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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > embedded testingに関連した英語例文

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embedded testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 19



例文

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING EMBEDDED-TYPE TIME DOMAIN REFLECTIVITY例文帳に追加

埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND CONSTITUTION FOR TESTING EMBEDDED ANALOG AND MIXED SIGNAL CORE OF SYSTEM ON CHIP例文帳に追加

システムオンチップの埋込アナログ・混成信号コアの試験方法及び試験構成 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING FUNCTIONAL BLOCK FOR SPECIFIC APPLICATION EMBEDDED IN RECONFIGURABLE ARRAY例文帳に追加

リコンフィギャラブルアレイに埋め込まれた特定用途向け機能ブロックのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

To provide a method for testing an embedded analog core in an integrated circuit chip having a microprocessor core and a memory core.例文帳に追加

マイクロプロセッサコアとメモリコアを有する集積回路チップ内の埋込みアナログコアをテストする方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method and device for testing functional block for specific application embedded in user programmable fabric.例文帳に追加

ユーザプログラマブルファブリック内に埋め込まれた特定用途向け機能ブロックをテストする方法及び装置を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a board structure for testing a connection state of each device and a method for testing thereof, in an embedded circuit board in which an active element and a passive element are mounted inside the board.例文帳に追加

能動素子及び受動素子が基板の内部に実装された埋め込み回路基板において、夫々の素子の連結状態をテストするための基板構造及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

When the strength of a concrete structure 10 is estimated, a standard testing piece 12 is embedded in the concrete structure 10.例文帳に追加

コンクリート構造物10の強度を推定しようとする場合には、予め、コンクリート構造物10中に標準試験体12が埋設される。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing embedded-type time domain reflectivity that specify faults in the wirings in a printed circuit substrate with minimum cost, and in minimum time.例文帳に追加

プリント回路基板の配線の故障を最小限のコストと時間で特定する埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a burden on a test operator by managing the progress on an apparatus in testing a peripheral application to be embedded in an image processor such as an MFP.例文帳に追加

MFP等の画像処理装置に組み込む周辺機利用アプリケーションのテストを実行する際の進行管理を機器側で行うことを可能にし、テスト実施者に掛かる負荷を軽減すること。 - 特許庁

例文

Integrity testing stations 24 examine the contents at plural locations along the distribution channel 16, and determine whether or not the integrity of the digital contents has been tempered with, by using the embedded applet 18.例文帳に追加

配布経路16上の複数の場所で、一貫性検査ステーション24がコンテンツを検査し、埋め込まれたアプレット18を利用してディジタルコンテンツの一貫性が改ざんされているか否かを判断する。 - 特許庁

例文

Screws are embedded in the ALC panel itself, the extraction strength of the screws is measured by a screw extraction testing method, and the degree of deterioration of the ALC panel concerned is estimated according to the relationship between the screw extraction strength and the degree of carbonation.例文帳に追加

ALCパネル自体にビスを打設し、ビス引抜き試験方法により当該ビスの引抜き強度を測定し、該ビス引抜き強度と炭酸化度の関係より当該ALCパネルの劣化度を推定することを特徴とする。 - 特許庁

When a person in charge of a building site operates an input part 52 of the acceptance-testing terminal device 5 to perform reading operation of the IC tag, the control part 51 reads data recorded in the IC tag embedded in the building member used in a building.例文帳に追加

建築現場の担当者が検収用端末装置5の入力部52を操作してICタグの読み取り操作を行うと、制御部51は、建築物に使用された建築部材に埋め込まれたICタグに記録されたデータを読み取る。 - 特許庁

To provide a following method for creating a requirement description of an embedded system, namely a method for enabling any user to uniquely recognize what is a concrete requirement being processed according to the requirement description and for creating a requirement description suited for automatically creating a unique test for testing the embedded system from the described requirement.例文帳に追加

本発明の課題は、組み込みシステムの要求記述を作成する次のような方法、すなわち、要求記述によってどのユーザでも、処理されている具体的な要求が何であるかを一義的に認識することができ、かつ、記述された要求から、組み込みシステムをテストするための一義的なテストを自動生成するのに適した要求記述を作成する方法を提供することである。 - 特許庁

The organic encapsulant composition applied to formed-on-foil ceramic capacitors and embedded inside printed wiring boards allows the capacitor to resist printed wiring board chemicals, thereby passing an accelerated life testing conducted for 1,000 hours under high humidity, elevated temperature and applied DC bias.例文帳に追加

箔上焼成セラミックコンデンサに塗布され、プリント配線板に埋め込まれた有機封止材組成物により、コンデンサがプリント配線板用化学薬品に耐え、高湿度、高温および印加直流バイアス下で行われる1000時間の加速寿命試験にパスすることが可能となる。 - 特許庁

When testing a memory 200 embedded in an information processing system 1, a memory control device 100 sets a second operation condition stricter than a first operation condition for an operating operation, and tests the memory on the second operation condition.例文帳に追加

メモリ制御装置100は、情報処理システム1に組み込まれたメモリ200の試験を行う場合に、運用動作時の動作条件である第一動作条件よりも厳しい動作条件である第二動作条件に設定を切り替え、切り替えられた第二動作条件でメモリを試験する。 - 特許庁

To provide a surge current discharge method, a discharge testing device, and a discharge monitoring method for inspecting defect in which reinforcement embedded in a foundation part of a building or concrete of each floor is broken and dissolved due to lightning before ready-mixed concrete placing.例文帳に追加

建物の基礎部分や各フロアのコンクリート内に埋設されている鉄筋が落雷により破壊あるいは溶解してしまうような瑕疵を生コンクリート打設前に検査することができるサージ電流放電工法及び放電試験器並びに放電監視方法を提供する。 - 特許庁

When preparing an electronic file on a certain computer and transferring it to another computer, a suitable executable code capable of automatically testing the presence/absence of an application program(AP) required for using this file in the receiver's computer is embedded in that transfer file.例文帳に追加

電子ファイルがあるコンピュータ上で作成され他のコンピュータに転送されるとき、該ファイルを受け手側のコンピュータで使用するのに必要なアプリケーションプログラムが該受け手側コンピュータに存在するかどうかを自動的にテストすることのできる適切な実行可能コードが、その転送ファイルに埋め込まれる。 - 特許庁

The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.例文帳に追加

集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線102に送出し、その試験遷移信号の反射502をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたICを含む方法及び装置。 - 特許庁

例文

To provide a circuit board and a manufacturing method of the same circuit board for realizing size reduction and high density of circuit board, accurately testing natural circuit wires for propagating high-frequency signals in the course of the board manufacturing process, assuring higher application efficiency of electronic components to be embedded in the circuit board, removing restrictions on the manufacturing process, and improving the board manufacturing yield.例文帳に追加

回路基板の小型化や高密度化を実現し、基板製造工程途中で高周波信号の伝搬する本来の回路配線を正確に検査でき、回路基板に埋設する電子部品の利用効率が高くでき、製造工程の制限を除くことができ、基板製造歩留を向上できる回路基板およびその製造方法の提供。 - 特許庁




  
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