「random-test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST CIRCUIT FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, AND TEST METHOD FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法 - 特許庁

RANDOM NUMBER GENERATION TEST METHOD AND RANDOM NUMBER GENERATION TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

乱数生成検定方法及びこれを用いた乱数生成検定装置 - 特許庁

TEST SPECIFICATION DESIGN METHOD FOR RANDOM VIBRATION TEST例文帳に追加

ランダム振動試験の試験仕様設計方法 - 特許庁

MAGNETIC RANDOM ACCESS MEMORY RAM AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

磁気ランダムアクセスメモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

SRAM (STATIC RANDOM ACCESS MEMORY) AND TEST METHOD OF SRAM例文帳に追加

ＳＲＡＭ（ＳｔａｔｉｃＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）、及びＳＲＡＭのテスト方法 - 特許庁

RANDOM KEYING TEST METHOD AND TESTER例文帳に追加

ランダム打鍵試験方法及び試験機 - 特許庁

To provide a vibration test control device capable of performing a random vibration test setting the kurtosis of a random signal as a parameter.例文帳に追加

ランダム信号の尖度をパラメータとするランダム振動試験を行うことのできる振動試験制御装置を提供するにある。 - 特許庁

Can an employee be excused from a random test?例文帳に追加

職員は任意抽出検査を免除されることは可能ですか。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

MAGNETIC RESISTANCE RANDOM ACCESS MEMORY, ITS WRITING METHOD AND TEST METHOD例文帳に追加

磁気抵抗ランダムアクセスメモリ、その書き込み方法、およびテスト方法 - 特許庁

SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置およびその検査方法 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁

The system is provided with a pseudo random number generating part for generating the pseudo random number, a test data creating part for creating a key and receiving the pseudo random number created by the pseudo random number generating part, and a security factor data creating part for receiving the pseudo random number and a plaintext from the test data creating part and processing encryption, etc.例文帳に追加

疑似乱数を生成する疑似乱数生成部と，鍵を生成し前記疑似乱数生成部から生成する疑似乱数を受け取るテストデータ作成部と，テストデータ作成部からの疑似乱数と平文とを受け取って暗号化等の処理を行うセキュリティ要素データ作成部とを備える。 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST SET FOR SCANNING METHOD 3 WEIGHT RANDOM BUILT-IN SELF-TEST AND SCANNING METHOD BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテストのテストセット生成方法、スキャン方式ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for a random number generation circuit, capable of easily setting an operation time for generating random numbers which never cause collision to the random number generation circuit.例文帳に追加

乱数発生回路に対して衝突が発生しない乱数を発生させるための動作時間の設定を簡単に行うことができる乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法を提供する。 - 特許庁

The random numbers corresponding to the test number of a lot of a level 1 are produced from a certain Weibull distribution, the random number corresponding to the test number of a lot of a level 2 are produced from the same Weibull distribution and the life calculated from the produced random numbers is operated to calculate one set of a life ratio.例文帳に追加

あるワイブル分布から水準１のロットの試験個数分の乱数を発生させ、同じワイブル分布から水準２のロットの試験個数分の乱数を発生させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device performing an operational margin test suitable for a mechanism of TTRAM (Twin-Transistor Random Access Memory) which is one of capacitorless memory.例文帳に追加

キャパシタレスメモリの１つであるＴＴＲＡＭ（Twin-Transistor Random Access Memory）のメカニズムに適した動作マージンテストを行なう半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To test a program including a random output block outputting a random value for an input value.例文帳に追加

入力値に対してランダムな値を出力するランダム出力ブロックを含むプログラムをテストできるようにする。 - 特許庁

To provide a random number test circuit having no limit on a total number of a random number necessary for test, and preventing increase of a circuit scale even if handling a large number of data necessary for the test to allow miniaturization.例文帳に追加

検定に必要な乱数の総数に制限がなく、多量の検定に必要なデータ数を扱ったとしても回路規模が増大せず、小型化が可能な乱数検定回路を提供することを可能にする。 - 特許庁

To test by mixing at random individual instructions selected from test object instructions at random and a command string pattern constituted of pre-created test object instructions.例文帳に追加

試験対象命令からランダムに選択された個別命令と、予め生成した試験対象命令から構成される命令列パタンとをランダムに混在させて試験を行うことを可能にする - 特許庁

In the branch prediction circuit test device 1, a random instruction generation part 11 generates a random instruction sequence, and a test execution control part 12 makes a device 2 of the test object execute the instruction sequence.例文帳に追加

分岐予測回路試験装置１のランダム命令生成部１１がランダム命令列を生成し、試験実行制御部１２が該命令列を被試験対象装置２に実行させる。 - 特許庁

items selected at random from a population and used to test hypotheses about the population 例文帳に追加

人口から無作為に選択されて、人口に関する仮説を試験するために使用される項目 - 日本語WordNet

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING WEIGHTED PSEUDO-RANDOM TEST PATTERN例文帳に追加

重み付けされた擬似ランダム試験パターンを用いた集積回路試験装置および試験方法 - 特許庁

To generate a waveform test signal having the crest factor emulation of a random jitter.例文帳に追加

ランダム・ジッタのクレスト・ファクタ・エミュレーションを有する波形試験信号を発生する。 - 特許庁

An integrated tune system generates a random noise test signal, and applies it to a controller.例文帳に追加

組込み同調システムが、ランダム雑音テスト信号を生成してこれをコントローラへ印加する。 - 特許庁

The test server selects the test questions numbered correspondingly to the generated random numbers from the questions stored in the database, and prepares the questions to be set.例文帳に追加

発生した乱数に対応する問題番号の試験問題をデータベースに記憶した問題の中から選択し、出題する問題として設定する。 - 特許庁

To improve the test comprehensiveness of a random instruction combination test in a memory sharing type multiprocessor system.例文帳に追加

メモリ共有型マルチプロセッサシステムにおけるランダム命令組合せ試験の試験網羅性を向上させる。 - 特許庁

In the network test system for transmitting a test frame to a frame exchange device and detecting the alteration error, a pseudo random pattern is inserted into the payload part of the test frame and the value of a pseudo random pattern insertion position is added to an additional information part for test.例文帳に追加

試験フレームをフレーム交換装置に送信して改変エラーを検出するネットワーク試験システムにおいて、前記試験フレームのペイロード部に擬似ランダムパターンを挿入し、試験用付加情報部に擬似ランダムパターンを挿入した位置の値を付加したことを特徴とするもの。 - 特許庁

Each of the pseudo random code string generating circuit 41 and the pseudo random code string collating circuit 42 inserts and extracts a pseudo random code string 12 to and from a line for test.例文帳に追加

擬似ランダム符号列生成回路４１及び擬似ランダム符号列照合回路４２はそれぞれ試験用に回線への擬似ランダム符号列１２の挿入及び抽出を行う。 - 特許庁

To generate true and completely uniform physical random numbers without needing random number test at all at a very high speed from 10 Mbits to 1 Gbits per sec and to inexpensively and easily utilize the generated random numbers.例文帳に追加

乱数検定を全く必要としない真の完全に一様な物理乱数を、毎秒１０Ｍビットから１Ｇビットという超高速で生成させ、安価で容易に利用できるようにする。 - 特許庁

This system characteristically comprises: the random number generation means for generating the random number using at least one among the lot number of the test object, the number of wafer number, and the coordinate representing the position on the wafer; and the data collection means for selecting and collecting the test result data from the test result memory by the random number by the random data generation means.例文帳に追加

本システムは、被試験対象のロット番号、ウェハ番号、ウェハ上の位置を示す座標の少なくとも１つを用いて乱数を発生する乱数発生手段と、この乱数発生手段の乱数により、試験結果記憶部から試験結果データを選択して収集するデータ収集手段とを備えたことを特徴とするシステムである。 - 特許庁

A process for producing random numbers according to a Weibull distribution by test number using the Weibull distribution becoming the life distribution of a test target to investigate how long all of Weibull random numbers continue is repeated.例文帳に追加

試験対象の寿命分布となるワイブル分布を用い、その分布に従った乱数を試験個数分ずつ発生させて全てのワイブル乱数が何時間以上であるかを調べる過程を繰り返す。 - 特許庁

A start order selection part of each of the test scenarios G1, G2 is inputted with random designation information outputted by a random designation part, determines start order of a plurality of tests constituting a test group included inside the respective test scenarios G1, G2 corresponding to the random designation information, and decides the start order of the tests of the test group.例文帳に追加

各テストシナリオＧ１，Ｇ２の起動順選択部は、ランダム指定部が出力するランダム指定情報が入力され、このランダム指定情報に対応して各テストシナリオＧ１，Ｇ２内に複数含まれているテスト群を構成するテストの起動順を決定し、このテスト群のテストの起動順を確定する。 - 特許庁

To improve the test quality, when test data are random numbers in a test method of a scanning base, by detecting a circuit description in an RTL where a failure is hardly detected by the test data of pseudo random numbers applied from the pseudo random number generator of a logic BIST, and alarming a designer to support the RTL improvement for the logic BIST.例文帳に追加

ロジックＢＩＳＴの擬似乱数発生器から印加される擬似乱数のテストデータによって故障検出がされにくいＲＴＬ中の回路記述を検出して、設計者に警告し、ロジックＢＩＳＴ向けのＲＴＬ改善を支援し、スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質を向上させること。 - 特許庁

The generation of the test program is performed by use of a test program-generating component group 101, a test program-generating component embodiment part 102, a random number generator 103, and a test program generator 100 having a test program output part 104.例文帳に追加

テストプログラムの生成は、テストプログラム生成用部品群１０１と、テストプログラム生成用部品具現化部１０２と、乱数器１０３と、テストプログラム出力部１０４とを備えたテストプログラム生成器１００を用いて行われる。 - 特許庁

To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.例文帳に追加

スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁

A semiconductor device includes a test object circuit (700), scan chains (650) that enable scanning of the test object circuit, and a first random generation circuit (100) that forms a test pattern supplied to the scan chains.例文帳に追加

テスト対象回路（７００）と、上記テスト対象回路のスキャンを可能とするスキャンチェイン（６５０）と、上記スキャンチェインに供給されるテストパタンを形成するための第１乱数発生回路（１００）とを設ける。 - 特許庁

Random test patterns generated by a PRPG 210 are corrected to test patterns for test by a pattern corrector 220 and inputted to shift registers 200.例文帳に追加

ＰＲＰＧ２１０によって生成したランダムなテストパターンをパターン修正器２２０によって試験用のテストパターンに修正して、シフトレジスタ２００に入力させる。 - 特許庁

A coherentnarrative is the result, instead of a collection of isolated functions that test isolated bits of functionality seemingly at random.例文帳に追加

結果的に、一見ランダムに見えるような個別の機能をテストしている個別の関数の集まりではなく、首尾一貫した説明ができるようになるのです。 - Python

METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING RANDOM TEST BITSTREAM WITHOUT UTILIZING ENCODER FOR VIDEO CODEC例文帳に追加

ビデオコーデック用のエンコーダの利用なしにランダムテストビットストリームを生成する方法および装置 - 特許庁

An optical element 35 through which electromagnetic waves pass when reflected from the test piece forms translucent and random interference figures.例文帳に追加

電磁波が試験物から反射されたときに通る光学要素３５は透過し且つ無作為の干渉像を形成する。 - 特許庁

A data mining server 5 transmits an advertisement mail as a test to personal computers 7-1 to 7-3 sampled at random.例文帳に追加

データマイニングサーバ５は、ランダムにサンプリングしたパーソナルコンピュータ７−１乃至７−３に対して、広告メールをテスト送信する。 - 特許庁

DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY CIRCUIT PROVIDED WITH TEST SYSTEM AND METHOD FOR DECIDING SENSITIVITY OF SENSE AMPLIFIER例文帳に追加

センスアンプの感度を決定するためのテストシステム及び方法を具備するダイナミックランダムアクセスメモリ回路 - 特許庁

To extract an address indicating an abnormal memory cell so that analyzing can be easily performed when a memory test of a random access memory(RAM) is performed.例文帳に追加

ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）のメモリテストを行ったときに、解析が容易になるように、異常のメモリセルを示すアドレスを抽出する。 - 特許庁

A plurality of master models and slave models different from actual circuits are arranged on the test bench to cause various data transfer to occur at random.例文帳に追加

テストベンチ上に実際の回路とは異なるマスタモデルやスレーブモデルを複数配置し各種データ転送をランダムに発生させる。 - 特許庁