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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > multilayer analysisに関連した英語例文

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multilayer analysisの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 40



例文

MULTILAYER ANALYSIS ELEMENT例文帳に追加

多層分析要素 - 特許庁

MULTILAYER ANALYSIS DEVICE例文帳に追加

多層分析装置 - 特許庁

INTEGRATED MULTILAYER ANALYSIS ELEMENT例文帳に追加

一体型多層分析要素 - 特許庁

MULTILAYER CIRCUIT BOARD ANALYSIS SYSTEM, MULTILAYER CIRCUIT BOARD ANALYSIS METHOD, AND MULTILAYER CIRCUIT BOARD ANALYZER例文帳に追加

多層回路基板解析システム、多層回路基板解析方法及び多層回路基板解析プログラム - 特許庁

例文

MULTILAYER ANALYSIS ELEMENT (INTENSITY OF POROUS FILM)例文帳に追加

多層分析要素(多孔質膜の強度) - 特許庁


例文

MULTILAYER ANALYSIS ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

多層分析要素及びその製造方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD AND APPARATUS OF MULTILAYER THIN FILM例文帳に追加

多層薄膜の分析方法ならびに装置 - 特許庁

MULTILAYER THIN-FILM ANALYSIS METHOD AND MEASURING APPARATUS例文帳に追加

多層薄膜分析方法および測定装置 - 特許庁

STRUCTURAL ANALYSIS METHOD OF ORGANIC MULTILAYER THIN FILM MATERIAL例文帳に追加

有機多層薄膜材料の構造解析方法 - 特許庁

例文

DEIONIZATION TREATMENT OF SPREAD LAYER FOR MULTILAYER ANALYSIS ELEMENT例文帳に追加

多層分析素子用展開層の脱イオン化処理 - 特許庁

例文

ANALYSIS METHOD FOR SETTLEMENT / STRESS / ALLOWABLE UNIT STRESS OF MULTILAYER GROUND例文帳に追加

多層地盤の沈下・応力・許容応力度解析法 - 特許庁

INTEGRALLY FORMED MULTILAYER CHEMICAL ANALYSIS ELEMENT AND QUANTITATIVE METHOD例文帳に追加

一体型多層化学分析要素および定量方法 - 特許庁

MULTILAYER FILM SPECTROSCOPIC ELEMENT FOR BORON FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

ホウ素蛍光X線分析用多層膜分光素子 - 特許庁

MULTILAYER FILM SPECTRAL ELEMENT FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF BERYLLIUM例文帳に追加

ベリリウム蛍光X線分析用多層膜分光素子 - 特許庁

INTEGRATION MULTILAYER ANALYSIS ELEMENT FOR ANALYZING AMMONIA, OR AMMONIA GENERATION SUBSTANCE例文帳に追加

アンモニア又はアンモニア生成物質分析用一体型多層分析素子 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF ORGANIC MATERIAL USED FOR ORGANIC ELECTROLUMINESCENCE ELEMENT, ANALYSIS METHOD OF COMPOSITE FILM AND ANALYSIS METHOD OF MULTILAYER FILM USING SPECTRAL ELLIPSOMETER例文帳に追加

分光エリプソメータを用いた有機エレクトロルミネッセンス素子に用いられる有機物質の解析方法、複合膜の解析方法及び多層膜の解析方法 - 特許庁

To provide an integrated multilayer analysis element capable of obtaining a high-accuracy inspection result as compared to before.例文帳に追加

従来よりも精度の高い検査結果が得られる一体型多層分析要素を提供する。 - 特許庁

To provide a multilayer analysis element with lessened inter-lot difference and intra-lot difference, and enhanced measurement accuracy.例文帳に追加

ロット間差及びロット内差が小さく、測定精度が高い多層分析要素を提供すること。 - 特許庁

SUBSIDENCE OR SETTLEMENT/STRESS ANALYSIS METHOD OF MULTILAYER SUBSTRATE USING EQUIVALENT CONVERSION THICKNESS AND EQUIVALENT ELASTIC MODULUS WHICH WERE GENERALIZED例文帳に追加

一般化された等価換算厚と等価弾性係数を用いた多層地盤の沈下・応力解析法 - 特許庁

This multilayer analysis element for liquid specimen analysis is a multilayer analysis material for liquid specimen analysis made by layering/unifying at least one functional layer and at least one granular structure developing layer in this order on one side of a water-impermeable and light-transmissive planar support body and is characterized in that the functional layer comprises a not-yet-cross-linked water-soluble polymer.例文帳に追加

水不透過性光透過性平面支持体の片面上に、少なくとも1つの機能層と少なくとも1つの粒状構造物展開層がこの順に積層一体化された液体試料分析用多層分析材料において、該機能層が未架橋の水溶性ポリマーから成ることを特徴とする液体試料分析用多層分析要素。 - 特許庁

To provide a multilayer thin-film analysis and a measuring apparatus for applying white X rays to a sample surface at an extremely low angle and for determining a multilayer film structure useful for specification of a thin film, a multilayer film, or the like by selecting a depth.例文帳に追加

試料表面に極く低角に白色X線を入射し、薄膜や多層膜等の特定化に有用な多層膜構造を深さを選択しながら決定できる多層薄膜分析方法および測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a means capable of accurately, simply and rapidly obtaining three-dimensional information of a multilayer structure with an X-ray as a probe in a three-dimensional structure analysis of the multilayer structure.例文帳に追加

多層構造体の3次元構造分析において、X線をプローブとして多層構造体の3次元情報を高精度、簡便且つ迅速に得ることができる手段を提供する。 - 特許庁

To provide a multilayer analysis element with lessened inter-lot difference and intra-lot difference, lessened liquid volume dependency, and enhanced measurement accuracy.例文帳に追加

ロット間差及びロット内差が小さく、液量依存性が小さく、測定精度が高い、多層分析要素を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for analyzing, for each layer, a multilayer film on the surface of a substrate by which the multilayer film on the surface of the substrate can be analyzed for each layer, and in particular to provide a method for analyzing each layer of the multilayer film on the surface of the substrate which is suitable for the analysis of impurities for each layer.例文帳に追加

基板表面多層膜を各層毎に分析することができる基板表面多層膜の層別分析方法、特に各層毎の不純物の分析に適した基板表面多層膜の層別分析方法を提案する。 - 特許庁

This multilayer analysis element for liquid specimen analysis is a multilayer analysis material for liquid specimen analysis made by layering/unifying at least one functional layer and at least one granular structure developing layer in this order on one side of a water-impermeable and light-transmissive planar support body and is characterized in that the functional layer has a film swelling property of a water swelling rate of 300% or less.例文帳に追加

水不透過性光透過性平面支持体の片面上に、少なくとも1つの機能層と少なくとも1つの粒状構造物展開層がこの順に積層一体化された液体試料分析用多層分析材料において、該機能層が水膨潤率300%以下の膜膨潤性であることを特徴とする液体試料分析用多層分析要素。 - 特許庁

To provide an electrical property analysis system of a multilayer circuit substrate capable of obtaining the voltage, current and impedance of the multilayer circuit substrate even when the mesh size in modeling does not meet the size of a via.例文帳に追加

モデル化する際のメッシュサイズをヴィアの大きさに合わせなくとも、多層回路基板の電圧や電流、インピーダンスを求めることができる多層回路基板の電気特性解析システムを提供する。 - 特許庁

This multilayer analysis element for liquid specimen analysis is a multilayer analysis material for liquid specimen analysis made by layering/unifying at least one functional layer and at least one granular structure developing layer in this order on one side of a water-impermeable and light-transmissive planar support body and is characterized in that the developing layer is not broken by 20 times or less of 25g continuous load surface abrasion repetition tests.例文帳に追加

水不透過性光透過性平面支持体の片面上に、少なくとも1つの機能層と少なくとも1つの粒状構造物展開層がこの順に積層一体化された液体試料分析用多層分析材料において、該粒状構造物展開層が25gの連続荷重表面擦り繰り返し試験において20回以下では破壊しないことを特徴とする液体試料分析用多層分析要素。 - 特許庁

To provide a multilayer analysis element capable of maintaining a characteristic of a film single body, even in the case where a porous film is laminated, and having no liquid quantity dependency.例文帳に追加

多孔性膜をラミネートした場合においても、膜単体での特性が維持され、液量依存性がない多層分析要素を提供すること。 - 特許庁

To highly accurately evaluate a defect identification pattern without requiring any destructive analysis involving visual check with regard to a multilayer wiring board and its test method.例文帳に追加

多層配線基板及び多層配線基板の試験方法に関し、目視を伴った破壊解析を要することなく欠陥識別パターンの評価を精度良く行う。 - 特許庁

To manufacture a via-part equivalent circuit model with efficiency and at high speed for the circuit analysis of the power system of a multilayer printed circuit board comprising a plurality of plane pairs connected together through vias and to quickly achieve circuit analysis for the power system of the equivalent circuit models of the entire multilayer printed circuit board where each plane-pair equivalent circuit model is connected to a via-part equivalent circuit model.例文帳に追加

複数個のプレーン対がヴィアを介して結合されて構成された多層プリント回路基板の電源系の回路解析において、ヴィア部等価回路モデルを効率よく高速に作製し、各プレーン対等価回路モデルとヴィア部等価回路モデルを結合した多層プリント回路基板全体の等価回路モデルの電源系の回路解析を高速に行えるようにする。 - 特許庁

In the method for producing the multilayer carbon nanotube composition, the multilayer carbon nanotube composition, in which the ratio (G/D ratio) of the height of G band to that of D band in a Raman spectroscopic analysis in 633 nm wavelength is ≥5, is heated in the nitric acid solution to improve the conductivity.例文帳に追加

波長633nmのラマン分光分析によるGバンドとDバンドの高さ比(G/D比)が5以上である多層カーボンナノチューブ組成物を硝酸溶液中で加熱することによって導電性を向上させることを特徴とする多層カーボンナノチューブ組成物の製造方法である。 - 特許庁

To provide an electronic component built-in substrate, along with a manufacturing method thereof and an inspection method therefor, capable of readily and accurately inspecting an interlayer connection of a multilayer printed wiring board, regardless of the kind of removing method of insulating layer, without having to carry out cross-section analysis of a finished product of the multilayer printed wiring board.例文帳に追加

多層プリント配線基板の完成品の断面解析を行わず、絶縁層の除去方法の種類を問わずに、多層プリント配線基板の層間接続を簡便且つ精確に検査可能な電子部品内蔵基板、その製造方法、及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis method and an analyzer for calculating the composition and thickness of each layer in a sample by neither adjusting the sample, where a multilayer thin film is formed on the surface, nor using multilayer thin-film standard samples, even if the same element is include in a plurality of layers.例文帳に追加

多層薄膜が表面に形成された試料に対して、試料調整を行わず、同一元素が複数の層に含まれていても多層薄膜標準試料を用いず、試料の各層の組成と膜厚を算出する分析方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a model creation method capable of creating a model for obtaining an analysis result, on which the shape of a via clearance hole provided on a circuit board is reflected, as the model creation method for analysis of noise caused by a power supply conductor or the like of a multilayer circuit board.例文帳に追加

多層構造の回路基板の電源導体等によるノイズ解析用のモデル作成方法として、当該回路基板に設けられるビア逃げ穴の形状を反映した解析結果が得られるモデルの作成を可能とするモデル作成方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a multilayer analysis element having a porous film as a developing layer and having a capacity of more rapidly obtaining a result good in reproducibility, and its manufacturing method.例文帳に追加

展開層として多孔性膜を有する多層分析要素において、より迅速に、再現性が良好な結果が得られる性能を有する多層分析要素、及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

In the above two stages of spectral analysis, the X-ray source is located at the same position and holds the same posture, and an emission slit 104 is located at the same position even though the position and posture of the multilayer mirror 102 are changed.例文帳に追加

上述の2種類の分光段階において、X線源の位置及び姿勢は同じであり、多層膜ミラー102の位置と姿勢は変化するが出射スリット104の位置は同じである。 - 特許庁

Nodes are generated in four oblique directions of a via as nodes as a reference for dividing a power supply island or the like into meshes for model creation for analysis of noise caused by a power supply conductor or the like of a multilayer circuit board.例文帳に追加

多層構造の回路基板の電源導体等によるノイズ解析用のモデル作成のために電源島等をメッシュ分割する基準となるノードとして、ビアの斜め4方向にノードを発生するようにした。 - 特許庁

To provide a multilayer analysis element having a porous film as a developing layer, larger in signal/noise ratio (S/N ratio) and having a stable capacity of receiving no liquid amount dependence, and its manufacturing method.例文帳に追加

展開層として多孔性膜を有する多層分析要素において、よりシグナル/ノイズ比(S/N比)が大きく、液量依存性を受けない安定な性能を有する多層分析要素、及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

The device for preparing a plane TEM sample comprises a glow discharge emission spectral analysis (GDS) device part 102 and an ion milling device part 103, and sets a control program corresponding to a specific element contained in a sample 5 comprising a multilayer film.例文帳に追加

平面TEM試料作製装置はグロー放電発光分光分析(GDS)装置部102とイオンミリング装置部103とを備え、多層膜からなる試料5に含まれる特定元素に対応した制御プログラムを設定する。 - 特許庁

例文

On the basis of layered structure analysis information obtained by analyzing a multilayer structure of functional circuits in a desired highest layered circuit and first terminal information specifying information relating to terminals of existent circuits which are existent functional circuits, an existent circuit analysis section 22 analyzes a signal connection of the existent circuit in the highest layered circuit.例文帳に追加

既存回路解析部22は、所望の最上位階層回路内の機能回路の多階層構造を解析した階層構造解析情報と、既存の機能回路である既存回路各々の端子にかかる情報を規定した第1の端子情報と、に基づいて、最上位階層回路内での既存回路の信号接続について解析する。 - 特許庁




  
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