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special test methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 18件
METHOD FOR SETTING CONDITION AND CONDUCTING TEST BY SPECIAL MILLICODE INSTRUCTION例文帳に追加
特殊ミリコ—ド命令によって条件の設定およびテストを行う方法 - 特許庁
To provide an output characteristic test method at a low cost for a D/A converter capable of executing the test without the need for using an expensive fast analyzer and without the need for the D/A converter to use a special addition circuit.例文帳に追加
D/Aコンバータ側に特別な付加回路を必要とせず、高価な高速アナライザを用いずに実施できる低コストな、D/Aコンバータの出力特性試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an improved circuit and a method permitting a special operation mode, and a circuit and a method decreasing possibility in which erroneous entry is performed for a special operation mode by unexpected acci dental operation, in an integrated circuit having a special operation mode such as a special test mode and the like as well as a normal operation mode.例文帳に追加
通常動作モードと共に特別テストモード等のような特別動作モードを有する集積回路において、特別動作モードをイネーブルにする改良した回路及び方法と、予期しない偶発的行為により誤って特別動作モードへエントリする可能性を少なくする回路及び方法。 - 特許庁
To provide an inexpensive corrosion test method capable of reproducing a corrosion state in an actual environment, and efficiently performing a corrosion test by accelerating corrosion, and dispensing with special testing devices.例文帳に追加
実環境における腐食状態を再現でき、腐食を加速させて効率的に腐食試験を行うことができ、しかも特殊な試験装置を必要としない安価な腐食試験方法を提供する。 - 特許庁
A special test piece 100 with two linear marks 101, 102 having refraction factors different from the other part formed so as to be elongated in directions orthogonal with each other is used in the method for measuring the installation position of a test piece.例文帳に追加
試料として、表面に、光の反射率が他の部分とは異なる、互いに直交する方向にのびる線状の2本のマーク部101,102を形成した専用試料100を用いる。 - 特許庁
To provide a test method for testing a general-purpose memory incorporated in a multi-chip module without preparing a special circuit for the testing.例文帳に追加
本発明は、試験用の特別な回路を設けることなくマルチチップモジュール内蔵の汎用メモリを試験する試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a bench test method for reproducing actual running conditions applying long cyclic acceleration, without adding special mechanisms to a road simulator 1, and to provide a bench test system.例文帳に追加
本発明は、ロードシミュレータ1に特別な機構を付加することもなく、長周期の加速度がかかる状況を含めた実際の走行状況を再現する台上試験方法および台上試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of preventing erroneous inputting of a test mode for use on a user side and improving a security protection of a program without restricting use and without the need for a special purpose test terminal, and to provide its method.例文帳に追加
ユーザ側で使用時に誤ってテストモードに入ってしまうことを防止でき、専用のテスト端子を必要とせず使用上の制約がなくなり、プログラムの機密保持性の向上が図れる半導体装置及びその方法を提供する。 - 特許庁
To provide an analytical method for a scan test circuit in which a flip-flop having a nonconformity in a shift operation in a flip-flop chain of the scan test circuit is specified in a short time even without using a special analyzer such as an EB tester or the like.例文帳に追加
EBテスタ等の特殊な解析装置を用いなくても、スキャンテスト回路のフリップフロップチェーンにおいてシフト動作に不具合のあるフリップフロップを短時間で特定可能なスキャンテスト回路の解析方法を提供する。 - 特許庁
According to the method, a test sample of the skin can be collected easily and non-invasively for an optionally selected region, and the method has such advantages that special, large-sized and expensive measuring devices are not required and that it is not necessary to transfer the test sample to a place for measurement.例文帳に追加
この方法は、測定環境を選ばずに、任意の部位について非侵襲的かつ簡易に皮膚の試料が採取可能であり、特別な大型かつ高価な測定機器を必要とせず、また測定場所まで移動させる必要がないという利点がある。 - 特許庁
To provide a method for measuring a coupling coefficient of a semiconductor memory, which can measure directly a coupling coefficient of an actual cell without using special test structure such as a non-floating electrode.例文帳に追加
ノンフローティングゲート電極などの特別なテスト構造を用いることなく、実際のセルで直接カップリング係数を測定可能な半導体メモリのカップリング係数測定方法を提供する。 - 特許庁
TEST METHOD OF INTEGRITY OF GPS MEASURING, ERROR DETECTION METHOD IN SPECIAL VEHICLE, MAPPING METHOD AND SYSTEM OF GPS MULTIPATH LEVEL, AND SYSTEM INSTALLED IN VEHICLE FOR TESTING INTEGRITY OF GPS MEASURING例文帳に追加
GPS測定の完全性の検査方法及び特定の車両におけるエラー検出方法及びGPSマルチパスレベルのマッピング方法及びGPS測定の完全性を検査するために車両内に設けられているシステム及びGPSマルチパスレベルのマッピングシステム - 特許庁
To provide a remote inspection system and an inspection method for achieving the management and accurate decision of clinical test data in such simple configurations that can be executed outside a special institute such as a hospital.例文帳に追加
本発明は、病院などの専門機関の外で実施できる簡易な形態でありながら、臨床検査データの管理と的確な判定のできる、遠隔検査システムおよび検査方法を提供する。 - 特許庁
A flash memory system and a method for data management using the embodiments of the invention use special test cells with early degradation detection (EDD) circuitry instead of using the actual user-data storage cells.例文帳に追加
実際のユーザデータストレージセルを使用する代わりに、劣化の早期検出(EDD)回路を備える特別なテストセルを使用する、本発明の実施形態を用いたフラッシュメモリシステムとデータ管理方法が開示される。 - 特許庁
To provide a report server device, report system, and report equipment testing method capable of discriminating automatically whether or not a test report signal is right even while the report system is being operated without providing the report equipment with a special constitution.例文帳に追加
本発明は、特別の構成を通報機器に備える必要もなく、通報システムの運用中でも試験通報信号の是非を自動的に区別し得る通報サーバ装置、通報システム及び通報機器試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an EL panel and a pixel current testing method that realize a contactless test of a pixel current that a current driving transistor of a pixel circuit constituting the EL panel outputs without requiring any special inspecting device.例文帳に追加
ELパネルを構成する画素回路において電流駆動トランジスタが出力する画素電流のテストを非接触で特別な検査装置を要せず実現可能とするELパネル及び画素電流テスト方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁
To provide a method for stably preserving microorganisms for a long period without the need of any special device and complicated operation and without altering microorganismic character in the form of a microorganismic suspension liquid proliferatively cultured at 15-30°C and collected, so as to enable the liquid to be applied as a standard liquid for internal accuracy management for the test of food-related microorganisms.例文帳に追加
本発明による15〜30℃の温度範囲で増菌培養により集菌された懸濁菌液は、特別な装置および煩雑な操作を必要とせず、また微生物の性状に変化を与えることなく、長期間液状のままで安定に微生物を保存することができるので、食品微生物試験の内部精度管理用標準菌液として適用が可能となる。 - 特許庁
However, licensee of reactor operation may use the nuclear installation without passing a pre-service inspection in the case where the reactor is used for test purposes, or in the case where there is a special reason for having to use a completed part of the nuclear installation, to which the licensee need to obtain approval of the Minister of METI on the period and method of that use, or in the case where the Minister of METI issues an instruction to allow that the nuclear installation may be used without undergoing a pre-service inspection, recognizing that there is no problem from the viewpoint of the conditions about the place of installment of the nuclear installation or the contents of the construction.例文帳に追加
ただし、原子炉本体を試験のために使用する場合又は原子炉施設の完成した部分を使用しなければならない特別の理由がある場合であって、その使用の期間及び方法について経済産業大臣の承認を受け、そのとおりに使用する場合、あるいは、原子炉施設の設置の場所の状況又は工事の内容により、経済産業大臣が支障がないと認めて検査を受けないで使用することができる旨を指示した場合には、使用前検査に合格することなく原子炉施設を使用することができる。 - 経済産業省
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