「"secondary electrons"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a thin-film cold cathode of the type emitting secondary electrons.例文帳に追加

二次電子を放出する方式の薄膜冷陰極を提供する。 - 特許庁

Thereby since the resist composition is easy to emit the secondary electrons, it achieves high sensitivity.例文帳に追加

これにより、２次電子を放出しやすいため、高感度が達成される。 - 特許庁

As a result, secondary electrons 16 are emitted from the positive electrode film 14.例文帳に追加

この結果、陽極膜１４から二次電子１６が放射される。 - 特許庁

A secondary-electron detecting sensor for detecting the secondary electrons is provided on an ion injection device.例文帳に追加

イオン注入装置には２次電子を検出する２次電子検出センサを設ける。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of increasing detection efficiency of secondary electrons in a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で２次電子の検出効率を高めることができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To make uniform the collection efficiency of secondary electrons of a secondary electron detector within an electron beam scanning region.例文帳に追加

二次電子検出器の二次電子収集効率を電子線走査領域内で均一とする。 - 特許庁

To guide a large number of secondary electrons to an electron detection part, in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、多数の２次電子を電子検出部に導くこと。 - 特許庁

To inspect under proper condition, even if the intensities of secondary electrons or reflected electrons vary temporally.例文帳に追加

二次電子又は反射電子の強度が時間的に変化しても適切な条件で検査を行う。 - 特許庁

An electron beam 13 is radiated to the semiconductor substrate 14 to detect secondary electrons 16.例文帳に追加

半導体基板１４に電子ビーム１３を照射し二次電子１６を検出する。 - 特許庁

From the sample 6, secondary electrons, backward diffused electrons, and reflected electrons 8 are generated.例文帳に追加

試料６からは、２次電子、後方散乱電子及び反射電子８が発生する。 - 特許庁

Secondary electrons (64 and 68), emitted from the scanning points, are detected, and the defects of the sample are detected.例文帳に追加

これら走査点から放出された二次電子（６４，６８）を検出して試料の欠陥を検出する。 - 特許庁

The collected secondary electrons are accelerated by the corona ring 10, and they collide with a scintillator 21.例文帳に追加

集められた２次電子はコロナリング１０により加速されてシンチレータ２１に衝突する。 - 特許庁

Secondary electrons emitted from the sample 12 are accelerated by an electric field generated by the object lens 11.例文帳に追加

試料１２から放出された二次電子を、対物レンズ１１が作る電界で加速する。 - 特許庁

Secondary electrons generated by irradiation of electron beams on a sample 4 is detected with a detector 8.例文帳に追加

試料４への電子ビームの照射によって発生した２次電子は、検出器８によって検出される。 - 特許庁

The secondary electrons gathered on the optical axis line are guided upward by electric field E1 of an accelerating electrode 43.例文帳に追加

光軸上に集められた２次電子は、加速電極４３による電界Ｅ_1により上方に導かれる。 - 特許庁

Melting rate of resist is increased because sensitivity of the resist is enhanced by secondary electrons generated in the upper layer film.例文帳に追加

これは、上層膜ににおいて発生した２次電子により、レジストの感度が向上したためである。 - 特許庁

The secondary electrons are injected to an electron transport layer 4 and the organic field luminous element 20 is made to emit light.例文帳に追加

この二次電子を電子輸送層４に注入して有機電場発光素子２０を発光させる。 - 特許庁

The energy of the secondary electrons 14 at that time is always set to a value of the application voltage to the sample 2 or higher.例文帳に追加

そのときの２次電子１４のエネルギーは、全て試料２への印加電圧以上となる。 - 特許庁

To provide a secondary electron detector capable of suppressing reduction in the detected amount of secondary electrons.例文帳に追加

二次電子の検出量の減少を抑制することが可能な二次電子検出器を提供する。 - 特許庁

From their image-formation points, secondary electrons according to a pattern on the wafer are emitted.例文帳に追加

これらの結像点からは、ウェハー上のパターンに応じた２次電子が放出される。 - 特許庁

In this way, damage to a thin film by the incidence of the secondary electrons can be reduced.例文帳に追加

これによって、二次電子が入射することによる薄膜へのダメージを低減することができる。 - 特許庁

A detection signal of secondary electrons is supplied to a first multiplier 21 via an AD converter 11.例文帳に追加

２次電子の検出信号はＡＤ変換器１１を介して第１の乗算器２１に供給される。 - 特許庁

To perform inspection under proper condition even if the intensities of secondary electrons or reflected electrons vary temporally.例文帳に追加

二次電子又は反射電子の強度が時間的に変化しても適切な条件で検査を行う。 - 特許庁

To provide a surface analyzer for accurately measuring the emitted quantity of secondary electrons.例文帳に追加

二次電子放出量を正確に測定できる表面分析装置を提供する。 - 特許庁

In an electron beam device 20 for monitoring the image of a sample 5, according to secondary electrons Z generated by scanning of the sample 5 with primary electrons Y converged by an objective lens, a selecting means 21 for selectively applying the secondary electrons Z, according to energy of the secondary electrons Z, to a secondary electron detector 2 is provided in front of the electron detector 2 for converting the secondary electrons Z into electrical signals.例文帳に追加

対物レンズで収束された１次電子Ｙによって試料５を走査することにより発生した２次電子Ｚに基づいて試料５の像観察を行なう電子線装置２０において、２次電子Ｚを電気的信号に変換するための２次電子検出器２の前方に２次電子Ｚのエネルギーに基づいて２次電子Ｚを選択的に２次電子検出器２に送るための選択装置２１を設けた。 - 特許庁

By this, a sample-absorbed current can be obtained wherein the secondary electrons or the like first generated have been amplified.例文帳に追加

これにより、始めに発生した２次電子等が増幅された試料吸収電流を得ることができる。 - 特許庁

Secondary electrons are emitted by making ions generated from an ion beam radiating device 3 adhere to the pad parts 2a of the semiconductor device 2, and the secondary electrons are detected by a secondary electron light receiving part 5.例文帳に追加

イオンビーム放射装置３から発生したイオンを半導体素子２のパッド部２ａに付着させることで放出される２次電子を２次電子受光部５で検出する。 - 特許庁

By sequentially efficiently multiplying the entered secondary electrons by the second-stage metal channel dynode and subsequent metal channel dynodes, the secondary electrons multiplied in the multiple stages are efficiently detected as an electric signal.例文帳に追加

そして、２段目以降のメタルチャンネルダイノードが入射された２次電子を順次効率良く増倍することにより、多段に増倍された２次電子が電気信号として効率良く検出される。 - 特許庁

The number of the secondary electrons that pass through the second electrode 20 is sufficient to obtain the secondary electron image, and the damage received by the fluorescent face 4 is small even though such number of secondary electrons are incident thereon.例文帳に追加

この第２電極２０を通過する２次電子の量は、２次電子像を得るのに十分な量であり、このような２次電子が蛍光面４に入射しても、蛍光面の受けるダメージは少ない。 - 特許庁

The amount of first secondary electrons discharged from a semiconductor substrate at a first elevation angle and the amount of second secondary electrons discharged at a second elevation angle different from the first elevation angle are individually detected.例文帳に追加

半導体基板から第１の仰角で放出される第１の二次電子の量と前記第１の仰角と異なる第２の仰角で放出される第２の二次電子の量とを個別に検出する。 - 特許庁

The electron beam device comprises a primary optical system 10 which scans a plurality of locations on the sample by a plurality of electron beams, a secondary optical system 20 which converges the secondary electrons emitted from the sample S by the scanning of electron beams into a plurality of secondary electrons and introduces into each detector 31, and a detection system 30 which detects respectively the plurality of introduced secondary electrons.例文帳に追加

複数の電子ビームで試料上の複数の箇所を走査する一次光学系１０と、電子ビームの走査により試料Ｓから放出された二次電子を複数の二次電子に集束して、各々の検出器３１に導入する二次光学系２０と、導入された複数の二次電子をそれぞれ検出する検出系３０とを備えている。 - 特許庁

In SEM, secondary electrons can traverse only short distances through a material because they have little energy. 例文帳に追加

SEMでは、二次電子は、物質の中の短い距離しか進めない(ジグザグに); なぜなら、二次電子は僅かなエネルギーしか持たないからである。 - 科学技術論文動詞集

To realize a scanning electron microscope which is capable of selectively detecting electrons having specified energy in secondary electrons from a sample.例文帳に追加

試料からの電子の内特定のエネルギーの電子を選択的に検出することができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a low vacuum scanning electron microscope wherein secondary electrons can be efficiently detected even at a low degree of vacuum.例文帳に追加

低い真空度でも２次電子を効率よく検出することができる低真空走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

By means of this control, secondary electrons having the energy levels E0, E1 at every picture element are detected by the electron spectroscope 10.例文帳に追加

この制御により、各画素ごとにエネルギーＥ_0、Ｅ_1を有する２次電子が電子分光器１０で検出される。 - 特許庁

To realize a scanning electron microscope, in which secondary electrons can be detected even under a low vacuum, and an observation of a secondary electron image can be performed.例文帳に追加

低真空下でも２次電子を検出でき、２次電子像の観察を行うことができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To improve transmissivity of secondary electrons while securing resolution of a picture to a required value in an electron beam device.例文帳に追加

電子線装置において、画像の解像度を必要な値に確保しながら、二次電子の透過率を向上させる。 - 特許庁

The secondary electrons emitted from the scanning point of the test piece is separated from the primary electrons by an ExB separator after passing the objective lens and detected.例文帳に追加

試料の走査点から放出された二次電子を対物レンズを通過後Ｅ×Ｂ分離器で一次電子から分離し検出する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of detecting secondary electrons generated from a whole face of a target in high efficiency.例文帳に追加

ターゲット全面から発生した２次電子を高い効率で検出することができる走査電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The secondary electrons are detected by split MCPs or a plurality of scintillator type secondary electron detectors which are mounted so as to pinch an optical axis line.例文帳に追加

二次電子を、分割型のＭＣＰあるいは、光軸をはさんで設置された複数のシンチレーター型二次電子検出器により検出する。 - 特許庁

The antireflection mechanism 40 has a plurality of holes 42 along the helical trajectory of the reflected electrons or the secondary electrons from the sample surface 20.例文帳に追加

反射防止機構４０は、試料面２０からの反射電子或いは二次電子の螺旋軌道に沿った複数の孔４２を有している。 - 特許庁

To provide an electron beam device with a detecting device capable of easily making a selection especially based on the difference between backscattered electrons and secondary electrons.例文帳に追加

選択を特に後方散乱電子及び二次電子に従って容易に行なうことができる検出装置を有する電子ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

The electrons emitted from the cold cathode 30 is accelerated in an electron accelerating part 40 and are made to be incident on the electron multiplier layer 5 for producing secondary electrons.例文帳に追加

冷陰極３０より放出された電子を電子加速部４０で加速して電子増倍層５に入射させ、二次電子を生成する。 - 特許庁

To provide a transmission secondary electron surface capable of efficient emission of secondary electrons by an incidence of primary electrons.例文帳に追加

１次電子の入射に対して効率よく２次電子を放出することができる透過型２次電子面、及びそれを用いた電子管を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of creating secondary electrons and transparent electron images that are not affected by the structure in the interior of thin film samples.例文帳に追加

薄膜試料内部の構造の影響を受けない２次電子および透過電子像の構成できる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁