欠測区の英語

被検体に存在する周期性欠陥を検出するための信号処理方法であって、前記周期性欠陥を複数周期以上含んだ測定信号を、一定間隔で区切り、前記測定信号のデータ列方向に対して直交する方向に、前記区切った測定信号を並べて２次元データ列を作成し、その２次元データ列をパターン処理して欠陥を認識する。例文帳に追加

This signal processing method for detecting the periodic defects existing in a specimen partitions measured signals including the periodic defects with a plurality of periods, at a fixed interval, arrays the partitioned measured signals along a direction orthogonal to a data sequential direction of the measured signals to prepare a two-dimensional data sequence, and pattern-processes the two-dimensional data sequence to recognize the defects. - 特許庁

半導体ウェーハの一面に存在する突起状欠陥とへこみ状欠陥とを区別して検出し、へこみのサイズを正確に測定することが可能な半導体ウェーハの検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of inspecting a semiconductor wafer in which a projection defect and a hollow defect present on one surface of the semiconductor wafer are discriminatingly detected and the size of a hollow is accurately measured. - 特許庁

鉄道車両の速度測定を行う区域とそうでない区域とを容易にかつ正確に識別できるようにし、また、線路に配置されたＲＦＩＤタグからの情報の受信に誤りまたは欠落が生じた場合に鉄道車両の速度測定精度が低下するのを防止する。例文帳に追加

To easily and accurately identify an area where a railroad vehicle speed measurement is carried out and an area where a railroad vehicle speed measurement is not carried out and to prevent a railroad vehicle speed measurement accuracy from being reduced when either error or defect occurs in receiving information from RFID tags arranged at the railroad. - 特許庁

直前の周期Ｃ（ｎ−１）が間欠計測区間であるときは（同図においてＹＥＳ）、計測周期はＣ（ｎ）＝Ｃ２に切り替えられ、重み係数はＷ（ｎ）＝Ｃｍに設定される（ステップＳ１０６）。例文帳に追加

When the period C(n-1) immediately before is the intermittent measurement section (YES in figure), the measurement period is switched to C(n) = C2, and the weighting factor is set to W(n) = Cm (step S106). - 特許庁

搬送される被測定モジュールの大きさが区々であっても、光漏れすることなく異なる大きさのモジュールに対する測定に不可欠の遮光をする方法と、このための装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a light-shielding method which is indispensable to the measurement of modules, will not cause leakage of light having different sizes, even if the sizes of the modules, which are transferred and are measured, are diverse, and to provide a device for this light-shielding method. - 特許庁

半導体ウェーハに形成された結晶欠陥の種類を区別して評価するのに、より簡便で迅速な半導体ウェーハの測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a relatively simple and rapid measurement method for a semiconductor wafer in order to distinguish and evaluate the kind of a crystal defect formed in the semiconductor wafer. - 特許庁

次に、抵抗値の測定によって区画素子内で狭い範囲に絞り込まれた、構造欠陥Ｒの存在する領域を画像撮像手段によって撮像する。例文帳に追加

Next, an image imaging means images a region that is narrowed into a narrow range inside the partition element by the measurement of the resistance value and has a structural defect R. - 特許庁

ベリファイ付きデータライトと交替処理を行う記録再生システムにおいて、ディスク状記録媒体に生じた傷などに起因した欠陥区間を予測して無駄なデータライト・ベリファイ処理の省略化を図る。例文帳に追加

To achieve elimination of useless data write verification processing by predicting a defective section resulting from a flaw produced in a disk recording medium in a recording and reproducing system which performs data write with verification and alternating processing. - 特許庁