electric stylusとは 意味・読み方・使い方

The probe stylus 4 detects a change in an electric characteristic varied by the motion of the moving part according to the test sound wave, so as to inspect a characteristic of the microstructure.例文帳に追加

そして、このテスト音波に従って可動部が動くことにより変化する電気的特性の変化をプローブ針４により検出して微小構造体の特性を検査する。 - 特許庁

After a probe stylus 31 provided to the probe card 21 comes into contact with the input/output pad 12 to inspect electric characteristics of the semiconductor chip 11; the semiconductor chip 11 moves together with the stage 26, and then a probe stylus 32 provided to the probe card 22 comes into contact with the pad 13 for identification to give a stylus impression, thereby marking the semiconductor chip 11.例文帳に追加

プローブカード２１に設けられたプローブ針３１が入出力パッド１２に接触して半導体チップ１１の電気的特性の検査が行なわれた後、ステージ２６とともに半導体チップ１１が移動し、プローブカード２２に設けられたマーキング用プローブ針３２が識別用パッド１３に接触して針跡を付けることにより半導体チップ１１にマーキングする。 - 特許庁

To provide a method of performing highly reliable inspection by: correcting displacement depending upon inspection temperature when electric characteristics are inspected at predetermined inspection temperature; and bringing a stylus tip of a probe terminal into normal contact with an electrode of a semiconductor element.例文帳に追加

電気的特性検査を所定の検査温度で行う場合、検査温度による変位を補正し、プローブ端子の針先と半導体素子の電極とを正常に接触させて、信頼性の高い検査を行う方法の提供。 - 特許庁

This writing utensil 1 has a sensor 11 and a control circuit 13 and, when the writing utensil 1 approaches the input screen of the electric device of a type requiring an input stylus, the pen point 3 of the writing utensil 1 is obstructed so as to be prevented from applying ink to the input screen.例文帳に追加

筆記具１はセンサ１１および制御回路１３を有しており、入力スタイラスが必要なタイプの電子デバイスの入力画面に対して筆記具が近接すると、筆記具１のペン先３は入力画面にインクを与えることを妨害される。 - 特許庁

To solve the problem that, in an inspection of an electric characteristic with a wafer prober, a probe of a probe guard is subjected to stylus pressure upon its contacts to an electrode of an IC, and it experiences warpage and distortion, thereby causing a failure and an inclination of a silicon wafer which is laid on a chuck top portion made of a metal.例文帳に追加

ウェハプローバによるシリコンウェハの電気特性検査において、プローブガードのプローブがＩＣの電極に接触する際に針圧がかかり、反りや歪が生じることで金属製チャックトップ部上にセットされているシリコンウェハが破損したり傾く原因となっている。 - 特許庁

In an inspection tool 1 for electric inspection on a printed wiring board etc., an electrode part 40 has an electrode 41 arranged on a surface of an electrode plate 42, and a contact piece 10 comprises a conductive contact stylus 11, a compression coil spring 12, and a relay member 13 and is coaxially arranged during use.例文帳に追加

プリント配線板などの電気検査のための検査治具１において、電極部４０は電極４１を電極板４２の表面に配設されてなり、接触子１０は導電性の接触針１１、圧縮コイルばね１２、中継部材１３からなり、同軸に配置して使用される。 - 特許庁