膜理論の英語

抽出分光反射スペクトルと理論分光反射スペクトルとに生じる差異に基づき第２の薄膜による影響を求めることができ、これにより第１の薄膜と第２の薄膜との開口比を求めることができる。例文帳に追加

An influence by the second thin film is found based on the difference between the extracted spectroscopic reflection spectrum and the theoretical spectroscopic reflection spectrum to find the opening ratio of the first thin film to the second thin film. - 特許庁

コントローラ３には、あらかじめ、抽出対象となる各回折光の理論上の強度と膜厚との関係を示すテーブルが設定されており、これら回折光の理論上の強度がラインＣＣＤ１０により抽出された回折光の強度に最も近くなる場合の膜厚を求め、これを測定対象の基板１１の膜厚として特定する。例文帳に追加

A table indicating the relationship between the theoretical intensity of each diffracted light to be extracted and film thickness is previously set in a controller 3, and a film thickness in the case that the theoretical intensity of the diffracted light is closest to the intensity of the diffracted light extracted by the line CCD 10 is obtained and specified as the film thickness of the substrate 11 to be measured. - 特許庁

その際、ＸＲＲ法によって測定した膜密度が理論密度（ＴＤ）の７５．０〜９８．０％未満の範囲となるように成膜条件を設定する。例文帳に追加

The film deposition condition is set so that the film density measured by the XRR method is in a range between 75.0 and <98.0% of the theoretical density (TD). - 特許庁

前記透明薄膜形成用材料は、成膜用ターゲットであり、気孔率が理論密度比で５％以下のスパッタリングターゲットであり、体積抵抗が１０^−２Ω・ｃｍ以下である。例文帳に追加

The material for forming the transparent thin film produced from the composite oxide sintered compact is a target for forming a film, is a sputtering target having a porosity of 5% or less in a theoretical density ratio and has a volume resistance of 10^-2 Ω cm or less. - 特許庁

モデル化部７２１Ａは、フィッティング部７２２Ａからのパラメータ更新指令に従って第１層の膜厚ｄ_１を順次更新し、この更新後の第１層の膜厚ｄ_１に従って理論反射率を示す関数を更新する。例文帳に追加

A modeling part 721A renews film thicknesses d_1 of a first layer in order according to a parameter renewing order from a fitting part 722A to renew a function representing theoretical reflectivity according to film thicknesses d_1 after the renewal. - 特許庁

多層膜構成のＸ線全反射ミラーの実際の反射率は、各層の吸収が少ないために、単層膜構成のＸ線全反射ミラーに比べて理論値に近い。例文帳に追加

The actual reflectivity of an X-ray total reflection mirror with a multi-layer structure is more approximate to the theoretic value than that of an X-ray total reflection mirror with a single-layer structure because each layer absorbs less X rays. - 特許庁

前記測定スペクトラムと複数の理論的スペクトラムとを比較して前記多層膜の各構成薄膜の暫定厚さを決定し（Ｓ１８）、前記暫定厚さの信頼度が許容誤差範囲に含まれる場合には（Ｓ２０）、前記暫定厚さを前記多層膜の各構成薄膜の厚さとして出力する（Ｓ２４）。例文帳に追加

The measurement spectra are compared with the plurality of theoretical spectra to determine the tentative thickness of each configuration thin film of the multilayer film (S18). - 特許庁

遮光体Ｂの大きさは、観察光学系の入射瞳６の直径と角膜凸面鏡Ｅｃおよびリレーレンズ４によって構成される光学系の観察倍率との積によって理論上決定される。例文帳に追加

The size of the light shielding body B is theoretically decided by the product of the diameter of the pupil 6 of the observation optical system and the observation magnification of the optical system constituted of the mirror Ec and a relay lens 4. - 特許庁