一次電子の英語

一次電子ビームと二次電子ビームとの重複領域で二次電子ビームの空間電荷効果による収差増大を抑制する。例文帳に追加

To restrain an aberration increase caused by a spatial charge effect of a secondary electron beam in an overlapped area of a primary electron beam and the secondary electron beam. - 特許庁

時系列化された一次元のデータにおける電子透かし例文帳に追加

ELECTRONIC WATERMARK FOR TIME SERIES PROCESSED LINEAR DATA - 特許庁

電子線装置は、一次電子線を試料１１に照射する一次電子光学系、試料から生じる二次電子を検出し電子画像を形成する二次電子検出系、及び電子画像のデータに基き試料の評価を行う評価手段を含む。例文帳に追加

The electron beam apparatus includes a primary electron optic system irradiating primary electron beams to a sample 11, a secondary electron detection system forming an electronic image by detecting secondary electrons generated from the sample, and an evaluation means evaluating the sample according to data of the electronic image. - 特許庁

次いで、対物レンズ１１を通過した直後の二次電子を、Ｅ×Ｂ分離器９，１０により一次電子線の光路からそらし、二次電子検出器８へと向かわせる。例文帳に追加

The secondary electrons having just passed the object lens 11 are deflected from an optical path of the primary electron beam by E×B separators 9 and 10 and directed to a secondary electron detector 8. - 特許庁

電子線装置は、電子銃から放出される電子線を一次光学系を介し試料に照射する。例文帳に追加

The electron beam device irradiates an electron beam emitted from an electron gun on a sample through a primary optical system. - 特許庁

そして、一次電子走査線部１０６により制御された偏光器１０５により一次電子線１０２がシリコン基板１０８上を走査するのと同期して、一次電子線１０２の照射を受けてシリコン基板１０８から放出される二次電子１１２を二次電子検出器１１３で受け、二次電子強度として画像取得部１１４に与える。例文帳に追加

Then, in synchronization with the scanning of the primary electron beam 102 on the silicon substrate 108 by a polarizer 105 controlled by a primary electron raster section 106, a secondary electron 112 discharged from the silicon substrate 108 by irradiating the primary electron beam 102 is received by a secondary electron detector 113 for giving to an image acquisition section 114 as secondary electron intensity. - 特許庁

試料から放出された二次電子をＥ×Ｂ分離器で一次光学系から分離して二次光学系へ投入し二次電子検出器で検出する。例文帳に追加

Secondary electrons discharged from the sample are separated from the primary optical system with an E×B separator and put into a secondary optical system to be detected by a secondary electron detector. - 特許庁

電子線装置は、電子銃のカソード１から放出された一次電子線を対物レンズ１１で集束する。例文帳に追加

In this electron beam device, the primary electron beam emitted from a cathode 1 of an electron gun is converged by an object lens 11. - 特許庁