| 意味 | 例文 |
reference level surfaceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 72件
The detected transmission quantity of light is compared with a predetermined reference level value in a judge device 3 to judge whether erythrocytes 5 are present on the inner wall surface of the reaction container 4.例文帳に追加
この検出された透過光量が、判定装置3にて、予め定められた基準レベル値と比較されて、反応容器4の内壁面に赤血球5が存在しているかいないかが判定される。 - 特許庁
A slider 40 is moved in the direction represented by an arrow A or B with reference to the expression images F1 to F9 on the surface part 10 and the expression image showing the level of stresses subjectively determined is designated with a red line 422.例文帳に追加
表面部10の表情画F1〜F9を参照して、矢印方向AまたはBにスライダ40を移動させて、主観的に判断したストレスのレベルを表す表情画を赤線422によって指定する。 - 特許庁
A luminance value acquiring part 112 refers to CLUT 122 of the corresponding MIP map level, acquires a luminance value corresponding to the reference normal vector on the polygon surface and interpolates the luminance value between the MIP map levels.例文帳に追加
輝度値取得部112は、該当するミップマップレベルのCLUT122を参照し、ポリゴン表面上の基準法線ベクトルに対応する輝度値を取得し、ミップマップレベル間で輝度値を補間する。 - 特許庁
A plurality of gradient meters 3 which a reference level 1 touching a measurement surface is provided to the bottom surface and a gradient measuring part 2 measuring gradient is provided to the upper part are placed so that each gradient meter 3 is constituted to be able to measure different gradients.例文帳に追加
測定面に当接する基準面1を底面に備え、且つ、勾配度を測定する勾配測定部2を上部に備えた複数の勾配測定器3を設け、この各勾配測定器3を夫々異なる勾配度を測定し得るように構成したものである。 - 特許庁
Further, the image processing part 320 uses the selected threshold to discriminate whether the level of the image signal outputted from the signal amplifying part is within the allowable range when the light emitting part projects light on a reference surface.例文帳に追加
さらに、画像処理部320は、選択した閾値を用いて、発光部から参照面に対して投光されたときに信号増幅部から出力される画像信号のレベルが許容範囲内であるか否かを判別する。 - 特許庁
The operating circuit 29 compares the output voltage from the photodiode 27 with a preset reference level to determine inclination of the surface of the wafer 1 thus determining positional shift of the wafer.例文帳に追加
演算回路29において、フォトダイオード27の出力電圧を、予め設定された基準値と比較することによって、ウェーハ1表面の傾きの有無を識別し、それ基づきウェーハ位置ずれの有無を判定する。 - 特許庁
Reflected light from the second area of the steel pipe surface is received by a one-dimensional camera to measure brightness thereof, the measured brightness is compared with the calculated reference level, and the presence of a defect on the steel pipe surface is detected based on a comparison result therein (S4).例文帳に追加
そして、鋼管表面の第2領域から反射光を1次元カメラにより受光してその輝度を計測し、算出した基準レベルと計測した輝度とを比較して、その比較結果に基づいて、鋼管表面の欠陥の有無を検出するようにしている(S4)。 - 特許庁
In this way, in a condition rotating the level block 2, when a wafer held by a carrier is rotated while pressed onto the pellet 5, by flexibility of the follow up part 50, the fixed abrasive grain part 51 comes into contact with a surface by following up to waviness of the wafer, and its polishing can be performed by a surface reference method.例文帳に追加
これにより、定盤2を回転させた状態で、キャリアで保持したウエハをペレット5上に押圧しながら回転させると、追従部50の可撓性によって、固定砥粒部51がウエハのうねりに追従して表面に接触し、表面基準方式で研磨することができる。 - 特許庁
The adjustment film 250 is formed on an area excluding the area connected to the contact plug 240 on the surface of the graphene film 230, while a Dirac point position is adjusted in the same direction as the area connected to the contact plug 240 with reference to the Fermi level.例文帳に追加
調整膜は、前記グラフェン膜表面のうち、前記コンタクトプラグと接続する領域以外の領域上に形成され、ディラック点位置をフェルミ準位に対してコンタクトプラグと接続する領域と同方向に調整する。 - 特許庁
Laser level which is disposable on a reference surface comprises a housing, a pendulum rotatably connected in the housing, a first laser diode arranged on the pendulum and ejecting the first laser beam along the first path, and a lens arranged on the pendulum on the first path and converting the first laser beam to the first plane beam forming a line on the reference surface.例文帳に追加
基準表面上で使い捨て可能なレーザー水準器は、ハウジングと、ハウジングに回動可能に連結された振り子と、振り子に配置され第1のレーザービームを第1の経路に沿って発射する第1のレーザーダイオードと、振り子に第1の経路上で配置され第1のレーザービームを基準表面上でラインを形成する第1の平面ビームに変換するレンズとを含んでいる。 - 特許庁
A reference value is set so as to be made larger than a difference between the minimum level and maximum level of noise components generated in the output of a temperature detecting circuit in a thermistor open state, and so as to be made smaller than the standard changing amounts of the surface temperature of a heat roller 2 within 15 seconds sine a halogen lamp 2b is turned ON.例文帳に追加
サーミスタオープン状態で温度検出回路の出力に生じ得るノイズ成分の最小レベルと最大レベルとの差よりも大きく、かつハロゲンランプ2bをONしてから15秒間におけるヒートローラ2の表面温度の標準的な変化量よりも小さい値に基準値を設定する。 - 特許庁
The laser level disposable on a reference surface includes: a housing; a laser diode disposed within the housing for emitting a laser beam along a path; a lens disposed in the path for converting the laser beam into a planar beam.例文帳に追加
基準面に配設可能なレーザー水準器が、ハウジングと、前記ハウジングに配設されていて且つ経路に沿ってレーザービームを発するためのレーザーダイオードと、前記経路に配設されていて且つ前記レーザービームを平らなビームに変換するためのレンズとを具備する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a CPS interposer which improves the variation in the height of contacts so as to be smaller, with the surface of an insulating board as a reference level, a favorable CSP interposer obtained through the above method, and its intermediate member.例文帳に追加
絶縁性基板の基板面を基準としたときの接点の高さのばらつきをより小さく改善し得るCSP用インターポーザの製造方法、およびそれによって得られる好ましいCSP用インターポーザとその中間部材を提供すること。 - 特許庁
The laser level arranged on a reference surface is provided with a housing, a laser diode arranged within the housing to emit a laser beam along a path, and a lens arranged in the path to convert the laser beam into a planar beam.例文帳に追加
基準面に配設可能なレーザー水準器が、ハウジングと、前記ハウジングに配設されていて且つ経路に沿ってレーザービームを発するためのレーザーダイオードと、前記経路に配設されていて且つ前記レーザービームを平らなビームに変換するためのレンズとを具備する。 - 特許庁
To provide an inclined-plane installation type intake pump device which avoids the burial of the pump in sediment by taking in water from the vicinity of a water surface without reference to water level fluctuations in an area where water is to be taken in, facilitates an inspection of the pump, and dispenses with large-scale incidental equipment.例文帳に追加
被取水域の水位変動にかかわらず水面の近くから取水することでポンプの土砂埋没を回避するとともに、ポンプの点検が容易になされ、しかも、大掛かりな付帯設備を不要にした傾斜面設置形取水ポンプ装置を提供する。 - 特許庁
Light is emitted toward the steel pipe of an inspection object, reflected light from the first area of the steel pipe surface is received by a two-dimensional camera to measure luminous energy thereof, and a reference level used in defect detection is set based on the measured luminous energy (S3).例文帳に追加
検査対象物である鋼管に光を照射し、鋼管表面の第1領域から反射光を2次元カメラにより受光してその光量を計測し、計測した光量に基づき、欠陥検出の際に用いる基準レベルを設定する(S3)。 - 特許庁
For a digitizer of a construction that surface resistances of two layers mutually conduct at a depressed point, a pulse drive, instead of a static DC drive, that is dynamic and repeated at a fixed interval is used, the high side or low side of the pulse is set as the reference voltage level, and a detection signal is measured through a smoothing circuit.例文帳に追加
二層の面抵抗が押圧点で互いに導通する構造のディジタイザの場合、スタティックなDC駆動ではなく、ダイナミックな、一定周期で繰り返すパルス駆動とし、このパルスのハイ側またはロー側を基準電圧レベルとし、検出信号を平滑回路を介して計測する。 - 特許庁
To provide a level block for a CMP device and the CMP device capable of polishing a workpiece by a surface reference method, capable of flatly polishing even a workpiece of wafer or the like with pattern without being influenced by its step difference, and capable of attaining almost complete global planarization.例文帳に追加
ワークを表面基準方式で研磨することができ、しかも、パターン付きウエハ等のワークについてもパターンの段差に影響されることなく平坦に研磨することができ、ほぼ完全なグローバルプラナリゼーションを達成可能なCMP装置の定盤及びCMP装置を提供する。 - 特許庁
The purpose is achieved by detecting an increase in contact resistance 16 (ron) on generating a coating by oxidation or sulfurization of a contact surface with a photo coupler 6, and constituting a circuit feeding high electric current compared with steady-state electric current to a contact 2 only in the case that on-level of the phot coupler 6 does not satisfy a reference value 12.例文帳に追加
上記課題は、接点表面の酸化や硫化により皮膜が発生すると接触抵抗16(ron)が増加することをフォトカプラ6で検出し、フォトカプラ6のオンレベルが基準値12を満足しない場合にのみ定常電流に比較して大きな電流を接点2に供給する回路構成とすることよって達成される。 - 特許庁
Since an integrated value computed by a micro-computer 12 is brought into a low value compared with that deposited with no dust because a level of the reflected laser beam is lowered in a portion deposited with the dust in the surface of the disk 2, a difference between the integrated value and a preset reference value is found to measure the dust amount in the air.例文帳に追加
光学式ディスク2表面の、塵埃が付着している部分では、反射するレーザ光のレベルが低下するので、マイコン12で演算される積分値は、塵埃が付着していないときと比較して低い値となるので、この積分値と予め設定されている基準値との差分を求めることにより、空気中の塵埃量を測定することができる。 - 特許庁
In the photoelectric conversion device having the charge retention portion, of an element isolation region in contact with a semiconductor region is disposed in the semiconductor substrate from a reference level including a light reception surface of the photoelectric conversion element up to the depth equal to the semiconductor region or the depth deeper than the semiconductor region when compared with the semiconductor region comprised of the charge retention portion.例文帳に追加
電荷保持部を有する光電変換装置において、電荷保持部を構成する半導体領域に比べて、その半導体領域と接する一部の素子分離領域が、光電変換素子の受光面を含む基準面から半導体基板に、その半導体領域と等しい深さまで、もしくはその半導体領域より深くまで設けられている。 - 特許庁
When the alternative magnetic field is generated from the coil by depressing a pen tip to the area 26a prior to writing a character on a writing surface 21a, voltage corresponding to the level of the alternative magnetic field is generated in a correction coil formed under the area 26a, the generated voltage is compared with reference voltage and the coordinates are corrected on the basis of the compared result.例文帳に追加
筆記面21aに筆記を行う前にペン先を領域26aに押付けることによりコイルから交番磁界を発生させると、領域26aの下部に設けられた補正用コイルには、上記交番磁界のレベルに対応した電圧が発生するため、その発生した電圧と基準電圧とを比較し、その比較結果に基づいて座標を補正する。 - 特許庁
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