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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > generating testsに関連した英語例文

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generating testsの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 22



例文

To provide a method capable of overcoming the condition that specimen cable cannot be placed in the vicinity of a D.C. high-voltage generating device and tested in various tests of extra high-voltage D.C. cables and efficiently implementing tests such as electric-current applying tests of D.C. cables.例文帳に追加

超高圧直流ケーブルの種々の試験において、供試ケーブルを直流高電圧発生装置の近くに置いて試験をすることができなくなってきている。 - 特許庁

To substantially improve the reliability of tests by generating pseudo light with high similarity of true light.例文帳に追加

真光との類似性が高い疑似光を発生して試験の確実性を大幅に改善する。 - 特許庁

To enable the generation of all test cases so as to reduce a load for generating a state transition table and prevent the omission of tests.例文帳に追加

状態遷移表の作成負担を軽減し、試験漏れの防止のため全ての試験ケースを生成可能にする。 - 特許庁

The system then loops through the tests, measurements and test points, thereby generating a data structure on the fly.例文帳に追加

その後テスト、測定及びデータポイントをループし、データ構造をオンザフライで生成することにより上記課題を解決する。 - 特許庁

例文

An operation test section 120 tests the operation after setting the timing of generating the strobe signal in the detection range.例文帳に追加

動作テスト実行部120は、検出可能範囲内にストローブ信号の発生タイミングを設定した上で、動作テストを実行する。 - 特許庁


例文

To provide a chassis dynamometer for motorcycles that can perform accurate tests, without generating slippages, even in the case of a high-output motorcycle.例文帳に追加

高出力の二輪車であっても、スリップが発生することなく、正確な試験を行うことができる二輪車用シャシーダイナモメータを提供する。 - 特許庁

You can still write and run JUnit 3 tests if you select JUnit 4 as the version,but the IDE uses the JUnit 4 template for generating test skeletons. 例文帳に追加

バージョンとして JUnit 4 を選択しても JUnit 3 のテストを記述して実行することはできますが、テストスケルトンの生成には JUnit 4 のテンプレートが使用されます。 - NetBeans

Projects in NetBeans IDE 4.0 come with built-in support for generating, developing and running unit tests using JUnit,the de facto standard in Java code testing.例文帳に追加

NetBeans IDE 4.0 のプロジェクトには、Java コードテストの事実上の標準である JUnit を使用したユニットテストを生成、開発、実行するためのサポート機能が組み込まれています。 - NetBeans

This semiconductor testing apparatus 1 tests a plurality of devices to be tested 20a-20d in parallel using a test pattern P1 generated by a pattern generating section 11.例文帳に追加

半導体試験装置1は、パターン発生部11で発生した試験パターンP1を用いて複数の被試験デバイス20a〜20dの試験を並行して行うものである。 - 特許庁

例文

Furthermore, the judder measuring system can be made up, which measures judder values of the whole vehicle without carrying out actual run tests, by applying the judder generating apparatus 28 to the vehicle.例文帳に追加

また、ジャダー発生装置28を車両に適用することにより実走行することなく車両全体としてのジャダーを測定するジャダー測定システムを構築する。 - 特許庁

例文

To provide a digital broadcasting false signal generating method by which different waveform digital broadcasting false signals for respective channels are generated and tests adapted to actual situations are available.例文帳に追加

各チャンネル毎に異なる波形のデジタル放送疑似信号を発生でき、実際の状況に即した試験を行ない得るデジタル放送疑似信号発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a serial signal generating apparatus for generating a series signal capable of testing a receiving device in an actual operation frequency, and to provide a device-testing apparatus capable of performing efficiently various tests of the receiving device by using the series signal.例文帳に追加

受信デバイスの実動作周波数での試験を可能とするシリアル信号を生成するシリアル信号生成装置、及び当該シリアル信号を用いて受信デバイスの多種多様な試験を効率的に行うことができるデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

The method comprises: a step 110 for generating diagnosis candidates potentially responsible for all failed system tests; and a step 120 for allowing a confidence label representing that diagnosis candidates are correct to be displayed by means of weights by assigning the weights to the diagnosis candidates based on a combined utilization rate without having violation of the diagnosis candidates across all failing system tests.例文帳に追加

不合格になるシステム試験の全ての原因となり得る診断の候補を生成するステップ110と、全ての不合格となるシステム試験にわたる診断候補のバイオレーションのない結合利用率に基づいて、診断候補に重みを割り当てて、重みによって、診断候補が正しいという確信レベルが表示されるようにするステップ120とを有する。 - 特許庁

To provide a decentralized test system capable of intensively performing tests by a small number of test personnel without visiting each location of installation of control devices only by once installing a false signal generating device to the installation location of each control devices.例文帳に追加

各制御装置の設置場所に模擬信号発生装置を一度設置すれば、あとは各場所に出向かなくとも集中的に試験が実行でき、少数の試験要員によって試験が実施できる分散型試験システムを提供する。 - 特許庁

In addition, the system also has a means, which is suitable for selectively generating authorized processing signals according to tests completed by the test means, and a notification means which is suitable for selectively outputting notification signals according to the authorized processing signals.例文帳に追加

また、そのシステムは、テスト手段によって完了したテストに従って認可処理信号を選択的に生成するのに適した手段、およびその認可処理信号に従って通知信号を選択的に出力するのに適した通知手段を有する。 - 特許庁

At tests, a false signal setting device 3 is connected to the signal transmitting medium to set a false signal by a false signal setting means 3A and transmit a setting signal to the false signal generating device connected to the control device to be tested.例文帳に追加

そして、試験に際しては、信号伝送媒体に模擬信号設定装置3を接続し、模擬信号設定手段3Aによって模擬信号を設定し、試験対象とする制御装置に接続された模擬信号発生装置に設定信号を伝送する。 - 特許庁

A semiconductor storage includes a first generation unit for generating signals for selecting a test from a plurality of tests, a potential generation unit for generating potential based on the signals, one wiring connected to the potential generation unit, an extraction unit connected to the wiring for extracting the signals based on the potential of the wiring, and a second generation unit for generating test signals based on the converted signals.例文帳に追加

本実施形態の半導体記憶装置は、複数のテストからテストを選択する信号を生成する第1生成部と、前記信号に基づいた電位を生成する電位生成部と、前記電位生成部に接続された1の配線と、前記配線と接続され、前記配線の電位に基づいた前記信号を抽出する抽出部と、変換された前記信号に基づいてテスト信号を生成する第2生成部とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

The apparatus includes: a system under verification representing at least part of the design of the data processing system, and a transactor for connecting to an interface of the system under verification, and for generating signals for input to the system under verification via the interface during performance of the verification tests.例文帳に追加

該装置は、該データ処理システムの設計の少なくとも一部を表す検証対象システムと、該検証対象システムのインタフェースに接続するため、かつ該検証試験の実施中に該インタフェースを介して該検証対象システムに入力するための信号を生成するためのトランザクタと、を備える。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス12に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス12に共通の第1試験パターンデータを発生するパターン発生器101と、各被測定デバイス12に個別の第2試験パターンデータを発生する記憶部103と、第1試験パターンデータと第2試験パターンデータのいずれかを選択する第1の選択回路105とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

A method for generating, by an electronic circuit, at least one prime number by testing the primality of successive candidate numbers for asymmetric encrypted algorithm of RSA type includes a step (43) of testing, for each candidate number, primality with respect to prime numbers of at least one set of consecutive prime numbers, wherein the order of application of the tests is modified at least from one prime number generation to another.例文帳に追加

RSA タイプの非対称暗号化アルゴリズムのために連続した候補数の素数性を判定することにより少なくとも1つの素数を電子回路により生成する方法は、候補数毎に、少なくとも一組の連続した素数に対して素であるか否かを判定するステップ(43)を備えており、判定する順番を、少なくとも一の素数生成で変更する。 - 特許庁

The sub control part 400 of the game machine 100 further includes a performance information generation means generating a performance information signal indicating a control content related to the performance, and the game machine test data collection device 550 tests the game machine 100 by receiving the performance information signal from the sub control part 400 as well as the game control signal from the game control part 300.例文帳に追加

そして、遊技台100の副制御部400は、演出に関する制御内容を示す演出情報信号を生成する演出情報生成手段をさらに備え、遊技台試験データ収集装置550は、主制御部300からの遊技情報信号に加えて副制御部400からの演出情報信号を受信することにより遊技台100の試験を行う。 - 特許庁

例文

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ12を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ12を有効にするプローブテスト用パッド13を有している。 - 特許庁




  
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