structural probeとは 意味・読み方・使い方

A sample processing means 3 is provided in opposed relation to the sample probe part 2 of the observation device of the nanolevel structural composition.例文帳に追加

ナノレベル構造組成観察装置内の試料探針部２に対向する形で、試料加工手段３を備える。 - 特許庁

In another structural example, a probe is placed in the inhibited space to transmit a radio wave from a mobile phone, and a normal electric field response is found.例文帳に追加

別の態様では、禁止領域にプローブを設け、携帯電話機から電波を発信し、定常的な電界応答が求められる。 - 特許庁

To facilitate the alignment of a sample probe while preventing contamination or oxidation in the atmosphere in an observation device of a nanolevel structural composition and an observation method of the nanolevel structural composition.例文帳に追加

ナノレベル構造組成観察装置及びナノレベル構造組成観察方法に関し、試料探針の位置合わせを容易にするとともに、大気中での汚染や酸化を防止する。 - 特許庁

If the permeable membrane 1 has a structural defect such as a pinhole, helium flows out to the gas flow passage 3 side through the structural defect portion and reaches the sniffer probe 6 before it permeates the peripheral wall section.例文帳に追加

しかしながら、透過膜１にピンホール等の構造欠陥が存在する場合、ヘリウムは周壁部を透過するよりも先に構造欠陥部分を通じてガス流通経路３側に流出し、スニファープローブ６に入る。 - 特許庁

The strength, toughness, and fatigue resistance of the structural member in the region is improved by mixing the region of the structural member having the comparatively high operating stress by a rolling friction agitation welding probe and by locally refining the crystal grain structure of the structural member in the region having the high operating stress.例文帳に追加

比較的高い動作応力を有する構造部材の領域が回転摩擦攪拌溶接プローブで混合され、高い動作応力の領域内で構造部材の結晶粒構造を局所的に微細化することにより、領域における構造部材の強度、強靭性および耐疲労性を改良する。 - 特許庁

Scanning by an ultrasonic probe 20, in which a plurality of ultrasonic flaw detecting vibrators 21a, 21b are adjacently arranged while separated from each other by means of an acoustic separation material 23, is carried out in a surface layer part of the structural body as a specimen or carried out above the structural body having a thin cross section.例文帳に追加

複数の超音波探傷用振動子２１ａ，２１ｂを音響隔離材２３によって隔離した状態で隣接配置した超音波探触子２０を、被検査体としての構造物表層部または薄い断面を有する構造物上で走査させる。 - 特許庁

In the method of inspecting semiconductor devices, while a plurality of electrode pads for a semiconductor device to be inspected are brought into direct contact with a plurality of corresponding probes, formed on a probe structural body to be electrically connected thereto, the board for inspecting semiconductor devices with a pass capacitor formed thereon is used for the probe structural body, to inspect the electrical characteristics.例文帳に追加

検査対象である半導体装置の複数の電極パッドとプローブ構造体上に形成された複数のプローブを個々に直接接触させて、電気的に接続しながら半導体装置を検査する方法において、前記プローブ構造体にパスコンデンサを形成した半導体装置検査用基板を用いて電気的特性検査を行う。 - 特許庁

The polynucleotide consisting of the nucleotide sequence of SEQ ID NO: 13 is part of a structural gene, and it can be used as a probe in one of the steps to obtain the full-length DNA.発音を聞く 例文帳に追加

配列番号13の塩基配列からなるポリヌクレオチドは、構造遺伝子の一部であり、全長ＤＮＡを得るための段階の1つにおいて、プローブとして用いることができる。 - 特許庁