が測定される。 - 特許庁
INTENSITY CALCULATION METHOD OF DIFFRACTION SPOT IN X-RAY STRUCTURE ANALYSIS例文帳に追加
X線構造解析における回折斑点の強度算出方法 - 特許庁
FORMED LIGHTING GEOMETRY USING DIFFRACTION OPTICAL ELEMENT, AND INTENSITY例文帳に追加
回折光学素子を用いた整形された照明ジオメトリーおよび強度 - 特許庁
Finally, the difference of diffraction intensity in each of the same pixel is calculated between each diffraction image, to thereby improve the contrast of the diffraction image (step S15).例文帳に追加
最後に、各回折像の間で、同一画素毎に回折強度の差を算出することにより回折像のコントラストを改善する(ステップS15)。 - 特許庁
(3) an intensity peak ratio I_003/I_110 of the diffraction peak intensity I_003 of the (003) planes determined in the X-ray diffraction image and diffraction peak intensity I_110 in the (110) planes in the vicinity of 2θ=66° is 4 to 10.例文帳に追加
(3)前記X線回折像において測定される前記(003)面回折ピーク強度I_003と2θ=66°付近の(110)面回折ピーク強度I_110との強度比I_003/I_110が、4以上10以下であること。 - 特許庁
The diffraction intensity within the CBED discs varies owing to the variation of the excitation errors. 例文帳に追加
CBEDディスク内部の回折強度は、励起誤差の変化によって(様々に)変わる。 - 科学技術論文動詞集
The peak intensity ratio of (P101/P100) of (101) diffraction peak to (100) diffraction peak is preferably ≥1.70.例文帳に追加
また、(101)回折ピークと(100)回折ピークのピーク強度比(P101/P100)は1.70以上であることが好ましい。 - 特許庁
Referring to the table 11 for correcting the intensity signal and the table 12 for correcting the diffraction angle, the amplitude and frequency of a high-frequency signal to be inputted into the acoustooptic diffraction element 4 is controlled to correct the diffraction light intensity and diffraction angle of the diffraction light emitted from the acoustooptic diffraction element 4.例文帳に追加
そして、強度信号補正用テーブル11及び回折角度補正用テーブル12を参照して、音響光学回折素子4に入力する高周波信号の振幅及び周波数を制御し、音響光学回折素子4が出射する回折光の回折光強度及び回折角度を補正する。 - 特許庁
(Co.fcc)≤0.1, where I(Co.hcp) denotes the X-ray diffraction intensity in the (101) face of Co with an hcp structure, and I(Co.fcc) denotes the X-ray diffraction intensity in the (111) face of Co with an fcc structure.例文帳に追加
0≦I(Co・hcp)/I(Co・fcc)≦0.1 ここで、I(Co・hcp)はhcp 構造のCoの(101) 面におけるX線回折強度で、I(Co・fcc)はfcc 構造のCoの(111) 面におけるX線回折強度である。 - 特許庁
When the integrated intensity of X-ray diffraction of a (220) plane on the inner surface of the electrode is I(220) and the integrated intensity of X-ray diffraction of a (111) plane is I(111), the electrode satisfies I(220)/I(111)≥0.41.例文帳に追加
この電極の内面における(220)面のX線回折の積分強度をI(220)、(111)面のX線回折の積分強度をI(111)とするとき、この電極は、I(220)/I(111)≧0.41を満たす。 - 特許庁
In the resultant cubical boron nitride sintered compact, the ratio I_220/I_111 of X-ray diffraction intensity I_220 in (220) plane to X-ray diffraction intensity I_111 in (111) plane is ≥0.1.例文帳に追加
得られた立方晶窒化ホウ素焼結体の(220)面のX線回折強度I_220と、(111)面のX線回折強度I_111との比I_220/I_111は0.1以上である。 - 特許庁
To impart full contrast to the intensity distribution of diffracted light of a three-dimensional diffraction grating.例文帳に追加
3次元回折格子の回折光の強度分布に完全なコントラストをつける。 - 特許庁
In a diffraction experiment, conservation of energy implies that the total intensity in the diffraction pattern is equal to the total intensity at the exit surface of the object. 例文帳に追加
回折実験においてエネルギーの保存は、回折図形の中の全強度が物体の出射面での全強度に等しいことを(論理的に当然のこととして)意味する。 - 科学技術論文動詞集
To provide a diffraction grating type optical element which does not deteriorate in diffraction intensity even when exposed to high temperatures exceeding 80°C.例文帳に追加
80℃を超える高温度に曝された場合においても、その回折強度が劣化しない回折格子型光素子を提供する。 - 特許庁
This method yields the porcelain composition containing merwinite as a crystal phase, wherein a main diffraction intensity of X ray diffraction of a co-existing akermanite corresponds to ≤6% of a main diffraction intensity of the merwinite crystal.例文帳に追加
この方法によれば、メルウィナイトを結晶相として含有し、共存するアケマナイト結晶のX線回折における主回折強度がメルウィナイト結晶の主回折強度の6%以下である磁器組成物が得られる。 - 特許庁
The cellulose I type crystallinity (%)=[(I_22.6-I_18.5)/I_22.6]×100 wherein, I_22.6 is a diffracted intensity of a lattice plane (angle of diffraction 2θ= 22.6°) in X-ray diffraction; and I_18.5 is a diffracted intensity of an amorphous portion (angle of diffraction 2θ= 18.5°).例文帳に追加
セルロースI型結晶化度(%)=〔(I_22.6−I_18.5)/I_22.6〕×100〔I_22.6は、X線回折における格子面(回折角2θ=22.6°)の回折強度、及びI_18.5は、アモルファス部(回折角2θ=18.5°)の回折強度を示す〕 - 特許庁
To precisely measure diffraction rings without reference to the intensity of diffracted X rays.例文帳に追加
回折X線の強度にかかわらず、回折環を精度よく測定できるようにする。 - 特許庁
A rectangular intensity calculation frame 26 enclosing each diffraction spot 34 is set.例文帳に追加
回折斑点34のそれぞれを取り囲む長方形の強度算出枠26を設定する。 - 特許庁
X-RAY DIFFRACTION DEVICE EQUIPPED WITH TWO-DIMENSIONAL DETECTOR, AND DELETION METHOD OF ITS BLANK INTENSITY例文帳に追加
2次元検出器を備えたX線回折装置とそのブランク強度の削除方法 - 特許庁
(2) An intensity ratio I_003/I_104 of diffraction peak intensity I_003 of (003) planes in the vicinity of 2θ=19° determined in the X-ray diffraction image and diffraction peak intensity of (104) planes in the vicinity of 2θ=44° is 1.0 to 1.5.例文帳に追加
(2)前記X線回折像において測定される2θ=19゜付近の(003)面回折ピーク強度I_003と2θ=44°付近の(104)面回折ピーク強度I_104との強度比I_003/I_104が、1.0より大きく1.5より小さいこと。 - 特許庁
To provide an X-ray diffraction device capable of acquiring sufficient diffraction line intensity in a 2θ high angle domain where the diffraction line intensity is weakened, when the sample quantity is small, and maintaining accurately relative X-ray intensity of a diffraction peak in a 2θ middle angle domain and in a 2θ low angle domain where the X-ray irradiation width is widened.例文帳に追加
試料の量が少ない場合に、回折線強度が弱くなる2θ高角度領域で十分な回折線強度を獲得でき、X線照射幅が広くなる2θ中角度領域及び2θ低角度領域において回折ピークの相対X線強度を正しく維持できるX線回折装置を提供する。 - 特許庁
A diffraction intensity distribution function having the variable corresponding to the physical quantity of a crystal sample is combined with a diffraction intensity distribution constituting an observed diffraction pattern to calculate a variable value for prescribing the diffraction intensity distribution function reproducing the diffraction intensity distribution and a feature like the crystal particle size distribution or crystal face interval distribution related to the whole of the crystal sample is acquired numerically.例文帳に追加
本発明は、観測された回折パターンを構成する回折強度分布に結晶試料の物理量に対応した変数を有する回折強度分布関数を合わせ込むことにより、当該回折強度分布を再現する回折強度分布関数を規定する変数の値を求め、結晶試料全体に関する結晶粒径分布や結晶面間隔の分布の如き特徴を数量的に取得する。 - 特許庁
In the quantitative analyzing method of asbestos, the diffraction line intensity of asbestos contained in a sample S to be inspected is calculated and the weight of asbestos is calculated from the diffraction line intensity on the basis of a calibration curve.例文帳に追加
被検試料Sに含まれるアスベストの回折線強度を求め、検量線に基づいてその回折線強度からアスベストの重量を求める定量分析方法である。 - 特許庁
The integrated intensity of the diffracted X-ray on the X-ray recording region is determined in a region inside the intensity calculation frame 26, and the result is used as the intensity of the diffraction spot 34.例文帳に追加
強度算出枠26の内側の領域で,X線記録領域上の回折X線の積分強度を求めて,これを回折斑点34の強度とする。 - 特許庁
It is preferable that the molding has a sheet shape and the intensity ratio, I_(002)/I_(110) of intensity I_(110) of a diffraction peak at a (110) plane of carbon to intensity I_(002) of a diffraction peak at a (002) plane in an X-ray diffraction chart obtained by irradiating X-ray in the thickness direction of the sheet, is ≤10.例文帳に追加
成形体がシート状をなし、その厚み方向にX線を照射して得られる黒鉛粉末のX線回折図における炭素の(110)面の回折ピークの強度I_(110)に対する(002)面の回折ピークの強度I_(002)の比I_(002)/I_(110)が10以下であることが望ましい。 - 特許庁
An intensity component of a diffraction line generated by a specific crystal phase and a specific lattice plane index is separated from other background intensity components by numerical processing by using numerical data of the azimuth distribution of the diffraction line intensity acquired by the measurement processing or a diffraction pattern.例文帳に追加
この測定処理によって得られた回折線強度の方位分布又は回折パターンの数値化データを用い、特定の結晶相と特定の格子面指数によって生じている回折線の強度成分を、数値処理によってそれ以外の背景強度成分から分離する。 - 特許庁
A structure diffraction wave calculation part calculates received electric field intensity on the condition that there is the structure.例文帳に追加
構造物回折波計算部で、構造物がある場合の受信電界強度を算出する。 - 特許庁
To provide a low price optical mask which can further reduce optical intensity peak resulting from diffraction.例文帳に追加
回折に因る光強度ピークを更に低減することができる安価な光学マスクを提供する。 - 特許庁
INTENSITY CORRECTION AT OBLIQUE INCIDENCE TO DETECTOR OF DIFFRACTION X-RAY IN X-RAY STRUCTURE ANALYSIS例文帳に追加
X線構造解析における回折X線の検出器への斜め入射時の強度補正 - 特許庁
The crystal transformation index of the insulating layer, which is obtained from the diffraction intensity by an X-ray diffraction method, is at least a predetermined value, and preferably at least 0.6.例文帳に追加
絶縁層のX線回折法の回折強度から求まる結晶変換指数が所定の値以上、好ましくは、0.6以上とする。 - 特許庁
Here, Ip represents a maximum value of intensity of a part above a tangent drawn to both bottoms of the diffraction peak of the (002) surface, and Io represents the remaining X-ray intensity obtained by subtracting scatter intensity of air from measured diffraction intensity at an angle 2θ indicating Ip.例文帳に追加
(ここで、Ipとは(002)面の回折ピークの両裾に接線を引き、その接線から上の部分の強度の最大値であり、IoとはIpを示す回折角2θにおける実測回折強度から空気の散乱強度を差し引いた残りのX線強度である。) - 特許庁
For the ferroelectric BLT film, a peak intensity at an angle of diffraction of about 33.0° (a/b axis component) in an X-ray diffraction image in a direction of a film thickness is greater than a peak intensity at an angle of diffraction of about 30.0° (a component corresponding to a (117) plane).例文帳に追加
本発明のBLT系強誘電体膜は、膜厚方向のX線回折像において、回折角約33.0°(a・b軸成分)のピーク強度が、回折角約30.0°((117)面に対応する成分)のピーク強度よりも大きい。 - 特許庁
When the diffraction intensity of the (101) face of hexacelsian in the crystallized glass in X-ray diffraction is represented by I(101) and diffraction intensity from the (110) face by I(110), the relation of 0≤I(101)/I(110)≤1.5 is satisfied.例文帳に追加
ヘキサセルジアンを主結晶相とする結晶化ガラスであって、X線回折においてヘキサセルジアンの(101)面の回折強度をI(101)とし、(110)面からの回折強度をI(110)としたとき、0≦I(101)/I(110)≦1.5である。 - 特許庁
In the optical recording disk apparatus, the diffraction element 8 for generating three beams reduces intensity of 0 order light to improve rim intensity of 0 order light in an inside diffraction region 81 and makes the spot diameter of the main spot small.例文帳に追加
光記録ディスク装置において、3ビーム生成用の回折素子8は、内側回折領域81で0次光の強度を低下させて0次光のリム強度を高め、メインスポットのスポット径を小さくする。 - 特許庁
Since the intensity calculation frame 26 is formed in the rectangle, even if the diffraction spot 34 becomes long and narrow because of poor crystallinity, the diffraction spot 34 does not jut out of the intensity calculation frame 26.例文帳に追加
強度算出枠26をこのような長方形にしたことにより,結晶性が悪いことに起因して回折斑点34が細長く延びても,強度算出枠26の外に出ることがない。 - 特許庁
In the lithium manganese multiple oxide, the peak intensity ratio (A/B) of the deffraction peak intensity (A) observed at 15.3±1.0° to the diffraction peak intensity (B) observed at 18.2±1.0° in a powder X-ray diffraction under the following measurement condition is expressed by 0.001<A/B.例文帳に追加
下記測定条件での粉末X線回折で15.3±1.0°に観測される回折ピーク強度(A)と18.2±1.0°に観測される回折ピーク強度(B)とのピーク強度比(A/B)が 0.001 < A/B であるリチウムマンガン複合酸化物。 - 特許庁
In the X-ray diffraction pattern of the NOx absorbent material a peak due to the (111) face of BaCO3 is present and the intensity ratio (IA/IF) of the intensity IA of the peak after long-term use to the initial intensity IF is 0.2-1.例文帳に追加
そのX線回折パターンには、BaCO_3の(111)面のピークが存在し、このピークの耐久後強度(I_A)と初期強度(I_F)との強度比I_A/I_Fが、0.2〜1である。 - 特許庁
To provide a hologram recording apparatus and a program, obtaining a target diffracted light intensity of diffraction light by recording a hologram while correcting the diffraction efficiency.例文帳に追加
回折効率を修正しながらホログラムを記録することで、目標とする回折光強度を得ることができるホログラム記録装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁
At this time, since a diffraction component generated by passing through the diffraction grating 12 is included in the incident component on a lens, intensity of a sub-beam 15 is increased.例文帳に追加
この時、副ビーム15は回折格子12を通過して発生した回折成分がレンズへの入射成分に含まれるようになり、強度が増す。 - 特許庁
To provide an optical branching element with less intensity dispersion between branched beams each other and with large diffraction efficiency.例文帳に追加
分岐光相互間の強度ばらつきが小さく、回折効率が大きい光分岐素子を提供する。 - 特許庁
A diffraction image is picked up by a camera 15, and an image analytical device 16 executes evaluation based on an intensity distribution.例文帳に追加
回析像をカメラ15で撮像し、画像解析装置16で強度分布に基づく評価を行う。 - 特許庁
This method prevents diffraction by the slit and irradiates the irradiation surface with the laser beam with uniform intensity.例文帳に追加
スリットによる回折を防ぎ、強度が均一なレーザを照射面に照射することが可能になる。 - 特許庁
A railway diffraction wave calculation part calculates received electric field intensity on the condition that the structure and the train exist.例文帳に追加
鉄道回折波計算部で、構造物と列車がある場合の受信電界強度を算出する。 - 特許庁
Because excitation error changes and the diffraction intensity changes when a lattice strain occurs, the strain distribution image is obtained.例文帳に追加
格子歪が生じると励起誤差が変化し回折強度は変化するので歪分布像が得られる。 - 特許庁
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